耐压测试装置的制作方法

1.本技术涉及电连接器介质耐压测试技术领域，特别是涉及一种介质耐压测试装置。


背景技术：

2.电连接器是连接和断开电线、电缆以及电插头等部件的互联元件，在航空航天、轨道交通、新能源汽车以及重大仪器装备等领域具有重要且广泛的应用。其中，介质耐压是电连接器的一项重要的可靠性指标，用于表征电连接器的绝缘性能。如果电连接器的介质耐压不合格，当电连接器的电压突然增大时，电连接器的绝缘能力会大幅下降，可能导致电连接器短路。因此，介质耐压测试是电连接器检测中的必要检测项。
3.目前，常用的介质耐压测试的方法有两步测量法，基本原理是测量电连接器上间距最近的接触件和接触件或者接触件与电连接器外壳之间的绝缘能力。
4.但是，两步测量法需要人工测量接触件之间的间距，测量效率低，且人工测量容易产生误差，影响介质耐压测试的准确性。


技术实现要素：

5.基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种测量效率高及准确性高的耐压测试装置。
6.第一方面，本技术提供了一种耐压测试装置。该耐压测试装置包括：
7.第一控制组件、多个测试端口、开关阵列以及测试组件，开关阵列设置于多个测试端口和测试组件之间，开关阵列包括多个开关；多个测试端口，用于与第一电连接器的第一壳体以及多个第一接触件分别连接，第一电连接器用于与待测试的第二电连接器连接，在连接时，多个第一接触件与第二电连接器的多个第二接触件相互接触，且，第一壳体与第二电连接器的第二壳体相互接触，其中，多个第二接触件按照阵列排布，阵列划分为多个接触件行和多个接触件列；第一控制组件与开关阵列通信连接，用于控制开关阵列中开关的开闭，以使测试组件依次与每相邻两个接触件行间形成测试通路、与每相邻两个接触件列间形成测试通路、与各接触件行以及第二壳体间形成测试通路、与各接触件列以及第二壳体间形成测试通路；测试组件，用于通过测试通路向第二电连接器施加测试电压，并在施加测试电压后测量漏电流。
8.在其中一个实施例中，对于相邻的第一接触件行以及第二接触件行，第一控制组件，具体用于控制开关阵列中的开关开闭，以使第一接触件行中的各第二接触件相互短路，第二接触件行中的各第二接触件相互短路，且，测试组件与第一接触件行中的第一目标接触件和第二接触件行中的第二目标接触件间形成测试通路。
9.在其中一个实施例中，对于相邻的第一接触件列以及第二接触件列，第一控制组件，具体用于控制开关阵列中的开关开闭，以使第一接触件列中的各第二接触件相互短路，第二接触件列中的各第二接触件相互短路，且，测试组件与第一接触件列中的第三目标接
触件和第二接触件列中的第四目标接触件间形成测试通路。
10.在其中一个实施例中，对于各接触件行以及第二壳体，第一控制组件，具体用于控制开关阵列中的开关开闭，以使接触件行中的各第二接触件相互短路，且，测试组件与接触件行中的第五目标接触件和第二壳体间形成测试通路。
11.在其中一个实施例中，对于各接触件列以及第二壳体，第一控制组件，具体用于控制开关阵列中的开关开闭，以使接触件列中的各第二接触件相互短路，且，测试组件与接触件列中的第六目标接触件和第二壳体间形成测试通路。
12.在其中一个实施例中，耐压测试装置还包括连接端口，连接端口用于与测试组件连接。
13.在其中一个实施例中，耐压测试装置还包括第二控制组件，第一控制组件内置有多个测试程序，第二控制组件，用于向第一控制组件发送程序选择指令；第一控制组件，用于根据程序选择指令所指示的目标测试程序控制开关阵列中开关的开闭；其中，各测试程序与不同的待测试的电连接器类型对应。
14.在其中一个实施例中，耐压测试装置还包括显示组件，显示组件与第一控制组件连接，用于在第一控制组件的控制下显示当前测试通路、测试电压及测得的漏电流。
