一种计算机芯片高效测试治具的制作方法

1.本实用新型涉及计算机芯片领域，尤其涉及一种计算机芯片高效测试治具。


背景技术：

2.电脑芯片其实是个电子零件在一个电脑芯片中包含了千千万万的电阻，电容以及其他小的元件。电脑上有很多的芯片，内存条上一块一块的黑色长条是芯片，主板、硬盘、显卡等上都有很多的芯片，cpu也是块电脑芯片，只不过他比普通的电脑芯片更加的复杂更加的精密。芯片在生产完成后，需要对其性能进行测试，通过测试后才能推向市场。
3.目前，现有的计算机芯片测试装置一次只能对一个芯片进行测试工作，测试效率较低，由于芯片较小，放置在测试槽内部后，如果没有对其位置进行固定，会导致测试结果出现误差，而且测试完毕后拿取不方便，因此，需要设计一种计算机芯片高效测试治具来解决上述问题。


技术实现要素：

4.本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种计算机芯片高效测试治具。
5.为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：一种计算机芯片高效测试治具，包括测试箱，所述测试箱的内部底端竖向活动设置有若干个移动板，若干个所述移动板相对侧的侧壁上均设置有测试片，所述测试箱的内部两侧前后两侧壁之间均固定设置有隔板，两个所述隔板的外侧壁上均横向设置有电动缸，两个所述电动缸的输出端均贯穿对应侧的隔板的侧壁，且和对应侧的移动板的侧壁固定连接，若干个所述移动板的前后两侧中部之间活动设置有第一连接杆，两个所述第一连接杆的外部均套设有若干个第一复位弹簧，若干个所述第一复位弹簧分别位于两个移动板之间；
6.若干个所述移动板的下方中部之间活动设置有第二连接杆，所述第二连接杆的外部套设有若干个滑套，若干个所述滑套分别位于两个移动板之间，所述滑套的外部套设有若干个第二复位弹簧，若干个所述第二复位弹簧分别位于滑套的两侧，若干个所述滑套的上方均固定设置有支架，若干个所述支架的上方均固定设置有磁铁推片，若干个所述磁铁推片的上方均活动设置有电磁铁，所述磁铁推片和电磁铁的磁性相同。
7.作为上述技术方案的进一步描述：
8.若干个所述移动板的前后两端中部均固定设置有滑动轮。
9.作为上述技术方案的进一步描述：
10.所述测试箱的内部前后两侧壁上均横向开设有滑槽，若干个所述滑动轮均滑动设置在对应侧的滑槽的内部。
11.作为上述技术方案的进一步描述：
12.若干个所述电磁铁的上方均固定设置有防护垫。
13.作为上述技术方案的进一步描述：
14.若干个所述电磁铁的下方两侧均固定设置有限位杆。
15.作为上述技术方案的进一步描述：
16.若干个所述限位杆的下端均活动贯穿防护垫且固定设置有限位块。
17.作为上述技术方案的进一步描述：
18.所述测试箱的上侧壁上开设有测试口。
19.作为上述技术方案的进一步描述：
20.所述测试箱的上方一侧前端设置有控制器，所述测试箱的上方靠近控制器的一侧设置有显示屏。
21.本实用新型具有如下有益效果：
22.相比于现有装置，该装置在使用时，通过设置有若干个移动板，将测试片设置在移动板之间，从而形成若干个测试槽，可以对计算机芯片进行批量测试，使测试效率更高。
23.相比于现有装置，该装置在使用时，通过设置有电动缸对移动板进行推动，从而推动测试片将芯片夹紧固定，使测试结果更准确，通过设置有第一复位弹簧，可缓冲测试片对芯片的压力。
24.相比于现有装置，该装置在使用时，通过设置有磁铁推片，芯片测试完毕后，对磁铁推片通电，将电磁铁向上推动，从而将芯片从装置内部推出，方便芯片取出。
附图说明
25.图1为本实用新型提出的一种计算机芯片高效测试治具的正剖视图；
26.图2为本实用新型提出的一种计算机芯片高效测试治具的俯剖视图；
27.图3为图1中a处的放大图；
