一种检验光学扩散膜粒子脱落的方法和摩擦测试机与流程

1.本发明涉及扩散膜检验技术领域，特别涉及一种检验光学扩散膜粒子脱落的方法和摩擦测试机。


背景技术：

2.光学扩散膜主要是通过树脂和高折射率的微球(pmma、ps、有机硅、特氟龙、聚氨酯等材质)形成的涂料均匀涂布在聚对苯二甲酸乙二醇酯(pet)表面形成的涂层，目前对光学扩散膜的检测是利用切割刀具在准备好的规定试板上纵横垂直交叉切割6条平行切割线，用透明胶粘贴涂层切断处，均匀撕去胶粘带，检查切割涂层破坏情况，这种检测方式仅是对涂层附着力(涂层与基材的粘结力)的检测，无法确定粒子的附着力情况；而不同材质的微球在树脂中的粘结效果是有差异的，若粒子的附着力不足，在使用过程或后段工序进行机械性测试的时候便容易出现粒子脱落问题，将直接影响到背光模组和电子产品的品质。


技术实现要素：

3.本发明的主要目的是提供一种检验光学扩散膜粒子脱落的方法和摩擦测试机，旨在检测扩散膜粒子的粘结牢固程度，保证背光模组和电子产品的品质。
4.为实现上述目的，本发明提出的一种检验光学扩散膜粒子脱落的方法，所述检验光学扩散膜粒子脱落的方法包括如下步骤：
5.使检测器具与待检扩散膜表面相互摩擦；
6.观察待检扩散膜表面是否存在粒子脱落缺陷。
7.在本发明的一实施例中，所述使检测器具与待检扩散膜表面相互摩擦的步骤包括：
8.固定所述检测器具；
9.使所述待检扩散膜在所述检测器具的摩擦面摩擦预设次数。
10.在本发明的一实施例中，所述使所述待检扩散膜在所述检测器具的摩擦面摩擦预设次数的步骤中，定义所述预设次数为n，且满足n≥5次。
11.在本发明的一实施例中，所述使所述待检扩散膜在所述检测器具的摩擦面摩擦预设次数的步骤之前还包括：
12.使所述待检扩散膜以预设压力压置于所述检测器具的摩擦面。
13.在本发明的一实施例中，所述使所述待检扩散膜以预设压力压置于所述检测器具的摩擦面的步骤中，定义所述预设压力为g，且满足g≥100g。
14.在本发明的一实施例中，所述检测器具为pc板；
15.和/或，所述检测器具的摩擦面具有并排设置的多个棱形凸起。
16.本发明还提出一种摩擦测试机，可实现如前述任一项中所述的检验光学扩散膜粒子脱落的方法，所述摩擦测试机包括：
17.摩擦平台，所述摩擦平台设有摩擦面；和
18.施压件，所述施压件具有与所述摩擦面相对设置的贴膜面，且相对所述摩擦面可沿所述摩擦面的平面方向平移设置。
19.在本发明的一实施例中，所述摩擦测试机还包括平移机构，所述平移机构设有悬臂；
20.所述施压件穿设于所述悬臂，所述施压件相对所述悬臂可活动设置，以靠近或远离所述摩擦面。
21.在本发明的一实施例中，所述悬臂开设有螺孔，所述施压件的外表面设有外螺纹，所述施压件通过所述外螺纹和所述螺孔的配合壳活动地穿设于所述悬臂。
22.在本发明的一实施例中，所述摩擦平台包括平台本体和pc板，所述pc板固定于所述平台本体的表面，所述pc板的一侧板面形成所述摩擦面；
23.和/或，所述摩擦面具有并排设置的多个棱形凸起。
24.本发明的技术方案，通过对扩散膜进行摩擦试验，以模拟扩散膜在装配至电子产品之后进行机械测试或被使用时存在的与电子产品内部部件相互摩擦的状况，以此对扩散膜上的粒子附着力进行检测，判断扩散膜粒子是否容易脱落；如此检验之后，便可以挑选出粒子不易脱落的扩散膜用于lcd背光源和电子产品中，以保证lcd背光源和电子产品的品质。
附图说明
25.为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
26.图1为本发明检验光学扩散膜粒子脱落的方法第一实施例的流程图；
27.图2为本发明检验光学扩散膜粒子脱落的方法第二实施例的流程图；
28.图3为本发明检验光学扩散膜粒子脱落的方法第三实施例的流程图；
29.图4为本发明检验光学扩散膜粒子脱落的方法第四实施例的流程图；
