一种芯片封装用的测试装置的制作方法

1.本实用新型涉及芯片封装技术领域，特别是涉及一种芯片封装用的测试装置。


背景技术：

2.芯片封装指的是安装半导体集成电路芯片用的外壳。芯片的外壳起着安放、固定、密封、保护芯片和增强电热性能的作用，而且还是沟通芯片内部世界与外部电路的桥梁——芯片上的接点用导线连接到封装外壳的引脚上，这些引脚又通过印制板上的导线与其他器件建立连接。因此，封装对cpu和其他lsi集成电路都起着重要的作用。
3.传统的芯片封装外壳的测试大多是通过相关工作人员手动来进行测试，由于每个人的测试手法和验证标准不一致，进而使得芯片外壳的质量参差不齐，且当不合格的外壳在进行质量测试时容易出现破损而导致碎屑乱飞的情况，进而对工作人员的安全产生威胁，因此我们提出一种芯片封装用的测试装置。


技术实现要素：

4.针对上述问题，本实用新型提供了一种芯片封装用的测试装置，具有便于操控的优点和安全性高的优点。
5.本实用新型的技术方案是：包括支撑底座、固定组件、控制组件和测试组件，所述支撑底座外壁固定连接有固定架，所述固定架顶端设置有电机，所述电机的输出端设置有丝杆，所述丝杆远离电机的一端与支撑底座的内壁活动连接，所述丝杆的外壁活动连接有固定组件，所述固定架的两侧外壁均开设有一号凹槽，所述一号凹槽内设置有控制组件，所述一号凹槽的内部开设有二号凹槽，所述二号凹槽的内部设置有测试组件，所述测试组件与控制组件活动连接，所述支撑底座的顶端设置有收纳箱。
6.上述技术方案的工作原理如下：工作人员通过将需要进行质量检测的芯片外壳放入固定组件内，并随后启动电机，利用电机带动丝杆进行旋转，丝杆进行旋转时其外壁上的丝杆滑套和固定组件会首先向下进行移动，丝杆滑套和固定组件的移动会带动固定架两侧一号凹槽内的控制组件进行运转，控制组件进行运转时会带动测试组件向着支撑架中间进行移动，当固定组将到达一定的位置时，测试组件正好位于其的两侧并对放置在固定组件中的芯片外壳进行挤压，检测芯片外壳的强度和韧性等数据，当劣质的芯片外壳出现损坏时会落入下方的收纳箱中，由于工作人员为远程操作，所以芯片外壳的崩毁不会对工作人员的安全产生威胁，当芯片外壳符合标准并完成测试之后电机反向运转进而使得丝杆滑套、固定组件和测试组件回到原位。
7.在进一步的技术方案中，所述固定组件包括丝杆滑套、一号固定块、气缸、伸缩杆、二号固定块和连接杆，所述丝杆滑套的内壁与丝杆的外壁活动连接，所述丝杆滑套的外壁固定连接有一号固定块，所述一号固定块的上方设置有气缸，所述一号固定块的底部外壁固定连接有数量为二的伸缩杆，所述伸缩杆的底部外壁与二号固定块的顶端外壁固定连接，所述气缸的输出端贯穿一号固定块且与二号固定块的顶端外壁固定连接，所述一号固
定块的侧边外壁固定连接有数量为二的连接杆，二号固定块的侧边外壁与丝杆滑套的外壁活动连接。
8.通过电机带动丝杆旋转，进而使得丝杆滑套和固定组件可以根据工作人员的需要而进行移动，由于二号固定块的侧边外壁与丝杆滑套的外壁活动连接，所以可以通过气缸操控二号固定块的位置，利用一号固定块和二号固定块将芯片外壳的中心部分进行固定借此带着芯片外壳进行移动，连接杆的存在起到触发控制组件的作用。
9.在进一步的技术方案中，控制组件包括一号圆块、线缆、一号限位块、三号固定块和二号圆块，所述一号凹槽的内壁与一号圆块的外壁固定连接，所述一号凹槽的内壁与二号圆块的外壁活动连接，所述一号圆块和二号圆块的外壁均开设有滑槽，所述一号圆块和二号圆块的外壁均缠绕有线缆，所述线缆的一端与三号固定块的顶端外壁固定连接。
10.当丝杆滑套和固定组件向下进行移动时，连接杆会与三号固定块相接触，此时借助与线缆相连接的三号固定块、线缆和一号圆块带动二号圆块进行旋转，并借助二号圆块的旋转带动测试组件向固定架中间进行移动。
11.在进一步的技术方案中，所述一号圆块外壁上的滑槽内固定安装有一号限位块，所述一号限位块的内壁与线缆的外壁滑动连接。