15.第二方面，本技术还提供了一种耐压测试方法，该方法包括：
16.控制测试组件依次与待测试的第二电连接器中每相邻两个接触件行间形成测试通路、与每相邻两个接触件列间形成测试通路、与各接触件行以及第二壳体间形成测试通路、与各接触件列以及第二壳体间形成测试通路；控制测试组件通过测试通路向第二电连接器施加测试电压，并在施加测试电压后测量漏电流。
17.在其中一个实施例中，测试通路中漏电流的最大测量值为1ma。
18.上述耐压测试装置，包括第一控制组件、多个测试端口、开关阵列以及测试组件，其中多个测试端口，与第一电连接器的第一壳体以及多个第一接触件分别连接，第一电连接器与待测试的第二电连接器连接，连接后多个第一接触件与第二电连接器的多个第二接触件相互接触，同时第一壳体与第二电连接器的第二壳体相互接触，第一控制组件通过与开关阵列通信，来控制开关阵列中开关的开闭，使得测试组件依次与每相邻两个接触件行间形成测试通路、与每相邻两个接触件列间形成测试通路、与各接触件行以及第二壳体间形成测试通路、与各接触件列以及第二壳体间形成测试通路，最后，测试组件通过上述测试通路向第二电连接器施加测试电压，并在施加测试电压后测量漏电流。通过这种方式，该装置可以通过第一控制组件控制开关阵列依次连接第二电连接器的各接触件形成测试通路，由测试组件对测试通路进行耐压测试，这样在电连接器测试中，只需要将待测试的第二电连接器连接到第一电连接器，耐压测试装置自动进行测试，测试完成后更换下一个电连接器进行测试，测试过程中无需人工测量选择测试通路，测试效率高，同时避免了人工测量接触件距离导致的误差，测试结果更准确。
附图说明
19.图1为一个实施例中耐压测试装置的示意图；
20.图2为另一个实施例中接触件行之间的测量通路示意图；
21.图3为另一个实施例中接触件列之间的测量通路示意图；
gate array，现场可编程逻辑门阵列)器件，fpga作为耐压测试装置的主控核心，可以通过编程对测量过程进行控制。开关阵列13可以是高压开关切换阵列，其中包括多个高压开关。测试组件14可以是耐压测试仪。
40.多个测试端口12，用于与第一电连接器15的第一壳体以及多个第一接触件分别连接，第一电连接器用于与待测试的第二电连接器16连接，在连接时，多个第一接触件与第二电连接器的多个第二接触件相互接触，且，第一壳体与第二电连接器16的第二壳体相互接触，其中，多个第二接触件按照阵列排布，阵列划分为多个接触件行和多个接触件列。
41.其中，多个测试端口12可以是输入输出端口，每个端口与第一电连接器15的第一壳体以及多个第一接触件分别连接。
42.可选的，该耐压测试装置中，第一电连接器15为装置中的固定端，第二电连接器16为待测试的电连接器，测试时，第一电连接器15和待测试的第二电连接器16匹配使用，例如，当第一电连接器15为母头电连接器时，可以测试公头类型的第二电连接器16，当第一电连接器15为公头电连接器时，可以测试母头类型的第二电连接器16。当第一电连接器15与第二电连接器16连接时，两个电连接器上的接触件导通，两个电连接器的壳体导通。其中，第二电连接器16上的多个第二接触件按照阵列排布，可以划分为多个接触件行和多个接触件列。
43.第一控制组件11与开关阵列13通信连接，用于控制开关阵列13中开关的开闭，以使测试组件14依次与每相邻两个接触件行间形成测试通路、与每相邻两个接触件列间形成测试通路、与各接触件行以及第二壳体间形成测试通路、与各接触件列以及第二壳体间形成测试通路。
44.测试组件14，用于通过测试通路向第二电连接器16施加测试电压，并在施加测试电压后测量漏电流。