30.图5为本发明检验光学扩散膜粒子脱落的方法第五实施例的流程图；
31.图6为本发明摩擦测试机一实施例的结构图。
32.附图标号说明：
[0033][0034]
[0035]
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
[0036]
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0037]
需要说明，本发明实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后
……
)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
[0038]
在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“连接”、“固定”等应做广义理解，例如，“固定”可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
[0039]
另外，在本发明中如涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。
[0040]
本发明提出一种检验光学扩散膜粒子脱落的方法。
[0041]
请参照图1，在本发明检验光学扩散膜粒子脱落的方法的一些实施例中，所述检验光学扩散膜粒子脱落的方法包括如下步骤：
[0042]
步骤s10，使检测器具与待检扩散膜表面相互摩擦；
[0043]
步骤s30，观察待检扩散膜表面是否存在粒子脱落缺陷。
[0044]
本技术提出一种可以用于检测判断扩散膜粒子是否容易脱落的检验方法，可以理解的，光学扩散膜用于背光模组和电子产品中，主要起到修正扩散角度的作用，会使光辐射面积增大；常见的，光学扩散膜的基本结构是在透明基材的两个表面涂上光扩散颗粒和树脂混合形成的涂层；而在扩散膜装配至背光模组和电子产品之后，还需要对背光模组和电子产品进行跌落测试或者模拟运输的振动测试等机械测试，在测试过程或者在电子产品被用户使用的过程中，光学扩散膜会与电子产品或背光模组中的其他部件产生摩擦，此时若扩散膜上的光扩散颗粒的粒子附着力较差，便容易导致扩散膜出现粒子脱落的问题，影响扩散膜对光线角度的扩散作用。
[0045]
本技术提出的检验光学扩散膜粒子脱落的方法，便是在扩散膜被装配使用之前，提前模拟扩散膜与其他物品摩擦的场景，以此检测扩散膜在摩擦时扩散膜上的粒子是否容易脱落；具体的，使得待检扩散膜与检测器具相互摩擦，可以是固定待检扩散膜，用检测器具在待检扩散膜上摩擦，也可以是固定检测器具，使得待检扩散膜在检测器具的摩擦面131上摩擦；还可以是分别活动检测器具和待检扩散膜使二者相互摩擦，其中，检测器具可以是
任意工具，也可以是参照扩散膜的安装环境，选用可能与扩散膜出现摩擦的部件作为检测器具，在此不做限定。当待检扩散膜与检测器具摩擦之后，检测待检扩散膜表面是否存在粒子脱落缺陷，可以理解的，当扩散膜表面存在粒子脱落时，脱落位置便会存在凹坑，此时，便可以判断扩散膜表面的粒子附着力不足，容易脱落，当然，由于扩散膜上的粒子均是微粒子级别，此时需要使用显微镜等工具辅助观测；另外，还可以通过观测检测器具上是否有脱落的粒子以判断扩散膜是否有粒子脱落问题，但由于粒子较小，而检测器具上的摩擦面131较大时在检测器具上找寻粒子较为不便。
[0046]
因此，可以理解的，本发明的技术方案，通过对扩散膜进行摩擦试验，以模拟扩散膜在装配至电子产品之后进行机械测试或被使用时存在的与电子产品内部部件相互摩擦的状况，以此对扩散膜上的粒子附着力进行检测，判断扩散膜粒子是否容易脱落；如此检验之后，便可以挑选出粒子不易脱落的扩散膜用于lcd背光源和电子产品中，以保证lcd背光源和电子产品的品质。
[0047]
