一种工业陶瓷外壁裂纹检测装置的制作方法

1.本发明涉及工业陶瓷监测领域，具体公开一种工业陶瓷外壁裂纹检测装置。


背景技术：

2.工业陶瓷，即工业生产用及工业产品用陶瓷。是精细陶瓷中的一类，这类陶瓷在应用中能发挥机械、热、化学等功能。由于工业陶瓷具有耐高温、耐腐蚀、耐磨损、耐冲刷等一系列优越性，可替代金属材料和有机高分子材料用于苛刻的工作环境，已成为传统工业改造、新兴产业和高新技术中必不可少的一种重要材料，在能源、航天航空、机械、汽车、电子、化工等领域具有十分广阔的应用前景。利用耐腐蚀、与生物酶接触化学稳定性好的陶瓷来生产冶炼金属用坩锅、热交换器、生物材料如牙人工漆关节等，利用特有的俘获和吸收中子的陶瓷来生产各种核反堆结构材料等；
3.进一步检索发现：cn202110108907.x名称为：一种陶瓷裂纹的图像分割方法及系统其中记载的是：涉及一种陶瓷裂纹的图像分割方法及系统，首先对包含陶瓷的图像进行预处理和图形分割，得到陶瓷图像，所述陶瓷图像为灰度图像；接着提取所述陶瓷图像的裂纹，确定所述裂纹的最小外接矩形，将所述最小外接矩形所在图像区域作为待识别图像；进而对所述待识别图像进行图像增强，采用滑窗法对图像增强后的待识别图像进行逐步分割，确定分割得到的局部图像是否存在裂纹，将存在裂纹的局部图像作为裂纹图像；最后根据所述裂纹图像和所述陶瓷图像确定所述陶瓷的裂纹，本发明确定的陶瓷裂纹更加精确。
4.现如今传统的工业陶瓷裂纹没有具体的精密检测器械来对于需要陶瓷检测对象的放大检测，传统的检测途径和检测手段过于繁琐，容易导致一部分的陶瓷表层外壁所感应残留的毛刺结构进行扫略，进而造成了工业陶瓷裂纹的感应监测方面较为困难，导致监测方面无法起到了更精准的裂纹扫描。


技术实现要素：

5.鉴于现有技术中的上述缺陷或不足，本技术旨在提供一种工业陶瓷外壁裂纹检测装置，包括工业陶瓷裂纹检测机构，所述工业陶瓷裂纹检测机构包括用于对地面承载放置的方形控制箱，所述方形控制箱的顶部布设有方形控制柜，所述方形控制柜的顶端中部设置有工业陶瓷监测基座，所述工业陶瓷监测基座的顶端中部竖直设有外框架，所述外框架的中部横向安装有导向轨，所述导向轨的轨道的中部设置有输送履带，所述输送履带的顶端中部依次开设有若干个夹持开孔，若干个所述夹持开孔的端头中部设置有用于输送的滑动推送导轨；
6.所述滑动推送导轨的中部依次分布有工业陶瓷放置基板，所述陶瓷放置基板的边缘侧壁固定安装有探罩机构，所述探罩机构包括安装设置在推送导轨边缘侧壁的防护侧板，所述防护侧板的端头侧壁设置有感应探头，所述感应探头的底端设置有放置座。
7.作为本发明一种优选方案：所述滑动推送导轨的边侧安装有探罩支架，所述探罩支架的顶端中部设置有细节放大探头，所述细节放大探头的端头中部安装有装配基座，所
述装配基座的边侧设置有滑动轨道，所述滑动轨道的边侧设置有放置基座，所述放置基座的边侧设置有承载箱，所述承载箱的边侧设置有陶瓷样品冲压机构。
8.作为本发明一种优选方案：所述陶瓷样品冲压机构包括安装设置在承载箱端头中部的凹型支架，所述凹型支架的顶端中部设置有驱动电机，所述驱动电机的底端中部设置有方形基座，所述方形基座的底端中部设置有上下位移导轨，所述上下位移导轨的端头中部设置有推送架，所述推送架的中部设置有连接垫板，所述连接垫板的中部设置有装配架，所述装配架的底端中部设置有方形支架，所述方形支架的底部两边侧均设置有承载立杆，所述承载立杆的中部设置有方形垫板，所述方形垫板的边侧设置有缓冲杆。
9.作为本发明一种优选方案：所述缓冲杆的表面套设有缓冲弹簧，所述缓冲弹簧的边侧设置有探照垫板，所述探照垫板的底端中部设置有承载垫板的边侧设置有探测扫描机构。
10.作为本发明一种优选方案：所述探测扫描机构包括设置在方形控制柜边侧的控制箱，其中所述控制箱的顶端中部设置有输送基座，所述输送基座的顶端中部承载设有筛料垫板，所述筛料垫板的中部设置有输送轨，所述输送轨的中部设置有输送链条，所述输送链条的底端中部设有投料皮带，所述投料皮带的底端中部设置有陶瓷产品收集卷绕夹，所述陶瓷产品收集卷绕夹的两端中部设有放置垫板。
