一种压触式测试工装的制作方法

1.本实用新型涉及电子元件测试的领域，尤其涉及一种压触式测试工装。


背景技术：

2.在对环形器、隔离器、陶瓷滤波器等电子元件进行测试时，需要将测试设备的探针与这些电子元件的端口连接，以完成对电子元件的测试工作。
3.1、由于不同电子元件的端口数量不同，同一个测试设备难以适用于对不同的电子元件进行测试。
4.2、由于电子元件的端口较小，对大量电子元件进行测试时，需要将测试设备的探针与各个电子元件的端口依次对齐连接，操作繁琐，不便于对大量电子元件进行测试。


技术实现要素：

5.针对上述现有技术的不足，本实用新型的目的是提供一种压触式测试工装，以解决现有技术中的一个或多个问题。
6.为实现上述目的，本实用新型的技术方案如下：
7.一种压触式测试工装，包括测试机构：与测试设备电性连接，且所述测试机构设有至少两个触点，所述触点的数量与待测电子元件的端口数量适配；
8.第一板体，设有用于定位待测电子元件的载片台，所述第一板体相对于所述测试机构活动；
9.弹性件，用于带动所述第一板体与待测电子元件靠近所述测试机构，以实现所述待测电子元件的端口与所述触点抵接，当所述待测电子元件的端口与所述触点抵接时，所述待测电子元件、所述测试机构与所述测试设备之间形成回路。
10.进一步的，还包括第二板体，所述测试机构、所述第一板体以及所述弹性件均设置在所述第二板体上，所述第一板体与所述第二板体滑动配合，所述弹性件用于驱动所述第一板体朝向靠近所述测试机构的方向滑移。
11.进一步的，所述第二板体转动连接有把手，所述把手与所述第一板体相抵，以在所述把手摆动时，带动所述第一板体滑移。
12.进一步的，所述测试机构包括滑移组件和至少两个测试模块，所述滑移组件设置在所述第二板体上，每个所述测试模块设有至少一个触点，所述测试模块可拆卸连接在所述滑移组件，所述滑移组件用于供所述测试模块在垂直于所述第一板体滑移轴线的平面内滑移。
13.进一步的，所述滑移组件包括第一滑轨、第二滑轨和滑块，所述第一滑轨设置在所述第二板体上，所述第二滑轨滑动架设在所述第一滑轨上，所述滑块滑动架设在所述第二滑轨上，所述第二滑轨与所述滑块的滑移轴线互相垂直，且均垂直于所述第一板体的滑移轴线。
14.进一步的，所述第二板体上转动设有螺杆，所述螺杆与所述第二滑轨螺纹配合。
15.进一步的，所述第二滑轨螺纹连接有第一螺栓，所述第一螺栓的螺纹端与所述第一滑轨相抵；
16.所述滑块上螺纹连接有第二螺栓，所述第二螺栓的螺纹端与所述第二滑轨相抵。
17.进一步的，所述测试模块均包括至少一射频同轴电缆和sma连接器，所述触点为射频同轴电缆一端的引针，所述sma连接器与所述射频同轴电缆另一端的引针连接，所述sma连接器用于连接测试设备。
18.进一步的，所述测试模块包括可拆卸连接的第一部分与第二部分，所述第一部分和第二部分互相朝向的侧面均开设有用于嵌设所述射频同轴电缆的凹槽。
19.进一步的，所述凹槽的数量与所述射频同轴电缆的数量适配，所述凹槽配置为：
20.当所述射频同轴电缆的数量大于两个时，相邻所述凹槽靠近所述sma连接器一端的间距大于另一端的间距。
21.与现有技术相比，本实用新型的有益技术效果如下：
22.(一)将待测电子元件安装在载片台上，弹性件推动第一板体朝向测试机构滑移，直至待测电子元件的端口与触点抵接时，待测电子元件通过测试机构测试设备之间形成回路，测试设备即可对待测电子元件进行测试。此测试工装不需要测试人员将测试设备的探针与电子元件的端口对齐连接，可以方便地对大量电子元件进行测试；此外只需要改变测试机构的触点数量，与环形器、隔离器、陶瓷滤波器等不同端口数量的电子元件适配，从而适用于对不同电子元件进行测试。
23.(二)增设用于控制第一板体滑移的把手，当测试人员需要将电子元件安装到载片台或从载片台拆下时，可以通过转动把手，方便的克服弹性件阻力，带动第一板体远离测试机构滑移。