12.当丝杆滑套和固定组件完成测试并回到原位之后，借助一号圆块外壁上滑槽内的一号限位块可以限制三号固定块的移动，使其始终位于连接杆的下方，保障控制组件的运行。
13.在进一步的技术方案中，二号圆块的一侧外壁固定连接有若干凸齿。
14.二号圆块外壁上凸齿的存在，起到在二号圆块在被线缆带动着进行旋转时带动测试组件进行移动的作用。
15.在进一步的技术方案中，测试组件包括一号齿轮、滑块、凸块、夹块和二号限位块，所述二号凹槽的内部设置有一号齿轮，所述一号齿轮与凸齿相适配，所述二号凹槽的内壁滑动连接有滑块，所述滑块的侧边外壁固定连接有若干凸块，所述凸块与一号齿轮相啮合，所述滑块的一端贯穿固定架并延伸至其外部，所述滑块的一端外壁固定连接有夹块，所述滑块的另一端外壁固定连接有二号限位块。
16.二号圆块进行旋转时，其外壁上的凸齿带动一号齿轮进行旋转，进而使得一号齿轮与滑块上的凸块相配合，并进一步的带动滑块向着固定架的中心处进行移动，当滑块移动到一定的位置时，借助其末端的压块对芯片外壳进行挤压，并借此测试芯片外壳的强度和韧性，滑块另一端的二号限位块起到限制滑块活动范围的作用。
17.本实用新型的有益效果是：
18.1、通过设置的控制组件，使得只需借助电机带动丝杆进行旋转即可驱使测试组件对芯片外壳的强度和韧性进行检测，当丝杆滑套和固定组件向下进行移动时，连接杆会与三号固定块相接触，此时借助与线缆相连接的三号固定块、线缆和一号圆块带动二号圆块进行旋转，由于二号圆块外壁上固定连接的凸齿与一号齿轮相适配，所以二号圆块的旋转会带动测试组件向固定架中间进行移动，并对芯片外壳进行强度挤压测试。当测试完成且丝杆滑套和固定组件回到原位之后，借助一号圆块外壁上滑槽内的一号限位块可以限制三号固定块的移动，使其始终位于连接杆的下方保障控制组件的正常运行，本装置具备便于使用的优点；
19.2、通过设置的固定组件，可以对不同大小的芯片外壳进行固定并利用测试组件进行强度测试，由于二号固定块的侧边外壁与丝杆滑套的外壁活动连接，所以可以通过一号固定块上方的气缸操控二号固定块的位置，并借助一号固定块和二号固定块将芯片外壳的中心部分进行固定，使得丝杆滑套可以带着被固定好的芯片外壳进行移动并借助测试组件进行强度检测，本装置具备适用性广的优点。
附图说明
20.图1是本实用新型实施例的立体结构示意图；
21.图2是本实用新型实施例的正视图；
22.图3是本实用新型实施例的a处结构放大图；
23.图4是本实用新型实施例的b处结构放大图；
24.图5是本实用新型实施例的c处结构放大图。
25.附图标记说明：
26.1、支撑底座；2、固定架；3、电机；4、丝杆；5、丝杆滑套；6、一号固定块；7、气缸；8、伸缩杆；9、二号固定块；10、连接杆；11、一号凹槽；12、一号圆块；13、线缆；14、一号限位块；15、三号固定块；16、二号圆块；17、凸齿；18、二号凹槽；19、一号齿轮；20、滑块；21、凸块；22、夹块；23、二号限位块；24、收纳箱。
具体实施方式
27.下面结合附图对本实用新型的实施例作进一步说明。
28.实施例：
29.如图1-图5所示，包括支撑底座1、固定组件、控制组件和测试组件，其特征在于：支撑底座1外壁固定连接有固定架2，固定架2顶端设置有电机3，电机3的输出端设置有丝杆4，丝杆4远离电机3的一端与支撑底座1的内壁活动连接，丝杆4的外壁活动连接有固定组件，固定架2的两侧外壁均开设有一号凹槽11，一号凹槽11内设置有控制组件，一号凹槽11的内部开设有二号凹槽18，二号凹槽18的内部设置有测试组件，测试组件与控制组件活动连接，支撑底座1的顶端设置有收纳箱24。
30.上述技术方案的工作原理如下：
