测量方法、装置及射线测量设备与流程

本技术属于电池，尤其是涉及一种测量方法、装置及射线测量设备。

背景技术：

1、随着物理技术的飞速发展，根据射线穿过物体而产生衰减的原理，可以实现对被测工件的厚度、重量以及面密度等质量参数的测量，并逐渐应用于各个领域中。例如，在电池生产过程中，通过射线测量电池极片的厚度、重量以及面密度等质量参数。

2、目前，在通过射线对被测工件的质量参数的测量中，通常是根据射线穿过被测工件后的射线强度与射线衰减系数，计算得到被测工件的质量参数。但是，仅根据射线穿过被测工件后的射线强度与射线衰减系数计算得到的质量参数，可能与被测工件的实际质量参数存在偏差，从而导致测量得到的质量参数精度降低。

技术实现思路

1、本技术实施例的目的是提供一种测量方法、装置和射线测量设备，能够解决目前工件的质量参数的测量中通常存在检测准确率低的问题。

2、第一方面，本技术实施例提供一种测量方法，包括：

3、根据射线穿过所述被测工件的射线强度，确定所述被测工件的测量质量参数；

4、通过所述被测工件所处的测量环境下的位移曲线函数对所述测量质量参数进行修正，得到所述被测工件的修正质量参数，其中，所述位移曲线函数用于表征所述测量环境下的环境因素对射线产生的影响。

5、本技术实施例中，先根据射线穿过被测工件的射线强度，确定被测工件的测量质量参数，再通过被测工件所处的测量环境下的位移函数对测量质量参数进行修正，该位移曲线函数用于表征测量环境下的环境因素对射线透射率产生的影响。如此，在测量中通过位移曲线函数，考虑环境因素对射线的射线透射率产生的影响，并对测量得到的测量质量参数进行修正，从而测量质量参数与实际质量参数更接近或者一致，提升测量精度。

6、在一些实施方式中，所述通过所述被测工件所处的测量环境下的位移曲线函数对所述测量质量参数进行修正之前，还包括：

7、在测量环境中对至少两个标定件进行标定，得到所述测量环境的质量校准曲线，所述质量校准曲线用于表征各所述标定件的测量质量参数与预设的标称质量参数的关系；

8、对所述测量环境的质量校准曲线相对于标准环境的质量校准曲线进行拟合，得到所述位移曲线函数，所述位移曲线函数用于表征所述测量环境相对于所述标准环境中射线透射率的变化量。

9、本实施方式中，通过对在测量环境中标定得到的质量校准曲线，相对于在标准环境中测量得到的质量校准曲线进行拟合，得到上述位移曲线函数，从而使得得到的位移出现更能体现测量环境对射线透射率的影响，进而使得最终确定的质量参数更精确。

10、在一些实施方式中，所述测量环境与所述标准环境中污染物以及目标影响因素均不同，所述目标影响因素包括除所述污染物之外对射线透射率产生变化的环境因素。

11、本实施方式中，测量环境与标准环境中污染物以及目标影响因素均不同，从而不仅考虑污染物对射线透射率的影响，还考虑目标影响因素对射线透射率的影响，使得修正后的质量参数更准确。

12、在一些实施方式中，还包括：

13、模拟得到第一初始位移和第二初始位移，所述第一初始位移用于表征在仅在所述测量环境中污染物影响下，相比所述标准环境中射线透射率的偏差；所述第二初始位移用于表征在在所述测量环境下，相比所述标准环境中射线透射率的偏差；

14、基于所述第二初始位移与所述第一初始位移的比值，更新所述位移曲线函数，其中，更新后的位移曲线函数为更新前的位移曲线函数与所述比值的乘积。

15、本实施方式中，先获取在测量环境中污染物下产生的第一初始位移以及在测量环境(即包括污染物以及目标影响因素)下产生的第二初始位移，然后计算第二初始位移与第一初始位移的比值，最后将位移曲线函数更新为拟合得到的位移曲线函数与比值的乘积，从而使生成的位移曲线函数既考虑污染物对射线产生的影响，还考虑其他因素对射线产生的影响，使得确定的位移曲线函数更准确，从而使得测量得到的质量参数更精确。

16、在一些实施方式中，各初始位移通过如下公式计算得到：

17、

18、c表示所述初始位移；

19、if表示在所述初始位移对应的环境下，测量得到射线穿过所述标定件后的射线强度；

20、ia表示在所述初始位移对应的环境下，测量得到射线穿过空气后的射线强度；

21、表示在所述标准环境下，测量得到射线穿过所述标定件后的射线强度；表示在所述标准环境下，测量得到射线穿过空气后的射线强度。

22、本实施方式中，通过将各初始位移对应的环境下的射线透射率与标准环境下的射线透射率之间的差值，确定为该初始位移，使得确定的初始位移更合理，从而使得更新后的位移曲线函数表征测量环境中各环境因素对射线产生的影响更准确，进而进一步提升质量参数的测量的精度。

