一种芯片封装测试用绝缘防护装置的制作方法

1.本发明涉及芯片技术领域，尤其涉及一种芯片封装测试用绝缘防护装置。


背景技术：

2.随着科技的进步，大多电子产品也越来越追求轻薄短小，这就造成了芯片的封装集成度越来越高，导致芯片封装组件的结构变得复杂，从而容易出现许多可靠性问题，因此，芯片在封装后需要进行测试，目前，一般是将封装后的芯片直接放入测试器内进行测试，而芯片在测试时，静电和震动都会影响芯片的测试结果，导致芯片的测试结果出现偏差，而现有的测试器，在测试时，只能通过工作人员远离来避免静电，如此，容易影响工作效率，且不便工作人员及时操控测试器，且现有技术中，一般不会对测试器进行固定，导致测试器在被外界因素撞击时，容易发生震动，从而影响芯片的检测结果。
3.综上所述，需研发一种能够防止静电和震动影响芯片检测的芯片封装测试用绝缘防护装置。


技术实现要素：

4.为了克服现有的测试器只能通过工作人员远离来避免静电，容易影响工作效率的缺点，本发明的目的是提供一种能够防止静电和震动影响芯片检测的芯片封装测试用绝缘防护装置。
5.为实现以上目的，本发明通过以下方案予以实现：一种芯片封装测试用绝缘防护装置，包括有：
6.绝缘底座；
7.测试仪，绝缘底座顶部放置有测试仪；
8.支撑架，绝缘底座后侧中间连接有用于对测试仪后侧进行支撑限位的支撑架，测试仪后侧与支撑架接触；
9.第一导套，支撑架前上部左右两侧均连接有第一导套；
10.固定机构，第一导套前侧设有用于对测试仪进行固定的固定机构，通过固定机构往内侧移动对测试仪进行夹紧固定，防止测试仪因外界意外撞击而发生剧烈震动，影响芯片的检测结果；
11.接地机构，绝缘底座右前侧设有用于将静电导入地面的接地机构，通过接地机构将静电导入地面，防止静电会影响芯片的检测结果。
12.作为更进一步的优选方案，固定机构包括有：
13.第一滑杆，第一导套内部前侧均滑动式连接有第一滑杆；
14.夹紧组件，第一滑杆上连接有用于对测试仪进行夹紧的夹紧组件，通过夹紧组件往内侧移动对测试仪进行夹紧，防止测试仪会因外界意外撞击而发生剧烈震动，影响芯片的检测结果。
15.作为更进一步的优选方案，夹紧组件包括有：
16.第二滑杆，第一滑杆上部均滑动式连接有第二滑杆；
17.固定片，第二滑杆内侧均连接有用于对测试仪进行夹紧限位的固定片，固定片的材质为橡胶，固定片内侧均与测试仪接触；
18.第一拉力弹簧，第二滑杆外侧均套有第一拉力弹簧，第一拉力弹簧的两端分别与第一滑杆上部外侧和第二滑杆外侧连接，在第一拉力弹簧的作用下，带动第二滑杆往内侧移动，第二滑杆带动固定片往内侧移动对测试仪进行夹紧，防止测试仪因外界意外撞击而发生剧烈震动，影响芯片的检测结果。
19.作为更进一步的优选方案，接地机构包括有：
20.第二导套，绝缘底座右前侧连接有第二导套；
21.铜棒，第二导套内部滑动式连接有用于将静电导入地面的铜棒，通过铜棒与地面接触，铜棒将静电导入地面，防止静电影响芯片的测试结果；
22.接地线，测试仪下部右前侧连接有接地线，接地线右端与铜棒顶部连接；
23.第二拉力弹簧，铜棒上部套有第二拉力弹簧，第二拉力弹簧的两端分别与接地线右端和第二导套顶部连接。
24.作为更进一步的优选方案，还包括有用于对第一滑杆的位置进行调节的调节机构，调节机构包括有：
25.支撑块，第一导套前部外侧均连接有支撑块；
26.调节螺杆，支撑块底部均转动式连接有调节螺杆；
27.螺纹套，第一滑杆下部外侧均连接有螺纹套，螺纹套均与相近的调节螺杆螺纹式连接，转动调节螺杆，带动螺纹套上下移动，螺纹套带动第一滑杆进行上下移动对固定片的位置进行调节。
