一种芯片测试治具的制作方法

1.本实用新型涉及测试治具领域，更具体地说，涉及一种芯片测试治具。


背景技术：

2.治具的分类，治具可以分为工艺装配类治具、项目测试类治具和线路板测试类治具三类，而项目测试类治具作为芯片测试的治具；
3.而芯片具有多种型号，不同型号的芯片厚度不同，针脚长短也有所区别，在对回收芯片进行测试时，也需要观察针脚是否弯曲，芯片的针脚是否与通电部分完全接触，来排除两者导致故障的问题。


技术实现要素：

4.1.要解决的技术问题
5.针对现有技术中存在的问题，本实用新型的目的在于提供一种芯片测试治具，它可以实现部分结构便于拆卸，以方便排除故障，可适应不同厚度和不同针脚长短的芯片，保持芯片针脚与测试元件连接的稳定性。
6.2.技术方案
7.为解决上述问题，本实用新型采用如下的技术方案。
8.一种芯片测试治具，包括检测治具主体、检测电路板、针脚观测端、接触通电板，所述检测治具主体的定侧面设置有用于检测芯片是否能够正常运作的检测电路板；
9.所述检测电路板的末端侧面设置有用于连接检测元件电路与芯片电路的接触通电板，所述接触通电板的上方设置有用于固定芯片位置的芯片固端，所述芯片固端的侧面设置有用于观察芯片针脚的针脚观测端。
10.进一步的，所述接触通电板的上表面螺纹连接有外护壳，所述接触通电板的一端设置有开关，所述接触通电板的侧面固定连接有插排槽，所述插排槽的内侧插合连接有插排触片，所述插排触片固定连接在所述检测电路板的一侧。
11.进一步的，所述接触通电板的侧面开设有观测镜槽，所述观测镜槽的侧面下方两端固定连接有侧固杆座，所述侧固杆座的内侧固定连接有滑动杆，所述滑动杆的外侧滑动连接有滑动块，所述滑动块的顶端固定连接有调焦镜头，所述调焦镜头与所述观测镜槽相对滑动。
12.进一步的，所述接触通电板的上表面固定连接有两处针脚连接面板，所述针脚连接面板的上方固定连接有针脚穿插板，所述针脚穿插板的表面开设有观测缝隙，所述观测缝隙与所述观测镜槽构成连通结构。
13.进一步的，所述芯片固端包括旋钮、上固盖、下固座，所述针脚穿插板的顶端固定连接有下固座，所述下固座的侧面铰接有上固盖，所述上固盖的表面转动连接有旋钮，所述下固座的表面边缘处固定连接有契合块，所述下固座的内侧底面设置有针脚穿孔，所述针脚穿孔与所述观测缝隙所处的位置相对应。
14.进一步的，所述上固盖的内部中间位置固定连接有翻转环，所述翻转环与所述旋钮固定连接，所述翻转环的侧面固定连接有弹簧，所述翻转环侧边两处同线相对式固定连接有侧摆杆，且所述侧摆杆表面开设有腰槽，所述弹簧的末端固定连接有挤压弹性片，所述上固盖的两侧面开设有滑动槽，且所述滑动槽内侧滑动连接有滑动块杆，所述滑动块杆向下延伸的圆杆通过所述腰槽与所述侧摆杆构成活动连接，所述滑动块杆与契合块构成卡合连接。
15.3.有益效果
16.相比于现有技术，本实用新型的优点在于：
17.(1)本方案，让检测电路板通过插排槽与插排触片连接的方式，可针方便对检测电路板结构进行拆卸和替换，这种结构的好处在于，能够在出现检测故障时，通过替换主要元件检测电路板，来排除出现故障的原因，方便排查故障，便于维修。
18.(2)本方案，通过调焦镜头镜头的焦急调节，并通过移动，让镜头在观测镜槽内侧移动，并移动到两处针脚穿插板处，利用镜头观察针脚是否与触片完好接触，针脚是否垂直，以方便排出这两种因素所带来的故障，所以提高检测和测试的效果。
19.(3)本方案，通过将芯片放置到下固座内侧，让芯片的针脚穿过针脚穿孔，随后将上固盖盖上，旋转旋钮，让上固盖与下固座通过结构卡合固定，以便于让芯片通过轻微下压，对芯片施加下压力，让芯片底侧的针脚能够更好的与所接触的触点贴合。
20.(4)本方案，当上固盖盖在下固座上时，通过挤压弹性片与芯片表面接触，并利用弹簧形变收缩适应，缓和下压芯片的力度，同时转动旋钮带动翻转环转动，进而让侧摆杆翻转，带动滑动块杆在滑动槽内滑动，并让滑动块杆与契合块契合即可完成固定，结构可适应不同芯片零件的厚度，进而让不同厚度的芯片和针脚长度得以适应，并保证元件之间接触连接的稳定性。
附图说明
21.图1为本实用新型的正面立体结构示意图；
22.图2为本实用新型的接触通电板位置结构示意图；
23.图3为本实用新型的针脚观测端组成结构示意图；
24.图4为本实用新型的接触通电板结构示意图；
25.图5为本实用新型的芯片固端结构示意图；
26.图6为本实用新型的下固座结构示意图；
27.图7为本实用新型的针脚穿插板结构示意图；
28.图8为本实用新型的上固盖结构示意图。
29.图中标号说明：
30.1、检测治具主体；2、检测电路板；3、外护壳；4、开关；5、芯片固端；6、针脚观测端；7、侧固杆座；8、观测镜槽；9、接触通电板；10、插排触片；11、滑动杆；12、滑动块；13、调焦镜头；14、插排槽；15、针脚连接面板；16、旋钮；17、上固盖；18、下固座；19、针脚穿插板；20、契合块；21、针脚穿孔；22、观测缝隙；23、挤压弹性片；24、弹簧；25、翻转环；26、侧摆杆；27、滑动块杆。
