一种落砂均匀的图像法粒度仪检测装置的制作方法

文档序号:26820961发布日期:2021-09-29 04:17阅读:152来源:国知局
一种落砂均匀的图像法粒度仪检测装置的制作方法

1.本实用新型涉及粒度仪技术领域,具体为一种落砂均匀的图像法粒度仪检测装置。


背景技术:

2.粒度仪可分为纳米粒度仪,激光粒度仪,单颗粒光阻法粒度仪和图像粒度仪等,粒度仪是用物理的方法测试固体颗粒的大小和分布的一种仪器,根据测试原理的不同分为沉降式粒度仪、沉降天平、激光粒度仪、光学颗粒计数器、电阻式颗粒计数器、颗粒图像分析仪等,颗粒图像仪对颗粒拍照后将图片分析处理,可以测量颗粒形貌,通过此方法可实现原位实时在线测量,颗粒图像仪拥有静态、动态两种测试方法。
3.现有的颗粒图像仪使用改装的显微镜系统,配合高清晰摄像机,配合相关的计算机软件可进行颗粒大小、形状等属性的计算,并可以将测试结果输出为报告,这种方式只能对颗粒整体进行研究,而不能均匀的、针对性的进行测试工作,现有的颗粒图像仪不具备均匀分配落砂的功能,而在导入落砂时,对于不同规格的落砂,可能出现卡塞等情况,导致测试出现故障。


技术实现要素:

4.本实用新型的目的在于提供一种落砂均匀的图像法粒度仪检测装置,以解决上述背景技术中提出现有的颗粒图像仪使用改装的显微镜系统,配合高清晰摄像机,配合相关的计算机软件可进行颗粒大小、形状等属性的计算,并可以将测试结果输出为报告,这种方式只能对颗粒整体进行研究,而不能均匀的、针对性的进行测试工作,现有的颗粒图像仪不具备均匀分配落砂的功能,而在导入落砂时,对于不同规格的落砂,可能出现卡塞等情况,导致测试出现故障的问题。
5.为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种落砂均匀的图像法粒度仪检测装置,包括粒度仪本体,所述粒度仪本体的下端固定安装有粒度仪底座,所述粒度仪底座等距分布于粒度仪本体的下端,所述粒度仪本体的中部固定安装有测试箱体,所述测试箱体前端的上端固定安装有弧形注料台,所述弧形注料台的上端固定设置有落砂注料口,所述粒度仪本体左端的前端固定安装有数控操作面板,所述测试箱体上端的中部固定安装有弧形盖板。
6.优选的,所述弧形盖板位于落砂注料口的上方,所述弧形盖板的下端固定安装有防漏气橡胶塞,所述防漏气橡胶塞与落砂注料口相适配,所述落砂注料口的下端固定安装有落砂传导管,所述落砂传导管与落砂注料口固定连接。
7.优选的,所述落砂传导管的下端固定安装有传导延伸管,所述传导延伸管的内部固定设置有落砂分离口,所述落砂分离口等距分布于传导延伸管的内部,所述落砂分离口的下端固定安装有落砂均匀分离管。
8.优选的,所述落砂传导管的右端固定安装有注入管,所述注入管右端的上端固定
安装有抽气器,所述抽气器位于粒度仪本体的内侧,所述测试箱体右端的上端固定设置有外部抽气口。
9.优选的,所述传导延伸管的下端固定安装有落砂托盘a,所述落砂托盘a的下方固定在有落砂托盘b,所述落砂托盘a和落砂托盘b位于粒度仪本体内侧的中部,所述落砂托盘b的下端固定安装有电动推杆,所述电动推杆与粒度仪本体固定连接。
10.优选的,所述粒度仪本体内侧的左右两端固定安装有侧边环绕补光器,所述电动推杆的左侧固定安装有支撑架,所述支撑架上端的右端固定安装有高清晰摄像机,所述高清晰摄像机的下端固定安装有高改显微镜。
11.与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:
12.1、该落砂均匀的图像法粒度仪检测装置,采用多个落砂均匀分离管可以有效且均匀的分离落砂,多个落砂分离落在托盘上,便于该装置进行更加全面、更加细致化的检测工作,可以有效的配合相关的计算机软件进行颗粒大小、形状、整体分布等属性的计算,并可以将测试结果输出为报告,使得该装置的检测能力得到进一步的提高;
13.2、该落砂均匀的图像法粒度仪检测装置,增设的抽气器可以从外部抽气并注入到传导延伸管内,以此可以有效的将可能堵塞的落砂冲到托盘上,可以有效的避免落砂拥挤堵塞而照成的机器故障,并且防漏气橡胶塞可以有效的配合抽气器进行落砂堵塞处理工作;
14.3、该落砂均匀的图像法粒度仪检测装置,环形的补光器可以为检测工作提供充足的光线,充足的光线可以便该装置使用改装的显微镜系统,配合高清晰摄像机,将颗粒样品的图像直观的反映到电脑屏幕上。
附图说明
15.图1为本实用新型立体结构示意图;
16.图2为本实用新型均匀筛分管内部立体结构示意图;
17.图3为本实用新型分离管立体结构示意图;
18.图4为本实用新型粒度仪本体内部结构示意图。
19.图中:1、粒度仪本体;2、粒度仪底座;3、测试箱体;4、弧形注料台;5、落砂注料口;6、数控操作面板;7、弧形盖板;8、防漏气橡胶塞;9、落砂传导管;10、传导延伸管;11、落砂分离口;12、落砂均匀分离管;13、注入管;14、抽气器;15、外部抽气口;16、落砂托盘a;17、落砂托盘b;18、电动推杆;19、侧边环绕补光器;20、支撑架;21、高清晰摄像机;22、高改显微镜。
具体实施方式
20.下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
21.请参阅图1