28.图4为本实用新型提出的一种计算机芯片高效测试治具的磁铁推片的侧剖视图；
29.图5为本实用新型提出的一种计算机芯片高效测试治具的俯视图；
30.图6为本实用新型提出的一种计算机芯片高效测试治具的立体图。
31.图例说明：
32.1、测试箱；2、移动板；3、测试片；4、隔板；5、电动缸；6、第一连接杆；7、第一复位弹簧；8、滑动轮；9、滑槽；10、第二连接杆；11、滑套；12、第二复位弹簧；13、支架；14、磁铁推片；15、电磁铁；16、防护垫；17、测试口；18、控制器；19、显示屏；20、限位杆；21、限位块。
具体实施方式
33.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
34.在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制；术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性，此外，除非另有明确的
规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
35.参照图1-6，本实用新型提供的一种实施例：一种计算机芯片高效测试治具，包括测试箱1，测试箱1的内部底端竖向活动设置有若干个移动板2，若干个移动板2相对侧的侧壁上均设置有测试片3，测试箱1的内部两侧前后两侧壁之间均固定设置有隔板4，两个隔板4的外侧壁上均横向设置有电动缸5，两个电动缸5的输出端均贯穿对应侧的隔板4的侧壁，且和对应侧的移动板2的侧壁固定连接，若干个移动板2的前后两侧中部之间活动设置有第一连接杆6，两个第一连接杆6的外部均套设有若干个第一复位弹簧7，缓冲测试片3对芯片的压力，若干个第一复位弹簧7分别位于两个移动板2之间，若干个移动板2的前后两端中部均固定设置有滑动轮8，测试箱1的内部前后两侧壁上均横向开设有滑槽9，若干个滑动轮8均滑动设置在对应侧的滑槽9的内部，用于辅助移动板2的移动，增强装置的稳定性。
36.若干个移动板2的下方中部之间活动设置有第二连接杆10，第二连接杆10的外部套设有若干个滑套11，若干个滑套11分别位于两个移动板2之间，滑套11的外部套设有若干个第二复位弹簧12，若干个第二复位弹簧12分别位于滑套11的两侧，若干个滑套11的上方均固定设置有支架13，若干个支架13的上方均固定设置有磁铁推片14，若干个磁铁推片14的上方均活动设置有电磁铁15，磁铁推片14和电磁铁15的磁性相同，将磁铁推片14通电后，可将电磁铁15向上推动，若干个电磁铁15的上方均固定设置有防护垫16，若干个电磁铁15的下方两侧均固定设置有限位杆20，防止电磁铁15在上升过程中发生位置偏移，若干个限位杆20的下端均活动贯穿防护垫16且固定设置有限位块21，对电磁铁15的上升起到限位的作用，测试箱1的上侧壁上开设有测试口17，测试箱1的上方一侧前端设置有控制器18，用于控制装置运行，测试箱1的上方靠近控制器18的一侧设置有显示屏19，用于显示测试结果。
37.工作原理：该装置在使用时，将需要测试的计算机芯片放置在防护垫16的上方，随后通过两侧的电动缸5依次推动两边的移动板2向中间移动，将芯片夹紧固定在测试片3之间，通过滑动轮8在滑槽9的内部滑动，辅助移动板2的移动，通过第一复位弹簧7可减缓测试片3对芯片的压力，测试结束后，将两侧的电动缸5复位，移动板2在电动缸5和第一复位弹簧7的作用下，恢复到原本的位置，之后向磁铁推片14通电，磁铁推片14将电磁铁15向上推动，从而将芯片向上推动，通过在电磁铁15的下方设置有限位杆20，可防止电磁铁15在上升过程中发生位置偏移，最后将芯片取出即可。
38.最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。