一种多引脚芯片测试装置的制作方法

1.本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种多引脚芯片测试装置。


背景技术：

2.目前随着半导体芯片（ic）的飞速发展，ic引脚越来越多，但是很多测试机的测试通道数量是固定的，这就造成了测试机的通道不够用产品无法测试。如附图1所示，常规测试机具有十个测试通道，此时最多能实现十个以内引脚的ic的同步测试，若ic的引脚超过十个，则无法有效的对其进行测试，如果设计一种测试装置，能够完成多引脚ic的测试，是我们需要考虑的问题。


技术实现要素：

3.本实用新型的目的在于提供一种多引脚芯片测试装置，以解决现有技术中导致的多引脚芯片不能一次快速完成有效测试的问题。
4.为达到上述目的，本实用新型是采用下述技术方案实现的：
5.一种多引脚芯片测试装置，包括：
6.芯片，包括多个引脚，所述引脚的数量大于十个；
7.测试机，包括十个测试通道；
8.继电器，所述继电器的数量比所述芯片引脚的数量少九个；
9.芯片的其中九个引脚分别和测试机的其中九个测试通道相连接，芯片剩余的若干个引脚分别和继电器相连接，测试机剩余的一个测试通道和若干个所述继电器相连接；若干个所述继电器还和继电器控制板及电源相连接。
10.进一步地，所述芯片的引脚数量为十六个，所述继电器的数量为七个；
11.芯片的七个引脚分别和七个所述继电器相连接。
12.进一步地，所述继电器控制板和每个所述继电器之间均连接有二极管。
13.进一步地，所述继电器的型号为: tq2-5v
14.进一步地，所述测试机的型号为：dl1000 测试机
15.进一步地，所述芯片的型号为： sop-16l
16.进一步地，所述芯片的引脚数量为32个。
17.根据上述技术方案，本实用新型的实施例至少具有以下效果：
18.1、本申请设计的测试装置不更换原有的测试机，在测试机和芯片之间增加继电器，连接时，使芯片的部分引脚和测试机直接连接，部分引脚通过继电器和测试机相连接，通过继电器控制板控制继电器进而完成芯片上所有引脚的测试，通过增加适量的继电器可一次性完成芯片所有引脚的测试，保证了测试效果和测试质量；
19.2、本申请还在继电器和继电器控制板之间增加二极管，通过增加二极管可使防止继电器切换导致电路中有脉冲电流，在每个继电器上增加保护二极管，以此保护测试过程中芯片因过流导致损伤。
附图说明
20.图1为背景技术中测试装置的连接示意图；
21.图2为本实用新型具体实施方式一个实施例中测试装置的连接示意图；
22.图3为本实用新型具体实施方式不同实施例中测试装置的连接示意图。
具体实施方式
23.为使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本实用新型。
24.实施例1
25.如图2所示，一种多引脚芯片1测试装置，其特征在于，包括芯片1、测试机2和继电器，芯片1包括多个引脚，引脚的数量大于十个，测试机2包括十个测试通道，继电器的数量比所述芯片1引脚的数量少九个；芯片1的其中九个引脚分别和测试机2的其中九个测试通道相连接，芯片1剩余的若干个引脚分别和继电器相连接，测试机2剩余的一个测试通道和若干个所述继电器相连接；若干个所述继电器还和继电器控制版3及电源相连接。
26.本申请设计的测试装置不更换原有的测试机2，在测试机2和芯片1之间增加继电器，连接时，使芯片1的部分引脚和测试机2直接连接，部分引脚通过继电器和测试机2相连接，通过继电器控制版3控制继电器进而完成芯片1上所有引脚的测试，通过增加适量的继电器可一次性完成芯片1所有引脚的测试，保证了测试效果和测试质量。
27.具体的，如图2所示，本实施例测试的芯片1为任意16脚ic产品，采用继电器对某一个测试通道切换到其它ic 引脚进行测试，该芯片1具有十六个引脚。
28.测试前先将芯片1上的九个引脚和测试机2的九个测试通道一一对应连接，此时测试机2还剩余一个测试通道，芯片1还剩余七个引脚。剩余的一个测试通道和七个继电器相连接，七个继电器在分别连接七个引脚，即实现了测试通道和引脚的全部连接，通过控制继电器即可完成芯片1的测试。
29.为了便于控制继电器，还设计了继电器控制版3，每个继电器均和继电器控制版3相连接，继电器控制版3继电器均和电源相连接，保证有效的供电。
30.在一些进一步的实施例中，芯片1引脚的数量还可以更多，例如芯片1具有三十二个引脚，此时需要设置二十三个继电器。
31.实施例2
32.如图3所示，实施例1设计的测试装置，在测试过程中对芯片1的保护效果不佳，为了更好的保护芯片1本申请设计了该实施例，具体如下：
33.在本实施例中，设计了二极管，二极管的数量和继电器的数量相对应，即每个继电器均连接一个二极管。二极管连接在继电器控制版3和继电器之间，通过增加二极管可使防止继电器切换导致电路中有脉冲电流，在每个继电器上增加保护二极管，以此保护测试过程中芯片1因过流导致损伤。
34.由技术常识可知，本实用新型可以通过其它的不脱离其精神实质或必要特征的实施方案来实现。因此，上述公开的实施方案，就各方面而言，都只是举例说明，并不是仅有的。所有在本实用新型范围内或在等同于本实用新型的范围内的改变均被本实用新型包含。