11.作为本发明一种优选方案：所述陶瓷产品收集卷绕夹的端头中部设置有传动轴承，所述传动轴承的一端传动安装有收卷轴，所述收卷轴的端头中部设置有卷绕盘，所述卷绕盘的后端设置有超声波探照机构，所述超声波探照机构包括安装设置在控制箱边侧的超声波探照头，所述超声波探照头的边侧安装有放射单元，所述放射单元与超声波探照头的末端通过线材连接。
12.作为本发明一种优选方案：所述放射单元的底部两边侧对称设置有支撑立杆，所述支撑立杆的中部设置有承载基座，所述承载基座的顶端中部设置有超声波存放柜，所述超声波存放柜的中部梯形箱，所述梯形箱的顶端中部设置有承载基座，所述承载基座的端头中部开设有显像安装开槽，所述显像安装开槽设置有显像板。
13.作为本发明一种优选方案：所述控制箱的边侧壁设置有光谱打印机构，所述光谱打印机构包括设置在控制箱端头侧壁的光谱显像箱，所述光谱显像箱的顶端中部设置有控制柜，所述控制柜的柜体内部内置有光谱分析机，所述光谱分析机的底端中部设置有梯形基座，所述梯形基座的端头中部横向安装有光谱探测台。
14.作为本发明一种优选方案：所述驱动电机、超声波探照头和光谱分析机均通过外接的plc控制器电性连接，所述plc控制器均与外接电源电性连接。
15.有益效果：
16.1)通过设置的放置撑板和固定轴承，在受到固定轴承的固定式限位作用，使其控制放置横板和圆形开孔之间的固定式的限位结构采用的铰接基座和驱动电机，在驱动电机的限位通电使得控制输出端的结构实现了调动式的旋转，用于达到了对于u型支架位置的前置位移；
17.2)通过采用的驱动齿圈和推送齿条，在驱动齿圈的啮合旋转，控制推送齿条向前端进行直线位移，当推送齿条在前端位移的时候位于u型支架连带的滑动式齿条结构会实现前端扩展，最后对于需要撑袋的对象实现了扩展撑开。
附图说明
18.通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本技术的其他特征、目的和优点将会变得更明显：
19.图1为本发明结构示意图；
20.图2为本发明放射单元结构示意图；
21.图3为本发明侧面示意图；
22.图4为本发明陶瓷样品冲压机构示意图；
23.图5为本发明探测扫描机构结构示意图；
24.图6为的本发明光谱显像箱结构示意图。
25.图中：1、工业陶瓷裂纹检测机构；11、方形控制箱；12、方形控制柜；13、工业陶瓷监测基座；13、工业陶瓷监测基座；14、外框架；16、导向轨；18、输送履带；19、夹持开孔；191、滑动推送导轨；192、工业陶瓷放置基板；2、探罩机构；21、防护侧板；22、感应探头；23、放置座；24、探罩支架；25、细节放大探头；26、装配基座；27、滑动轨道；28、放置基座；29、承载箱；3、陶瓷样品冲压机构；31、凹型支架；32、驱动电机；33、方形基座；34、上下位移导轨；35、推送架；36、连接垫板；37、装配架；38、方形支架；39、承载立杆；391、方形垫板；392、缓冲杆；393、缓冲弹簧；394、探照垫板；395、承载垫板；4、探测扫描机构；41、控制箱；42、输送基座；43、筛料垫板；44、输送轨；45、输送链条；46、投料皮带；47、陶瓷产品收集卷绕夹；48、收卷轴；49、卷绕盘；5、超声波探照机构；51、超声波探照头；52、放射单元；53、支撑立杆；54、梯形箱；55、承载基座；56、超声波存放柜；57、显像板；6、光谱打印机构；61、光谱显像箱；62、控制柜；63、光谱分析机；64、梯形基座；65、光谱探测台。
具体实施方式
26.下面结合附图和实施例对本技术做进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释相关发明，而非对该发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与发明相关的部分。
27.本发明实施例中的附图：图中不同种类的剖面线不是按照国标进行标注的，也不对元件的材料进行要求，是对图中元件的剖视图进行区分。