31.工作人员通过将需要进行质量检测的芯片外壳放入固定组件内，并随后启动电机3，利用电机3带动丝杆4进行旋转，丝杆4进行旋转时其外壁上的丝杆滑套5和固定组件会首先向下进行移动，丝杆滑套5和固定组件的移动会带动固定架2两侧一号凹槽11内的控制组件进行运转，控制组件进行运转时会带动测试组件向着支撑架中间进行移动，当固定组将到达一定的位置时，测试组件正好位于其的两侧并对放置在固定组件中的芯片外壳进行挤压，检测芯片外壳的强度和韧性等数据，当劣质的芯片外壳出现损坏时会落入下方的收纳箱24中，由于工作人员为远程操作，所以芯片外壳的崩毁不会对工作人员的安全产生威胁，当芯片外壳符合标准并完成测试之后电机3反向运转进而使得丝杆滑套5、固定组件和测试组件回到原位。
32.在另外一个实施例中，如图3所示，固定组件包括丝杆滑套5、一号固定块6、气缸7、伸缩杆8、二号固定块9和连接杆10，丝杆滑套5的内壁与丝杆4的外壁活动连接，丝杆滑套5
的外壁固定连接有一号固定块6，一号固定块6的上方设置有气缸7，一号固定块6的底部外壁固定连接有数量为二的伸缩杆8，伸缩杆8的底部外壁与二号固定块9的顶端外壁固定连接，气缸7的输出端贯穿一号固定块6且与二号固定块9的顶端外壁固定连接，一号固定块6的侧边外壁固定连接有数量为二的连接杆10，二号固定块9的侧边外壁与丝杆滑套5的外壁活动连接。
33.通过电机3带动丝杆4旋转，进而使得丝杆滑套5和固定组件可以根据工作人员的需要而进行移动，由于二号固定块9的侧边外壁与丝杆滑套5的外壁活动连接，所以可以通过气缸7操控二号固定块9的位置，利用一号固定块6和二号固定块9将芯片外壳的中心部分进行固定借此带着芯片外壳进行移动，连接杆10的存在起到触发控制组件的作用。
34.在另外一个实施例中，如图4所示，控制组件包括一号圆块12、线缆13、一号限位块14、三号固定块15和二号圆块16，一号凹槽11的内壁与一号圆块12的外壁固定连接，一号凹槽11的内壁与二号圆块16的外壁活动连接，一号圆块12和二号圆块16的外壁均开设有滑槽，一号圆块12和二号圆块16的外壁均缠绕有线缆13，线缆13的一端与三号固定块15的顶端外壁固定连接。
35.当丝杆滑套5和固定组件向下进行移动时，连接杆10会与三号固定块15相接触，此时借助与线缆13相连接的三号固定块15、线缆13和一号圆块12带动二号圆块16进行旋转，并借助二号圆块16的旋转带动测试组件向固定架2中间进行移动。
36.在另外一个实施例中，如图4所示，一号圆块12外壁上的滑槽内固定安装有一号限位块14，一号限位块14的内壁与线缆13的外壁滑动连接。
37.当丝杆滑套5和固定组件完成测试并回到原位之后，借助一号圆块12外壁上滑槽内的一号限位块14可以限制三号固定块15的移动，使其始终位于连接杆10的下方，保障控制组件的运行。
38.在另外一个实施例中，如图5所示，二号圆块16的一侧外壁固定连接有若干凸齿17。
39.二号圆块16外壁上凸齿17的存在，起到在二号圆块16在被线缆13带动着进行旋转时带动测试组件进行移动的作用。
40.在另外一个实施例中，如图5所示，测试组件包括一号齿轮19、滑块20、凸块21、夹块22和二号限位块23，二号凹槽18的内部设置有一号齿轮19，一号齿轮19与凸齿17相适配，二号凹槽18的内壁滑动连接有滑块20，滑块20的侧边外壁固定连接有若干凸块21，凸块21与一号齿轮19相啮合，滑块20的一端贯穿固定架2并延伸至其外部，滑块20的一端外壁固定连接有夹块22，滑块20的另一端外壁固定连接有二号限位块23。
41.二号圆块16进行旋转时，其外壁上的凸齿17带动一号齿轮19进行旋转，进而使得一号齿轮19与滑块20上的凸块21相配合，并进一步的带动滑块20向着固定架2的中心处进行移动，当滑块20移动到一定的位置时，借助其末端的压块对芯片外壳进行挤压，并借此测试芯片外壳的强度和韧性，滑块20另一端的二号限位块23起到限制滑块20活动范围的作用。
42.以上实施例仅表达了本实用新型的具体实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本
实用新型的保护范围。