热保护器时间参数测试用测控系统及控制方法与流程

文档序号:31131958发布日期:2022-08-13 06:22阅读:145来源:国知局
热保护器时间参数测试用测控系统及控制方法与流程

1.本技术涉及一种热保护器时间参数测试用测控系统及控制方法,主要适用于热保护器的时间参数测试工作。


背景技术:

2.热保护器用于保护电机,电机运行过程中发生过热或过流时热保护器自动断开电源,从而防止电机损坏和进一步的风险。而热保护器的时间参数主要有电机过流(或过热)情况发生时热保护器的执行动作时间和热保护器恢复到接通状态的复位时间,这两个参数非常重要,直接影响电机发生异常时的保护可靠性和热保护器恢复后电机的启动状态,所以需对热保护器的时间参数进行精准测试。
3.热保护器的测试原理见图1,热保护器主要包括双金属片1、发热丝2、簧片3、触点4。热保护器时间参数的测试原理是把待测热保护器接入测试回路,初始状态接线端二rb-2通过发热丝2、簧片3、触点4与接线端一rb-1电连接,通上规定的过载电流,然后计时器开始计录保护动作时间,热保护器在发热丝2热量的作用下使双金属片1发生突跳而带动簧片3,从而使固定在簧片3上的触点4断开,此时接线端一rb-1和接线端二rb-2处于不导通状态,保护动作计时结束。回路无电流后,计时器开始计录复位时间,随着温度下降使双金属片1回跳,簧片3复位使触点4再次接通,此时接线端一rb-1和接线端二rb-2处于导通状态,复位计时结束。
4.目前普遍采用的热保护器时间参数测试系统自动化程度不高,其测试电流的调节采用调压器、变阻器或电位器等人工调节方式。采用调压器调节方式的测试原理见图2,电网电压l端和n端连接调压器tb的输入端、调压器tb的输出端连接变压器t的初级,变压器t的次级输出安全低电压,次级一端t-1经过测试保护器rb、限流电阻rl、电流表pa回到次级另一端t-2后形成测试回路,测试回路的电流大小通过调节调压器tb输出的电压来改变。采用变阻器调节方式的测试原理见图3,电网电压l端和n端连接变压器t初级,变压器t的次级输出安全低电压,次级一端t-1经过测试保护器rb、变阻器r、电流表pa回到次级另一端t-2后形成测试回路,测试回路的电流大小通过调节变阻器r的阻值来改变。采用电位器调节方式的测试原理见图4,电网电压l端和n端连接变压器t初级,变压器t的次级输出安全低电压,次级一端t-1经过测试保护器rb、电流控制电路icc、电流表pa回到次级另一端t-2后形成测试回路,测试回路的电流大小是通过调节电位器rp的阻值,间接控制电流控制电路内部功率模块的导通程度来改变。以上三种测试电路的时间参数测试方法是通过电流互感器ta感应测试回路是否有电流,回路有电流时由计数器s1记录动作时间,回路无电流时由计数器s2记录复位时间。以上测试电路存在的共同弊端是:第一是电流调节均采用机械式调节器件,存在机械接触性能问题。第二是针对调节器件的接触不良和电网电压波动引起的电流晃动、人工调节方式造成的电流偏差、热保护器内发热丝在冷态和热态时阻值的差别引起的电流漂移,由于没有对测试电流进行实时检测和控制,使电流的精确度和稳定性无法得到保证,从而使所测试时间参数产生误差。第三是测试人员通过观察计数器s1和计数
器s2记录的动作时间和复位时间,人为判断获得测试结果是合格还是某一项参数不合格,然后进行分类放置。综上所述,以上测试方法由于电流调节、测试过程判断、产品分类放置均采用人工操作,造成操作人员工作强度大,工作效率低,也存在较大的质量隐患。


技术实现要素:

