一种压敏电阻芯片的快速测试装置的制作方法

1.本实用新型涉及压敏电阻加工技术领域，特别涉及一种压敏电阻芯片的快速测试装置。


背景技术：

2.压敏电阻是一种限压型保护器件。利用压敏电阻的非线性特性，当过电压出现在压敏电阻的两极间，压敏电阻可以将电压钳位到一个相对固定的电压值，从而实现对后级电路的保护。
3.压敏电阻在加工完成后需要采用压敏电阻测试仪进行性能测试，一般测试压敏电阻的压敏电压、漏电流及非线性系数阿尔法值。压敏电阻测试仪的两根测试线端部分别连接有一个导电夹子，在性能测试的时候，通常采用手工方式进行测试，需要将两个导电夹子分别夹住一个压敏电阻的两个引脚，眼睛观察压敏电阻测试仪的读数，等待规定时间到达，判断该压敏电阻的性能是否合格，从而完成一个压敏电阻的测试，如此周而复始、不断重复。这种测试方法操作较为繁琐，消耗时间长，工作效率低，劳动强度大。


技术实现要素：

4.本实用新型所要解决的问题是提供一种压敏电阻芯片的快速测试装置，这种压敏电阻芯片的快速测试装置操作方便，能够对多个压敏电阻进行快速测试，提高生产效率，降低劳动强度。
5.为了解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案如下：
6.一种压敏电阻芯片的快速测试装置，包括压敏电阻测试仪、第一测试线和第二测试线，第一测试线和第二测试线各有一端插接在压敏电阻测试仪相应的测试孔中，其特征在于：还包括绝缘支撑平台、导电板和测试笔，导电板安装在绝缘支撑平台的上表面上，导电板与第一测试线另一端电连接，测试笔包括绝缘笔杆和导电笔尖，导电笔尖与第二测试线另一端电连接。
7.在压敏电阻介质片的两面形成电极，得到压敏电阻芯片后，即可测试相应的压敏电阻的压敏电压、漏电流及非线性系数阿尔法值等性能参数。测试的时候，可将多个加工好的压敏电阻芯片平铺在导电板上，使压敏电阻芯片下侧的电极与导电板接触，测试人员只需单手拿着测试笔的绝缘笔杆，使测试笔的导电笔尖接触到某个压敏电阻芯片上侧的电极，并稍微用力下压，即可使压敏电阻芯片、导电板、第一测试线、压敏电阻测试仪、第二测试线、测试笔之间形成一个完整的测试回路，电路导通，压敏电阻测试仪会显示该压敏电阻的数据，测试人员通过读取数据判断该压敏电阻的性能测试合格，即完成一个压敏电阻芯片的测试；其它压敏电阻芯片的测试，也只需拿着测试笔的导电笔尖与它们上侧的电极接触即可，测试人员的另一只手可以得到适当的放松休息，降低劳动强度。
8.通常，上述导电板的面积大小可以根据需要检测的压敏电阻芯片的数量多少来设置。
9.作为本实用新型的优选方案，所述导电板的上表面平滑。上表面平滑的导电板能够更好地与压敏电阻芯片下侧的电极接触。
10.作为本实用新型的优选方案，所述导电板为金属板。
11.作为本实用新型进一步的优选方案，所述金属板的材质为铜。
12.本实用新型与现有技术相比，具有如下优点：
13.这种压敏电阻芯片的快速测试装置操作方便，能够对多个压敏电阻进行快速测试，加快了测试人员的测试速度，提高生产效率，降低劳动强度，适用于压敏电阻芯片的大批量测试。
附图说明
14.图1是本实用新型具体实施例的结构示意图。
具体实施方式
15.下面结合附图和具体实施例对本实用新型进行具体描述。
16.如图1所示，本实施例中的压敏电阻芯片的快速测试装置，包括压敏电阻测试仪1、第一测试线2、第二测试线3、绝缘支撑平台4、导电板5和测试笔6，第一测试线2和第二测试线3各有一端插接在压敏电阻测试仪1相应的测试孔11中，导电板5安装在绝缘支撑平台4的上表面上，导电板5与第一测试线2另一端电连接，测试笔6包括绝缘笔杆61和导电笔尖62，导电笔尖62与第二测试线3另一端电连接。
17.通常，上述导电板5的面积大小可以根据需要检测的压敏电阻芯片的数量多少来设置。
18.导电板5的上表面平滑，导电板5为金属板。金属板的材质为铜。上表面平滑的导电板5能够更好地与压敏电阻芯片下侧的电极接触。
19.在压敏电阻介质片的两面形成电极，得到压敏电阻芯片7后，即可测试相应的压敏电阻的压敏电压、漏电流及非线性系数阿尔法值等性能参数。测试的时候，可将多个加工好的压敏电阻芯片7平铺在导电板5上，使压敏电阻芯片7下侧的电极与导电板5接触，测试人员只需单手拿着测试笔6的绝缘笔杆61，使测试笔6的导电笔尖62接触到某个压敏电阻芯片7上侧的电极，并稍微用力下压，即可使压敏电阻芯片7、导电板5、第一测试线2、压敏电阻测试仪1、第二测试线3、测试笔6之间形成一个完整的测试回路，电路导通，压敏电阻测试仪1会显示该压敏电阻的数据，测试人员通过读取数据判断该压敏电阻的性能测试合格，即完成一个压敏电阻芯片7的测试；其它压敏电阻芯片7的测试，也只需拿着测试笔6的导电笔尖62与它们上侧的电极接触即可，测试人员的另一只手可以得到适当的放松休息，降低劳动强度。
20.此外，需要说明的是，本说明书中所描述的具体实施例，其各部分名称等可以不同，凡依本实用新型专利构思所述的构造、特征及原理所做的等效或简单变化，均包括于本实用新型专利的保护范围内。本实用新型所属技术领域的技术人员可以对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代，只要不偏离本实用新型的结构或者超越本权利要求书所定义的范围，均应属于本实用新型的保护范围。