23、在一些实施方式中，各质量校准曲线通过如下公式获取：

24、

25、q表示射线穿过所述标定件的射线强度以及所述射线衰减系数计算得到的所述标定件的测量质量参数；

26、q1表示所述标定件的实际质量参数；

27、μ表示所述射线衰减系数；

28、is表示在所述质量校准曲线对应的环境下，测量得到射线穿过所述标定件后的射线强度；

29、ia表示在所述质量校准曲线对应的环境下，测量得到射线穿过空气后的射线强度；

30、表示射线源发射的射线的射线强度；

31、表示所述标定件的辐射强度。

32、本实施方式中，通过上述公式获取各质量校准曲线，使得获取的质量校准曲线符合比尔定律，从而提升质量校准曲线的准确性，进而进一步提升测量得到的质量参数的准确性。

33、在一些实施方式中，所述在测量环境中对所述至少两个标定件进行标定，得到测量环境的质量校准曲线，包括：

34、在预设周期到达的情况下，在测量环境中对所述至少两个标定件进行标定，得到测量环境的质量校准曲线。

35、本实施方式中，通过在预设周期到达的情况下，在测量环境中对所述至少两个标定件进行标定，得到测量环境的质量校准曲线，从而可以及时更新位移曲线函数，使得测量得到的质量参数更精确。

36、在一些实施方式中，所述被测工件包括电池极片，所述质量参数包括电池极片的面密度。

37、本实施方式中，可以在电池极片的生产过程中，实现对测量得到的测量面密度进行修正，从而测量面密度与实际面密度更接近或者一致，提升电池极片的面密度的测量精度。

38、第二方面，本技术实施例还提供一种测量装置，包括：

39、测量质量参数确定模块，用于根据射线穿过所述被测工件的射线强度，确定所述被测工件的测量质量参数；

40、质量参数修正模块，用于通过所述被测工件所处的测量环境下的位移曲线函数对所述测量质量参数进行修正，得到所述被测工件的修正质量参数，其中，且所述位移曲线函数用于表征所述测量环境下的环境因素对射线产生的影响。

41、本技术实施例中，先根据射线穿过被测工件的射线强度确定被测工件的测量质量参数，再通过被测工件所处的测量环境下的位移函数对测量质量参数进行修正，该位移曲线函数用于表征测量环境下的环境因素对射线透射率产生的影响。如此，在测量中通过位移曲线函数，考虑环境因素对射线的射线透射率产生的影响，并对测量得到的测量质量参数进行修正，从而测量质量参数与实际质量参数更接近或者一致，提升测量精度。

42、在一些实施方式中，还包括：

43、质量校准曲线生成模块，用于在测量环境中对至少两个标定件进行标定，得到所述测量环境的质量校准曲线，所述质量校准曲线用于表征各所述标定件的测量质量参数与预设的标称质量参数的关系；

44、位移曲线函数生成模块，用于对所述测量环境的质量校准曲线相对于标准环境的质量校准曲线进行拟合，得到所述位移曲线函数，所述位移曲线函数用于表征所述测量环境相对于所述标准环境中射线透射率的变化量。

45、本实施方式中，通过对在测量环境中标定得到的质量校准曲线，相对于在标准环境中测量得到的质量校准曲线进行拟合，得到上述位移曲线函数，从而使得得到的位移出现更能体现测量环境对射线透射率的影响，进而使得最终确定的质量参数更精确。

46、在一些实施方式中，所述测量环境与所述标准环境中污染物以及目标影响因素均不同，所述目标影响因素包括除所述污染物之外对射线透射率产生变化的环境因素。

47、本实施方式中，测量环境与标准环境中污染物以及目标影响因素均不同，从而不仅考虑污染物对射线透射率的影响，还考虑目标影响因素对射线透射率的影响，使得修正后的质量参数更准确。

48、在一些实施方式中，还包括：

49、模拟模块，用于模拟得到第一初始位移和第二初始位移，所述第一初始位移用于表征在仅在所述测量环境中污染物影响下，相比所述标准环境中射线透射率的偏差；所述第二初始位移用于表征在在所述测量环境下，相比所述标准环境中射线透射率的偏差；

50、位移曲线函数更新模块，用于基于所述第二初始位移与所述第一初始位移的比值，更新所述位移曲线函数，其中，更新后的位移曲线函数为更新前的位移曲线函数与所述比值的乘积。

