一种低阻片式电阻器阻值检测装置的制作方法

1.本实用新型涉及阻值检测装置领域，具体为一种低阻片式电阻器阻值检测装置。


背景技术：

2.随着各类充电器、开关电源、电源转换器、电压调节器、汽车引擎控制器等电子设备的不断发展，低阻片式电阻器也得到了广泛的应用，与此同时对低阻片式电阻器阻值的精度要求也越来越高。就低阻电阻而言，因阻值小，进行电阻检测时，环境、测试点的位置、测试时施加的作用力、检测夹具的材质等，均可能影响检测结果。
3.现有技术中，使用双臂电桥测试仪来测试低阻片式电阻器，双臂电桥测试仪通过给被测电阻提供一个恒定电流，再检测被测电阻两端的电压，从而根据欧姆定律计算出被测电阻的阻值。具体是将两根红黑表笔与双臂电桥测试仪连接，再直接将被测电阻串接在两根红黑表笔之间。因低阻片式电阻器的阻值很小，阻值一般低于1ω，甚至低至1mω，当表笔在接触片式电阻器的引脚端时，会产生一定的阻抗，该阻抗可能与被测的片式电阻器阻值的数量级相同，甚至还要高一些，这就会导致检测结果不可信，误差较大。另一方面，将红黑表笔接触片式电阻器引脚端时，表笔接触的位置容易发生较大的变化，而接触位置的不同对毫欧级片式电阻器的阻值测量结果的一致性也会造成不可忽略的影响，从而影响阻值测量的准确性和可信度。最后，现有技术中，红黑表笔提供电流与检测电压的点是共用的，这样的检测方式也就变成了伪四线测量，实际上还是两线测量的方式，仍然会有足以影响低阻阻值检测结果的接触阻抗存在。