请参照图2，在本发明检验光学扩散膜粒子脱落的方法的一些实施例中，所述使检测器具与待检扩散膜表面相互摩擦的步骤包括：
[0048]
步骤s11，固定所述检测器具；
[0049]
步骤s13，使所述待检扩散膜在所述检测器具的摩擦面131摩擦预设次数。
[0050]
可以理解的，本技术模拟扩散膜受摩擦的场景以判断扩散膜上的粒子是否容易脱落，但若摩擦次数不足，便容易出现试验效果不准确的问题，而若摩擦次数过多，便容易出现发热或疲劳等问题导致粒子脱落，且不满足实际使用场景，影响检验结果；另外对于不同扩散膜，若试验的摩擦次数不一致，且存在其他因素干扰时，难以判断粒子脱落的具体原因。
[0051]
本实施例中，采用固定检测器具，用待检扩散膜在检测器具的摩擦面131上摩擦，此时，对于同一批次或同一类型的扩散膜，使得不同待检扩散膜在检测器具上的摩擦位置一致，同时限定待检扩散膜在检测器具上的摩擦次数，以此确保不同扩散膜的试验条件一致，以此使得检测数据更为准确可靠，且更加准确地判断出不合格的扩散膜，保证电子产品和背光模组的品质。另外，对于不同类型的扩散膜，例如不同的涂层厚度、底材硬度或材料等，可以设置不同的摩擦次数或采用不同的检测器具，在此不做限定。
[0052]
请参照图3，在本发明检验光学扩散膜粒子脱落的方法的一些实施例中，所述使所述待检扩散膜在所述检测器具的摩擦面131摩擦预设次数的步骤中，定义所述预设次数为n，且满足n≥5次。
[0053]
可以理解的，当电子产品进行机械测试或被用户使用时，待检扩散膜需要遭受多次摩擦和振动。本实施例中，使得待检扩散膜在检测器具的摩擦面131上的摩擦至少5次，以此确保模拟检测的场景更贴近于电子产品进行机械测试或被使用时可能存在的摩擦现象，从而提高试验的真实性和准确性，更有利于判断扩散膜在具体测试环境和使用环境下粒子是否容易脱落。
[0054]
请参照图4，在本发明检验光学扩散膜粒子脱落的方法的一些实施例中，所述使所述待检扩散膜在所述检测器具的摩擦面131摩擦预设次数的步骤之前还包括：
[0055]
步骤s12，使所述待检扩散膜以预设压力压置于所述检测器具的摩擦面131。
[0056]
可以理解的，本技术的检验方法旨在模拟扩散膜在电子产品做机械测试或被使用
时存在的摩擦场景，以检测扩散膜上的粒子附着力以及在摩擦时粒子是否容易脱落。而扩散膜上的粒子所受的摩擦力取决于扩散膜与检测器具摩擦面131之间的压力以及二者的摩擦系数，若扩散膜与摩擦面131之间的压力过小，便会导致扩散膜所受的摩擦力较小，难以起到较好的摩擦测试作用，且若同一批次或同一类型的摩擦力不同，测试结果也可能不准确。本实施例中，使得待检扩散膜以预设压力压置在检测器具的摩擦面131进行摩擦，以确保同一批次或同一类型的扩散膜所受摩擦力一致，以较为准确地判断出该批扩散膜中的良品和不良品。
[0057]
请参照图5，在本发明检验光学扩散膜粒子脱落的方法的一些实施例中，所述使所述待检扩散膜以预设压力压置于所述检测器具的摩擦面131的步骤中，定义所述预设压力为g，且满足g≥100g。
[0058]
本实施例中，使得待检扩散膜以至少100g的压力压置在检测器具的摩擦面131上进行摩擦，以避免扩散膜所受摩擦力较小无法准确地检测出粒子附着力不足的扩散膜，也保证同一批次或同一类型的扩散膜在相同的摩擦力下进行检测，提高检测的准确性，有效的筛除出粒子附着力不足容易脱落的扩散膜，从而保证背光模组和电子产品的品质。
[0059]
在本发明检验光学扩散膜粒子脱落的方法的一些实施例中，所述检测器具为pc板13；
[0060]
和/或，所述检测器具的摩擦面131具有并排设置的多个棱形凸起。
[0061]
可以理解的，本技术的检验方法旨在模拟扩散膜在电子产品做机械测试或被使用时存在的摩擦场景，以检测扩散膜上的粒子附着力以及在摩擦时粒子是否容易脱落。而在电子产品中，与扩散膜直接接触的部件一般为pc板13，即聚碳酸酯板或聚酯板。本实施例中，使用pc板13作为检测器具用于与待检扩散膜摩擦，从而可以更加准确的模拟扩散膜被应用时的使用环境，使得检测结果更加准确。