24.(三)测试模块在垂直于第一板体滑移轴线平面上滑移，可以调整触点的位置，当需要对不同电子元件进行测试时，通过调整触点的位置，可以保证此测试工装的触点能够与不同尺寸电子元件的端口抵接，从而适用于对不同的电子元件进行测试。
25.(四)第一螺栓的螺纹端与第一滑轨相抵时，可以锁定第二滑轨的位置；第二螺栓的螺纹端与第二滑轨相抵时，可以锁定滑块的位置。利用第一螺栓和第二螺栓锁定第二滑轨与滑块的位置，可以在测试电子元件时，保证测试模块不发生偏移。
26.(五)将测试模块设置为可拆卸连接的第一部分与第二部分，并且将射频同轴电缆抵紧在第一部分与第二部分之间，可以方便地对射频同轴电缆进行拆装更换，以及对测试模块内射频同轴电缆的数量进行调整，从而改变测试模块触点的数量。
27.(六)相邻凹槽靠近sma连接器一端的间距大于另一端的间距，可以给相邻sma连接器留出充足的空间，以免sma连接器安装后，妨碍安装相邻的sma 连接器。
附图说明
28.图1示出了本实用新型实施例中压触式测试工装的结构示意图；
29.图2示出了图1中支架、第一杆体与手柄的安装结构示意图；
30.图3示出了本实用新型实施例中第一板体与第二板体的安装结构示意图；
31.图4示出了图1中压触式测试工装的俯视图；
32.图5示出了本实用新型实施例中测试模块的结构示意图；
33.图6示出了图5中第一部分、第二部分与射频同轴电缆的安装结构示意图；
34.图7示出了本实用新型实施例中带有两个射频同轴电缆的测试模块的结构示意图。
35.附图中标记：
36.1、第二板体；11、支架；111、第一孔；12、第一杆体；121、弹性件；122、螺帽；13、第一板体；131、载片台；132、电子元件；133、第二杆体；14、耳板；141、手柄；2、侧板；21、第一滑轨；22、第二滑轨；221、第一螺栓；23、滑块；231、第二螺栓；24、螺杆；3、测试模块；31、第一部分；32、第二部分；33、凹槽；34、射频同轴电缆；341、触点；342、sma连接器。
具体实施方式
37.为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图和具体实施方式对本实用新型提出的一种压触式测试工装作进一步详细说明。根据下面说明，本实用新型的优点和特征将更清楚。需要说明的是，附图采用非常简化的形式且均使用非精准的比例，仅用以方便、明晰地辅助说明本实用新型实施方式的目的。为了使本实用新型的目的、特征和优点能够更加明显易懂，请参阅附图。须知，本说明书所附图式所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本实用新型实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本实用新型所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本实用新型所揭示的技术内容能涵盖的范围内。
38.实施例
39.请参考图1至图3，本技术提供了一种压触式测试工装，其包括沿水平方向摆放的第二板体1，第二板体1上设有用于与待测电子元件132进行测试的测试机构，测试机构外接有用于测试电子元件132的测试设备(图中未示出)，测试机构还设有两个触点341，适配于具有两个端口的待测电子元件132。第二板体1的顶面上还栓接有支架11，支架11上沿竖直方向滑动设置有第一板体 13，第一板体13与第二板体1平行，第一板体13上栓接有用于定位待测电子元件132的载片台131。支架11上还设置有用于驱使第一板体13向上滑动的弹性件121，当待测电子元件132安装在载片台131上后，弹性件121推动第一板体13向上滑动，直至待测电子元件132的两个端口分别与一个触点341 抵接，待测电子元件132、测试机构与测试设备之间形成回路，测试设备即可对待测电子元件132进行测试。
40.此外，当需要检测不同端口数量的电子元件132时，需要调整触点341的数量，以适用于对不同端口数量的电子元件132测试。
