光电子器件测试设备

1.本技术涉及光电子器件测试技术领域，尤其是涉及一种光电子器件测试设备。


背景技术：

2.光电子器件是光电子技术的关键和核心部件，是现代光电技术与微电子技术的前沿研究领域，是信息技术的重要组成部分。光电子器件是根据光电效应制作的器件。现有的光电子器件自动测试设备一般是设置传送机构和可升降的测试部件，传送机构传动电子元器件，测试部件升降运动，实现对途径的电子元器件的测试。现有技术中，传送机构和测试部件分别由不同的驱动装置驱动，如此需要在传送机构上设置位置传感器以感应位置信息，然后再控制测试部件的驱动机构执行驱动动作。现有的传送机构一般会选用步进电机驱动，步进电机行每行进一步，测试部件升降一次，整个设备的执行机构多，成本高昂，且工作效率低，设备稳定性一般。


技术实现要素：

3.为解决上述问题，本技术提供一种光电子器件测试设备，采用了凸轮传动机构，简化了设备结构，降低了成本，且提高了设备的可靠性。
4.一种光电子器件测试设备，包括：
5.主动轮，所述主动轮和电机驱动连接；
6.从动轮，所述从动轮上连接有凸轮；
7.传送带，所述传送带套设在所述主动轮和所述从动轮上，所述传送带上沿传送带的长度方向上依次设置有多个器件放置槽；
8.顶部支撑装置，所述顶部支撑装置设置在所述传送带的上方，所述顶部支撑装置上连接有第一纵向导杆和第二纵向导杆，所述第一纵向导杆位于所述传送带上方，所述第二纵向导杆位于所述凸轮的上方；
9.测试装置，所述测试装置可滑动地连接在所述纵向导杆上，所述测试装置底端设置有测试探针；
10.传动部件，所述传动部件包括滑动连接部和连接在所述滑动连接部的延伸部，所述滑动连接部连接在所述第二纵向导杆上，且所述滑动连接部和所述凸轮相抵接，所述滑动连接部和所述顶部支撑装置之间设置有弹簧，所述延伸部末端设有推顶部；
11.所述凸轮转动，能驱动所述传动部件升降运动，使得所述推顶部上推或下拉所述测试装置，以测试光电子器件。
12.可选的，所述滑动连接部底部设置有滚轮，所述滚轮和所述凸轮的滚动面相接触。
13.可选的，所述测试装置包括座体和连接所述座体的测试部件，所述测试部件上设置有所述测试探针；所述座体具有滑槽，所述座体通过所述滑槽套设在所述第一纵向导杆上，所述座体设置有连接孔，所述座体上设置有延伸至所述连接孔上的避让槽，所述延伸部穿过所述避让槽，所述延伸部端部的推顶部位于所述连接孔内。
14.可选的，所述推顶部包括垂直连接所述延伸部的插接柱和设置在所述插接柱两侧的两个径向延伸部，两个所述径向延伸部分别限位在所述连接孔的两侧。
15.可选的，所述传送带上位于所述放置槽的周侧设置有定位柱，所述座体上沿所传送带的长度方向设置导杆，所述测试部件可滑动地连接在所述导杆上，且所述导杆上位于所述测试部件两侧均设置有弹簧，所述测试部件底部凸出设置有定位块，所述定位块下表面上开设有锥形槽，锥形槽和所述定位柱插接配合。
16.可选的，光电子器件测试设备还包括测试主机，所述测试装置和所述测试主机通过线缆电连接。
17.本技术实现的有益效果如下：
18.本技术的测试设备采用了凸轮传动机构，简化了设备结构，降低了成本，且提高了设备的可靠性。
附图说明
19.为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术中记载的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，还可以根据这些附图获得其他的附图。
20.图1为本技术实施例提供的光电子器件测试设备的结构示意图；
21.图2为图1中的一个剖视图；
22.图3为图1中的另一个剖视图。