45.耐压测试是通过在电连接器接触件与接触件之间、接触件与壳体之间，在规定时间内施加规定的电压，以此来确定电连接器在额定电压下能否安全工作。因此，通过第一控制组件fpga与开关阵列13连接，对开关阵列13中开关的开闭进行控制，来切换需要进行耐压测试的测试通路。测试组件14可以是耐压测试仪，耐压测试仪可以输出高压，通过测试通路向第二电连接器16施加电压，然后测量第二电连接器16的漏电流，以此来判断待测试的第二电连接器16的绝缘性能是否合格。即在电压突然增大时，漏电流不能过大，否则可能导致电连接器短路，对整个电路造成影响。
46.其中，由于电连接器的接触件较多，通过控制开关阵列将每行的接触件连接，对相邻两个接触件行进行耐压测试，如果两行间的耐压测试合格表示其中所有的接触件之间的耐压测试均合格，而不需要对两行的每个接触件之间均进行测量，这种方式可以简化测量流程，提高测量效率。同样的，通过控制开关阵列将每列的接触件连接，每相邻两个接触件列之间形成测试通路进行耐压测试，以及每个接触件行与电连接器外壳之间形成测试通路进行耐压测试，还有每个接触件列与电连接器外壳之间形成测试通路进行耐压测试，而不需要单独测量每个接触件与电连接器外壳之间的耐压能力。
47.在该实施例中，该耐压测试装置包括第一控制组件、多个测试端口、开关阵列以及测试组件，其中多个测试端口，与第一电连接器的第一壳体以及多个第一接触件分别连接，第一电连接器与待测试的第二电连接器连接，连接后多个第一接触件与第二电连接器的多
个第二接触件相互接触，同时第一壳体与第二电连接器的第二壳体相互接触，第一控制组件通过与开关阵列通信，来控制开关阵列中开关的开闭，使得测试组件依次与每相邻两个接触件行间形成测试通路、与每相邻两个接触件列间形成测试通路、与各接触件行以及第二壳体间形成测试通路、与各接触件列以及第二壳体间形成测试通路，最后，测试组件通过上述测试通路向第二电连接器施加测试电压，并在施加测试电压后测量漏电流。通过这种方式，该装置可以通过第一控制组件控制开关阵列依次连接第二电连接器的各接触件形成测试通路，由测试组件对测试通路进行耐压测试，这样在电连接器测试中，只需要将待测试的第二电连接器连接到第一电连接器，耐压测试装置自动进行测试，测试完成后更换下一个电连接器进行测试，测试过程中无需人工测量选择测试通路，测试效率高，同时避免了人工测量接触件距离导致的误差，测试结果更准确。
48.在一种可选实施方式中，如图2所示，对于相邻的第一接触件行21以及第二接触件行22，第一控制组件，具体用于控制开关阵列中的开关开闭，以使第一接触件行21中的各第二接触件相互短路，第二接触件行22中的各第二接触件相互短路，且，测试组件与第一接触件行21中的第一目标接触件和第二接触件行22中的第二目标接触件间形成测试通路23。
49.该实施例中，开关阵列连接测试组件以及接触件端口，第一控制组件fpga为主控核心，通过编程控制开关阵列中的开关的开闭，将第一接触件行21中的各个第二接触件之间的开关闭合，将第二接触件行22中的各个第二接触件之间的开关闭合，即将第一接触件行21之间的各接触件连接在一起，第二接触件行22中的各接触件连接在一起。
50.其中，第一目标接触件可以为第一接触件行21中的第一个接触件，第二目标接触件可以为第二接触件行22中的第一个接触件，测试组件与第一目标接触件和第二目标接触件之间形成测试通路23，此时即可以通过测试通路来测量第一接触件行21和第二接触件行22之间的绝缘能力。
51.上述实施例中，通过对电连接器中第一接触件行的所有接触件并联，第二接触件行的所有接触件并联，然后测量两行之间的绝缘能力，不需要测量每两个接触件之间的距离然后测量其中距离最近的接触件之间的绝缘能力，简化了测试流程，从而减少了测试时间，测试效率更高。
52.可选的，如图3所示，对于相邻的第一接触件列31以及第二接触件列32，第一控制组件，具体用于控制开关阵列中的开关开闭，以使第一接触件列31中的各第二接触件相互短路，第二接触件列32中的各第二接触件相互短路，且，测试组件与第一接触件列31中的第三目标接触件和第二接触件列32中的第四目标接触件间形成测试通路33。
