一种晶体管用测量仪的制作方法

1.本实用新型涉及晶体管测量应用技术领域，特别是涉及一种晶体管用测量仪。


背景技术：

2.晶体管是一种固体半导体器件，包括二极管、三极管、场效应管、晶闸管等，有时特指双极型器件，具有检波、整流、放大、开关、稳压、信号调制等多种功能，晶体管作为一种可变电流开关，能够基于输入电压控制输出电流，由于其响应速度快，准确性高，晶体管可用于各种各样的数字和模拟功能。
3.由于对晶体管进行测量时需要用到一些仪器，而有的仪器对晶体管进行测量时使用起来不是很方便，而且还需要对不同的晶体管进行测量，因此，本实用新型提出了一种晶体管用测量仪。


技术实现要素：

4.本实用新型所要解决的技术问题是提供一种晶体管用测量仪，便于对测量仪的操作，同时方便对不同型号的晶体管进行检测。
5.为解决上述技术问题，本实用新型采用的一个技术方案是：提供一种晶体管用测量仪，包括底壳，所述底壳的内部靠近侧壁位置固定连接有多个固定柱，方便配合螺钉对电路板进行位置的固定，所述底壳的内部螺栓连接有电路板，所述电路板靠近顶部位置固定连接有显示屏，用于对晶体管的性能参数信息进行显示，所述电路板靠近中部位置固定连接有检测块，用于对晶体管进行性能的检测，所述电路板靠近中部位置固定连接有检测按钮，用于启动检测模块对晶体管进行性能的检测，所述检测按钮位于检测块的底部，所述电路板的底部固定连接有电源接口，用接入电源线，从而将电路板通电，所述底壳的侧壁卡合连接有顶壳，用于配合底壳对整个电路板的保护和位置的固定。
6.优选的，所述电路板的内部靠近显示屏的底部固定连接有引脚，所述电路板靠近底部位置固定连接有电阻。
7.优选的，所述检测块的内部开设有多个检测孔，且均匀分布，多个设置的检测孔，方便不同晶体管进行检测。
8.优选的，所述电路板的内部靠近侧壁位置开设有多个螺孔，多个所述螺孔的内壁均螺纹连接有螺钉，多个所述螺钉分别贯穿多个螺孔，且底部分别与多个固定柱呈螺纹连接，使用螺钉通过螺孔，从而将电路板固定在底壳固定连接的固定柱上，从而方便对电路板的使用。
9.优选的，所述顶壳靠近顶部位置开设有第一卡槽，且与显示屏呈卡合连接，所述顶壳靠近中部位置开设有第二卡槽，且与检测块呈卡合连接，所述顶壳靠近中部位置开设有第三卡槽，且与检测按钮呈卡合连接，通过多个卡槽的设置，方便对电路板内的元件进行使用。
10.优选的，所述电源接口的底部贯穿底壳和顶壳的底部，便于电源线的接入。
11.本实用新型的有益效果如下：
12.1.本实用新型通过对晶体管设置的一个简单测量仪，在测量仪的检测块上可以对不同的晶体管进行检测，从而提高了晶体管测量仪的使用效率；
13.2.本实用新型通过对晶体管测量仪的简单结构设置，在对其进行使用时更加的方便，同时对测量仪本体的携带也提供了便捷。
附图说明
14.图1为本实用新型一种晶体管用测量仪的结构示意图；
15.图2为本实用新型一种晶体管用测量仪的剖视图；
16.图3为本实用新型一种晶体管用测量仪电路板的俯视图；
17.图4为本实用新型一种晶体管用测量仪的侧视图。
18.图中：1、底壳；101、固定柱；2、电路板；201、螺孔；202、螺钉；3、显示屏；4、引脚；5、检测块；501、检测孔；6、检测按钮；7、电阻；8、电源接口；9、顶壳；901、第一卡槽；902、第二卡槽；903、第三卡槽。
具体实施方式
19.下面结合附图对本实用新型的较佳实施例进行详细阐述，以使本实用新型的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本实用新型的保护范围做出更为清楚明确的界定。
20.请参阅图1，一种晶体管用测量仪，包括底壳1，通过底壳1来对电路板2进行位置的固定，从而方便对晶体管进行稳定的检测，底壳1的侧壁卡合连接有顶壳9，用于配合底壳1来对这个测量设备进行位置的固定，同时在使用时更加的顺手方便，顶壳9靠近顶部位置开设有第一卡槽901，且与显示屏3呈卡合连接，方便在检测时信息可以通过显示屏3来显示，顶壳9靠近中部位置开设有第二卡槽902，且与检测块5呈卡合连接，用于对检测块5进行卡合，从而对其保持稳定，顶壳9靠近中部位置开设有第三卡槽903，用于对检测按钮6进行位置的卡合固定，且与检测按钮6呈卡合连接，电源接口8的底部贯穿底壳1和顶壳9的底部，便于电源线通过测量仪的底部进行接入。
21.如图2示，底壳1的内部靠近侧壁位置固定连接有多个固定柱101，通过设置的固定柱101来对电路板2的进行位置固定，底壳1的内部螺栓连接有电路板2，用于连接电子元件，从而对需要检测的晶体管进行检测，电路板2靠近顶部位置固定连接有显示屏3，通过显示屏3来对晶体管的性能进行信息化的显示，电路板2的内部靠近显示屏3的底部固定连接有引脚4，电路板2中的电子元件，电路板2靠近中部位置固定连接有检测块5，用于对插入的晶体管进行检测，检测块5的内部开设有多个检测孔501，且均匀分布，多个检测孔501的设置，使得可以检测不同的晶体管，电路板2靠近中部位置固定连接有检测按钮6，用于启动电路板2中的检测元件，从而对晶体管的性能进行检测，检测按钮6位于检测块5的底部，电路板2靠近底部位置固定连接有电阻7，电路板2中所必不可少的电子元件，电路板2的底部固定连接有电源接口8，用于对整个测量仪进行通电，从而可以使得电路板2中的元件对晶体管的性能进行检测。
22.如图3和图4示，电路板2的内部靠近侧壁位置开设有多个螺孔201，通过设置多个
螺孔201，从而使得螺钉202可以将电路板2进行位置的固定，同时方便对其拆卸，多个螺孔201的内壁均螺纹连接有螺钉202，用于对电路板2在底壳1上进行位置的固定，多个螺钉202分别贯穿多个螺孔201，且底部分别与多个固定柱101呈螺纹连接，便于对电路板2的固定。
23.本实用新型在使用时，首先将电路板2通过多个螺钉202将其固定在底壳1的固定柱101上，接着在使用顶壳9与底壳1进行卡合连接，同时使得显示屏3、检测块5和检测按钮6分别与第一卡槽901、第二卡槽902和第三卡槽903卡合固定，接着使用电源线接入电源接口8，从而将晶体管的测量仪进行通电，接着便可以将需要进行测量的晶体管的引脚放入检测块5内设置的检测孔501内，接着按下检测按钮6，此时电路板2将会对晶体管进行检测，接着便会把检测结果传输到显示屏3上，而在此过程中操作简单，使用效率高，因此，本实用新型提出的一种晶体管用测量仪不仅简单方便使用，还可以对不同晶体管进行检测。
24.以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。