23.图中，1、主动轮；2、从动轮；21、凸轮；3、传送带；31、器件放置槽；32、定位柱；4、顶部支撑装置；41、第一纵向导杆；42、第二纵向导杆；5、座体；51、连接孔；52、避让槽；53、导杆；6、测试部件；61、测试探针；62、定位块；7、传动部件；71、滑动连接部；72、滚轮；73、延伸部；74、推顶部；741、径向延伸部；8、弹簧。
具体实施方式
24.下面结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
25.如图1至图3所示，本技术实施例提供一种光电子器件测试设备，包括主动轮1、从动轮2、传送带3、顶部支撑装置4、测试装置和传动部件7。所述主动轮和电机驱动连接，所述从动轮2上连接有凸轮21。传送带3套设在所述主动轮1和所述从动轮2上，所述传送带3上沿传送带3的长度方向上依次设置有多个器件放置槽31。顶部支撑装置4设置在所述传送带3的上方，所述顶部支撑装置4上连接有第一纵向导杆41和第二纵向导杆42，所述第一纵向导杆41位于所述传送带3上方，所述第二纵向导杆42位于所述凸轮21的上方。所述测试装置可滑动地连接在所述第一纵向导杆41上，所述测试装置底端设置有测试探针61。所述传动部件7包括滑动连接部71和连接在所述滑动连接部71的延伸部73，所述滑动连接部71连接在所述第二纵向导杆42上，且所述滑动连接部71和所述凸轮21相抵接，所述滑动连接部71和
所述顶部支撑装置4之间设置有弹簧8，所述延伸部73末端设有推顶部74。凸轮21转动能驱动所述传动部件7升降运动，使得所述推顶部74上推或下拉所述测试装置，以测试光电子器件。本技术的测试设备采用了凸轮21传动机构，简化了设备结构，降低了成本，且提高了设备的可靠性。
26.所述滑动连接部71底部设置有滚轮72，所述滚轮72和所述凸轮21的滚动面相接触。滚轮72和凸轮21的配合结构，稳定性好，噪音小。
27.可选的，所述测试装置包括座体5和连接所述座体5的测试部件6，所述测试部件6上设置有所述测试探针61。所述座体5具有滑槽，所述座体5通过所述滑槽套设在所述第一纵向导杆41上，所述座体5设置有连接孔51，所述座体5上设置有延伸至所述连接孔51上的避让槽52，所述延伸部73穿过所述避让槽52，所述延伸部73端部的推顶部74位于所述连接孔51内。
28.可选的，所述推顶部包括垂直连接所述延伸部73的插接柱和设置在所述插接柱两侧的两个径向延伸部741，两个所述径向延伸部741分别限位在所述连接孔51的两侧，防止推顶部脱离连接孔51。即在座体5的滑槽的内壁上设置有凹陷部，方便容纳内侧的径向延伸部741，且该径向延伸部741并不与第一纵向导杆41产生干涉。
29.可选的，所述传送带3上位于所述放置槽的周侧设置有定位柱32，所述座体5上沿所传送带3的长度方向设置导杆53，所述测试部件6可滑动地连接在所述导杆53上，且所述导杆53上位于所述测试部件6两侧均设置有弹簧，所述测试部件6底部凸出设置有定位块62，所述定位块62下表面上开设有锥形槽，锥形槽和所述定位柱32插接配合。如此在测试探针61接触到光电子器件时，定位块62和定位柱32相定位，在传送带3继续传动的过程中，该测试探针61和待测光电子元器件的相对位置不变，不会损伤测试探针61，且提高了测试准确度。在测试探针61升起后，会在弹性的作用下快速复位。
30.其中，光电子器件测试设备还包括测试主机，所述测试装置和所述测试主机通过线缆电连接。
31.尽管已描述了本技术的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本技术范围的所有变更和修改。显然，本领域的技术人员可以对本技术进行各种改动和变型而不脱离本技术的精神和范围。这样，倘若本技术的这些修改和变型属于本技术权利要求及其等同技术的范围之内，则本技术也意图包含这些改动和变型在内。