一种光检装置的制作方法

本技术涉及一种光检装置，属于光检。

背景技术：

1、引线框架作为集成电路的芯片载体，是一种借助于键合材料(金丝、铝丝、铜丝)实现芯片内部电路引出端与外引线的电气连接，形成电气回路的关键结构件，它起到了和外部导线连接的桥梁作用，绝大部分的半导体集成块中都需要使用引线框架，是电子信息产业中重要的基础材料。

2、引线框架在生产过程中，需要通过光检机进行质量检测，光检机的原理是通过机器摄像头将产品转换成图像信号，传送给专用的图像处理系统，根据像素分布和亮度、颜色等信息，转变成数字化信号；图像系统对这些信号进行各种运算来抽取目标的特征，进而根据判别的结果来控制现场的设备动作，从而甄别出良品与不良品；

3、现有的光检机为了满足光检速度要求，光检装置处均会设置两条光检通道，导致光检机体积增大，不仅增加了光检机制造成本，还增加了光检机运输难度。

4、因此，需要有一种光检装置，减小光检机体积，降低光检机制造成本，降低光检机运输难度。

技术实现思路

1、本实用新型要解决的技术问题是：为了克服现有技术的不足，提供减小光检机体积，降低光检机制造成本，降低光检机运输难度的一种光检装置。

2、本实用新型解决上述问题所采用的技术方案为：一种光检装置，包括自左至右依次布置的传输组件、第一检测组件和第二检测组件；

3、所述第二检测组件包括两个中心对称布置的第二检测单元，两个第二检测单元的中心对称轴线竖向设置，两个第二检测单元分别位于中心对称轴线的前侧和后侧；

4、所述第二检测单元前后方向长度的2倍大于第二检测组件前后方向的长度。

5、作为优选，所述传输组件包括两个前后对称设置的移动小舟，所述移动小舟与第二检测单元一一对应，所述移动小舟上连接有小舟移动模组。

6、作为优选，所述第一检测组件包括两个前后对称设置的线扫相机，所述线扫相机与第二检测单元一一对应，所述线扫相机与工作台固定连接。

7、作为优选，所述第二检测单元包括左右布置的尺寸检测部件和镀银检测相机，所述镀银检测相机与工作台固定连接。

8、作为优选，所述尺寸检测部件包括前后布置的第一尺寸相机和第二尺寸相机，所述第一尺寸相机和第二尺寸相机均与工作台固定连接。

9、作为优选，所述第二尺寸相机位于第一尺寸相机的靠近两个第二检测单元中心对称轴线的一侧。

10、作为优选，尺寸检测部件还包括固定设置在工作台上的支架，所述第一尺寸相机和第二尺寸相机均固定在支架上。

11、作为优选，所述第一尺寸相机和镀银检测相机沿左右方向正对布置。

12、与现有技术相比，本实用新型的优点在于：

13、本实用新型一种光检装置，通过使两个第二检测单元之间前后方向存在交叉，则可以减小该光检装置的体积，即减小了光检机体积，降低了光检机制造成本，降低了光检机运输难度。

技术特征：

1.一种光检装置，其特征在于：包括自左至右依次布置的传输组件(301)、第一检测组件(302)和第二检测组件(303)；

2.根据权利要求1所述的一种光检装置，其特征在于：所述传输组件(301)包括两个前后对称设置的移动小舟(301.1)，所述移动小舟(301.1)与第二检测单元(303.1)一一对应，所述移动小舟(301.1)上连接有小舟移动模组(301.2)。

3.根据权利要求1所述的一种光检装置，其特征在于：所述第一检测组件(302)包括两个前后对称设置的线扫相机(302.1)，所述线扫相机(302.1)与第二检测单元(303.1)一一对应，所述线扫相机(302.1)与工作台(100)固定连接。

4.根据权利要求1所述的一种光检装置，其特征在于：所述第二检测单元(303.1)包括左右布置的尺寸检测部件(303.11)和镀银检测相机(303.12)，所述镀银检测相机(303.12)与工作台(100)固定连接。

5.根据权利要求4所述的一种光检装置，其特征在于：所述尺寸检测部件(303.11)包括前后布置的第一尺寸相机(303.111)和第二尺寸相机(303.112)，所述第一尺寸相机(303.111)和第二尺寸相机(303.112)均与工作台(100)固定连接。

6.根据权利要求5所述的一种光检装置，其特征在于：所述第二尺寸相机(303.112)位于第一尺寸相机(303.111)的靠近两个第二检测单元(303.1)中心对称轴线的一侧。

7.根据权利要求5所述的一种光检装置，其特征在于：尺寸检测部件(303.11)还包括固定设置在工作台(100)上的支架(303.113)，所述第一尺寸相机(303.111)和第二尺寸相机(303.112)均固定在支架(303.113)上。

8.根据权利要求5所述的一种光检装置，其特征在于：所述第一尺寸相机(303.111)和镀银检测相机(303.12)沿左右方向正对布置。

技术总结
本技术涉及一种光检装置，包括自左至右依次布置的传输组件、第一检测组件和第二检测组件；所述第二检测组件包括两个中心对称布置的第二检测单元，两个第二检测单元的中心对称轴线竖向设置，两个第二检测单元分别位于中心对称轴线的前侧和后侧；所述第二检测单元前后方向长度的2倍大于第二检测组件前后方向的长度。该光检装置，通过使两个第二检测单元之间前后方向存在交叉，则可以减小该光检装置的体积，即减小了光检机体积，降低了光检机制造成本，降低了光检机运输难度。

技术研发人员：熊志,王晓华
受保护的技术使用者：泰兴市永志电子器件有限公司
技术研发日：20220729
技术公布日：2024/1/12