4,本实用新型提供一种技术方案:一种落砂均匀的图像法粒度仪检测装置,包括粒度仪本体1,粒度仪本体1的下端固定安装有粒度仪底座2,粒度仪底座2等距分布于粒度仪本体1的下端,粒度仪本体1的中部固定安装有测试箱体3,测试箱体3前端的上
端固定安装有弧形注料台4,弧形注料台4的上端固定设置有落砂注料口5,粒度仪本体1左端的前端固定安装有数控操作面板6,测试箱体3上端的中部固定安装有弧形盖板7。
22.进一步的,弧形盖板7位于落砂注料口5的上方,弧形盖板7的下端固定安装有防漏气橡胶塞8,防漏气橡胶塞8与落砂注料口5相适配,落砂注料口5的下端固定安装有落砂传导管9,落砂传导管9与落砂注料口5固定连接,手动将砂粒通过落砂注料口5注入到粒度仪本体1内部,紧接着再下压弧形盖板7,防漏气橡胶塞8对应落砂注料口5,将落砂注料口5封实,砂粒通过落砂注料口5和落砂传导管9会传导到传导延伸管10处,并通过落砂分离口11进行均匀分层工作,每一个落砂分离口11都将分到一部分砂粒,虽然每一个落砂分离口11分到的砂粒数量和规格不尽相同,但是砂粒仍会得到第一步的均匀分离,砂粒分离后,不会集中聚集在一起,不会出现砂粒堆积而造成的部分落砂得不到体现,更不能进行检测的情况。
23.进一步的,落砂传导管9的下端固定安装有传导延伸管10,传导延伸管10的内部固定设置有落砂分离口11,落砂分离口11等距分布于传导延伸管10的内部,落砂分离口11的下端固定安装有落砂均匀分离管12,落砂进入落砂分离口11中,再穿过落砂均匀分离管12,最终度过落砂托盘a16达到落砂托盘b17。
24.进一步的,落砂传导管9的右端固定安装有注入管13,注入管13右端的上端固定安装有抽气器14,抽气器14位于粒度仪本体1的内侧,测试箱体3右端的上端固定设置有外部抽气口15,若出现落砂堵塞的情况,可以使用数控操作面板6启动抽气器14往落砂传导管9充气,落砂在受到强压的影响会会被冲散,此时堵塞的情况便可以得到解决。
25.进一步的,传导延伸管10的下端固定安装有落砂托盘a16,落砂托盘a16的下方固定在有落砂托盘b17,落砂托盘a16和落砂托盘b17位于粒度仪本体1内侧的中部,落砂托盘b17的下端固定安装有电动推杆18,电动推杆18与粒度仪本体1固定连接,在注入砂粒时,先使用数控操作面板6启动电动推杆18,将落砂托盘b17往上推动,与落砂托盘a16相贴。
26.进一步的,粒度仪本体1内侧的左右两端固定安装有侧边环绕补光器19,电动推杆18的左侧固定安装有支撑架20,支撑架20上端的右端固定安装有高清晰摄像机21,高清晰摄像机21的下端固定安装有高改显微镜22,对落砂进行检测时,侧边环绕补光器19起到补充光线的作用,使用高改显微镜22,配合高清晰摄像机21,配合相关的计算机软件可进行颗粒大小、形状等属性的计算,并可以将测试结果输出为报告。
27.工作原理:首先在注入砂粒时,先使用数控操作面板6启动电动推杆18,将落砂托盘b17往上推动,与落砂托盘a16相贴,紧接着手动将砂粒通过落砂注料口5注入到粒度仪本体1内部,紧接着再下压弧形盖板7,防漏气橡胶塞8对应落砂注料口5,可以将落砂注料口5封实,砂粒通过落砂注料口5和落砂传导管9会传导到传导延伸管10处,并通过落砂分离口11进行均匀分层工作,每一个落砂分离口11都将分到一部分砂粒,虽然每一个落砂分离口11分到的砂粒数量和规格不尽相同,但是砂粒仍会得到第一步的均匀分离,落砂进入落砂分离口11中,再穿过落砂均匀分离管12,最终度过落砂托盘a16达到落砂托盘b17,然后侧边环绕补光器19起到补充光线的作用,再使用高改显微镜22,配合高清晰摄像机21,配合相关的计算机软件可进行颗粒大小、形状等属性的计算,并可以将测试结果输出为报告。
28.最后应当说明的是,以上内容仅用以说明本实用新型的技术方案,而非对本实用新型保护范围的限制,本领域的普通技术人员对本实用新型的技术方案进行的简单修改或
者等同替换,均不脱离本实用新型技术方案的实质和范围。
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