一种产品检测装置的制作方法

1.本实用新型属于光电技术领域，特别涉及一种产品检测装置。


背景技术：

2.随着国内、国际物流行业高速发展，邮包安全检测的需求也在急速提升，在面对可疑邮包时，能及时、准确地判断邮包内容物的检测装置可以大大增加相关人员和设备的安全性。太赫兹波，是一种频率为0.1～10thz的电磁波，具有辐射小、透射性强、方向性强和频谱宽等特点。在邮包安检的应用场景下，太赫兹检测装置相较于传统安检装置，如x光机，具有对人体伤害更小、可检测非金属、粉末、液体等其他物质等优势。
3.单一的太赫兹波检测时，由于面对众多大小不一、包装材料不一、内容物不一的邮包，且无法控制太赫兹源的辐射强度，该类装置通常会出现好比摄影过程中经常出现的“过曝”的状况，即因太赫兹透射率过高导致扫描成像画面不清晰的状况。
4.而改善这一情况最好的办法无疑是在产品检测装置中集成一个太赫兹衰减器，通过衰减器对太赫兹波辐射强度进行合理控制，从而在装置检测各种各样的邮包都能得到相对清晰、直观的太赫兹扫描成像图。但是，目前的太赫兹衰减器存在结构复杂、操作难度高、价格昂贵以及维护成本高的问题。
5.因此，亟需设计一种产品检测装置，以解决产品检测装置结构复杂和难以维护的问题。


技术实现要素：

6.本实用新型的目的在于提供一种产品检测装置，能够简化衰减机构的结构、降低衰减机构的维护成本。
7.为达此目的，本实用新型采用以下技术方案：
8.一种产品检测装置，包括：
9.太赫兹波发生机构，能发出太赫兹波；
10.传输机构，用于传输产品，上述产品被上述太赫兹波穿过；
11.成像机构，能接收上述太赫兹波并对上述产品进行成像；以及
12.衰减机构，设置于上述成像机构和上述太赫兹波发生机构之间，上述衰减机构包括转盘和衰减片，上述转盘的周向开设多个安装孔，至少两个上述安装孔内设置有上述衰减片，不同上述衰减片的衰减程度不同，上述转盘能转动以使任一上述安装孔均能够正对上述太赫兹波发生机构的输出端。
13.可选地，上述衰减片可拆卸安装于上述安装孔内。
14.可选地，上述转盘包括相对设置的第一盘和第二盘，上述安装孔开设在上述第一盘和上述第二盘上，上述衰减片被上述第一盘和上述第二盘共同夹紧，上述第一盘和上述第二盘能打开或闭合。
15.可选地，上述衰减机构还包括：
16.安装件，位于上述传输机构的上方；
17.转轴，与上述安装件枢接，上述转轴安装在上述转盘上且多个上述安装孔围绕上述转轴的轴线呈圆形排布；以及
18.第一驱动件，输出端与上述转轴传动连接，上述第一驱动件能驱动上述转轴转动并带动上述转盘转动。
19.可选地，上述产品检测装置还包括控制机构，上述控制机构与上述第一驱动件电连接，上述控制机构包括与上述第一驱动件电连接的控制面板，上述控制面板能被操作以控制上述第一驱动件启停。
20.可选地，上述产品检测装置还包括架体机构，上述架体机构包括：
21.第一安装板，竖直设置；以及
22.顶部支撑组件，与上述第一安装板的顶部连接且位于上述传输机构的上方，上述衰减机构安装在上述顶部支撑组件上。
23.可选地，上述成像机构包括：
24.反射件，安装在上述顶部支撑组件上，上述反射件设置在上述衰减机构背离上述太赫兹波发生机构的一侧；以及
25.成像件，能接收经上述反射件反射的上述太赫兹波后对上述产品进行成像。
26.可选地，上述传输机构包括：
27.安装架；
28.两个传动轮，均与上述安装架枢接；
29.环状传送带，围设在两个上述传动轮的外周并被两个上述传动轮共同张紧，上述环状传送带围成容纳空间；以及
30.第二驱动件，被配置为驱动至少一个上述传动轮转动；上述成像件置于上述容纳空间内。
31.可选地，上述顶部支撑组件包括：
32.第一安装杆，水平延伸，上述第一安装杆的一端与上述第一安装板连接，上述反射件设置于上述第一安装杆上；
33.第二安装杆，水平延伸，上述第二安装杆一端与上述第一安装杆垂直连接，上述太赫兹波发生机构和上述衰减机构均安装在上述第二安装杆上；
34.第二安装板，与上述第一安装板连接，并与上述反射件相对设置。
35.可选地，上述顶部支撑组件还包括第三安装板，上述第三安装板安装在上述第二安装杆的上方。
36.本实用新型的有益效果在于：