技术特征：
1.一种多引脚芯片测试装置，其特征在于，包括：芯片，包括多个引脚，所述引脚的数量大于十个；测试机，包括十个测试通道；继电器，所述继电器的数量比所述芯片引脚的数量少九个；芯片的其中九个引脚分别和测试机的其中九个测试通道相连接，芯片剩余的若干个引脚分别和继电器相连接，测试机剩余的一个测试通道和若干个所述继电器相连接；若干个所述继电器还和继电器控制板及电源相连接。2.根据权利要求1所述的多引脚芯片测试装置，其特征在于，所述芯片的引脚数量为十六个，所述继电器的数量为七个；芯片的七个引脚分别和七个所述继电器相连接。3.根据权利要求1所述的多引脚芯片测试装置，其特征在于，所述继电器控制板和每个所述继电器之间均连接有二极管。4.根据权利要求1所述的多引脚芯片测试装置，其特征在于，所述继电器的型号为: tq2-5v。5.根据权利要求1所述的多引脚芯片测试装置，其特征在于，所述测试机的型号为：dl1000 测试机。6.根据权利要求1所述的多引脚芯片测试装置，其特征在于，所述芯片的型号为： sop-16l。7.根据权利要求1所述的多引脚芯片测试装置，其特征在于，所述芯片的引脚数量为32个。

技术总结
本实用新型公开了一种多引脚芯片测试装置，其特征在于，包括芯片、测试机和继电器，芯片包括多个引脚，引脚的数量大于十个，测试机包括十个测试通道，继电器的数量比所述芯片引脚的数量少九个；芯片的其中九个引脚分别和测试机的其中九个测试通道相连接，芯片剩余的若干个引脚分别和继电器相连接，测试机剩余的一个测试通道和若干个所述继电器相连接；若干个所述继电器还和继电器控制版及电源相连接。本申请设计的测试装置不更换原有的测试机，在测试机和芯片之间增加继电器，通过继电器控制版控制继电器进而完成芯片上所有引脚的测试，通过增加适量的继电器可一次性完成芯片所有引脚的测试，保证了测试效果和测试质量。保证了测试效果和测试质量。保证了测试效果和测试质量。


技术研发人员：彭海东 张永银 张尚飞 穆云飞
受保护的技术使用者：南京矽邦半导体有限公司
技术研发日：2021.11.24
技术公布日：2022/5/17