[0062]
可以理解的，扩散膜上的粒子所受的摩擦力取决于扩散膜与检测器具摩擦面131之间的压力以及二者的摩擦系数，影响摩擦系数的其中一个因素便在于接触面的粗糙度。若检测器具的表面为光滑平面，扩散膜与摩擦面131之间的摩擦系数较小，便会导致扩散膜所受的摩擦力较小，难以起到较好的摩擦测试作用。在一些实施例中，使得检测器具的摩擦面131具有并排设置的多个棱形凸起，此时即可以增大扩散膜所受的摩擦力，也可以使得检测环境更加严苛，更有利于筛选出粒子附着力较大的扩散膜，使得扩散膜被应用时粒子不易脱落，以保证背光模组和电子产品的品质。
[0063]
请参照图6，本发明还提出一种摩擦测试机100，可实现如前述任一实施例中所述的检验光学扩散膜粒子脱落的方法，所述摩擦测试机100包括：
[0064]
摩擦平台10，所述摩擦平台10设有摩擦面131；和
[0065]
施压件30，所述施压件30具有与所述摩擦面131相对设置的贴膜面31，且所述施压件30可相对所述摩擦面131沿所述摩擦面131的平面方向平移设置。
[0066]
本发明还提出一种摩擦测试机100，利用摩擦测试机100完成前述任一实施例中出的检验方法，即无需用户握持检测器具和扩散膜进行摩擦，可以减少人工，提高自动化程度，且通过摩擦测试机100进行测试，可以使得摩擦测试过程中的各个因素，例如摩擦速度、摩擦力以及压力等保持一致，不会像人工测试时存在不稳定性，提高检测精度。具体的，本技术提出的摩擦测试机100包括摩擦平台10和施压件30，摩擦平台10上设置有摩擦面131，
施压件30上设置有与摩擦面131相对设置的贴膜面31，贴膜面31用于贴设扩散膜，且使得贴设在贴膜面31的扩散膜与摩擦面131相接触，另外，施压件30可相对摩擦平台10平移设置，以带动扩散膜在摩擦面131上摩擦，以对扩散膜进行摩擦测试，此过程中，由于施压件30与摩擦面131之间的距离保持不变，因此摩擦测试过程中，扩散膜和摩擦面131之间的作用力保持不变，提高了测试的准确性。
[0067]
请参照图6，在本发明摩擦测试机100的一些实施例中，所述摩擦测试机100还包括平移机构50，所述平移机构50设有悬臂51；
[0068]
所述施压件30穿设于所述悬臂51，所述施压件30相对所述悬臂51可活动设置，以靠近或远离所述摩擦面131。
[0069]
本实施例中，摩擦测试机100还包括平移机构50，平移机构50与施压件30传动连接，以驱使施压件30相对摩擦面131滑动，进而使得施压件30上的扩散膜与摩擦面131产生相互摩擦，以对扩散膜进行摩擦测试。其中，平移机构50可以是气缸顶推机构、丝杠传动机构、导轨滑块机构、带传动机构或者任意两种或两种以上传动机构的组合，在此不做限定；本实施例中，平移机构50设有悬臂51，悬臂51自摩擦平台10的边缘延伸至摩擦面131位置，此时，使得施压件30穿设于悬臂51即可使得施压件30的贴膜面31与摩擦面131相对设置；进一步地，使得施压件30可活动地设置在悬臂51上，以使施压面靠近或远离摩擦面131，可以理解的，在进行摩擦测试时，需要时扩散膜以预设压力压置在摩擦面131上，才可以确保扩散膜和摩擦面131之间具有较为合适的摩擦力，避免扩散膜所受摩擦力过小导致测试结果不准确；使得施压件30与摩擦面131之间的距离可调节，便可以通过调节贴膜面31上的扩散膜与摩擦面131之间的挤压程度调整两者之间的压力，从而起到调整摩擦力的作用，确保测试效果的准确性。且使得施压件30可滑动，还可以在粘贴或拆除扩散膜时使施压件30远离摩擦面131，增大操作空间，提高扩散膜的拆装便捷性。
[0070]