技术特征：
1.一种晶体管用测量仪，包括底壳(1)，其特征在于：所述底壳(1)的内部靠近侧壁位置固定连接有多个固定柱(101)，所述底壳(1)的内部螺栓连接有电路板(2)，所述电路板(2)靠近顶部位置固定连接有显示屏(3)，所述电路板(2)靠近中部位置固定连接有检测块(5)，所述电路板(2)靠近中部位置固定连接有检测按钮(6)，所述检测按钮(6)位于检测块(5)的底部，所述电路板(2)的底部固定连接有电源接口(8)，所述底壳(1)的侧壁卡合连接有顶壳(9)。2.根据权利要求1所述的一种晶体管用测量仪，其特征在于：所述电路板(2)的内部靠近显示屏(3)的底部固定连接有引脚(4)，所述电路板(2)靠近底部位置固定连接有电阻(7)。3.根据权利要求1所述的一种晶体管用测量仪，其特征在于：所述检测块(5)的内部开设有多个检测孔(501)，且均匀分布。4.根据权利要求1所述的一种晶体管用测量仪，其特征在于：所述电路板(2)的内部靠近侧壁位置开设有多个螺孔(201)，多个所述螺孔(201)的内壁均螺纹连接有螺钉(202)，多个所述螺钉(202)分别贯穿多个螺孔(201)，且底部分别与多个固定柱(101)呈螺纹连接。5.根据权利要求1所述的一种晶体管用测量仪，其特征在于：所述顶壳(9)靠近顶部位置开设有第一卡槽(901)，且与显示屏(3)呈卡合连接，所述顶壳(9)靠近中部位置开设有第二卡槽(902)，且与检测块(5)呈卡合连接，所述顶壳(9)靠近中部位置开设有第三卡槽(903)，且与检测按钮(6)呈卡合连接。6.根据权利要求1所述的一种晶体管用测量仪，其特征在于：所述电源接口(8)的底部贯穿底壳(1)和顶壳(9)的底部。

技术总结
本实用新型公开了一种晶体管用测量仪，包括底壳，所述底壳的内部靠近侧壁位置固定连接有多个固定柱，所述底壳的内部螺栓连接有电路板，所述电路板靠近顶部位置固定连接有显示屏，所述电路板靠近中部位置固定连接有检测块，所述电路板靠近中部位置固定连接有检测按钮，所述检测按钮位于检测块的底部，所述电路板的底部固定连接有电源接口，所述底壳的侧壁卡合连接有顶壳，所述电路板的内部靠近显示屏的底部固定连接有引脚，所述电路板靠近底部位置固定连接有电阻，所述检测块的内部开设有多个检测孔，且均匀分布。本实用新型通过设置的简单结构的测量仪使得对不同的晶体管都可以进行检测，同时还方便对测量仪的简单使用。同时还方便对测量仪的简单使用。同时还方便对测量仪的简单使用。


技术研发人员：连泽亮
受保护的技术使用者：深圳市金大泽半导体有限公司
技术研发日：2021.06.09
技术公布日：2022/1/14