技术特征：
1.一种压敏电阻芯片的快速测试装置，包括压敏电阻测试仪、第一测试线和第二测试线，第一测试线和第二测试线各有一端插接在压敏电阻测试仪相应的测试孔中，其特征在于：还包括绝缘支撑平台、导电板和测试笔，导电板安装在绝缘支撑平台的上表面上，导电板与第一测试线另一端电连接，测试笔包括绝缘笔杆和导电笔尖，导电笔尖与第二测试线另一端电连接。2.如权利要求1所述的压敏电阻芯片的快速测试装置，其特征在于：所述导电板的上表面平滑。3.如权利要求1所述的压敏电阻芯片的快速测试装置，其特征在于：所述导电板为金属板。4.如权利要求3所述的压敏电阻芯片的快速测试装置，其特征在于：所述金属板的材质为铜。

技术总结
本实用新型公开了一种压敏电阻芯片的快速测试装置，包括压敏电阻测试仪、第一测试线和第二测试线，第一测试线和第二测试线各有一端插接在压敏电阻测试仪相应的测试孔中，其特征在于：还包括绝缘支撑平台、导电板和测试笔，导电板安装在绝缘支撑平台的上表面上，导电板与第一测试线另一端电连接，测试笔包括绝缘笔杆和导电笔尖，导电笔尖与第二测试线另一端电连接。这种压敏电阻芯片的快速测试装置操作方便，能够对多个压敏电阻进行快速测试，加快了测试人员的测试速度，提高生产效率，降低劳动强度，适用于压敏电阻芯片的大批量测试。适用于压敏电阻芯片的大批量测试。适用于压敏电阻芯片的大批量测试。


技术研发人员：牛继恩 王茂娟 肖文华 李慧
受保护的技术使用者：汕头市瑞升电子有限公司
技术研发日：2021.11.30
技术公布日：2022/4/21