一种用于超声相控阵检测的试块的制作方法

1.本实用新型属于建筑工程技术领域，涉及一种用于超声相控阵检测的试块。


背景技术：

2.超声相控阵技术多用于建筑工程的焊缝检测，其是超声探头晶片的组合。超声相控阵检测装置由多个压电晶片按一定的规律分布排列。在使用时，逐次按预先规定的延迟时间激发各个晶片，晶片发射的超声波形成一个整体波阵面，能有效地控制发射超声束的形状和方向。
3.在进行超声相控阵检测之前，需要对其进行校准；现有的校准试块多为单一参数校核，一定程度上影响校核效率。
4.因此，亟需设计一种用于超声相控阵检测的试块，解决现有技术中存在的技术问题。


技术实现要素：

5.本实用新型的目的是至少一定程度上解决现有技术中存在的部分技术问题，提供的一种用于超声相控阵检测的试块，其结构合理，操作便捷，能够用于探头楔块延时、前沿尺寸、角度增益补充的校准，具有良好的推广价值。
6.为解决上述技术问题，本实用新型提供的一种用于超声相控阵检测的试块，其包括主体部，所述主体部的左侧配置有圆弧台阶结构，其右侧配置有矩形台阶结构；所述圆弧台阶结构设置有圆弧台阶部，所述圆弧台阶部设置有第一测试孔；所述矩形台阶结构包括第一台阶部和第二台阶部；所述第一台阶部设置有第二测试孔，所述第二测试孔的深度相同；所述第二台阶部设置有第三测试孔，所述第三测试孔由主体部的底面向上延伸设置。
7.作为优选实施例，所述矩形台阶结构还包括第三台阶部，所述第三台阶部的顶面的粗糙度不等于所主体部其他顶面的粗糙度。
8.作为优选实施例，所述第三台阶部顶面的粗糙度为ra1.6。
9.作为优选实施例，所述第一测试孔沿圆弧间隔设置，所述圆弧与所述圆弧台阶部的外轮廓同心。
10.作为优选实施例，所述第二测试孔的数量为多个，其沿所述主体部的纵向设置，述第二测试孔的内径尺寸不同。
11.作为优选实施例，所述第三测试孔的数量为多个，其内径相同。
12.作为优选实施例，所述第三测试孔的内径为2mm。
13.作为优选实施例，所述圆弧台阶结构与矩形台阶结构之间还设置有第四测试孔，所述第四测试孔的数量为多个，其沿所述主体部的纵向设置。
14.作为优选实施例，所述第四测试孔的内径尺寸不同，其沿所述主体部的厚度方向的深度不同。
15.作为优选实施例，相邻第四测试孔的深度差值为2mm-4mm。
16.本实用新型有益效果：
17.本实用新型提供的一种用于超声相控阵检测的试块，其结构合理，操作便捷，能够用于探头楔块延时、前沿尺寸、角度增益补充的校准，具有良好的推广价值。
附图说明
18.通过结合以下附图所作的详细描述，本实用新型的上述优点将变得更清楚和更容易理解，这些附图只是示意性的，并不限制本实用新型，其中：
19.图1是本实用新型所述一种用于超声相控阵检测的试块的结构示意图；
20.图2是本实用新型所述试块的主视图；
21.图3是本实用新型所述试块的俯视图；
22.图4是图3中a-a的剖视图；
23.图5是图3中b-b的剖视图；
24.图6是图3中c-c的剖视图。
25.附图中，各标号所代表的部件如下：
26.10.主体部；10a.第四测试孔；
27.11.圆弧台阶部；11a.第一测试孔；
28.12.第一台阶部；12a.第二测试孔；
29.13.第二台阶部；13a.第三测试孔；
30.14.第三台阶部。
具体实施方式
31.图1至图6是本申请所述一种用于超声相控阵检测的试块的相关示意图，下面结合具体实施例和附图，对本实用新型进行详细说明。
32.在此记载的实施例为本实用新型的特定的具体实施方式，用于说明本实用新型的构思，均是解释性和示例性的，不应解释为对本实用新型实施方式及本实用新型范围的限制。除在此记载的实施例外，本领域技术人员还能够基于本申请权利要求书和说明书所公开的内容采用显而易见的其它技术方案，这些技术方案包括采用对在此记载的实施例的做出任何显而易见的替换和修改的技术方案。
33.本说明书的附图为示意图，辅助说明本实用新型的构思，示意性地表示各部分的形状及其相互关系。请注意，为了便于清楚地表现出本实用新型实施例的各部件的结构，各附图之间并未按照相同的比例绘制。相同的参考标记用于表示相同的部分。
34.本实用新型所述一种用于超声相控阵检测的试块的结构示意图，如图1至图3所示。用于超声相控阵检测的试块包括主体部10，所述主体部10的左侧配置有圆弧台阶结构，其右侧配置有矩形台阶结构。
35.进一步地，所述圆弧台阶结构设置有圆弧台阶部11，所述圆弧台阶部11设置有第一测试孔11a；所述矩形台阶结构包括第一台阶部12和第二台阶部13；所述第一台阶部12设置有第二测试孔12a，所述第二测试孔12a的深度相同；所述第二台阶部13设置有图6示出的第三测试孔13a，所述第三测试孔13a由主体部10的底面向上延伸设置。
36.作为本实用新型的一个实施例，所述矩形台阶结构还包括第三台阶部14，所述第
三台阶部14的顶面的粗糙度不等于所主体部10其他顶面的粗糙度。优选地，所述第三台阶部14顶面的粗糙度为ra1.6，主体部10其他顶面的粗糙度可以为ra3.2。
37.图3中，所述第一测试孔11a沿圆弧间隔设置，所述圆弧与所述圆弧台阶部11的外轮廓同心。第一测试孔11a的内径为3mm，其沿圆弧台阶部11的厚度方向贯通设置。
38.图5中，所述第二测试孔12a的数量为多个，其沿所述主体部10的纵向设置，述第二测试孔12a的内径尺寸不同。优选地，第二测试孔12a的内径可以依次为10mm、8mm、6mm、4mm、2mm等。可以理解的是，第二测试孔12a也可以选取其他取值。
39.作为本实用新型的另一个实施例，所述第三测试孔13a的数量为多个，其沿主体部10的纵向间隔设置。第三测试孔13a的内径相同，所述第三测试孔13a的内径为2mm。
40.图1所示的实施例中，所述圆弧台阶结构与矩形台阶结构之间还设置有第四测试孔10a。图4中，所述第四测试孔10a的数量为多个，其沿所述主体部10的纵向设置。所述第四测试孔10a的内径尺寸不同，其沿所述主体部10的厚度方向的深度不同。相邻第四测试孔10a的深度差值为2mm-4mm。
41.本实用新型中，主体部10可以由聚乙烯或20号钢制成，以方便超声相控阵检测的校准。
42.相比于现有技术的缺点和不足，本实用新型提供的一种用于超声相控阵检测的试块，其结构合理，操作便捷，能够用于探头楔块延时、前沿尺寸、角度增益补充的校准，具有良好的推广价值。
43.本实用新型不局限于上述实施方式，任何人在本实用新型的启示下都可得出其他各种形式的产品，但不论在其形状或结构上作任何变化，凡是具有与本申请相同或相近似的技术方案，均落在本实用新型的保护范围之内。