5.本技术解决的技术问题是克服现有技术中存在的上述不足,而提供一种结构简洁,误差小,自动化程度高的热保护器时间参数测试用测控系统及控制方法。
6.本技术解决上述技术问题所采用的技术方案包括:一种热保护器时间参数测试用测控系统,包括热保护器通电电路,其特征是还设置有可编程控制器、电流控制电路、供电电路、触摸屏, 供电电路接在电网电压两端并给可编程控制器、电流控制电路、触摸屏提供电源,供电电路的三个输出端分别为正电源端、零电位端、负电源端,可编程控制器包括中央处理器、模数转换模块、数模转换模块和输入输出模块,中央处理器、模数转换模块、数模转换模块、输入输出模块、触摸屏均连接,所述热保护器通电电路包括变压器、接触器、整流桥、绝缘栅双极型晶体管、取样电阻一、电流变换器,所述变压器初级两端分别连接电网电压两端,所述变压器次级两端输出不超过安全电压的测试电压,测试电压的一端经接触器一路触点、热保护器、接触器另一路触点、整流桥一臂、绝缘栅双极型晶体管的集电极和发射极、取样电阻一、整流桥另一臂、电流变换器连接至测试电压的另一端形成测试回路,测试回路分为交流测试回路和直流测试回路,交流测试回路电流在电源(测试电压)正负半周交替双向流动,直流测试回路电流单向流动,整流桥正端连接绝缘栅双极型晶体管集电极,绝缘栅双极型晶体管发射极经取样电阻一与整流桥负端、供电电路的零电位端连接,电流变换器连接到可编程控制器的模数转换模块输入端,数模转换模块输出端与电流控制电路输入端连接,中央处理器将模数转换模块得到的信号计算转换成直流电压模拟信号并经数模转换模块输送至电流控制电路,电流控制电路接收数模转换模块输送来的直流电压模拟信号叠加取自取样电阻一的一端的直流取样信号经放大后连接至绝缘栅双极型晶体管栅极,控制绝缘栅双极型晶体管的集电极至发射极的导通程度,从而调节交流测试回路电流的大小,输入输出模块包括开关量输入模块和开关量输出模块,开关量输入模块用于与控制时序相关的开关量输入,开关量输出模块用于输出开关量控制信号,指示测试状态和/或控制测试动作,特例为控制现有技术的执行机构将测好的热保护器分类送到对应的位置。
7.所述电流控制电路由运算放大器、三极管、电阻二、电阻三、电阻四、电阻五、电阻六、电阻七组成,电阻二的一端连接数模转换模块的正端、供电电路的零电位端、取样电阻一另一端、整流桥的负端,运算放大器的正向输入端连接电阻二另一端;运算放大器反向输入端分别连接电阻三、电阻四、电阻五的一端,电阻三另一端连接数模转换模块的负端,电阻四另一端分别连接绝缘栅双极型晶体管发射极、取样电阻一的一端,电阻五另一端连接运算放大器输出端和电阻六的一端,电阻六另一端连接三极管的基极,三极管的集电极连接电阻七的一端,电阻七另一端连接正电源端,三极管的发射极连接绝缘栅双极型晶体管栅极。运算放大器、电阻二、电阻三、电阻四、电阻五组成第一级信号放大电路;三极管、电阻六、电阻七组成第二级信号放大电路,第一级信号放大电路的输入端接收数模转换模块输出的直流电压模拟信号和通过电阻四取自取样电阻一的一端的直流取样信号,直流电压模拟信号、直流取样信号叠加后经第一级信号放大电路放大后由运算放大器的输出端输出至
第二级信号放大电路的输入端进行第二级信号放大,经过两级信号放大后控制绝缘栅双极型晶体管的集电极至发射极的导通程度,达到控制测试主回路电流的目的。