37.本实用新型提供了一种产品检测装置，通过在衰减机构内设置不同衰减程度的衰减片，转盘带动衰减片转动使得不同的衰减片正对太赫兹发生机构，从而实现对太赫兹波的强度进行不同程度的衰减后再由成像机构进行成像，满足对产品的检测需求的同时，简化衰减机构的结构，使得衰减机构操作更容易，采购和维护成本降低。
附图说明
38.图1是本实用新型实施例提供的产品检测装置结构示意图一；
39.图2是图1中a处放大图；
40.图3是本实用新型实施例提供的转盘安装孔处的剖视图；
41.图4是本实用新型实施例提供的产品检测装置结构示意图二；
42.图5是本实用新型实施例提供的产品检测装置结构示意图三。
43.图中：
44.10、太赫兹波发生机构；11、太赫兹波发生器；12、汇集件；
45.20、传输机构；21、安装架；22、传动轮；23、环状传送带；231、容纳空间；
46.30、成像机构；31、反射件；32、成像件；
47.40、衰减机构；41、转盘；411、安装孔；412、第一盘；4121、本体部；4122、限位部；413、第二盘；42、安装件；421、第一连接部；422、第二连接部；43、衰减片；44、第一驱动件；45、转轴；
48.50、控制机构；
49.60、架体机构；61、第一安装板；62、顶部支撑组件；621、第二安装板；622、第一安装杆；623、第二安装杆；624、第三安装板；63、第四安装板。
具体实施方式
50.下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本实用新型，而非对本实用新型的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本实用新型相关的部分而非全部结构。
51.在本实用新型的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”、“固定”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
52.在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
53.在本实施例的描述中，术语“上”、“下”、“右”、等方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述和简化操作，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅仅用于在描述上加以区分，并没有特殊的含义。
54.太赫兹波，是一种频率为0.1～10thz的电磁波，具有辐射小、透射性强、方向性强、频谱宽等特点。在邮包安检的应用场景下，太赫兹相较于传统安检装置，如x光机，具有对人体伤害更小、可检测非金属、粉末、液体等其他物质等优势。由于包裹内的产品多种多样，包装材料不尽相同，使用单一的太赫兹波对产品进行检测时，往往会出现“过曝”的状况，现有的产品检测装置往往会设置衰减机构对太赫兹波的强度进行弱化，使得产品的成像不会“过爆”，得到清晰的成像，但是，目前的太赫兹衰减器存在结构复杂、操作难度高、价格昂贵以及维护成本高的问题。
55.为了解决上述问题，本实施例提供一种产品检测装置，如图1和图2所示，上述产品检测装置包括太赫兹波发生机构10、传输机构20、成像机构30和衰减机构40，其中,太赫兹波发生机构10能发出太赫兹波，成像机构30能接收太赫兹波并对产品进行成像，衰减机构40设置在成像机构30和太赫兹波发生机构10之间，衰减机构40包括转盘41和衰减片43，转盘41的周向开设多个安装孔411，至少两个安装孔411内设置有衰减片43，不同衰减片43的衰减程度不同，转盘41能转动以使任一安装孔411能正对太赫兹波发生机构10的输出端。通过在衰减机构内设置不同衰减程度的衰减片，转盘带动衰减片转动使得不同的衰减片正对太赫兹发生机构，从而实现对太赫兹波的强度进行不同程度的衰减后再由成像机构进行成像，满足对产品的检测需求的同时，简化衰减机构的结构，使得衰减机构操作更容易，采购和维护成本降低。