技术特征：
1.一种用于超声相控阵检测的试块，其特征在于，包括主体部，所述主体部的左侧配置有圆弧台阶结构，其右侧配置有矩形台阶结构；所述圆弧台阶结构设置有圆弧台阶部，所述圆弧台阶部设置有第一测试孔；所述矩形台阶结构包括第一台阶部和第二台阶部；所述第一台阶部设置有第二测试孔，所述第二测试孔的深度相同；所述第二台阶部设置有第三测试孔，所述第三测试孔由主体部的底面向上延伸设置。2.根据权利要求1所述的试块，其特征在于，所述矩形台阶结构还包括第三台阶部，所述第三台阶部的顶面的粗糙度不等于所主体部其他顶面的粗糙度。3.根据权利要求2所述的试块，其特征在于，所述第三台阶部顶面的粗糙度为ra1.6。4.根据权利要求1所述的试块，其特征在于，所述第一测试孔沿圆弧间隔设置，所述圆弧与所述圆弧台阶部的外轮廓同心。5.根据权利要求1所述的试块，其特征在于，所述第二测试孔的数量为多个，其沿所述主体部的纵向设置，述第二测试孔的内径尺寸不同。6.根据权利要求1所述的试块，其特征在于，所述第三测试孔的数量为多个，其内径相同。7.根据权利要求6所述的试块，其特征在于，所述第三测试孔的内径为2mm。8.根据权利要求1所述的试块，其特征在于，所述圆弧台阶结构与矩形台阶结构之间还设置有第四测试孔，所述第四测试孔的数量为多个，其沿所述主体部的纵向设置。9.根据权利要求8所述的试块，其特征在于，所述第四测试孔的内径尺寸不同，其沿所述主体部的厚度方向的深度不同。10.根据权利要求9所述的试块，其特征在于，相邻第四测试孔的深度差值为2mm-4mm。

技术总结
本实用新型公开了一种用于超声相控阵检测的试块，其包括主体部，所述主体部的左侧配置有圆弧台阶结构，其右侧配置有矩形台阶结构；所述圆弧台阶结构设置有圆弧台阶部，所述圆弧台阶部设置有第一测试孔；所述矩形台阶结构包括第一台阶部和第二台阶部；所述第一台阶部设置有第二测试孔，所述第二测试孔的深度相同；所述第二台阶部设置有第三测试孔，所述第三测试孔由主体部的底面向上延伸设置。本实用新型提供的一种用于超声相控阵检测的试块，其结构合理，操作便捷，能够用于探头楔块延时、前沿尺寸、角度增益补充的校准，具有良好的推广价值。价值。价值。


技术研发人员：闫伟明 赖通 舒洁 蒋强 袁玉 梁利国
受保护的技术使用者：重庆建工无损检测工程有限公司
技术研发日：2021.06.11
技术公布日：2022/4/6