28.作为更进一步的优选方案，还包括有用于增大与地面的接触面积的扩大机构，扩大机构包括有：
29.连接块，铜棒底部连接有连接块，通过连接块与地面接触，连接块用于增加与地面的接触面积，加快静电导出的速度；
30.曲柄，连接块前后两侧均转动式连接有曲柄；
31.扭力弹簧，曲柄右侧均套有扭力弹簧，扭力弹簧的两端分别与连接块和曲柄连接；
32.接触块，曲柄下侧均转动式连接有接触块。
33.作为更进一步的优选方案，还包括有用于对测试仪顶部进行压紧的下压机构，下压机构包括有：
34.第三导套，第一导套前侧均连接有第三导套；
35.第一滑动架，左侧的第三导套内部与右侧的第三导套内部均滑动式连接有第一滑动架，第二滑杆外侧均与相近的第一滑动架外壁接触；
36.连杆，第一滑动架上部均转动式连接有连杆；
37.挤压片，连杆内侧转动式连接有用于对测试仪顶部进行压紧的挤压片，挤压片底部与测试仪顶部接触，第一滑动架带动连杆往内侧移动，连杆带动挤压片往下移动对测试仪顶部进行挤压固定。
38.作为更进一步的优选方案，还包括有用于带动第一滑动架自动移动的开启机构，开启机构包括有：
39.螺纹杆，支撑架后上侧转动式连接有螺纹杆；
40.第二滑动架，支撑架上部滑动式连接有第二滑动架，螺纹杆与第二滑动架中部螺纹式连接；
41.楔形块，第二滑动架前部左右两侧均连接有用于带动第一滑动架自动往外侧移动的楔形块，楔形块均与相近的第一滑动架下部接触，转动螺纹杆，带动楔形块往后移动挤压第一滑动架，带动第一滑动架和第二滑杆自动往外侧移动松开测试仪。
42.本发明具有以下至少一个优点：本发明通过铜棒与地面接触，能够自动将测试仪上的静电导入地面，从而能够避免静电影响芯片的测试结果，如此，便无需工作人员远离测试仪；通过转动调节螺杆，使得螺纹套带动第一滑杆进行上下移动，如此，能够避免第一滑杆松动，影响固定片对测试仪的固定效果；通过连接块与地面紧贴，能够增大与地面的接触面积，加快静电导入地面的速度；通过挤压片往下移动对测试仪进行挤压固定，如此，挤压片配合固定片，能够对测试仪进行多方位固定，提高测试仪的稳定性；通过转动螺纹杆，使得楔形块往前移动推动第一滑动架往外侧移动，从而带动第二滑杆自动往外侧移动，如此，通过转动螺纹杆，即可使得固定片和挤压片均松开测试仪，操作较为简单。
附图说明
43.图1为本发明的第一视角立体结构示意图。
44.图2为本发明的第二视角立体结构示意图。
45.图3为本发明的固定机构立体结构示意图。
46.图4为本发明的接地机构立体结构示意图。
47.图5为本发明的调节机构立体结构示意图。
48.图6为本发明的扩大机构立体结构示意图。
49.图7为本发明的下压机构立体结构示意图。
50.图8为本发明的开启机构立体结构示意图。
51.图9为本发明的a处放大图。
52.图中零部件名称及序号：1_测试仪，2_绝缘底座，3_支撑架，4_第一导套，5_固定机构，51_第一滑杆，52_第二滑杆，53_固定片，54_第一拉力弹簧，6_接地机构，61_第二导套，62_铜棒，63_第二拉力弹簧，64_接地线，7_调节机构，71_支撑块，72_调节螺杆，73_螺纹套，8_扩大机构，81_连接块，82_曲柄，83_接触块，84_扭力弹簧，9_下压机构，91_第三导套，92_第一滑动架，93_连杆，94_挤压片，10_开启机构，101_第二滑动架，102_螺纹杆，103_楔形块。
具体实施方式