53.该实施例中，开关阵列连接测试组件以及接触件端口，第一控制组件fpga为主控核心，通过编程控制开关阵列中的开关的开闭，将第一接触件列31中的各个第二接触件之间的开关闭合，将第二接触件列32中的各个第二接触件之间的开关闭合，即将第一接触件列31之间的各接触件连接在一起，第二接触件列32中的各接触件连接在一起。
54.其中，第三目标接触件可以为第一接触件列31中的第一个接触件，第四目标接触件可以为第二接触件列32中的第一个接触件，测试组件与第三目标接触件和第四目标接触件之间形成测试通路33，此时即可以通过测试通路来测量第一接触件列31和第二接触件列32之间的绝缘能力。
55.上述实施例中，通过对电连接器中第一接触件列的所有接触件并联，第二接触件
列的所有接触件并联，然后测量两列之间的绝缘能力，不需要测量每两个接触件之间的距离然后测量其中距离最近的接触件之间的绝缘能力，简化了测试流程，从而减少了测试时间，测试效率更高。
56.在其中一个实施例中，如图4所示，对于各接触件行以及第二壳体42，第一控制组件，具体用于控制开关阵列中的开关开闭，以使接触件行中的各第二接触件相互短路，且，测试组件与接触件行中的第五目标接触件43和第二壳体42间形成测试通路44。
57.该实施例中，开关阵列连接测试组件以及接触件端口，第一控制组件fpga为主控核心，通过编程可以控制开关阵列中的开关的开闭。在测量各接触件行以及第二壳体42间的绝缘能力时，第一控制组件控制各接触件行中的各个第二接触件之间的开关闭合，即将各接触件行中的各个第二接触件连接，第五目标接触件43可以是每个接触件行中的第一个接触件，第二壳体42为待测试电连接器的外壳，测试组件在第五目标接触件43和第二壳体42之间形成测试通路44，此时即可以通过测试通路来测量各接触件行41和第二壳体42之间的绝缘能力。
58.上述实施例中，通过对电连接器中每个接触件行中的接触件并联，然后测量每个接触件行与壳体之间的绝缘能力，不需要测量每个接触件与壳体之间的距离然后测量其中距离最近的接触件与壳体之间的绝缘能力，简化了测试流程，从而减少了测试时间，测试效率更高。
59.在其中一个实施例中，如图5所示，对于各接触件列以及第二壳体，第一控制组件，具体用于控制开关阵列中的开关开闭，以使接触件列中的各第二接触件相互短路，且，测试组件与接触件列中的第六目标接触件51和第二壳体间形成测试通路52。
60.该实施例中，开关阵列连接测试组件以及接触件端口，第一控制组件fpga为主控核心，通过编程可以控制开关阵列中的开关的开闭。在测量各接触件列以及第二壳体间的绝缘能力时，第一控制组件控制各接触件列中的各个第二接触件之间的开关闭合，即将各接触件列中的各个第二接触件连接，第六目标接触件51可以是每个接触件列中的第一个接触件，测试组件在第六目标接触件51和第二壳体之间形成测试通路52，此时即可以通过测试通路来测量各接触件列和第二壳体之间的绝缘能力。
61.上述实施例中，通过对电连接器中每个接触件列中的接触件并联，然后测量每个接触件列与壳体之间的绝缘能力，不需要测量每个接触件与壳体之间的距离然后测量其中距离最近的接触件与壳体之间的绝缘能力，简化了测试流程，从而减少了测试时间，测试效率更高。
62.在一种可选的方式中，如图6所示，耐压测试装置还包括连接端口61，连接端口61用于与测试组件连接。
63.可选的，耐压测试装置还包括连接端口61，连接端口61设置于测试组件与开关阵列之间，开关阵列通过切换将需要测试的测试通路输出到连接端口61，然后由测试组件对测试通路进行耐压测试。
