一种感光检测设备及系统的制作方法

本发明属于检测领域，尤其涉及一种感光检测设备及系统。

背景技术：

现在的智能穿戴设备、智能手持终端等，90％都支持周围光强度的检测来调整屏幕亮度，从而达到降低功耗的效果。这就需要使用到环境光感测模组，光感芯片的环境光来感应环境光强度。

为了保证根据环境光强度调整屏幕的亮度，需要对光感芯片的感光性能进行测试，现有测试设备设置有放置测试治具的抽屉，通过抽拉来放置待测于测试治具。但是，抽屉与灯箱之间有大面积的间隙，易导致漏光，影响测试灵敏度，进而导致测试准确性不高，容易误判。并且，测试过程中需要不停的推拉抽屉，对设备损坏度高，产线测试不方便，测试效率低下。

技术实现要素：

鉴于现有技术存在的测试过程对设备损坏度高、产线测试效率低且测试准确性不高的技术问题，本发明实施例提供了一种感光检测设备及系统。

第一方面，本发明实施例提供一种感光检测设备，包括：

封闭光箱，在所述封闭光箱的箱壁开设有透光孔；

测试治具，贴合设置于所述封闭光箱外，所述测试治具提供有用于承载待测模组的装配位置，所述装配位置对着所述透光孔；

光源模块，设置于所述封闭光箱内，所述光源模块产生的光束经过所述透光孔到达所述待测模组。

可选地，该设备还包括：

测试主板，设置于所述测试治具上，用于执行对所述待测模组的感光测试。

可选地，所述测试主板包括：

主控芯片，所述主控芯片提供有用于连接所述待测模组的感光芯片的电连接端子；

串口连接器，一端口与所述主控芯片电性连接；

电压转换器，与所述串口连接器的另一端口电性连接，所述电压转换器用于通过外部电源向所述主控芯片供电；以及在所述待测模组的感光芯片与所述主控芯片电性连接时，通过所述外部电源向所述待测模组供电。

可选地，所述测试主板还包括如下一种或者多种与所述主控芯片电性连接的附加器件：功率指示器、状态指示器、蜂鸣器以及闪光灯；所述电压转换器，还用于通过所述外部电源向每个所述附加器件供电。

可选地，所述电压转换器，用于将所述外部电源转换为3.3v的供电电源进行供电。

可选地，所述透光孔开设在所述封闭光箱的顶箱壁。

可选地，所述透光孔的尺寸与所述待测模组的感光区域尺寸适配。

可选地，所述光源模块包括：

导光板，固定于所述封闭光箱的内壁，所述导光板分隔所述封闭光箱为两个封闭区域；

线性光源，设置于所述导光板所分隔出的一个封闭区域，所述透光孔开设在所述导光板所分隔出的另一个封闭区域。

可选地，所述线性光源包括多个，分别固定于所述封闭光箱的内壁。

第二方面，本发明实施例提供一种感光检测系统，包括：上位机以及第一方面任一实施方式所述的感光检测设备；所述上位机与所述感光检测设备电性连接，所述上位机用于控制所述感光检测设备对待测模组进行感光测试。

本发明实施例提供的一个或者多个技术方案，至少实现了如下技术效果或者优点：

本发明实施例提供的感光检测设备设置有封闭光箱，在封闭光箱的箱壁开设有透光孔，测试治具贴合设置于封闭光箱外，测试治具提供有用于承载待测模组的装配位置，装配位置对着透光孔；光源模块设置于封闭光箱内，光源模块产生的光束经过透光孔到达待测模组，从而不需要将测试治具放置在光箱内，从透光孔出射的光束正好对准待测模组，避免了设置抽屉来放置测试治具所带来的漏光，从而减小了漏光区域，进而能够提高测试准确性。

并且，利用本发明实施例提供的感光检测设备对待测模组进行感光测试时就不再需要推拉抽屉的过程，而只有从测试治具上取放待测模组的动作，操作方便，设备不易损坏，同时，测试效率也更高。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本发明的具体实施方式。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例中感光检测设备的结构示意图；

图2为本发明实施例中感光检测设备的拆分示意图；

图3为图2中测试主板与待测模组连接的示意图；

图4为图3中主控芯片的电路连接示意图；

图5为图3中串口连接器的电路示意图；

图6为图3中功率指示器的电路示意图；

图7为图3中状态指示器的电路示意图；

图8为图3中蜂鸣器的电路示意图；

图9为图3中闪光灯的电路示意图；

图10为图3中电压转换器的电路示意图；

图11为图3中待测模组的电路连接示意图；

图12为本发明实施例中感光检测系统的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

第一方面，参考图1～图11所示，本发明实施例提供一种感光检测设备10，用于对待测模组20进行感光检测，其中，待测模组20是用于根据周围光强度的检测来调整屏幕亮度的模组。具体的，待测模组20可以是手持终端、智能穿戴设备内用于根据周围光强度的检测来调整屏幕亮度的模组，即：als(ambientlightsensor，环境光传感器)。

