一种半导体无损检测设备的制作方法

1.本实用新型涉及半导体检测技术领域，具体是一种半导体无损检测设备。


背景技术：

2.半导体，指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料；半导体在收音机、电视机以及测温上有着广泛的应用；如二极管就是采用半导体制作的器件；半导体是指一种导电性可受控制，范围可从绝缘体至导体之间的材料；无论从科技或是经济发展的角度来看，半导体的重要性都是非常巨大的。
3.但是，目前市面上传统的一种半导体检测设备，一般为有损检测，且对于半导体检测而言，需要从各个角度检测半导体的封装情况；由于现有的检测装置检测角度受到极大的限制，使得检测不灵敏、不精确。


技术实现要素：

4.本实用新型的目的在于提供一种半导体无损检测设备，以解决上述背景技术中提出的问题。
5.为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：
6.一种半导体无损检测设备，包括工作台，所述工作台的底部固定安装有支撑座，所述工作台的顶部设置有固定机构，所述工作台的顶部开设有滑道，所述滑道上滑动安装有滑块，所述滑块的顶部固定安装有弧形套筒，所述弧形套筒的内部固定安装有弧形滑杆，所述弧形套筒外壁上的内侧开设有弧形槽，所述弧形套筒内壁的上侧固定安装有弧形齿条，所述弧形滑杆的外壁上套设有活动块，所述活动块的底部固定安装有检测头，所述活动块的顶部固定安装有第二电机，所述第二电机的驱动端固定安装有第二齿轮，所述弧形套筒外壁一侧的下方固定安装有弧形齿条，所述弧形齿条的一侧固定安装有第一电机，所述第一电机的驱动端固定安装有第一齿轮，所述工作台的顶部位于滑道的外侧固定安装有圆形齿条。
7.作为本实用新型进一步的方案：所述固定机构包括固定座，且固定座与工作台的顶部固定连接，所述固定座的顶部开设有限位槽，所述限位槽的内部固定安装有横杆，所述横杆外壁上的两侧均套设有限位块，两个所述限位块的顶部均固定安装有定位板，两个所述定位板相对侧的上方均固定安装有定位架，所述横杆外壁上的两侧均套接有弹簧。
8.作为本实用新型再进一步的方案：两个所述限位块相反侧的上方均固定安装有拉杆，两个所述拉杆的相反端均固定安装有拉环。
9.作为本实用新型再进一步的方案：所述限位块一侧的下方开设有与横杆相适配的滑孔，且限位块通过其一侧下方开设的滑孔与横杆滑动连接。
10.作为本实用新型再进一步的方案：所述活动块的一侧开设有与弧形滑杆相适配的滑孔，且活动块通过其一侧开设的滑孔与弧形滑杆滑动连接。
11.作为本实用新型再进一步的方案：所述滑块的形状为倒置的t形，且滑块与滑道相
适配。
12.与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
13.1、本实用通过工作台、支撑座、滑块、弧形滑杆、弧形套筒、活动块、检测头、固定机构、圆形齿条、滑道、弧形槽、弧形齿条、第一电机、第一齿轮、第二齿轮和第二电机的配合使用，可使检测头在任意角度上，达到一个三百六十度的调整效果，方便了检测头从各个角度检测半导体的封装情况，检测灵敏且精确。
14.2、本实用通过固定座、拉环、拉杆、弹簧、限位块、定位板、定位架、限位槽和横杆的配合使用，在弹簧的弹性作用下，通过限位块与定位板的配合，便于对半导体的外侧进行夹紧固定，能够达到对半导体进行快速固定及拆卸的效果，提高了半导体的检测效率。
附图说明
15.图1为一种半导体无损检测设备的结构示意图；
16.图2为一种半导体无损检测设备中固定机构的结构示意图；
17.图3为一种半导体无损检测设备的图1中a处放大结构示意图；
18.图4为一种半导体无损检测设备的图1中b处放大结构示意图。
19.图中：工作台1、支撑座2、滑块3、弧形滑杆4、弧形套筒5、活动块6、检测头7、固定机构8、圆形齿条9、滑道10、固定座11、拉环12、拉杆13、弹簧14、限位块15、定位板16、定位架17、限位槽18、横杆19、弧形槽20、弧形齿条21、第一电机22、第一齿轮23、第二齿轮24、第二电机25。