64.可选的，如图7所示，耐压测试装置还包括第二控制组件71，第一控制组件内置有多个测试程序，第二控制组件71，用于向第一控制组件发送程序选择指令；第一控制组件，用于根据程序选择指令所指示的目标测试程序控制开关阵列中开关的开闭；其中，各测试程序与不同的待测试的电连接器类型对应。
65.电连接器有不同类型，对不同类型的电连接器对应不同的测试程序，该耐压测试装置还包括第二控制组件71，第二控制组件71可以是触屏控制器，或者是选择开关，通过第二控制组件71可以控制第一控制组件根据电连接器的类型选择不同的测试程序进行控制。
66.上述实施例中，通过预先设置不同类型的电连接器的测试程序，在测试过程中，根据电连接器的类型不同可以进行选择，提高了耐压测试装置的灵活性，易于进行批量测试。
67.在另一个实施例中，如图8所示，耐压测试装置还包括显示组件81，显示组件81与第一控制组件连接，用于在第一控制组件的控制下显示当前测试通路、测试电压及测得的漏电流。
68.该实施例中，显示组件81可以是显示屏，与第一控制组件fpga连接。显示屏接收第一控制组件发送的测试过程中的参数并进行显示，参数包括当前测试通路，即当前进行耐压测试的是哪两个接触件之间。还包括测试电压及测得的漏电流，测试电压为测试组件输出的施加给测试通路的高电压，漏电流为在施加测试电压后，测试通路中测得的漏电流。该漏电流可以反映测试通路中接触件的绝缘性能是否符合要求。
69.上述实施例中，通过设置显示组件，测量过程中可以看到当前测试的通路及参数，显示更直观，用户使用更方便。
70.进一步的，该耐压测试装置的整体框图如图9所示。
71.第二方面，本技术还提供了一种耐压测试方法，如图10所示，该方法包括：
72.步骤1001，控制测试组件依次与待测试的第二电连接器中每相邻两个接触件行间形成测试通路、与每相邻两个接触件列间形成测试通路、与各接触件行以及第二壳体间形成测试通路、与各接触件列以及第二壳体间形成测试通路。
73.其中，对于不同类型的电连接器根据不同的划分方案进行行列划分，对圆形的电连接器的划分方案可以如图11和图12两种，对矩形电连接器的行列划分可以如图13和图14两种。在划分好不同的接触件行和接触件列后，可以测量每相邻两个接触件行间、每相邻两个接触件列间、各接触件行以及第二壳体间、各接触件列以及第二壳体间的绝缘能力。
74.上述实施例中，将电连接器的接触件划分为行和列，分别对行和列按照并联法开展测试，可以实现对电连接器接触件及外壳的灵活切换和选择，有效覆盖接触件与接触件之间以及接触件与外壳之间的介质耐压测试，易于进行批量测试，测试时间短，效率更高。
75.步骤1002，控制测试组件通过测试通路向第二电连接器施加测试电压，并在施加测试电压后测量漏电流。
76.该实施例中，测试通路中漏电流的最大测量值为1ma。
77.可选的，测试通路中的漏电流反映测试通路中接触件的绝缘性能是否符合要求。当漏电流过大时，可能导致接触件之间短路，影响绝缘性能，因此测量电路中的漏电流的最大测量值为1ma，测试过程中在测试组件施加测试电压即一个高电压后测得的漏电流小于1ma表示该测试通路的接触件耐压测试合格，绝缘性能符合要求。
78.以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
79.以上所述实施例仅表达了本技术的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本技术专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员
来说，在不脱离本技术构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本技术的保护范围。因此，本技术的保护范围应以所附权利要求为准。