一种半导体光电特性测试盒的制作方法

1.本实用新型涉及半导体激光器技术领域，具体为一种半导体光电特性测试盒。


背景技术：

2.半导体激光器具有体积小、重量轻、电光转换效率高、性能稳定、可靠性高和寿命长等优点，被广泛应用于通信、计算机、影视、制造业、航天航空、医疗等领域，已经成为光电行业最有前途的领域。
3.1、半导体激光器的测试需保证在黑暗的环境中，需要避免或最大的减少外界光源、光线对测试结果的干扰，因此设计与半导体激光器测试相匹配的测试盒尤为必要，但现有的测试盒达到没有设置固定机构，在移动测试盒时就会导致半导体激光器晃动，这样就会导致测试数据出现偏差不准确；
4.2、在半导体激光器测试时，往往需要对长波和短波分别测试，这就需要加装不同的滤光片，但如果滤光片无法保持不与半导体激光器的光线垂直，这样就导致半导体激光器的光线出现偏差，为此我们提出一种半导体光电特性测试盒用于解决上述问题。


技术实现要素：

5.针对上述存在的技术不足，本实用新型的目的是提供一种半导体光电特性测试盒，以解决上述背景技术中提出的问题。
6.为解决上述技术问题，本实用新型采用如下技术方案：本实用新型提供一种半导体光电特性测试盒，包括测试盒座和测试盒盖，所述测试盒盖铰接在测试盒座的一端，所述测试盒座内部的一端固定设有第一隔板，所述第一隔板的一侧固定设有第二隔板，所述测试盒座远离第一隔板的一端固定设有测试设备；
7.所述第一隔板的一端对称活动设有旋帽，两个所述旋帽靠近第一隔板的一侧均固定设有第一转轴，所述第一隔板的一端对称开设有第一凹槽，两个所述第一转轴的一端分别活动插设在两个第一凹槽的内部，两个所述第一转轴的一端均固定设有第一锥形齿轮组，两个所述第一锥形齿轮组其中一个锥形齿轮的一端均固定设有螺纹杆，两个所述第一凹槽的内侧均开设有第二凹槽，两个所述螺纹杆分别活动插设在两个第二凹槽的内部，两个所述螺纹杆上均螺纹套设有固定轴，两个所述固定轴的一端固定设有弧形夹板,
8.优选地，所述第二隔板远离第一隔板的一侧固定设有第三隔板，所述第三隔板的一端固定设有固定块，所述固定块的一端开设有通槽，所述固定块的远离第二隔板的一侧活动贯穿有插杆，所述插杆的一端固定设有夹板，所述夹板活动设置在通槽的内部，所述插杆的另一端固定设有限位盘，所述插杆上活动套设有弹簧，所述弹簧的一端与夹板的一侧固定连接，所述限位盘的一侧固定设有拉杆。
9.优选地，两个所述第一锥形齿轮组另一个锥形齿轮的一端均固定设有第二转轴，两个所述第二转轴的一端固定设有第二锥形齿轮组，其中一个所述第一凹槽的一端开设有第三凹槽，所述第三凹槽的一端与另一个第一凹槽的一端连通，所述第三凹槽的内部固定
设有固定环，所述固定环上活动贯穿有连接轴，所述连接轴的两端分别与两个第二锥形齿轮组其中一个锥形齿轮的一端固定连接。
10.优选地，所述第一隔板的凹口对称开设有弧形槽，两个所述弧形夹板分别活动卡设在两个弧形槽的内部。
11.优选地，所述第三隔板的凹口开设有滤光片槽。
12.优选地，两个所述弧形夹板的一侧均固定设有海绵垫。
13.与现有技术相比，本实用新型的有益效果在于：
14.1、通过设有旋帽，通过转动旋帽，旋帽带动第一转轴转动，第一转轴带动第一锥形齿轮组的锥形齿轮转动，第一锥形齿轮组的锥形齿轮带动螺纹杆转动，螺纹杆带动固定轴转动，固定轴带动弧形夹板移动，同时第一锥形齿轮组的锥形齿轮带动第二转轴转动，第二转轴带动第二锥形齿轮组的锥形齿轮转动，第二锥形齿轮组的锥形齿轮带动连接轴转动，连接轴带动另一个第二锥形齿轮组的锥形齿轮转动，使得另一个弧形夹板移动，并将半导体激光器的一端夹紧，这样就可以避免半导体激光器晃动导致数据不准确的情况，从而达到固定半导体激光器的目的；
15.2、通过设有拉杆，通过拉动拉杆，拉杆带动限位盘移动，限位盘带动插杆移动，插杆带动夹板在通槽内移动，同时夹板挤压弹簧，再将滤光片插入滤光片槽内，之后松开拉杆，通过弹簧产生的弹力带动夹板移动，使得夹板将滤光片夹紧，这样就可以避免滤光片出现倾斜导致光线偏移的情况，从而提高光线位置的准确性。
附图说明
16.为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
17.图1为本实用新型结构示意图。
18.图2为图1中a的结构放大图。
19.图3为本实用新型第一隔板结构示意图。
20.图4为本实用新型第一隔板结构剖面示意图。
21.图5为本实用新型螺纹杆结构截断图。
22.附图标记说明：1、测试盒座；2、测试盒盖；3、第一隔板；4、第二隔板； 5、旋帽；6、第一转轴；7、第一凹槽；8、第一锥形齿轮组；9、螺纹杆；10、第二凹槽；11、固定轴；12、弧形夹板；13、第三隔板；14、固定块；15、通槽；16、插杆；17、夹板；18、限位盘；19、弹簧；20、第二转轴；21、第二锥形齿轮组；22、第三凹槽；23、固定环；24、连接轴；25、拉杆；26、测试设备；27、弧形槽；28、滤光片槽；29、海绵垫。