28.请参阅图1-6，一种工业陶瓷外壁裂纹检测装置，包括工业陶瓷裂纹检测机构1，工业陶瓷裂纹检测机构1包括用于对地面承载放置的方形控制箱11，方形控制箱11的顶部布设有方形控制柜12，方形控制柜12的顶端中部设置有工业陶瓷监测基座13，工业陶瓷监测基座13的顶端中部竖直设有外框架14，外框架14的中部横向安装有导向轨16，导向轨16的轨道的中部设置有输送履带18，输送履带18的顶端中部依次开设有若干个夹持开孔19，若干个夹持开孔19的端头中部设置有用于输送的滑动推送导轨191；
29.滑动推送导轨191的中部依次分布有工业陶瓷放置基板192，工业陶瓷放置基板192的边缘侧壁固定安装有探罩机构2，探罩机构2包括安装设置在滑动推送导轨191边缘侧壁的防护侧板21，防护侧板21的端头侧壁设置有感应探头22，感应探头22的底端设置有放置座23。
30.在本实施例中：滑动推送导轨191的边侧安装有探罩支架24，探罩支架24的顶端中部设置有细节放大探头25，细节放大探头25的端头中部安装有装配基座26，装配基座26的
边侧设置有滑动轨道27，滑动轨道27的边侧设置有放置基座28，放置基座28的边侧设置有承载箱29，承载箱29的边侧设置有陶瓷样品冲压机构3。
31.通过设置的细节放大探头25用于对于滑动推送导轨191前端的位置实现位移，设置的承载箱29作为内部控制器的存放。
32.在本实施例中：陶瓷样品冲压机构3包括安装设置在承载箱29端头中部的凹型支架31，凹型支架31的顶端中部设置有驱动电机32，驱动电机32的底端中部设置有方形基座33，方形基座33的底端中部设置有上下位移导轨34，上下位移导轨34的端头中部设置有推送架35，推送架35的中部设置有连接垫板36，连接垫板36的中部设置有装配架37，装配架37的底端中部设置有方形支架38，方形支架38的底部两边侧均设置有承载立杆39，承载立杆39的中部设置有方形垫板391，方形垫板391的边侧设置有缓冲杆392。
33.通过设有的装配架37实现了对于方形支架38的扩展式地推送位移，设有的缓冲杆392在对于承载结构承压达到了对于方形垫板391的前置位移。
34.在本实施例中：缓冲杆392的表面套设有缓冲弹簧393，缓冲弹簧393的边侧设置有探照垫板394，探照垫板394的底端中部设置有承载垫板395的边侧设置有探测扫描机构4。
35.采用的探照垫板394和承载垫板395之间的承载作用下，按照指定的承载垫板395的结构实现了放置。
36.在本实施例中：探测扫描机构4包括设置在方形控制柜12边侧的控制箱41，其中控制箱41的顶端中部设置有输送基座42，输送基座42的顶端中部承载设有筛料垫板43，筛料垫板43的中部设置有输送轨44，输送轨44的中部设置有输送链条45，输送链条45的底端中部设有投料皮带46，投料皮带46的底端中部设置有陶瓷产品收集卷绕夹47，陶瓷产品收集卷绕夹47的两端中部设有放置垫板。
37.通过设置的陶瓷产品收集卷绕夹47的夹设作用下避免陶瓷产品的掉落。
38.在本实施例中：陶瓷产品收集卷绕夹47的端头中部设置有传动轴承，传动轴承的一端传动安装有收卷轴48，收卷轴48的端头中部设置有卷绕盘49，卷绕盘49的后端设置有超声波探照机构5，超声波探照机构5包括安装设置在控制箱41边侧的超声波探照头51，超声波探照头51的边侧安装有放射单元52，放射单元52与超声波探照头51的末端通过线材连接。
39.通过设置的放射单元52和超声波探照头51的探照作用用于感知探照工业陶瓷的外壁，当发现有裂缝时可以及时感应到。
40.在本实施例中：放射单元52的底部两边侧对称设置有支撑立杆53，支撑立杆53的中部设置有承载基座55，承载基座55的顶端中部设置有超声波存放柜56，超声波存放柜56的中部梯形箱54，梯形箱54的顶端中部设置有承载基座55，承载基座55的端头中部开设有显像安装开槽，显像安装开槽设置有显像板57。
41.采用的显像安装开槽和显像板57，按照显像板57的反馈显像作用，得到波谱线。