其中，施压件30可滑动地穿设在悬臂51上，可以是在施压件30的外侧壁凸设若干沿轴向排布的卡扣，在悬臂51上开设卡接孔，当施压件30调整至合适位置时使得对应位置的卡扣与卡接孔卡接配合，卡扣也可以设置成弹性顶针的形式；另外，还可以是在悬臂51上设置若干卡接孔，使得卡扣卡接在不同的卡接孔中从而调整施压件30的位置；或者，还可以是通过顶丝固定以及如下实施例中的螺纹连接的方式，在此不做具体限定。
[0071]
在本发明摩擦测试机100的一些实施例中，所述悬臂51开设有螺孔，所述施压件30的外表面设有外螺纹，所述施压件30通过所述外螺纹和所述螺孔的配合壳活动地穿设于所述悬臂51。
[0072]
本实施例中，悬臂51上开设有朝向摩擦面131设置的螺孔，至少部分施压件30设置为螺杆的结构，此时，使得施压件30螺纹连接于螺孔，仅需转动施压件30时便可以使得施压件30在螺孔中升降进而使得贴膜面31和扩散膜靠近或远离摩擦面131，且螺纹连接也具有自锁作用，可以保持施压件30和悬臂51的相对位置稳定。
[0073]
进一步地，在本发明摩擦测试机100的一些实施例中，所述悬臂51开设有穿设所述施压件30的通孔，所述施压件30的远离所述摩擦面131的一端凸设有止挡部33，所述止挡部33的横截面大于所述通孔。
[0074]
本实施例中，施压件30具有背对设置的两端，其中一端端面形成贴膜面31用于固定扩散膜，另一端设置有止挡部33，且止挡部33的横截面大于悬臂51上通孔的横截面，可以
避免施压件30直接从悬臂51上掉落，且用于限定贴膜面31与摩擦面131之间的最小距离，避免贴膜面31和摩擦面131之间相互碰撞导致施压件30损毁或对摩擦面131的粗糙度造成影响。
[0075]
请参照图6，在本发明摩擦测试机100的一些实施例中，所述摩擦平台10包括：
[0076]
平台本体11；和
[0077]
pc板13，所述pc板13固定于所述平台本体11的表面，所述pc板13的背离所述平台本体11的板面形成所述摩擦面131。
[0078]
本实施例中，摩擦平台10包括作为安装基础的平台本体11和作为检测器具的pc板13，此时，可以将平移机构50和施压件30均安装在平台本体11上，以提高整体结构的完整性，便于摩擦测试机100整体的搬运和安装。可以理解的，本技术的检验方法旨在模拟扩散膜在电子产品做机械测试或被使用时存在的摩擦场景，以检测扩散膜上的粒子附着力以及在摩擦时粒子是否容易脱落。而在电子产品中，与扩散膜直接接触的部件一般为pc板13，即聚碳酸酯板或聚酯板。本实施例中，使用pc板13作为检测器具用于与待检扩散膜摩擦，从而可以更加准确的模拟扩散膜被应用时的使用环境，使得检测结果更加准确。
[0079]
其中，pc板13固定在平台本体11的固定方式，可以是通过胶水粘接或者在平台本体11的表面开槽嵌设等方式，也可以是如图示实施例中采用胶带或压块或其他压接件15压接的方式，压接件15可以设置多个以分别压接在pc板13的四角或者不同侧边，压接件15也可以设置成环状结构，以压接在pc板13的周向，在此不做限定。
[0080]
在本发明摩擦测试机100的一些实施例中，所述摩擦面131具有并排设置的多个棱形凸起。
[0081]
可以理解的，扩散膜上的粒子所受的摩擦力取决于扩散膜与检测器具摩擦面131之间的压力以及二者的摩擦系数，影响摩擦系数的其中一个因素便在于接触面的粗糙度。若检测器具的表面为光滑平面，扩散膜与摩擦面131之间的摩擦系数较小，便会导致扩散膜所受的摩擦力较小，难以起到较好的摩擦测试作用。本实施例中，使得检测器具的摩擦面131具有并排设置的多个棱形凸起，此时即可以增大扩散膜所受的摩擦力，也可以使得检测环境更加严苛，更有利于筛选出粒子附着力较大的扩散膜，使得扩散膜被应用时粒子不易脱落，以保证背光模组和电子产品的品质。
[0082]
以上所述仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是在本发明的发明构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。