53.下面结合附图详细说明本发明的优选技术方案。
54.实施例1
55.一种芯片封装测试用绝缘防护装置，如图1和图2所示，包括有测试仪1、绝缘底座2、支撑架3、第一导套4、固定机构5和接地机构6，绝缘底座2顶部放置有测试仪1，绝缘底座2后侧中间焊接有支撑架3，支撑架3用于对测试仪1后侧进行支撑限位，测试仪1后侧与支撑架3接触，支撑架3前上部左右两侧均焊接有第一导套4，两个第一导套4前侧设有固定机构
5，固定机构5用于对测试仪1进行固定，绝缘底座2右前侧设有接地机构6，接地机构6用于将静电导入地面。
56.如图1、图2和图3所示，固定机构5包括有第一滑杆51和夹紧组件，两个第一导套4内部前侧均滑动式连接有第一滑杆51，两个第一滑杆51上连接有夹紧组件，夹紧组件用于对测试仪1进行夹紧；夹紧组件包括有第二滑杆52、固定片53和第一拉力弹簧54，两个第一滑杆51上部均滑动式连接有第二滑杆52，两个第二滑杆52内侧均焊接有固定片53，固定片53用于对测试仪1进行夹紧限位，固定片53的材质为橡胶，两个固定片53内侧均与测试仪1接触，两个第二滑杆52外侧均套有第一拉力弹簧54，第一拉力弹簧54的两端分别与第一滑杆51上部外侧和第二滑杆52外侧连接。
57.如图1、图2和图4所示，接地机构6包括有第二导套61、铜棒62、第二拉力弹簧63和接地线64，绝缘底座2右前侧焊接有第二导套61，第二导套61内部滑动式连接有铜棒62，铜棒62用于将静电导入地面，测试仪1下部右前侧连接有接地线64，接地线64右端与铜棒62顶部连接，铜棒62上部套有第二拉力弹簧63，第二拉力弹簧63的两端分别与接地线64右端和第二导套61顶部连接。
58.使用时，将封装完毕的芯片放入测试仪1内进行检测，检测前，工作人员先手动将第二滑杆52往外侧拉动，第一拉力弹簧54被拉伸，从而带动固定片53往外侧移动，然后将测试仪1放在绝缘底座2顶部，使得测试仪1后部与支撑架3接触，从而使得支撑架3对测试仪1进行支撑，再松开第二滑杆52，此时第一拉力弹簧54复位，带动第二滑杆52和固定片53往内侧移动复位，使得固定片53与测试仪1接触，工作人员再控制第一滑杆51上下移动进行调节，带动第二滑杆52和固定片53上下移动，使得固定片53移动到合适的位置，在第一拉力弹簧54的作用下，使得第二滑杆52带动固定片53始终与测试仪1紧贴，如此，能够对测试仪1合适的位置进行夹紧固定，避免测试仪1会因外界意外撞击而发生震动，从而影响芯片的检测结果，由于固定片53的材质为橡胶，因此，能够避免固定片53移动时损伤测试仪1，同时测试仪1放置在绝缘底座2顶部后，铜棒62与地面接触，在第二拉力弹簧63的作用下，使得铜棒62能够始终与地面紧贴，由于人体有静电，工作人员手接触测试仪1时，接地线64和铜棒62能够将静电导入地面，避免静电影响芯片的检测结果，准备完毕后，控制测试仪1对芯片进行检测，检测完毕，将芯片取出即可。
59.实施例2
60.在实施例1的基础之上，如图1、图2和图5所示，还包括有调节机构7，调节机构7用于对第一滑杆51的位置进行调节，调节机构7包括有支撑块71、调节螺杆72和螺纹套73，两个第一导套4前部外侧均焊接有支撑块71，两个支撑块71底部均转动式连接有调节螺杆72，两个第一滑杆51下部外侧均焊接有螺纹套73，两个螺纹套73均与相近的调节螺杆72螺纹式连接。工作人员手动转动调节螺杆72，调节螺杆72带动螺纹套73进行上下移动，从而带动第一滑杆51上下移动，对第一滑杆51和固定片53的位置进行调节，调节完毕后，调节螺杆72能够对螺纹套73进行限位，从而能够对第一滑杆51进行限位，避免第一滑杆51会松动，影响固定片53对测试仪1的固定效果。