具体实施方式
20.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
21.请参阅图1～4，本实用新型实施例中，一种半导体无损检测设备，包括工作台1，工作台1的底部固定安装有支撑座2，工作台1的顶部设置有固定机构8，工作台1的顶部开设有滑道10，滑道10上滑动安装有滑块3，滑块3的顶部固定安装有弧形套筒5，弧形套筒5的内部固定安装有弧形滑杆4，弧形套筒5外壁上的内侧开设有弧形槽20，弧形套筒5内壁的上侧固定安装有弧形齿条21，弧形滑杆4的外壁上套设有活动块6，且活动块6贯穿弧形槽20的内部并与弧形槽20滑动连接，活动块6的底部固定安装有检测头7，活动块6的顶部固定安装有第二电机25，第二电机25的驱动端固定安装有第二齿轮24，且第二齿轮24与弧形齿条21相啮合，弧形套筒5外壁一侧的下方固定安装有弧形齿条21，弧形齿条21的一侧固定安装有第一电机22，第一电机22的驱动端固定安装有第一齿轮23，工作台1的顶部位于滑道10的外侧固定安装有圆形齿条9，且圆形齿条9与第一齿轮23相啮合。
22.参照图2，本技术中，固定机构8包括固定座11，且固定座11与工作台1的顶部固定连接，固定座11的顶部开设有限位槽18，限位槽18的内部固定安装有横杆19，横杆19外壁上的两侧均套设有限位块15，两个限位块15的顶部均固定安装有定位板16，两个定位板16相对侧的上方均固定安装有定位架17，横杆19外壁上的两侧均套接有弹簧14。
23.参照图2，本技术中，两个限位块15相反侧的上方均固定安装有拉杆13，且拉杆13的一端贯穿限位槽18的内壁并延伸至固定座11的侧边，两个拉杆13的相反端均固定安装有拉环12。
24.参照图2，本技术中，限位块15一侧的下方开设有与横杆19相适配的滑孔，且限位块15通过其一侧下方开设的滑孔与横杆19滑动连接。
25.参照图1，本技术中，活动块6的一侧开设有与弧形滑杆4相适配的滑孔，且活动块6通过其一侧开设的滑孔与弧形滑杆4滑动连接。
26.参照图1，本技术中，滑块3的形状为倒置的t形，且滑块3与滑道10相适配。
27.本实用新型的工作原理是：
28.参照图1～4，使用时，本技术中出现的电器元件在使用时均外接连通电源和控制开关，当需要对半导体进行检测的时候，将半导体固定于固定机构8上，然后通过检测头7对半导体进行检测，在检测的过程中，可通过开关控制第二电机25进行工作，第二电机25的驱动端带动第二齿轮24进行转动，通过第二齿轮24与弧形齿条21的啮合，使活动块6在弧形滑杆4的外壁上进行滑动，活动块6的移动带动检测头7进行移动，因弧形滑杆4呈一个弧形，因此通过活动块6在弧形滑杆4外壁上的滑动，可对检测头7的检测角度进行调整，与此同时，通过开关控制第一电机22工作，第一电机22的驱动端带动第一齿轮23进行转动，通过第一齿轮23与圆形齿条9的啮合，因圆形齿条9呈圆形，使第一电机22通过弧形齿条21带动弧形套筒5做圆周运动，弧形套筒5的移动带动滑块3在滑道10上进行滑动，弧形套筒5的圆周运动，可通过弧形滑杆4带动活动块6和检测头7进行移动，可使检测头7在任意角度上，达到一个三百六十度的调整效果，方便了检测头7从各个角度检测半导体的封装情况，检测灵敏且精确。
29.参照图1和图2，使用时，在对半导体进行固定的过程中，拉动两个拉环12，使两个拉环12相反移动，拉环12的移动带动拉杆13进行移动，拉杆13带动限位块15在横杆19的外壁上进行滑动，限位块15的移动会对弹簧14进行挤压，同时限位块15的移动会带动定位板16进行移动，定位板16的移动带动定位架17进行移动，使两个定位架17相反移动，当两个定位架17之间的距离达到合适后，将半导体放置在两个定位架17之间，然后松开对拉环12的限位，在弹簧14的弹性作用下，通过限位块15与定位板16的配合，便于对半导体的外侧进行夹紧固定，能够达到对半导体进行快速固定及拆卸的效果，提高了半导体的检测效率。
30.尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。