41.请参考图2与图3，进一步的，支架11上沿竖直方向开设有通孔，通孔内滑动设置有第一杆体12，第一板体13栓接在第一杆体12的顶端。通孔的侧壁顶端边沿开设有环形槽，弹性件121为套设在第一杆体12上的弹簧，弹簧放置在环形槽内，弹簧的一端与环形槽的槽底相抵，另一端与第一板体13的底面相抵。当第一板体13向下滑动时，弹簧压缩蓄能；弹簧释放能量时，长度变长，从而推动第一板体13向上滑动。
42.请参考图2与图3，进一步的，为了保证第一板体13在滑移时，不会绕第一杆体12的轴线转动，第一板体13的底面上焊接固定有两个第二杆体133，两个第二杆体133均沿竖直方向设置，第二杆体133的底端插入支架11内，并沿竖直方向与支架11滑动配合，利用两个
第二杆体133可以引导第一板体13 沿竖直方向滑移。
43.请参考图2与图3，进一步的，载片台131栓接在第一板体13的顶面上，待测试的电子元件132安装在载片台131的顶面上。当对不同的电子元件132 进行测试时，需要根据待测试的电子元件132更换载片台131，以保证电子元件132可以稳定安装在载片台131上。
44.请参考图2与图3，进一步的，当需要在载片台131安装或取下电子元件 132时，测试人员需要控制第一板体13背向测试设备滑移，使得电子元件132 的端口与测试设备之间产生间隙。为了便于测试人员控制第一板体13滑移，第二板体1的顶面上栓接有转动座，转动座的顶面上一体成型有两个沿竖直方向设置的耳板14，两个耳板14互相平行，且两个耳板14之间转动架设有手柄141，手柄141的转动轴线平行于第二板体1，利用手柄141带动第一板体13克服弹簧的阻力滑移。
45.请参考图2与图3，具体的，支架11的侧面开设有第一孔111，第一孔111 贯穿支架11的两侧，并与通孔连通，第一杆体12的底端向下延伸，伸入第一孔111内。手柄141穿过第一孔111，且手柄141上还开设有第二孔(图中未示出)，第二孔沿竖直方向贯穿手柄141的两侧。第一杆体12的底端向下穿过第二孔，并连接有螺帽122，第一杆体12的侧面开设有外螺纹，第一杆体12 与螺帽122螺纹连接。当测试人员握持手柄141，并将手柄141向下转动时，手柄141的侧面与螺帽122相抵，从而带动第一杆体12、第一板体13向下滑移。
46.请参考图2与图3，此外，当弹性件121带动第一板体13向上滑移的过程中，最终手柄141会与第一孔111的顶面边沿相抵，即利用手柄141与第一孔 111的顶面可以限制第一板体13能够达到的最大高度。而第一板体13向上滑移时，第一板体13实际上通过螺帽122带动手柄141向上转动，因此，可以通过在第一杆体12上旋进或旋退螺帽122，来调整第一板体13能够到达的最大高度。
47.请参考图1与图4，下面描述测试机构的具体结构如下：
48.测试机构包括设置在第二板体1上的滑移组件，滑移组件上安装有两个用于对电子元件132进行测试的测试模块3。滑移组件包括安装在第二板体1上的两个平行的侧板2，两个侧板2均沿竖直方向设置，并与第二板体1栓接。两个侧板2之间栓接有两个第一滑轨21，两个第一滑轨21之间滑动设置有两个互相平行的第二滑轨22，第二滑轨22相对于第一滑轨21的滑移轴线平行于第一滑轨21的轴线。两个第二滑轨22的顶面上均滑动设置有两个滑块23，滑块23相对于第二滑轨22的滑移轴线平行于第二滑轨22的轴线，两个测试模块 3分别栓接在两个滑块23的顶面上。
49.第二滑轨22相对于第一滑轨21滑移的轴线与滑块23相对于第二滑轨22 滑移的轴线互相垂直，且均平行于第二板体1。两个第一滑轨21的形状均为杆状，两个第二滑轨22上均开设有两个滑动孔，两个滑动孔分别用于供两个第一滑轨21穿过，第二滑轨22通过两个滑动孔安装在两个第一滑轨21之间。第二滑轨22的顶面上一体成型有燕尾滑轨，滑块23的底面则开设有燕尾滑槽，通过燕尾滑槽与燕尾滑轨配合，实现滑块23与第二滑轨22之间的滑动配合。