61.如图1、图2和图6所示，还包括有扩大机构8，扩大机构8用于增大与地面的接触面积，扩大机构8包括有连接块81、曲柄82、接触块83和扭力弹簧84，铜棒62底部焊接有连接块81，连接块81前后两侧均铰接有曲柄82，两个曲柄82右侧均套有扭力弹簧84，扭力弹簧84的
两端分别与连接块81和曲柄82连接，两个曲柄82下侧均铰接有接触块83。当测试仪1放置在绝缘底座2顶部后，铜棒62带动连接块81与地面保持紧贴状态，使得接触块83与地面接触，扭力弹簧84扭转形变，在扭力弹簧84的作用下使得接触块83与地面紧贴，避免曲柄82会松动，如此，能够增大与地面的接触面积，加快静电导入地面的速度。
62.如图1、图2和图7所示，还包括有下压机构9，下压机构9用于对测试仪1顶部进行压紧，下压机构9包括有第三导套91、第一滑动架92、连杆93和挤压片94，两个第一导套4前侧均焊接有两个第三导套91，左侧的两个第三导套91内部滑动式连接有第一滑动架92，右侧的两个第三导套91内部滑动式连接有第一滑动架92，两个第二滑杆52外侧均与相近的第一滑动架92外壁接触，两个第一滑动架92上部均铰接有连杆93，两个连杆93内侧铰接有挤压片94，挤压片94底部与测试仪1顶部接触，挤压片94用于对测试仪1顶部进行压紧。将测试仪1放在绝缘底座2顶部后，第二滑杆52往内侧移动带动第一滑动架92往内侧移动，从而带动连杆93往内侧移动，带动挤压片94往下移动对测试仪1顶部进行挤压固定，如此，挤压片94配合固定片53，能够对测试仪1进行多方位固定，提高测试仪1的稳定性，若需要松开测试仪1，工作人员手动将第一滑动架92往外侧拉动，带动第二滑杆52、固定片53和连杆93往外侧移动，使得固定片53松开测试仪1，连杆93往外侧移动带动挤压片94往上移动松开测试仪1即可。
63.如图1、图2、图8和图9所示，还包括有开启机构10，开启机构10用于带动第一滑动架92自动移动，开启机构10包括有第二滑动架101、螺纹杆102和楔形块103，支撑架3后上侧转动式连接有螺纹杆102，支撑架3上部滑动式连接有第二滑动架101，螺纹杆102与第二滑动架101中部螺纹式连接，第二滑动架101前部左右两侧均焊接有楔形块103，楔形块103用于带动第一滑动架92自动往外侧移动，两个楔形块103均与相近的第一滑动架92下部接触。需要松开测试仪1时，工作人员手动转动螺纹杆102，螺纹杆102带动第二滑动架101往前移动，从而带动楔形块103往前移动推动第一滑动架92往外侧移动，第一滑动架92带动第二滑杆52自动往外侧移动，如此，便无需手动再控制第一滑动架92往外侧移动，降低操作难度，需要对测试仪1固定时，反转螺纹杆102，带动第二滑动架101和楔形块103往后移动复位，使得楔形块103与第一滑动架92分离，在第一拉力弹簧54的复位作用下，使得第二滑杆52带动第一滑动架92自动往内侧移动，从而使得固定片53和挤压片94对测试仪1进行自动固定，操作简单。
64.最后所应当说明的是，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非对本发明保护范围的限制，尽管参照较佳实施例对本发明作了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本发明技术方案的实质和范围。