8.本技术解决上述技术问题所采用的技术方案还包括:上述热保护器时间参数测试用测控系统的控制方法,其特征是包括以下步骤:s1:在触摸屏上设置待测的热保护器技术指标要求的测试交流电流(设置电流数据)、动作时间下限值、动作时间上限值、复位时间下限值、复位时间上限值,这些设置数据通过数据线保存在可编程控制器中;s2. 中央处理器将设置电流数据换算成对应的电流控制数据(与模数转换模块输入的实时电流转换数据进行比较)并保存在可编程控制器中,可编程控制器同时接收交流取样电路输入的实时电流转换数据;s3.启动测试,中央处理器对电流控制数据与实时电流转换数据进行比较处理后控制数模转换模块输出直流电压模拟信号,直流电压模拟信号叠加取自取样电阻一的一端的直流取样信号接入电流控制电路,经过放大后输出至绝缘栅双极型晶体管的栅极,控制绝缘栅双极型晶体管的集电极至发射极导通并调整实时电流转换数据,从而实现利用电流控制电路将交流测试回路的实时电流快速提升至设置电流数据并稳定在设置电流数据附近;s4. 交流测试回路的热保护器通电且实时电流转换数据达到接通设定值后,中央处理器判定热保护器为稳定接通状态,内部计时器开始记录接通时间,当热保护器在交流电流的作用下断开,中央处理器通过识别实时电流转换数据低于断开设定值而判断热保护器为断开状态,接通计时结束同时断开计时开始,计时器记录的热保护器从接通至断开的时间即为动作时间;随着温度下降,热保护器再次接通,断开计时结束,计时器记录的热保护器从断开至接通的时间即为复位时间,至此一个测试周期结束;中央处理器对测试的时间数据与设置的时间范围参数进行比较判断处理,若测得的动作时间小于所设置的动作时间下限,即为动作时间超下限不合格项,若测得的动作时间大于所设置的动作时间上限,即为动作时间超上限不合格项,若测得的动作时间处于所设置的动作时间下限和所设置的动作时间上限之间,即为动作时间合格项;测得的复位时间数据与所设置的复位时间上下限数据进行比较,若测得的复位时间小于所设置的复位时间下限,即为复位时间超下限不合格项,若测得的复位时间大于所设置的复位时间上限,即为复位时间超上限不合格项,若测得的复位时间处于所设置的复位时间下限和所设置的复位时间上限之间,即为复位时间合格项;s5:根据测试结果,可编程控制器的开关量输出模块输出相应的控制信号,控制执行机构进行自动分类放置。
9.本技术与现有技术相比,具有以下优点和效果:热保护器测控系统应用了可编程控制、触摸屏、恒流控制等软硬件自动控制技术,对测试电流实时检测,动态调整,保证了测试电流的准确度和稳定性;对测试参数进行自动比较和判断处理,根据输出测试结果信号,控制执行机构进行自动分类放置。
附图说明
10.图1是热保护器的时间参数测试原理示意图。
11.图2是现有技术采用调压器的电路示意图。
12.图3是现有技术采用变阻器的电路示意图。
13.图4是现有技术采用电位器的电路示意图。
14.图5是本技术实施例的电路示意图。
15.图6是图5所示热保护器通电电路的交流回路正半周电流方向示意图。
16.图7是图5所示热保护器通电电路的交流回路负半周电流方向示意图。
具体实施方式
17.下面结合附图并通过实施例对本技术作进一步的详细说明,以下实施例是对本技术的解释而本技术并不局限于以下实施例。
18.参见图5~图7,本技术实施例包括热保护器通电电路(含电流变换器it、取样电阻一r1)、可编程控制器plc、电流控制电路、供电电路5、触摸屏6。
19.热保护器通电电路包括变压器t、接触器km、整流桥d、绝缘栅双极型晶体管igbt的集电极c至发射极e、取样电阻一r1、电流变换器it。所述的变压器t的初级两端分别连接电网电压的l端和n端,所述的变压器t的次级两端输出不超过安全电压(36v)的测试电压,为待测的热保护器rb提供测试电源。测试电压的一端即变压器t次级的t-1端