具体实施方式
23.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下
所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
24.实施例：如图1-5所示，本实用新型提供了一种半导体光电特性测试盒，包括测试盒座1和测试盒盖2，测试盒盖2铰接在测试盒座1的一端，测试盒座1 内部的一端固定设有第一隔板3，第一隔板3的一侧固定设有第二隔板4，测试盒座1远离第一隔板3的一端固定设有测试设备26，第三隔板13的凹口开设有滤光片槽28；
25.第一隔板3的一端对称活动设有旋帽5，两个旋帽5靠近第一隔板3的一侧均固定设有第一转轴6，第一隔板3的一端对称开设有第一凹槽7，两个第一转轴6的一端分别活动插设在两个第一凹槽7的内部，两个第一转轴6的一端均固定设有第一锥形齿轮组8，两个第一锥形齿轮组8其中一个锥形齿轮的一端均固定设有螺纹杆9，两个第一凹槽7的内侧均开设有第二凹槽10，两个螺纹杆9 分别活动插设在两个第二凹槽10的内部，两个螺纹杆9上均螺纹套设有固定轴 11，两个固定轴11的一端固定设有弧形夹板12，第一隔板3的凹口对称开设有弧形槽27，两个弧形夹板12分别活动卡设在两个弧形槽27的内部，两个弧形夹板12的一侧均固定设有海绵垫29，两个第一锥形齿轮组8另一个锥形齿轮的一端均固定设有第二转轴20，两个第二转轴20的一端固定设有第二锥形齿轮组 21，其中一个第一凹槽7的一端开设有第三凹槽22，第三凹槽22的一端与另一个第一凹槽7的一端连通，第三凹槽22的内部固定设有固定环23，固定环23 上活动贯穿有连接轴24，连接轴24的两端分别与两个第二锥形齿轮组21其中一个锥形齿轮的一端固定连接，通过转动旋帽5，旋帽5带动第一转轴6转动，第一转轴6带动第一锥形齿轮组8的锥形齿轮转动，第一锥形齿轮组8的锥形齿轮带动螺纹杆9转动，螺纹杆9带动固定轴11转动，固定轴11带动弧形夹板12移动，同时第一锥形齿轮组8的锥形齿轮带动第二转轴20转动，第二转轴20带动第二锥形齿轮组21的锥形齿轮转动，第二锥形齿轮组21的锥形齿轮带动连接轴24转动，连接轴24带动另一个第二锥形齿轮组21的锥形齿轮转动，使得另一个弧形夹板12移动，并将半导体激光器的一端夹紧，这样就可以避免半导体激光器晃动导致数据不准确的情况，从而达到固定半导体激光器的目的。
26.进一步的，第二隔板4远离第一隔板3的一侧固定设有第三隔板13，第三隔板13的一端固定设有固定块14，固定块14的一端开设有通槽15，固定块14 的远离第二隔板4的一侧活动贯穿有插杆16，插杆16的一端固定设有夹板17，夹板17活动设置在通槽15的内部，插杆16的另一端固定设有限位盘18，插杆 16上活动套设有弹簧19，弹簧19的一端与夹板17的一侧固定连接，限位盘18 的一侧固定设有拉杆25，通过拉动拉杆25，拉杆25带动限位盘18移动，限位盘18带动插杆16移动，插杆16带动夹板17在通槽15内移动，同时夹板17 挤压弹簧19，再将滤光片插入滤光片槽28内，之后松开拉杆25，通过弹簧19 产生的弹力带动夹板17移动，使得夹板17将滤光片夹紧，这样就可以避免滤光片出现倾斜导致光线偏移的情况，从而提高光线位置的准确性。
27.工作原理；首先，将半导体激光器的两端分别放置到第一隔板3凹口和第二隔板4的凹口上，再转动旋帽5，旋帽5带动第一转轴6转动，第一转轴6带动第一锥形齿轮组8的锥形齿轮转动，第一锥形齿轮组8的锥形齿轮带动螺纹杆9转动，螺纹杆9带动固定轴11转动，固定轴11带动弧形夹板12移动，同时第一锥形齿轮组8的锥形齿轮带动第二转轴20转动，第二转轴20带动第二锥形齿轮组21的锥形齿轮转动，第二锥形齿轮组21的锥形齿轮带动连接轴24 转动，连接轴24带动另一个第二锥形齿轮组21的锥形齿轮转动，使得另一个弧形夹板12移动，并将半导体激光器的一端夹紧，这样就可以避免半导体激光器晃动导致数据不准
确的情况，从而达到固定半导体激光器的目的，接着拉动拉杆25，拉杆25带动限位盘18移动，限位盘18带动插杆16移动，插杆16带动夹板17在通槽15内移动，同时夹板17挤压弹簧19，再将滤光片插入滤光片槽28内，之后松开拉杆25，通过弹簧19产生的弹力带动夹板17移动，使得夹板17将滤光片夹紧，这样就可以避免滤光片出现倾斜导致光线偏移的情况，从而提高光线位置的准确性，然后转动测试盒盖2，使得测试盒盖2和测试盒座1 贴合，之后测试设备对半导体激光器的光线进行测试，最后，将半导体激光器取出即可。
28.显然，本领域的技术人员可以对本实用新型进行各种改动和变型而不脱离本实用新型的精神和范围。这样，倘若本实用新型的这些修改和变型属于本实用新型权利要求及其等同技术的范围之内，则本实用新型也意图包含这些改动和变型在内。