42.在本实施例中：控制箱41的边侧壁设置有光谱打印机构6，光谱打印机构6包括设置在控制箱41端头侧壁的光谱显像箱61，光谱显像箱61的顶端中部设置有控制柜62，控制柜62的柜体内部内置有光谱分析机63，光谱分析机63的底端中部设置有梯形基座64，梯形基座64的端头中部横向安装有光谱探测台65。
43.设置的光谱显像箱61在进行光谱照射分析成分时，可以感应到陶瓷的内部含量容
积的多少。
44.在本实施例中：驱动电机32、超声波探照头51和光谱分析机63均通过外接的plc控制器电性连接，plc控制器均与外接电源电性连接。
45.具体使用时，首先使用人员首先第一步是按照工业陶瓷裂纹检测机构1对于初步生产出来的工业陶瓷做外观上的放大检测；
46.期初使用人员需要先通过开启输送履带18，按照输送履带18的推送作用，使得输送履带18的前端方向围绕着导向轨16的位置向前方进行直线位移，在进行位移的时候，对于有期初放置的陶瓷工业品的探测方面按照的则是经过输送履带18的前置方向直接将需要做到初步检测的陶瓷样片直放置在导向轨16的中间区域进行稳步运输，最后再从输送履带18的位置向前端进行缓慢输送，当搭载放置在输送履带18上方的夹持开孔19进行夹紧，当履带端的位置传输到放大的感应端按照感应探头22的聚焦放置作用下，对于每个夹持开孔19上方所搭载的工业陶瓷元件进行放大，按照细节放大探头25和一端的感应探照结构实现了对于需要感应对象的感知；
47.用于工业化的放大看到最细微的工业陶瓷外壁裂痕；
48.第二步：透光度检测；
49.此时使用人员首要的任务是通过按照陶瓷样品冲压机构3用于检测陶瓷样片的透光度，观察是否有裂缝和空隙；
50.首先使用人员按照驱动电机32的通电后，此时驱动电机32的输出端带动输出端的丝杆牵引结构上下伸缩，而后按照两片的连接垫板36，在两连接垫板36的上下伸缩，实现了对于凹型支架31的上下位移，之后按照方形支架38的托举式的位移作用直接将凹型支架31的两旁的上下位移导轨34的位置进行上下伸缩，最后按照探照垫板394的上下聚焦作用实现探照，此时使用人员只需要将多个工业陶瓷成品放置到探照垫板394的位置实现垫放，开启探照端实现发光，发光完毕后再进一步地进行透光检测，按照物品透光的特性；
51.第三步：做到电子化的超声波探测；
52.在早期的超声波探测方面；
53.此时使用人员需要事先按照探测扫描机构4，通过探测扫描机构4中的控制箱41控制卷绕盘49的位置接着将陶瓷成品再进一步地从投料皮带46的位置进行传送，按照陶瓷的推送状态直接顺着从一端的超声波探照头51的位置进行扫描，通过收发器发射超声波的放射光波，而后超声光波触碰到被感应对象实现了反馈，按照反馈的对象再进一步的做到了对应于相应对象的感应探测；
54.通过按照放射单元52内的结构实现了对于超声波存放柜56内部的声波实现了推送式的位移，按照指定的探照端的分析作用，进而达成了对于扫描对象的扫描探测，按照超声波探照头51的感应之下，此时波纹图按照反馈的深度会实时呈现在显像板57的表面；
55.第四步：按照光谱打印结构用于感应出光谱信息；
56.使用人员按照光谱打印结构用于将信息进行反馈，按照后端的光谱探测台65和梯形基座64的感应状态下，实现了对于感应端的初始化的扫描感应，进行细节光谱的探照分析，得到内部分析成分。
57.本说明中未作详细描述的内容属于本领域专业技术人员公知的现有技术。
58.需要说明的是，在不冲突的情况下，本技术中的实施例及实施例中的特征可以相
互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本技术。
59.以上描述仅为本技术的较佳实施例以及对所运用技术原理的说明。本领域技术人员应当理解，本技术中所涉及的发明范围，并不限于上述技术特征的特定组合而成的技术方案，同时也应涵盖在不脱离所述发明构思的情况下，由上述技术特征或其等同特征进行任意组合而形成的其它技术方案。例如上述特征与本技术中公开的(但不限于)具有类似功能的技术特征进行互相替换而形成的技术方案。