56.本实施例中，如图1和图2所示，安装孔411开设有五个，其中四个安装孔411内安装有衰减片43，一个安装孔411内未安装衰减片43，可以理解的是，本实施例提供的产品检测装置能够提供五种强度的太赫兹波穿过产品，一种未经衰减的太赫兹波和四种经不同衰减程度的衰减片43过后的太赫兹波，本实施例中，衰减机构40提供的衰减值为80％、60％、40％、20％以及0％五种。在其他实施例中，可以根据实际使用需求设置安装孔411的个数、衰减片43的个数以及衰减片43的衰减程度，在此均不作限定。
57.可选地，如图1和图2所示，衰减机构40包括安装件42、转轴45和第一驱动件44，安装件42位于传输机构20的上方，转轴45与安装件42枢接，转轴45安装在转盘41上，多个安装孔411围绕转轴45的轴线呈圆形排布，第一驱动件44的输出端与转轴45传动连接，第一驱动件44能驱动转轴45转动并带动转盘41转动。通过第一驱动件44驱动转轴45转动使得转盘41转动后，每个安装孔411均能正对太赫兹波发生机构10的输出端，实现改变太赫兹波衰减程度的自动化控制。本实施例中，第一驱动件44为步进电机，步进电机具有误差小，控制性能好的优点。在其他实施例中，第一驱动件44也可以为伺服电机，在此不作限定。
58.可选地，如图1所示，太赫兹波发生机构10包括太赫兹波发生器11和汇集件12，汇集件12连接在太赫兹波发生器11的输出端，汇集件12能够起到防止太赫兹波向其他方向扩散的作用，保证太赫兹波发出的强度。具体地，汇集件12从太赫兹波发生器11到衰减机构40呈逐渐扩大的喇叭形状，可以适当增加太赫兹波的照射面积。
59.优选地，如图2和图3所示，衰减片43可拆卸安装于安装孔411内，方便更换衰减片43或对衰减片43进行维护。可选地，转盘41包括相对设置的第一盘412和第二盘413，安装孔411开设在第一盘412和第二盘413上，衰减片43被第一盘412和第二盘413共同夹紧，第一盘412和第二盘413至少部分能分离，从而实现通过将第一盘412和第二盘413至少部分分开后将衰减片43取出。需要说明的是，第一盘412和第二盘413连接的方式可以是第一盘412和第二盘413其中一个周向开设卡扣，另一个开设卡槽，实现二者的卡接可拆；或者第一盘412和第二盘413在周向的某处枢接，并在二者枢接以外的位置二者其中一个设置卡扣，另一个设置卡合凸起，第一盘412和第二盘413闭合时卡合凸起与卡扣卡接固定；以上连接方式仅为示例，其他可以实现第一盘412和第二盘413打开或闭合的方式在此不作限定。
60.优选地，如图3所示，第一盘412包括本体部4121和限位部4122，限位部4122为本体
部4121位于安装孔411周向的部分内壁沿径向向内延伸形成，限位部4122与衰减片43抵接，对衰减片43起到限位作用，防止衰减片43沿安装孔411轴向窜动。同理，第二盘413与第一盘412具有相同的限位结构，在此不作赘述。可以理解的是，限位部4122和本体部4121在安装孔411处形成阶梯结构，衰减片43的外周伸入阶梯结构的空间中被夹紧。
61.优选地，如图5所示，产品检测装置还包括架体机构60，上述架体机构60包括第一安装板61和顶部支撑组件62，顶部支撑组件62与第一安装板61连接且位于传输机构20的上方，衰减机构40安装在顶部支撑组件62上，从而使得衰减机构40距离传输的产品更近，减少太赫兹波在发射过程中的衰减，从而保证了太赫兹波强度的稳定性。可选地，第一安装板61安装在传输机构20上，结构更加紧凑，使得产品检测装置的集成化更高。
62.可选地，顶部支撑组件62包括第二安装板621、第一安装杆622和第二安装杆623，其中，第一安装杆622沿水平延伸，第一安装杆622的一端与第一安装板61连接，反射件31设置于第一安装杆622上；第二安装杆623沿水平延伸，第二安装杆623一端与第一安装杆622垂直连接，太赫兹波发生机构10和衰减机构40均安装在第二安装杆623上；第二安装板621与第一安装板61连接，并与反射件31相对设置。通过上述设置，使得顶部支撑组件62整体为框架结构，保证强度的同时，使得顶部支撑组件62更加轻量化。可选地，如图2和图4所示，安装件42安装在第二安装杆623上，安装件42包括相连接的第一连接部421和第二连接部422，第一连接部421与第二安装杆623连接，第二连接部422与转轴45枢接。优选地，安装件42包括两个相对设置的第二连接部422，两个第二连接部422的一端均与第一连接部421连接，两个第二连接部的422另一端均与转轴45枢接，转盘41位于两个第二连接部422之间，使得转轴45和转盘41受力更加稳定。可选地，第一连接部421套设在第二安装杆623上。