51、本实施方式中，先获取在测量环境中污染物下产生的第一初始位移以及在测量环境(即包括污染物以及目标影响因素)下产生的第二初始位移，然后计算第二初始位移与第一初始位移的比值，最后将位移曲线函数更新为拟合得到的位移曲线函数与比值的乘积，从而使生成的位移曲线函数既考虑污染物对射线产生的影响，还考虑其他因素对射线产生的影响，使得确定的位移曲线函数更准确，从而使得测量得到的质量参数更精确。

52、在一些实施方式中，各初始位移通过如下公式计算得到：

53、

54、c表示所述初始位移；

55、if表示在所述初始位移对应的环境下，测量得到射线穿过所述标定件后的射线强度；

56、ia表示在所述初始位移对应的环境下，测量得到射线穿过空气后的射线强度；

57、表示在所述标准环境下，测量得到射线穿过所述标定件后的射线强度；表示在所述标准环境下，测量得到射线穿过空气后的射线强度。

58、本实施方式中，通过将各初始位移对应的环境下的射线透射率与标准环境下的射线透射率之间的差值，确定为该初始位移，使得确定的初始位移更合理，从而使得更新后的位移曲线函数表征测量环境中各环境因素对射线产生的影响更准确，进而进一步提升质量参数的测量的精度。

59、在一些实施方式中，各质量校准曲线通过如下公式获取：

60、

61、q表示射线穿过所述标定件的射线强度以及所述射线衰减系数计算得到的所述标定件的测量质量参数；

62、q1表示所述标定件的实际质量参数；

63、μ表示所述射线衰减系数；

64、is表示在所述质量校准曲线对应的环境下，测量得到射线穿过所述标定件后的射线强度；

65、ia表示在所述质量校准曲线对应的环境下，测量得到射线穿过空气后的射线强度；

66、表示射线源发射的射线的射线强度；

67、表示所述标定件的辐射强度。

68、本实施方式中，通过上述公式获取各质量校准曲线，使得获取的质量校准曲线符合比尔定律，从而提升质量校准曲线的准确性，进而进一步提升测量得到的质量参数的准确性。

69、在一些实施方式中，所述质量校准曲线生成模块，具体用于：

70、在预设周期到达的情况下，在测量环境中对所述至少两个标定件进行标定，得到测量环境的质量校准曲线。

71、本实施方式中，通过在预设周期到达的情况下，在测量环境中对所述至少两个标定件进行标定，得到测量环境的质量校准曲线，从而可以及时更新位移曲线函数，使得测量得到的质量参数更精确。

72、在一些实施方式中，所述被测工件包括电池极片，所述质量参数包括电池极片的面密度。

73、本实施方式中，可以在电池极片的生产过程中，实现对测量得到的测量面密度进行修正，从而测量面密度与实际面密度更接近或者一致，提升电池极片的面密度的测量精度。

74、第三方面，本技术实施例还提供一种射线测量设备，包括：

75、射线源；

76、射线探测器，所述射线探测器与所述射线源之间设置有间隙，且所述间隙用于供被测工件通过；

77、至少两个标定件，所述至少两个标定件设置于所述间隙所处的平面内，且不同标定件的厚度不同；

78、驱动组件，与所述至少两个标定件连接，所述驱动组件用于分别驱动各所述标定件移动至所述间隙内；

79、控制装置，与驱动组件、射线源以及射线探测器电连接，且控制装置用于执行如第一方面所述的方法。

80、本技术实施例中，射线测量设备可以执行上述测量方法，如此，在测量中通过标定得到的位移曲线函数，考虑环境因素对射线的射线透射率产生的影响，并对测量得到的测量质量参数进行修正，从而测量质量参数与实际质量参数更接近或者一致，提升测量精度；而且，上述至少两个标定件设置于供待测工件通过的间隙内，可以实现在测量环境中进行标定，而不需要进行离线标定，使得标定更变能接且省时。

81、在一些实施方式中，所述射线测量设备包括：

82、第一标定件以及第二标定件，在所述射线源至所述射线探测器的方向上，所述第一标定件和所述第二标定件间隔设置；

83、所述驱动组件用于分别驱动所述第一标定件以及第二标定件移动至所述间隙内，以及驱动所述第一标定件和所述第二标定件同时移动至所述间隙内形成第三标定件。

84、本实施方式中，通过两个标定件可以实现对三组标定件组的标定，以生成质量校准曲线，从而使得射线测量设备的结构更简单，且降低标定件的拆装工作量。

85、第四方面，本技术实施例提供了一种射线测量设备，该射线测量设备包括处理器、存储器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的程序或指令，所述程序或指令被所述处理器执行时实现如第一方面所述的方法的步骤。

86、第五方面，本技术实施例提供了一种可读存储介质，所述可读存储介质上存储程序或指令，所述程序或指令被处理器执行时实现如第一方面所述的方法的步骤。

87、上述说明仅是本技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本技术的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本技术的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本技术的具体实施方式。