50.通过设置滑移组件，测试模块3可以平行于第一板体13的平面上滑移，可以调整触点341的位置，当需要对不同电子元件132进行测试时，可以保证此测试工装的触点341能够与不同尺寸电子元件132的端口抵接，从而适用于对不同的电子元件132进行测试。
51.为了精确控制第二滑轨22的滑移距离，两个侧板2均穿设有螺杆24，螺杆24与侧板
2转动配合，螺杆24的轴线平行于第二滑轨22的滑移轴线。两个螺杆24的分别贯穿一个第二滑轨22的侧面，并与对应的第二滑轨22螺纹配合。此外，螺杆24的一端还安装有手轮，测试人员通过手轮转动螺杆24，可以带动第二滑轨22精确滑移。
52.此外，第二滑轨22的端面上还插设有第一螺栓221，第一螺栓221的螺纹端插入第二滑轨22的端面，与第一滑轨21的侧面相抵，且第一螺栓221与第二滑轨22之间螺纹配合。滑块23的侧面还插设有第二螺栓231，第二螺栓231 的螺纹端插入滑块23，与燕尾滑轨的侧面相抵，且第二螺栓231与滑块23之间螺纹配合。第一螺栓221的螺纹端与第一滑轨21相抵时，可以锁定第二滑轨 22的位置；第二螺栓231的螺纹端与第二滑轨22相抵时，可以锁定滑块23的位置。利用第一螺栓221和第二螺栓231锁定第二滑轨22与滑块23的位置，可以在测试电子元件132时，保证测试模块3不发生偏移。
53.请参考图4至图7，下面描述测试模块3的具体结构如下：
54.测试模块3包括相互栓接的第一部分31和第二部分32，第一部分31的底面与第二部分32的顶面贴合，且第一部分31与第二部分32互相朝向的平面上均开设有凹槽33。凹槽33的截面为半圆形，当第一部分31与第二部分32拼合时，第一部分31与第二部分32之间的凹槽33拼合形成圆孔。圆孔嵌设有一段射频同轴电缆34，射频同轴电缆34的两端的引针均伸出。两个测试模块3 互相朝向一侧的射频同轴电缆34引针即为测试模块3的触点341，两个测试模块3互相背向一侧的射频同轴电缆34引针则连接有sma连接器342，sma连接器342与第一部分31以及第二部分32均栓接。sma连接器342用于连接测试设备，实现各个触点341与测试设备之间的电性连接。
55.第一部分31与第二部分32之间嵌设的射频同轴电缆34数量至少为一个。当第一部分31与第二部分32之间嵌设的射频同轴电缆34数量为两个时，对应的，第一部分31或第二部分32上开设的凹槽33数量也为两个。两个凹槽33 靠近sma连接器342一端的间距大于另一端的间距，增大了相邻sma连接器342 之间的距离，给相邻sma连接器342留出充足的安装空间，以免sma连接器342 安装后，妨碍安装相邻的sma连接器342。
56.对不同电子元件132进行测试，而需要调整触点341的数量时，既可以直接更换带有多个射频同轴电缆34的测试模块3；也可以对测试模块3的射频同轴电缆34进行拆装，改变测试模块3的射频同轴电缆34数量，以改变测试模块3的触点341数量。
57.工作原理：
58.将待测电子元件132安装在载片台131上，首先调整测试模块3的位置，使得触点341与待测电子元件132的端口沿竖直方向对齐。随后，利用弹性件 121推动第一板体13朝向测试机构滑移，直至待测电子元件132的端口与触点 341抵接，待测电子元件132通过测试机构测试设备之间形成回路，测试设备即可对待测电子元件132进行测试。此测试工装只需要测试人员将测试设备的探针与同类型电子元件132的端口对齐一次，即可方便地对大量电子元件132 进行测试；此外只需要改变测试机构触点341的数量与位置，与环形器、隔离器、陶瓷滤波器等不同端口数量的电子元件132适配，可以适用于对不同电子元件132进行测试。
59.以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
60.以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。