接触器km一路触点1-3端

热保护器rb

接触器km另一路触点4-2端

整流桥d一臂

绝缘栅双极型晶体管igbt的集电极c至发射极e

取样电阻一r1

整流桥d另一臂

电流变换器it

测试电压的另一端即变压器t次级t-2端,形成测试回路,通过控制绝缘栅双极型晶体管igbt的集电极c至发射极e的导通程度可调节回路电流的大小;测试回路分为交流测试回路和直流测试回路,待测热保护器rb接在交流测试回路上,其接线端一rb-1端连接接触器km一路触点的3端,接触器km一路触点的1端连接测试电压的一端,接线端二rb-2端连接接触器km另一路触点的4端,接触器km另一路触点的2端连接整流桥d的一个交流输入端ac1,整流桥d另一个交流输入端ac2连接测试电压的另一端,以上交流测试回路电流在电源正负半周交替双向流动,正半周电流方向见图6,负半周电流方向见图7。直流测试回路电流单向流动,其连接方式是整流桥d的+端(正端)连接绝缘栅双极型晶体管ibgt的集电极c,绝缘栅双极型晶体管igbt的发射极e连接取样电阻一r1的一端,取样电阻一r1的另一端连接整流桥d的﹣端(负端)且与供电电路5的gnd端相连。
20.本技术对测试回路通电时的电流进行实时取样,为实时电流显示、电流调节和恒流控制提供取样信号。为了保证测试电流的精准控制,本技术设计有交流取样和从取样电阻一r1一端引出的直流取样。下面分别介绍,交流取样采用电流变换器it,交流测试回路导线穿过电流变换器it上的电流互感器,电流互感器感应的信号通过电流变换器it内部的变换处理,在v+端和v-端输出与交流测试回路电流成比例关系的直流电压模拟信号,连接到可编程控制器plc内部的模数转换模块ad的输入端,其v+端连接可编程控制器plc的模数转换模块ad的+端,v-端连接模数转换模块ad的﹣端。直流取样取自串联在直流测试回路中的取样电阻一r1,当直流电流流过取样电阻一r1时,取样电阻一r1的两端会形成与电流成正比关系的直流取样电压,该直流取样电压经电阻四r4后作为直流取样信号引入运算放大器ic的反向输入端in-,起到辅助恒流作用。
21.可编程控制器plc的作用是按软件设计要求对输入的数据和信号进行逻辑运算处
理后输出数据和控制信号。可编程控制器plc包括中央处理器cpu、模数转换模块ad、数模转换模块da和输入输出模块。中央处理器cpu对输入的数据进行逻辑运算后生成处理结果;模数转换模块ad的两个输入端分别连接电流变换器it输出的直流电压模拟信号两端(v+、v-端),其作用是将电流变换器it转换输出的直流电压模拟量信号转换成数字量信号;数模转换模块da输出的+端与电阻二r2的一端、供电电路5的gnd端连接,电阻二r2的另一端接运算放大器ic的正向输入端in+,数模转换模块da输出的﹣端通过电流控制电路中电阻三r3连接运算放大器ic的反向输入端in-,其作用将中央处理器cpu逻辑运算处理后生成的数字信号转换成直流电压模拟信号;输入输出模块包括开关量输入模块in和开关量输出模块out,开关量输入模块in连接各类开关量输入信号,如测试启/停信号(本技术实施例测试启动和停止测试可以采用自动模式也可以采用手动模式,自动模式需要在热保护器测试位置安装位置传感器,手动模式需要在触摸屏6上设置启动停止按钮;当采用自动模式时,待测的热保护器放入测试位置时,通过安装在测试位置的位置传感器检测到热保护器到位信号,即向中央处理器发出热保护器到位信号,由中央处理器自动启动测试进程;当采用手动模式时,操作者在热保护器放到测试位置后,需要按一下启动停止按钮,则中央处理器才控制本实施例启动测试进程,直到测试完成或测试进程中再按一下启动停止按钮,则中央处理器停止测试进程)、执行机构的动作位置信号等;开关量输出模块out输出各类开关量控制信号,如测试结果开关量信号、执行机构的动作控制信号等。
22.触摸屏6通过软件编辑实现测试主回路电流值的设置、热保护器各个时间测试项目上下限范围的设置,实时测试电流数据和测试时间数据的显示;触摸屏6通过数据线实现和可编程控制器plc之间数据双向输送。