具体的，参考图1和图2所示，本发明实施例提供的感光检测设备10包括：封闭光箱11、测试治具12以及用于产生光束的光源模块13。在封闭光箱11的箱壁开设有透光孔113；测试治具12贴合设置于封闭光箱11外，测试治具12提供有用于承载待测模组20的装配位置121，装配位置121对着透光孔113；光源模块13设置于封闭光箱11内，光源模块13产生的光束经过封闭光箱11箱壁的透光孔113到达待测模组20。

具体的，测试治具12以固定在封闭光箱11外箱壁的方式，贴合设置于封闭光箱11外，而测试治具12提供的装配位置121对准透光孔113，使得待测模组20装配于测试治具12的装配位置121时，待测模组20的感光区域正好与透光孔113对准，从透光孔113出射的光束能够完全照射于待测模组20的感光区域。

具体的，为了减小在透光孔113位置处的外箱壁固定测试治具12的难度，以及提高取放待测模组20时的安全性。透光孔113开设在封闭光箱11的顶部箱壁。

在具体实施时，光源模块13用于产生的是均匀光束。而为了提供均匀光束，光源模块13可以采用一个能够提供均匀光束的总成。另一实施方式下，参考图1和图2所示，光源模块13包括导光板131和线性光源132，导光板131固定于封闭光箱11的内箱壁，分隔封闭光箱11为两个封闭区域；线性光源132设置于导光板131所分隔出的一侧封闭区域内，透光孔113开设在导光板131所分隔出的另一侧封闭区域的箱壁，从而，线性光源132产生的光束在经过导光板131之后变成均匀光束，形成的均匀光束再从透光孔113出射，以保证从透光孔113出射的是均匀光束。

在具体实施时，线性光源132包含多个，均匀分布于导光板131所分隔出的一侧封闭区域内。比如，如图1和图2所示的，线性光源132包含两个，分别设置于封闭光箱11封闭区域内相对的两个内侧箱壁，当然，根据实际需求可以设置单个或者更多个独立的线性光源132。

本发明实施例中的封闭光箱11是由遮光材料制成，使得封闭光箱11外的环境光不会通过箱壁进入到封闭光箱11内。

在现有技术中，不同厂商的待测模组20需要对应厂商所提供的测试主板才能进行测试。因此，测试不同厂商提供的待测模组20就需要不断更换感光检测设备上的测试主板，或者分别采用不同的感光检测设备，因此会影响测试进度。一旦测试主板发生损坏，就需要联系厂商更换测试主板，进而延长感光检测设备的维护周期和成本，影响测试进度。

为了解决这一问题，参考图3所示的，本发明实施例提供的感光检测设备还包括用于执行感光测试的测试主板14，能够执行对不同厂商、不同型号的待测模组20的测试。

具体的，测试主板14设置于测试治具12，测试治具12的装配位置121处设置有用于连接待测模组20的端口，从而待测模组20装配于测试治具12的装配位置121时，能够实现与测试主板14之间的电性连接，进而使得待测模组20能够与测试主板14进行数据交互，并且，使得待测模组20能够接收测试主板14的控制信号。

参考图3所示，本发明实施例提供的测试主板14包括：主控芯片141、串口连接器142和电压转换器143。

其中，主控芯片141提供有用于连接待测模组20上感光芯片的电连接端子。在具体实施时，参考图4和图11所示，主控芯片141可以采用stm32f042g6u6芯片设计而成，具体包含主芯片以及各种外围电路：时钟电路、复位电路、电源电路以及swd接口电路等等，主控芯片141的i2c总线引脚(包含i2c_sda引脚和i2c_scl引脚)对应与待测模组20的感光芯片的i2c总线引脚(包含i2c_sda引脚和i2c_scl引脚)连接。

在具体实施时，主控芯片141也可以采用其他mcu元器件设计而成，本发明实施例不进行主控芯片141所采用的元器件的限制。

其中，串口连接器142的一端口与主控芯片141电性连接。具体的，参考图3和图5所示，可以通过串口连接器142引入外部电源和外部控制信号。如图5所示，串口连接器142具体可以为usb(universalserialbus，通用串行总线)连接器，usb连接器的usbdm引脚和usbdp引脚对应与主控芯片141的usbdm引脚和usbdp引脚连接，通过串口连接器142可以建立上位机30与主控芯片141之间的连接，从而上位机30与主控芯片141之间能够进行数据交互，且主控芯片141能够被上位机30所控制。

其中，电压转换器143与串口连接器142的另一端口连接，通过外部电源向主控芯片141供电。参考图10所示，电压转换器143将5v的外部电源转换为3.3v供电电源，电压转换器143的输出与主控芯片141的电源引脚连接，以向主控芯片141进行3.3v供电。在待测模组20的感光芯片与主控芯片141电性连接时，电压转换器143还通过外部电源向待测模组20供电，且主控芯片141还执行对待测模组20的感光测试。

