一种磁编码器芯片手动测试机台的制作方法

1.本实用新型涉及一种芯片测试机台，具体为磁编码器芯片手动测试机台，属于芯片测试技术领域。


背景技术：

2.磁编码器一般指磁传感器，广泛用于现代工业和电子产品中以感应磁场强度来测量电流、位置、方向等物理参数，而磁编码器的芯片则是磁编码器的数据处理核心，为了保证磁编码器的精度，往往需要测试设备对磁编码器的芯片进行测试。
3.现有手动测试设备在对磁编码器芯片进行定位时，其可调精度较差，难以做到全方位的位置调节，进而无法满足测试的精度要求，影响测试的最终结果，为此，提出一种磁编码器芯片手动测试机台。


技术实现要素：

4.有鉴于此，本实用新型希望提供一种磁编码器芯片手动测试机台，以解决或缓解现有技术中存在的技术问题，至少提供一种有益的选择。
5.本实用新型实施例的技术方案是这样实现的：一种磁编码器芯片手动测试机台，包括调节组件，所述调节组件包括两个y向导轨、第二固定块、y轴旋柱、x轴平台、z轴平台、治具固定板、测试治具、空腔、z轴旋柱、支撑块、支撑柱、两个z向导轨、x向导轨、x轴旋柱、第三固定块、定位座、立柱、y轴平台、升降台和第四固定块；
6.所述y轴平台滑动连接于两个所述y向导轨的外侧壁，所述x轴平台通过所述x向导轨滑动连接于所述y轴平台的上表面，所述z轴平台的下表面固定连接于所述x轴平台的上表面，所述升降台通过两个所述z向导轨滑动连接于所述z轴平台靠近所述z向导轨的一侧，所述空腔开设于所述z轴平台的上表面，所述支撑块通过销轴转动连接于所述空腔的内侧壁，所述测试治具通过所述治具固定板固定连接于所述升降台的上表面，所述y轴旋柱靠近所述第二固定块的一端贯穿所述第二固定块的后表面并贴合于所述定位座的前表面，所述z轴旋柱靠近所述z轴平台的一端贯穿所述空腔的内前壁并与所述z轴平台螺纹连接，所述x轴旋柱靠近所述第四固定块的一端贯穿所述第三固定块靠近所述第四固定块的一侧并与所述第四固定块转动连接。
7.进一步优选的，所述y轴旋柱与所述第二固定块螺纹连接，所述x轴旋柱与所述第三固定块螺纹连接，所述第二固定块靠近所述y轴平台的一侧与所述y轴平台固定连接，所述第三固定块的后表面固定连接于所述x轴平台的前表面。
8.进一步优选的，所述支撑柱的一端贴合于所述支撑块的一端，所述支撑柱的另一端焊接于所述升降台的下表面，所述支撑块的另一端贴合于所述z轴旋柱位于所述空腔内的一端，所述第四固定块的下表面固定连接于所述y轴平台的上表面。
9.进一步优选的，所述y向导轨的下表面安装有测试组件，所述测试组件包括芯片压块、滑块、压力调节柱、凸轮手柄、第一固定块、凹槽、升降导轨、数显表、高度旋柱、拉簧、磁
铁快换接头、机箱、拉动手柄、连接板和安装柱；
10.所述y向导轨的下表面固定连接于所述机箱的上表面，所述拉簧的一端固定连接于所述y轴平台的下表面，所述拉簧的另一端固定连接于所述机箱的上表面，所述拉动手柄固定连接于所述y轴平台远离所述第二固定块的一侧。
11.进一步优选的，所述滑块滑动连接于所述升降导轨的外侧壁，所述芯片压块转动连接于所述滑块的前表面，所述升降导轨的后表面固定连接于所述立柱的前表面，所述芯片压块位于所述测试治具的上方，所述y轴平台远离所述第二固定块的一侧安装有拉动手柄。
12.进一步优选的，所述第一固定块的一侧固定连接于所述立柱靠近所述第一固定块的一侧，所述凹槽开设于所述第一固定块的另一侧，所述连接板的外侧壁滑动连接于所述凹槽的内侧壁，所述连接板靠近所述滑块的一侧与所述滑块固定连接。