具体实施方式
31.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述；显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例，基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
32.请参阅图1-8，一种芯片测试治具，包括检测治具主体1、检测电路板2、针脚观测端6、接触通电板9，检测治具主体1的定侧面设置有用于检测芯片是否能够正常运作的检测电路板2；
33.检测电路板2的末端侧面设置有用于连接检测元件电路与芯片电路的接触通电板9，接触通电板9的上方设置有用于固定芯片位置的芯片固端5，芯片固端5的侧面设置有用于观察芯片针脚的针脚观测端6。
34.参阅图2，接触通电板9的上表面螺纹连接有外护壳3，接触通电板9的一端设置有开关4，接触通电板9的侧面固定连接有插排槽14，插排槽14的内侧插合连接有插排触片10，插排触片10固定连接在检测电路板2的一侧，让检测电路板2通过插排槽14与插排触片10连接的方式，可针方便对检测电路板2结构进行拆卸和替换，这种结构的好处在于，能够在出现检测故障时，通过替换主要元件检测电路板2，来排除出现故障的原因，方便排查故障，便于维修。
35.参阅图3，接触通电板9的侧面开设有观测镜槽8，观测镜槽8的侧面下方两端固定连接有侧固杆座7，侧固杆座7的内侧固定连接有滑动杆11，滑动杆11的外侧滑动连接有滑动块12，滑动块12的顶端固定连接有调焦镜头13，调焦镜头13与观测镜槽8相对滑动，通过调焦镜头13镜头的焦急调节，并通过移动，让镜头在观测镜槽8内侧移动，并移动到两处针脚穿插板19处，利用镜头观察针脚是否与触片完好接触，针脚是否垂直，以方便排出这两种因素所带来的故障，所以提高检测和测试的效果。
36.参阅图4及图7，接触通电板9的上表面固定连接有两处针脚连接面板15，针脚连接面板15的上方固定连接有针脚穿插板19，针脚穿插板19的表面开设有观测缝隙22，观测缝隙22与观测镜槽8构成连通结构，芯片的针脚穿过针脚穿插板19处的观测缝隙22，并让末端与针脚连接面板15上的触电接触，以便将芯片接入元件电路中进行测试。
37.参阅图5及图6，芯片固端5包括旋钮16、上固盖17、下固座18，针脚穿插板19的顶端固定连接有下固座18，下固座18的侧面铰接有上固盖17，上固盖17的表面转动连接有旋钮16，下固座18的表面边缘处固定连接有契合块20，下固座18的内侧底面设置有针脚穿孔21，针脚穿孔21与观测缝隙22所处的位置相对应，通过将芯片放置到下固座18内侧，让芯片的针脚穿过针脚穿孔21，随后将上固盖17盖上，旋转旋钮16，让上固盖17与下固座18通过结构卡合固定，以便于让芯片通过轻微下压，对芯片施加下压力，让芯片底侧的针脚能够更好的与所接触的触点贴合。
38.参阅图8，上固盖17的内部中间位置固定连接有翻转环25，翻转环25与旋钮16固定连接，翻转环25的侧面固定连接有弹簧24，翻转环25侧边两处同线相对式固定连接有侧摆杆26，且侧摆杆26表面开设有腰槽，弹簧24的末端固定连接有挤压弹性片23，上固盖17的两侧面开设有滑动槽，且滑动槽内侧滑动连接有滑动块杆27，滑动块杆27向下延伸的圆杆通过腰槽与侧摆杆26构成活动连接，滑动块杆27与契合块20构成卡合连接，当上固盖17盖在
下固座18上时，通过挤压弹性片23与芯片表面接触，并利用弹簧24形变收缩适应，缓和下压芯片的力度，同时转动旋钮16带动翻转环25转动，进而让侧摆杆26翻转，带动滑动块杆27在滑动槽内滑动，并让滑动块杆27与契合块20契合即可完成固定，结构可适应不同芯片零件的厚度，进而让不同厚度的芯片和针脚长度得以适应，并保证元件之间接触连接的稳定性。
39.在使用时：首先，将芯片放置到下固座18内侧，让芯片的针脚穿过针脚穿孔21，随后将上固盖17盖上，旋转旋钮16，转动旋钮16带动翻转环25转动，进而让侧摆杆26翻转，带动滑动块杆27在滑动槽内滑动，并让滑动块杆27与契合块20契合，让上固盖17与下固座18通过结构卡合固定，以便于让芯片通过轻微下压，对芯片施加下压力，然后通过调焦镜头13镜头的焦急调节，并通过移动，让镜头在观测镜槽8内侧移动，并移动到两处针脚穿插板19处，随后让检测电路板2通过插排槽14与插排触片10连接，让检测电路板2对芯片进行检测即可。
40.以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式；但本实用新型的保护范围并不局限于此。任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其改进构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围内。