进一步的，测试主板14还包括如下一种或者多种与主控芯片141电性连接的附加器件，用于对待测模组20测试过程中的各种信息进行提示。电压转换器143通过外部电源向每个附加器件供电。同样的，向每个附加器件的供电可以是3.3v供电电源。

具体的，参考图3所示，附加器件可以包括功率指示器144、状态指示器145、蜂鸣器146以及闪光灯147中的一种或者多种。用于相应的对测试过程中的测试主板14的工作状态、上位机30与测试主板14之间的通信状态、待测模组20的测试结果等信息进行提示。具体何种附加器件提示何种信息，是根据测试程序进行变化的，在此不进行限制。

具体的，功率指示器144的电路参考图6所示，与上位机30提供的外部电源以及电压转换器143提供的供电电源均进行连接，从而，功率指示器144用于提示外部电源和供电电源的功率变化。

具体的，状态指示器145的电路参考图7所示，与主控芯片141电性连接，且与电压转换器143提供的供电电源进行连接。结合图4所示，状态指示器145的输入引脚(包含red引脚、grn引脚和blu引脚)对应于与主控芯片141的red引脚、grn引脚、blu引脚进行连接，状态指示器145的其他连接参考图7所示，从而，状态指示器145可以对测试过程中的测试主板14的工作状态进行指示。

具体的，蜂鸣器146的电路参考图8所示，与主控芯片141电性连接，且与电压转换器143提供的供电电源进行连接。结合图4所示，蜂鸣器146的输入引脚buzzer_out对应与主控芯片141的buzzer_out引脚连接，蜂鸣器146的其他连接参考图8所示，可以用于对测试过程中的异常状态进行报警。

具体的，闪光灯147的电路参考图9所示，与主控芯片141电性连接，且与电压转换器143提供的供电电源进行连接。结合图4所示，蜂鸣器146的spi_sck引脚、spi_so、spi_si引脚对应与主控芯片141的spi_sck引脚、spi_so、spi_si引脚连接，闪光灯147的其他连接参考参考图9所示。

需要说明的是，图4～图11中标记的相同引脚名称表示这些引脚是相连接的。并且各个器件的参数可以参考但是不限于图4～图11所示。

在本发明实施例中，透光孔113的尺寸与待测模组20的感光区域的尺寸适配，具体的，透光孔113的尺寸比待测模组20的感光区域的尺寸大第一预设公差，以保证待测模组20的感光区域均能够被透光孔113出射的光束完全照射到，且不会受到外部环境光的影响。

本发明实施例提供的感光检测设备设置有封闭光箱11，在封闭光箱11的箱壁开设有透光孔，测试治具12贴合设置于封闭光箱11外，测试治具12提供有用于承载待测模组20的装配位置121，装配位置121对着透光孔113；光源模块13设置于封闭光箱11内，光源模块13产生的光束经过透光孔113到达待测模组20，从而不需要将测试治具12放置在光箱内，从透光孔113出射的光束正好对准待测模组，避免了设置抽屉来放置测试治具12所带来的漏光，从而减小了漏光区域，进而能够提高测试准确性。

并且，利用本发明实施例提供的感光检测设备10对待测模组20进行感光测试时就不再需要推拉抽屉，而只有从测试治具12上取放待测模组20的动作，操作方便，设备不易损坏，同时，测试效率也更高。

第二方面，基于同一发明构思，本发明实施例提供一种感光检测系统，参考图3和图12所示，该感光检测系统包括上位机30以及第一方面所述的感光检测设备10，上位机30与感光检测设备10电性连接，上位机30用于控制感光检测设备10对待测模组20进行感光测试。

感光检测设备10的具体实施细节在此不再赘述，而上位机30具体与感光检测设备10的测试主板14电性连接，从而上位机30用于控制感光检测设备10的测试主板14，以完成对待测模组20进行感光测试。需要将针对不同厂商的待测模组20的测试程序均写入至上位机30，上位机30用于在待测模组20与测试主板14电性连接时，基于对应的测试程序控制测试主板14对待测模组20进行感光测试。具体的，上位机30与测试主板14之间可以通过导线40和串口连接方式进行电性连接。通过上位机30内不同的测试程序，上位机30能够控制测试主板14完成对不同类型的待测模组20的感光测试。

如果新增类型需要测试的待测模组20，则可以通过修改或者新增测试程序来实现对新增类型的待测模组20进行感光测试。由于测试使用上位机程序，产线测试异常处理响应速度快，程序易维护，不需要更换测试主板14。因此，测试主板14不易损坏，即使测试主板14发生损坏直接更换，也不需要联系厂商。并且，使用独立的上位机程序进行测试，可视界面增大，清晰度提供，不易损坏，操作简单，工作效率提高。

尽管已描述了本发明的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明范围的所有变更和修改。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。