技术实现要素：

4.本实用新型提出一种低阻片式电阻器阻值检测装置，能够提高检测结果的可信度，且操作简单，对检测人员的操作手法要求不高。
5.本实用新型通过以下技术方案实现：
6.一种低阻片式电阻器阻值检测装置，包括基座、四根探针、pcb板、四根引出线和双臂电桥测试仪，基座上设置有放置片式电阻器的定位槽，定位槽底部间隔设置有四个让位孔，pcb板间隔设置在基座下端，pcb板上设置有分别对应于四个让位孔的四个铜箔区，各探针下端分别与各铜箔区接触，并向上穿过让位孔，让位孔与探针尺寸匹配以使探针能够被让位孔限制为竖直状态，四根引线一端分别与四个铜箔区导电连接、另一端与双臂电桥测试仪连接，四根探针均为可压缩探针，定位槽尺寸与片式电阻器尺寸相匹配，片式电阻器置于定位槽内后，四根探针被片式电阻器向下压缩，使片式电阻器的两引脚端分别与四根探针顶端导电连接。
7.进一步的，所述探针顶端为针尖状或者尖锐梅花状。
8.进一步的，所述探针顶端表面具有由金形成的导电层。
9.进一步的，还包括分别设置在基座上端的压紧机构和设置在基座上的两拆卸孔，压紧机构包括铰接设置在基座一端的压紧板、设置在压紧板下端的凸出部和设置在压紧板
上端的把手，片式电阻器置于定位槽内后，凸出块压在片式电阻器上端，两拆卸孔与定位槽连通，且上端具有开口。
10.进一步的，所述定位槽的内侧面均设置有可收缩的卡块，卡块端部具有弧形面。
11.进一步的，还包括设置在pcb板上的四根铜箔走线，四根铜箔走线一端分别与四个铜箔区连接，另一端延伸至pcb板边缘，四根所述引出线分别与铜箔走线另一端连接。
12.进一步的，所述基座由亚克力板制成。
13.本实用新型具有如下有益效果：
14.1、四根探针分为两对，一对作为电流探针以提供恒流电流，一对作为电压探针进行电压检测，检测时，将片式电阻器置于定位槽内，四根探针被片式电阻器向下压缩，从而保证片式电阻器的两引脚端分别与四根探针顶端导电连接，如此即可利用双臂电桥测试仪对片式电阻器的阻值进行检测，当片式电阻器将探针向下压缩时，也能保证探针下端与对应铜箔区的可靠电连接；且因探针位置固定，每次检测时接触点位置是基本不变的，因此电流流向片式电阻电极端的路径也无变化，从而使检测具有一致性，再者，一对探针用于提供电流，另一对探针用于检测电压，即检测电压的触点不会有电流流经，从而不会在接触的位置产生压降，进一步减小了接触阻抗，最后，探针下端设置在pcb板上，再通过引出线与双臂电桥测试仪连接，能够使探针与双臂电桥测试仪的连接更为稳定，综上，使用本实用新型检测出阻值更接近真值，检测结果的可信度高，而定位槽尺寸与片式电阻器尺寸匹配，尺寸正确的片式电阻器才能放在定位槽内，因此本实用新型还具有卡控产品尺寸大小的附加功能，且操作简单，对检测人员的操作手法要求不高。
15.2、探针顶端表面具有由金形成的导电层，相较于铜，金的导电性更好，从而减小接触阻抗，提高检测精度。
16.3、探针顶端为针尖状或者尖锐梅花状，能够与片式电阻更好地接触，防止引脚端被氧化时出现氧化膜层而影响阻值检测的结果，进而提高检测可信度。
17.4、片式电阻器放入定位槽内前，先将压紧板转动至未挡住定位槽的位置，待片式电阻器放入定位槽后，再将压紧板转动至压住片式电阻器的位置，能够保证片式电阻器在测量过程中始终与探针良好接触，更利于测量，拆卸孔则便于测量完成后，将片式电阻器拿出定位槽。
18.5、定位槽的内侧面均设置有可收缩的卡块，卡块端部具有弧形面，片式电阻器放入定位槽内时，卡块被压缩，从而将片式电阻器卡住，保证其在检测过程中不发生位置的变化，利于测量。
附图说明
19.下面结合附图对本实用新型做进一步详细说明。
20.图1为本实用新型的结构示意图（未示出双臂电桥测试仪和引出线）。
21.图2为本实用新型的剖视结构示意图（未示出双臂电桥测试仪和引出线）。
22.图3为本实用新型的压紧板处于水平状态时的状态示意图（未示出双臂电桥测试仪和引出线）。
23.图4为本实用新型的结构示意图（示出双臂电桥测试仪和引出线）
24.其中，1、基座；11、定位槽；12、让位孔；21-24、探针；3、pcb板；31、铜箔区；32、铜箔
走线；41、压紧板；42、凸出块；43、把手；5、拆卸孔；6、卡块；7、双臂电桥测试仪；8、引出线。
具体实施方式
25.如图1至图4所示，低阻片式电阻器阻值检测装置包括基座1、四根探针、pcb板3、四根引出线8、双臂电桥测试仪7、压紧机构、两拆卸孔5和四个卡块6。pcb板3间隔设置在基座1下端，基座1上端设置有放置片式电阻器的定位槽11，定位槽11底部间隔设置有四个让位孔12，pcb板3上设置有分别对应于四个让位孔12的四个铜箔区31和四根铜箔走线32，四根铜箔走线32一端分别与四个铜箔区31连接，另一端延伸至pcb板边缘。四根引出线8一端分别与铜箔走线32另一端导电连接，四根引出线8另一端与双臂电桥测试仪7输入端连接。引出线8与铜箔走线32、及与双臂电桥测试仪7的具体连接，是现有技术。四根探针下端分别与各铜箔区31接触连接，并向上穿过让位孔12，让位孔12尺寸与探针尺寸匹配以使探针能够被让位孔12限制为竖直状态，在本实施例中，让位孔12与探针过盈配合，在其他实施例中，让位孔12与探针也可采取其他连接方式。四根探针均为可压缩探针，探针顶端表面具有由金形成的导电层。定位槽11尺寸与片式电阻器尺寸相匹配，片式电阻器置于定位槽11内后，四根探针被片式电阻器向下压缩，使片式电阻器的两引脚端分别与四根探针顶端导电连接，在本实施例中，探针顶端为针尖状。探针21和探针22为电流探针，用于为片式电阻器提供恒流电流，探针23和探针24为电压探针，用于检测片式电阻器两端电压，四根探针与双臂电桥测试仪7的连接方式为现有技术。片式电阻器为矩形，对应的，定位槽11也为矩形，四根探针分别设置在矩形四个角处，以保证与片式电阻器两端的两引脚端连接。片式电阻器的具体结构为现有技术。
26.压紧机构设置在基座1上端，具体包括铰接在基座1一端的压紧板41、设置在压紧板41下端的凸出块42和设置在压紧板41上端的把手43，片式电阻器置于定位槽11内后，转动压紧板41使其处于水平状态，此时凸出块42向定位槽1内延伸并压紧在片式电阻器上，从而向片式电阻器施加向下的压力。在本实施例中，压紧板41与凸出块42一体成型。两拆卸孔5设置在基座1上，与定位槽11连通，且上端具有开口，检测完成后，可通过两拆卸孔5将片式电阻器向上拿出定位槽11。
27.四个卡块6分别设置在定位槽11的四个内侧面上，当其受到片式电阻器的挤压时，会向内收缩，从而提供一个向外的力将片式电阻器卡住，卡块6端部具有弧形面，能够避免划伤片式电阻器。卡扣的具体收缩结构为现有技术。
28.在本实施例中，基座1由亚克力板制成。铜箔区31为圆形。双臂电桥测试仪7型号为ae-mic1152d。
29.以上所述，仅为本实用新型的较佳实施例而已，故不能以此限定本实用新型实施的范围，即依本实用新型申请专利范围及说明书内容所作的等效变化与修饰，皆应仍属本实用新型专利涵盖的范围内。