一种激光粒度仪测定数据的校正方法与流程

本发明涉及一种激光粒度仪测定数据的校正方法，属于粒度测量。

背景技术：

1、为考察winner2008a激光粒度仪测定粒径的误差规律，以下测定了梅久支撑剂、电厂漂珠、嘉华水泥、青铜峡水泥、人工漂珠四种水泥浆常用物料微粒的粒径数据，并与工程总院的测定数据进行了比较。数据比较情况见表1、表2、表3、表4、表5。

2、表1梅久支撑剂粒径测定数据比较情况

3、

4、表2电厂漂珠粒径测定数据比较情况

5、 检测单位 x10，μm x50，μm x90，μm 工程总院 40.136 93.912 190.809 井下工艺技术研究所 74.589 142.022 284.58 比较差值 +34.453 +48.11 +93.771 比较误差，％ 46.19 33.87 32.95

6、表3嘉华水泥粒径测定数据比较情况

7、 检测单位 x10，μm x50，μm x90，μm 工程总院 1.12 6.314 11.590 井下工艺技术研究所 3.575 8.393 25.575 比较差值 +2.455 +2.079 +13.985 比较误差，％ 68.67 24.77 54.68

8、表4青铜峡水泥粒径测定数据比较情况

9、 检测单位 x10，μm x50，μm x90，μm 工程总院 0.745 5.329 10.743 井下工艺技术研究所 2.896 7.747 27.163 比较差值 +2.151 +2.418 +16.42 比较误差，％ 74.27 31.2 60.45

10、表5人工漂珠粒径测定数据比较情况

11、 检测单位 x10，μm x50，μm x90，μm 工程总院 38.060 153.266 395.278 井下工艺技术研究所 51.518 212.158 467.837 比较差值 +13.458 +58.892 +72.559 比较误差，％ 26.12 27.76 15.51

12、中位径用x50表示，含义是样品中小于它和大于它的颗粒各占50％，可以认为x50是平均粒径的另一种表示形式。通过表1数据比较，可以看出梅久支撑剂的测定数据的误差在0.35％以内，是正常的。通过表2～5数据比较，从x50测定数据的比较来看，电厂漂珠、嘉华水泥、青铜峡水泥、人工漂珠比较差值均为正向差值，在2.079～58.892μm范围，比较误差均为正向，在24.77～33.87％范围，出现了异常现象。x10、x90也出现了同样的正向异常现象。

13、从以上数据可以看到，梅久支撑剂粒径测量正常，是因为用的都是量程范围为0.05～2000μm的winner2008a激光粒度仪。测量电厂漂珠、嘉华水泥、青铜峡水泥、人工漂珠的粒径工程总院选用了量程范围在0.01～400μm的激光粒度仪，而我们限于条件仍旧用量程范围为0.05～2000μm的winner2008a激光粒度仪，量程范围大影响了测定的准确度。

技术实现思路

1、本发明的目的是提供一种激光粒度仪测定数据的校正方法，以解决目前采用大量程激光粒度仪测量小颗粒粒径存在的准确度差的问题。

2、本发明为解决上述技术问题而提供一种激光粒度仪测定数据的校正方法，该校正方法包括以下步骤：

3、1)将待测颗粒放置到液体介质中，并使待测颗粒在介质中分布均匀，用第一激光粒度仪对待测颗粒进行测量；

4、2)对测量结果进行校正，校正时按照待测颗粒粒径不同分布选用对应的修正公式；所述的修正公式是通过对第一激光粒度仪和第二激光粒度仪测量样品颗粒的结果进行拟合得到，其中第一激光粒度仪的量程大于第二激光粒度仪的量程，所述样品颗粒包括不同粒径分布的颗粒。

5、本发明通过利用小量程激光粒度仪和大量程激光粒度仪对样品颗粒分别进行检测，建立大量程激光粒度仪测量结果和小量程激光粒度仪测量结果之间的关系，以此得到大量程激光粒度仪的修正公式，利用该修正公式对大量程激光粒度仪测量小粒径颗粒的结果进行校正，使得大量程激光粒度仪的测量结果能够和小量程激光粒度仪的测量结果接近，避免目前采用大量程激光粒度仪测量小颗粒粒径存在的准确度差的问题，大大提高了大量程激光粒度仪测量小颗粒粒径的精度。

6、进一步地，为避免超声波使乙醇产生气泡影响测量结果，当液体介质为乙醇时，通过打开循环、关闭超声分散系统的方式，使待测颗粒在介质中分布均匀。

7、进一步地，为保证颗粒分布均匀，当液体介质为水时，通过打开循环和/或打开超声分散系统的方式，使待测颗粒在介质中分布均匀。

8、进一步地，为保证测量的准确性，当待测颗粒为低密度颗粒时，需要待测颗粒进行润湿处理。

9、进一步地，当待测颗粒为小位径时，所采用的校正函数为二次函数。

10、进一步地，当待测颗粒为中位径时，所采用的校正函数为一次函数。

11、进一步地，当待测颗粒为大位径时，所采用的校正函数为一次函数。

12、进一步地，所述的校正函数是通过最小二乘拟合得到。