测距装置、测距方法及测距程序与流程

本发明涉及一种测距装置、测距方法及测距程序。

背景技术：

1、一般而言，已知有如下测距技术：通过扫描来自光源的光而扫描测定对象物，并测量被测定对象物反射的反射光返回为止的时间，从而测量到测定对象物的距离(参考日本特开2014-194380号公报、日本特开2016-125970号公报及日本特开2019-174297号公报)。

技术实现思路

1、发明要解决的技术课题

2、上述测距技术中，需要检测扫描测定对象物的扫描角度，但在日本特开2014-194380号公报、日本特开2016-125970号公报及日本特开2019-174297号公报中记载的技术中，存在无法说扫描角度的检测精度充分的情况。因此，期望提高扫描角度的检测精度的技术。

3、本发明是考虑上述情况而完成的，提供一种能够提高用于扫描来自光源的光而扫描测定对象物的扫描角度的检测精度的测距装置、测距方法及测距程序。

4、用于解决技术课题的手段

5、本发明的第1方式的测距装置具备：光源；反射部件，使用于扫描来自光源的光而扫描测定对象物的扫描角度不同，按每个不同的扫描角度反射来自光源的光；偏转光学部件，将由反射部件反射的光引导至测定对象物；第1受光部，接收由偏转光学部件引导的光被测定对象物反射的反射光；以及第2受光部，在反射部件的扫描角度为特定角度的情况下，接收以反射部件及偏转光学部件的顺序反射的光。

6、本发明的第2方式的测距装置在第1方式的测距装置中，在与偏转光学部件将光引导至测定对象物的方向相交的方向上具备多个第2受光部。

7、本发明的第3方式的测距装置在第1方式或第2方式的测距装置中，反射部件在将扫描角度设为特定角度的状态下反射光之后，使扫描角度不同而多次反射光，直到再次在设为特定角度的状态下反射光，所述测距装置还具备至少1个处理器，处理器进行如下处理：在第2受光部接收到光的第1时间与第1时间之后第2受光部接收到光的第2时间之间，第1受光部获取光源的发光次数；根据发光次数，导出与第1受光部接收到的反射光对应的扫描角度。

8、本发明的第4方式的测距装置在第3方式的测距装置中，处理器进行如下处理：根据将反射部件使扫描角度不同的范围的角度除以从发光次数减去1的数而得到的值，导出扫描角度。

9、本发明的第5方式的测距装置在第3方式或第4方式的测距装置中，处理器进行如下处理：将扫描角度和与由第1受光部接收到的反射光对应的测距数据建立对应关联。

10、本发明的第6方式的测距装置在第1方式至第5方式中任一方式的测距装置中，偏转光学部件具有：透射部，使从光源朝向反射部件的光透射；以及反射部，将由反射部件反射的光朝向测定对象物反射，并且将由反射部件反射的光朝向第2受光部反射。

11、本发明的第7方式的测距装置在第1方式至第6方式中任一方式的测距装置中，偏转光学部件进一步将被测定对象物反射的反射光引导至反射部件，并且向光源的方向引导被反射部件反射的反射光，第1受光部接收通过偏转光学部件向光源的方向引导的反射光。

12、本发明的第8方式的测距装置在第7方式的测距装置中，还具备分束器，所述分束器位于光源与反射部件的光路上之间，并且位于反射部件与第1受光部的光路上之间，使光向反射部件的方向通过，并且将被反射部件向光源的方向反射的反射光导向第1受光部。

13、本发明的第9方式的测距装置在第1方式至第6方式中任一方式的测距装置中，还具备光学组件，所述光学组件向与光源的方向不同的方向引导被测定对象物反射的反射光，第1受光部接收由光学组件向与光源的方向不同的方向引导的反射光。

14、本发明的第10方式的测距装置在第1方式至第9方式中任一方式的测距装置中，反射部件为mems反射镜。

15、并且，本发明的第11方式的测距方法为由测距装置进行的测距方法，其中，所述测距装置具备：光源；反射部件，使用于扫描来自光源的光而扫描测定对象物的扫描角度不同，按每个不同的扫描角度反射来自光源的光；偏转光学部件，将由反射部件反射的光引导至测定对象物；第1受光部，接收由偏转光学部件引导的光被测定对象物反射的反射光；以及第2受光部，在反射部件的扫描角度为特定角度的情况下，接收以反射部件及偏转光学部件的顺序反射的光，反射部件在将扫描角度设为特定角度的状态下反射光之后，使扫描角度不同而多次反射光，直到再次在设为特定角度的状态下反射光，在所述测距方法中，处理器执行如下处理：在第2受光部接收到光的第1时间与第1时间之后第2受光部接收到光的第2时间之间，第1受光部获取接收到反射光的光源的发光次数；根据发光次数，导出与第1受光部接收到的反射光对应的扫描角度；将扫描角度和与由第1受光部接收到的反射光对应的测距数据建立对应关联。

16、并且，本发明的第12方式的测距程序为用于使处理器执行用于进行基于测距装置的测距的处理的测距程序，其中，所述测距装置具备：光源；反射部件，使用于扫描来自光源的光而扫描测定对象物的扫描角度不同，按每个不同的扫描角度反射来自光源的光；偏转光学部件，将由反射部件反射的光引导至测定对象物；第1受光部，接收由偏转光学部件引导的光被测定对象物反射的反射光；以及第2受光部，在反射部件的扫描角度为特定角度的情况下，接收以反射部件及偏转光学部件的顺序反射的光，反射部件在将扫描角度设为特定角度的状态下反射光之后，使扫描角度不同而多次反射光，直到再次在设为特定角度的状态下反射光，所述测距程序用于使处理器执行如下处理：在第2受光部接收到光的第1时间与第1时间之后第2受光部接收到光的第2时间之间，第1受光部获取接收到反射光的光源的发光次数；根据发光次数，导出与第1受光部接收到的反射光对应的扫描角度；将扫描角度和与由第1受光部接收到的反射光对应的测距数据建立对应关联。

17、发明效果

18、根据本发明，能够提高用于扫描来自光源的光而扫描测定对象物的扫描角度的检测精度。

技术特征：

1.一种测距装置，其具备：

2.根据权利要求1所述的测距装置，其中，

3.根据权利要求1或2所述的测距装置，其中，

4.根据权利要求3所述的测距装置，其中，

5.根据权利要求3或4所述的测距装置，其中，

6.根据权利要求1至5中任一项所述的测距装置，其中，

7.根据权利要求1至6中任一项所述的测距装置，其中，

8.根据权利要求7所述的测距装置，其中，

9.根据权利要求1至6中任一项所述的测距装置，其中，

10.根据权利要求1至9中任一项所述的测距装置，其中，

11.一种测距方法，其由测距装置进行，其中，

12.一种测距程序，其用于使处理器执行用于进行基于测距装置的测距的处理，其中，

技术总结
测距装置具备光源、偏转光学部件、反射部件、受光元件及受光元件。反射部件使用于扫描来自光源的光而扫描测定对象物的扫描角度不同，按每个不同的扫描角度反射来自光源的光。偏转光学部件将由反射部件反射的光引导至测定对象物。受光元件接收由偏转光学部件引导的光被测定对象物反射的反射光。在反射部件的扫描角度为特定角度的情况下，受光元件接收以反射部件及偏转光学部件的顺序反射的光。

技术研发人员：大乡毅
受保护的技术使用者：富士胶片株式会社
技术研发日：
技术公布日：2024/1/12