13.进一步优选的，所述压力调节柱的底端贯穿所述凹槽的内顶壁并与所述第一固定块螺纹连接，所述高度旋柱的顶端贯穿所述凹槽的内底壁并与所述第一固定块螺纹连接，所述凸轮手柄转动连接于所述第一固定块的内部，所述磁铁快换接头安装于所述安装柱的下表面，所述凸轮手柄的凸轮端贴合于所述连接板的下表面，所述磁铁快换接头位于所述芯片压块的上方。
14.进一步优选的，所述安装柱的下表面固定连接于所述立柱的上表面，所述定位座的下表面固定连接于所述机箱的上表面。
15.本实用新型实施例由于采用以上技术方案，其具有以下优点：本实用新型通过转动y轴旋柱，由于y轴旋柱与第二固定块螺纹连接，定位座的位置固定，因此y轴平台沿着y向导轨移动，此时可以调节磁编码器芯片的y轴位置，通过转动x轴旋柱，x轴平台沿着x向导轨移动，此时可以调节磁编码器芯片的x轴位置，转动z轴旋柱，z轴旋柱通过支撑块推动支撑柱，支撑柱推动升降台，此时可以调节磁编码器芯片的z轴位置，进而做到了对磁编码器芯片的全方位调节，调节精度更高，可以使最终的测试结果更准确。
16.上述概述仅仅是为了说明书的目的，并不意图以任何方式进行限制。除上述描述的示意性的方面、实施方式和特征之外，通过参考附图和以下的详细描述，本实用新型进一步的方面、实施方式和特征将会是容易明白的。
附图说明
17.为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
18.图1为本实用新型的结构图；
19.图2为本实用新型的y向导轨结构图；
20.图3为本实用新型的支撑块结构图；
21.图4为本实用新型的调节组件结构图；
22.图5为本实用新型的立柱结构图；
23.图6为本实用新型的测试组件结构图。
24.附图标记：101、调节组件；11、芯片压块；12、滑块；13、压力调节柱；14、凸轮手柄；15、第一固定块；16、凹槽；17、升降导轨；18、y向导轨；19、第二固定块；20、y轴旋柱；21、x轴平台；22、z轴平台；23、治具固定板；24、测试治具；26、空腔；27、高度旋柱；28、拉簧；29、磁铁快换接头；30、z轴旋柱；31、支撑块；32、支撑柱；36、z向导轨；37、x向导轨；38、拉动手柄；39、x轴旋柱；40、第三固定块；41、定位座；301、测试组件；42、机箱；44、立柱；45、y轴平台；46、升降台；47、第四固定块；48、连接板；49、安装柱。
具体实施方式
25.在下文中，仅简单地描述了某些示例性实施例。正如本领域技术人员可认识到的那样，在不脱离本实用新型的精神或范围的情况下，可通过各种不同方式修改所描述的实施例。因此，附图和描述被认为本质上是示例性的而非限制性的。
26.下面结合附图对本实用新型的实施例进行详细说明。
27.如图1-6所示，本实用新型实施例提供了一种磁编码器芯片手动测试机台，包括调节组件101，调节组件101包括两个y向导轨18、第二固定块19、y轴旋柱20、x轴平台21、z轴平台22、治具固定板23、测试治具24、空腔26、z轴旋柱30、支撑块31、支撑柱32、两个z向导轨36、x向导轨37、x轴旋柱39、第三固定块40、定位座41、立柱44、y轴平台45、升降台46和第四固定块47；
28.y轴平台45滑动连接于两个y向导轨18的外侧壁，x轴平台21通过x向导轨37滑动连接于y轴平台45的上表面，z轴平台22的下表面固定连接于x轴平台21的上表面，升降台46通过两个z向导轨36滑动连接于z轴平台22靠近z向导轨36的一侧，空腔26开设于z轴平台22的上表面，支撑块31通过销轴转动连接于空腔26的内侧壁，测试治具24通过治具固定板23固定连接于升降台46的上表面，y轴旋柱20靠近第二固定块19的一端贯穿第二固定块19的后表面并贴合于定位座41的前表面，z轴旋柱30靠近z轴平台22的一端贯穿空腔26的内前壁并与z轴平台22螺纹连接，x轴旋柱39靠近第四固定块47的一端贯穿第三固定块40靠近第四固定块47的一侧并与第四固定块47转动连接。