23.电流控制电路由运算放大器ic、三极管q、(绝缘栅双极型晶体管igbt的栅极g至发射极e)、电阻二r2、电阻三r3、电阻四r4、电阻五r5、电阻六r6、电阻七r7组成,其中由运算放大器ic和电阻二r2、电阻三r3、电阻四r4、电阻五r5组成第一级信号放大电路;由三极管 q、电阻六r6、电阻七r7组成第二级信号放大电路。第一级信号放大电路的输入端分别接收数模转换模块da转换输出的电流调节控制相关的直流电压模拟信号和通过电阻四r4引入的取自取样电阻一r1的一端的直流取样信号,两路信号叠加(实质上是直流电压模拟信号与直流取样信号相减)后经第一级信号放大后由运算放大器ic的输出端out输出至第二级信号放大电路的输入端进行第二级信号放大,经过两级信号放大后控制绝缘栅双极型晶体管igbt的集电极c至发射极e的导通程度,达到控制测试主回路电流的目的。电流控制电路的电路连接方式为:电阻二r2的一端连接数模转换模块da的+端、供电电路5的gnd端、取样电阻一r1另一端、整流桥d的﹣端,运算放大器ic的正向输入端in+连接电阻二r2的另一端;运算放大器ic的反向输入端in-分别连接电阻三r3、电阻四r4、电阻五r5的一端,电阻三r3的另一端连接数模转换模块da的﹣端,电阻四r4的另一端分别连接绝缘栅双极型晶体管igbt的发射极e、取样电阻一r1的一端,电阻五r5的另一端连接运算放大器ic的输出端out和电阻六r6的一端,电阻六r6的另一端连接三极管t的基极b,三极管 q的集电极c连接电阻七r7的一端,电阻七r7的另一端连接正电源端vcc,三极管 q的发射极e连接绝缘栅双极型晶体管igbt的栅极g。
24.供电电路5提供各个电路正常工作所需的电源,三个输出端分别为正电源端vcc、零电位端gnd、负电源端vee。
25.本实施例工作原理本实施例的测试过程为:本实施例给待测的热保护器rb提供交流电流,通过检测电流变换器it是否有交流电流来判断热保护器rb是在接通状态还是在断开状态。在检测测试主回路的电流状态过程中,本实施例不间断对所检测的实时电流转换数据与电流控制数据进行比较,若实时电流转换数据大于电流控制数据,通过可编程控制器plc、电流控制电路调小测试主回路实时电流;若实时电流转换数据小于电流控制数据,通过可编程控制器plc、电流控制电路调大测试主回路实时电流,调整过程动态控制,使测试交流电流始终保持在一定的精度范围内。在测试过程中,本实施例记录测试主回路有电流状态的时间即为待测热保护器rb的动作时间,记录测试主回路无电流状态的时间即为热保护器rb的复位时间。测得的动作时间与本实施例设置的动作时间上下限数据(正常范围)进行比较,若测得的动作时间小于所设置的动作时间下限,即为动作时间超下限不合格项,若测得的动作时间大于所设置的动作时间上限,即为动作时间超上限不合格项,若测得的动作时间处于所设置的动作时间下限和所设置的动作时间上限之间,即为动作时间合格项;测得的复位时间与本实施例设置的复位时间上下限数据进行比较,若测得的复位时间小于所设置的复位时间下限,即为复位时间超下限不合格项,若测得的复位时间大于所设置的复位时间上限,即为复位时间超上限不合格项,若测得的复位时间处于所设置的复位时间下限和所设置的复位时间上限之间,即为复位时间合格项。根据测试结果,本实施例输出相应的控制信号,控制执行机构进行自动分类放置,还可以在触摸屏6或报警装置上显示或报警出现不合格情况。
26.具体实施过程:1. 在触摸屏6上设置待测的热保护器rb技术指标要求的测试交流电流(设置电流数据)、动作时间下限值、动作时间上限值、复位时间下限值、复位时间上限值,这些设置数据通过数据线输送到可编程控制器plc。
27.2.中央处理器cpu将设置电流数据按软件设计要求进行运算处理换算成对应的电流控制数据(与模数转换模块ad输入的实时电流转换数据进行比较)并保存在可编程控制器plc中。可编程控制器plc同时接收交流取样电路输入的经模数转换模块ad转换的实时电流转换数据。
28.3. 点击触摸屏6上启动停止按钮(或自动模式热保护器安装到位),可编程控制器plc输出模块控制接触器km两路触点吸合,待测热保护器接入交流测试回路,测试开始,因起初测试回路无电流,实时电流转换数据很小,远远小于电流控制数据,中央处理器cpu对电流控制数据与实时电流转换数据进行比较处理后控制数模转换模块da输出较大的直流电压模拟信号,该信号通过电阻二r2、电阻三r3反向接入到运算放大器ic的输入端并叠加通过电阻四r4引入的取自取样电阻一的一端的直流取样信号,经过由运算放大器ic、电阻二r2、电阻三r3、电阻四r4、电阻五r5组成的第一级放大电路放大后,在运算放大器ic的输出端out输出放大信号,第一级放大电路为反向比例放大电路,输出信号与输入信号成反向比例关系,放大倍数取决于电阻五r5和电阻三r3及电阻四r4的比值,具体运算公式uout=-r5(uda/r3+ur1/r4),作为一种特例,r3阻值为4.7kω, r4阻值为1.8kω,r5阻值为5.1mω。第一级放大电路输出的信号经由三极管q、电阻六r6、电阻七r7组成的第二级放大电路放大后,由三极管q的发射极e输出通过两级放大后的信号接入绝缘栅双极型晶体管igbt的栅极