63.可选地，如图4所示，成像机构30包括反射件31和成像件32，反射件31设置在顶部支撑组件62上，成像件32能接收经反射件31反射的太赫兹波后对产品进行成像，使得反射件31与衰减机构40距离更近，减少太赫兹波从衰减机构40到反射件31过程中的衰减。本实施例中，反射件31设置在第一安装杆622上，在其他实施例中，反射件31的设置位置可以根据使用者的需要进行适当调整，在此不作限定。
64.优选地，成像件32设置在传输机构20内部，具体地，如图4和图5所示，传输机构20包括安装架21、两个传动轮22、环状传送带23和第二驱动件(图中未指示)，两个传动轮22均与安装架21枢接，环状传送带23套设在两个传动轮22的外周并被两个传动轮22共同张紧，环状传送带23围成容纳空间231,第二驱动件驱动至少一个传动轮22转动，成像件32置于容纳空间231内。通过上述设置，使得成像件32位于传送带的下方，产品被环状传送带23输送时，太赫兹波只需穿过一层传送带即可到达成像件32，使得反射件31到成像件32之间的距离最短，减少太赫兹波经过产品后到成像件32过程中的衰减，同时，成像件32设置在容纳空间231内，能够使得产品检测装置的机构紧凑，节省空间。可选地，传动轮22轴向两端均设置有安装架21，结构更加稳定。可选地，成像件32的两端分别两个安装架21相连。具体地，成像件32为太赫兹线性阵列相机，太赫兹线性阵列相机对太赫兹波进行处理后进行成像，具体的处理过程为光电领域常用的手段，在此不作赘述。
65.优选地，如图4和图5所示，产品检测装置还包括控制机构50，控制机构50与第一驱动件44电连接(图中未画出连接线)，控制机构50包括与第一驱动件44电连接的控制面板，控制面板能被操作以控制第一驱动件44启停，实现了人员可根据产品的不同输入命令对第
一驱动件44进行控制从而对衰减机构40的衰减程度进行控制。可选地，如图4和图5所示，架体机构60还包括第四安装板63，第四安装板63设置在第二安装杆623背离第一安装板61的一侧，由此，第一安装板61、第二安装板621和第四安装板63以及反射件31共同将太赫兹波发生机构10和衰减机构40围住，起到了对太赫兹波发生机构10和衰减机构40的保护作用。可选地，第四安装板63从其安装端到其自由端向下倾斜设置，控制面板安装在第四安装板63上，方便人员的操作。可选地，第四安装板63上还安装有成像显示屏，成像件32在成像显示屏上实时成像，使得人员能够随时观察到产品的成像状态，根据成像状态对衰减机构40的衰减程度进行调整。
66.优选地，顶部支撑组件62还包括第三安装板624，第三安装板624安装在第二安装杆623的上方，能够起到在纵向上防尘和遮挡的作用。优选地，第三安装板624为四边形，其四边分别与第一安装板61、第一安装杆622、第四安装板63以及第二安装板621连接，提升了架体机构60整体的连接强度，同时防尘效果更好。
67.以下结合图1至图5对产品检测装置的工作过程进行描述。
68.转盘41静止，衰减机构40给出一个初始衰减值，太赫兹波发生机构10发出太赫兹波，太赫兹波经过衰减机构40后经反射件31反射后穿过正在经过成像件32的产品，成像件32接收太赫兹波后成像到成像显示屏上，操作人员观测到产品是否“过曝”或“曝光不足”，如产品未“过曝”或“曝光不足”，操作人员不进行操作；如操作人员观测到成像“过曝”或“曝光不足”，操作人员将产品从环状传送带23取下的同时根据“过曝”或“曝光不足”程度在控制机构50上选择适当的衰减程度，控制机构50控制步进电机转动到对应衰减程度的衰减片43对应太赫兹波发生机构10的输出端，然后操作人员将产品再次放到环状传送带23上进行传送和检测，最终成像得到清晰且直观的图像。
69.显然，本实用新型的上述实施例仅仅是为了清楚说明本实用新型所作的举例，而并非是对本实用新型的实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本实用新型的保护范围。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型权利要求的保护范围之内。