g,控制绝缘栅双极型晶体管igbt的集电极c至发射极e导通,测试回路产生电流。随着测试回路电流的上升,所取样的实时电流数据也增大,经中央处理器cpu比较处理后控制数模转换模块da输出的直流模拟电压上升速度趋缓,受控的测试回路电流上升也趋缓,当测试回路的实时电流达到设置电流数据(对应的实时电流转换数据达到电流控制数据),数模转换模块da输出的直流模拟电压趋于稳定,通过两级放大电路放大后接入绝缘栅双极型晶体管igbt的栅极g的控制电压也趋于稳定,使其集电极c至发射极e导通程度保持在这一状态,此时测试回路电流也保持稳定。测试回路通电后,本实施例通过电流取样电路动态检测实时电流的波动情况,在发生电流波动时通过对实时电流数据和设置电流数据的比较处理后反馈控制绝缘栅双极型晶体管igbt的集电极c至发射极e导通程度,保证电流的稳定性和精确度,达到电流恒定的效果。下面分别介绍两路电流恒定控制过程。第一路是交流测试回路端取样电路,当实时电流大于设置电流数据,电流变换器it输出取样电压上升,可编程控制器plc对电流控制数据与实时电流转换数据进行比较处理后控制数模转换模块da输出的直流模拟电压下降,经两级放大电路放大后使输入到绝缘栅双极型晶体管igbt的栅极g的控制电压下降,使其集电极c至发射极e的导通程度减少,测试回路实时电流下降;反之当实时电流小于设置电流数据,通过控制数模转换模块da输出的直流模拟电压相应上升,使绝缘栅双极型晶体管igbt的集电极c至发射极e的导通程度增加,测试回路实时电流上升。第二路是直流测试回路端取样电路,其直流取样电压为串联在直流测试回路中的取样电阻一r1两端电压,该直流取样电压经电阻四r4与数模转换模块da输出的直流电压模拟信号叠加后接入运算放大器ic反向输入端in-,直流取样信号为正向接入,而数模转换模块da输出的直流电压模拟信号为反向接入,所以两路信号为相减输入,由于直流取样信号比数模转换模块da输出的直流电压模拟信号小很多,所以只能起到辅助恒流的作用。具体恒流控制过程为:当直流测试回路电流上升时,直流取样电压上升,两路信号相减后输入的电压值下降,经两级放大电路放大后的输入到绝缘栅双极型晶体管igbt的栅极g的控制电压下降,使其集电极c至发射极e的导通程度减少,测试回路实时电流下降;反之当直流测试回路实时电流下降时,直流取样电压下降,相应的使绝缘栅双极型晶体管igbt的集电极c至发射极e的导通程度增加,测试回路实时电流上升。
29.4. 交流测试回路的热保护器rb通电且实时电流转换数据达到接通设定值(可依据实际情况在测试程序中预先设定)后,可编程控制器plc内部中央处理器cpu通过实时电流转换数据判断热保护器rb为稳定接通状态,内部计时器开始记录接通时间,当热保护器rb在交流电流的作用下,其内部双金属片1动作使触点4断开,中央处理器cpu通过识别电流变换器it为无信号(实时电流转换数据低于断开设定值)而判断热保护器rb为断开状态,接通计时结束同时断开计时开始,计时器记录的热保护器rb从接通至断开的时间即为动作时间。随着温度下降,双金属片1复位,使触点再次接通,断开计时结束,计时器记录的热保护器rb从断开至接通的时间即为复位时间,至此,一个测试周期结束。中央处理器cpu对测试的时间数据与设置的时间范围参数进行比较判断处理,若测得的动作时间小于所设置的动作时间下限,即为动作时间超下限不合格项,若测得的动作时间大于所设置的动作时间上限,即为动作时间超上限不合格项,若测得的动作时间处于所设置的动作时间下限和所设置的动作时间上限之间,即为动作时间合格项;测得的复位时间数据与所设置的复位时间上下限数据进行比较,若测得的复位时间小于所设置的复位时间下限,即为复位时间超下
限不合格项,若测得的复位时间大于所设置的复位时间上限,即为复位时间超上限不合格项,若测得的复位时间处于所设置的复位时间下限和所设置的复位时间上限之间,即为复位时间合格项。
30.5.根据测试结果,可编程控制器plc的开关量输出模块out输出相应的控制信号,控制执行机构进行自动分类放置。
31.凡是本技术技术特征和技术方案的简单变形或者组合,应认为落入本技术的保护范围。
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