29.在一个实施例中，y轴旋柱20与第二固定块19螺纹连接，x轴旋柱39与第三固定块40螺纹连接，第二固定块19靠近y轴平台45的一侧与y轴平台45固定连接，第三固定块40的后表面固定连接于x轴平台21的前表面，进而当y轴旋柱20转动时，由于y轴旋柱20第二固定块19螺纹连接，因此y轴旋柱20在定位座41的作用下带动y轴平台45向远离立柱44的方向移动，可以对磁编码器芯片的y轴位置进行调节，当x轴旋柱39转动时，第三固定块40带动x轴平台21移动，进而可以对磁编码器芯片的x轴位置进行调节。
30.在一个实施例中，支撑柱32的一端贴合于支撑块31的一端，支撑柱32的另一端焊接于升降台46的下表面，支撑块31的另一端贴合于z轴旋柱30位于空腔26内的一端，第四固定块47的下表面固定连接于y轴平台45的上表面，进而当z轴旋柱30转动时，z轴旋柱30推动支撑块31转动，支撑块31推动支撑柱32，支撑柱32推动升降台46，此时可以对磁编码器芯片的z轴位置进行调节。
31.在一个实施例中，y向导轨18的下表面安装有测试组件301，测试组件301包括芯片压块11、滑块12、压力调节柱13、凸轮手柄14、第一固定块15、凹槽16、升降导轨17、高度旋柱27、拉簧28、磁铁快换接头29、机箱42、连接板48和安装柱49；
32.y向导轨18的下表面固定连接于机箱42的上表面，拉簧28的一端固定连接于y轴平台45的下表面，拉簧28的另一端固定连接于机箱42的上表面，进而可以通过拉簧28拉动y轴平台45，y轴平台45通过第二固定块19带动y轴旋柱20始终与定位座41贴合。
33.在一个实施例中，滑块12滑动连接于升降导轨17的外侧壁，芯片压块11转动连接于滑块12的前表面，升降导轨17的后表面固定连接于立柱44的前表面，芯片压块11位于测试治具24的上方，y轴平台45远离第二固定块19的一侧安装有拉动手柄38，进而可以通过拉动手柄38拉动y轴平台45远离立柱44，以便将磁编码器芯片放置于测试治具24内。
34.在一个实施例中，第一固定块15的一侧固定连接于立柱44靠近第一固定块15的一侧，凹槽16开设于第一固定块15的另一侧，连接板48的外侧壁滑动连接于凹槽16的内侧壁，连接板48靠近滑块12的一侧与滑块12固定连接，压力调节柱13的底端贯穿凹槽16的内顶壁并与第一固定块15螺纹连接，高度旋柱27的顶端贯穿凹槽16的内底壁并与第一固定块15螺纹连接，凸轮手柄14转动连接于第一固定块15的内部，磁铁快换接头29安装于安装柱49的下表面，凸轮手柄14的凸轮端贴合于连接板48的下表面，磁铁快换接头29位于芯片压块11的上方，进而当高度旋柱27转动时，可以向上推动连接板48，连接板48带动滑块12向上移动，以对芯片压块11的高度进行调节，通过转动凸轮手柄14，可以改变芯片压块11对磁编码器芯片的压力。
35.在一个实施例中，安装柱49的下表面固定连接于立柱44的上表面，定位座41的下表面固定连接于机箱42的上表面，通过安装柱49、立柱44和机箱42可以增强整体的稳定性。
36.本实用新型在工作时：通过拉动手柄38拉动y轴平台45向远离立柱44的方向移动，然后将磁编码器芯片安装在测试治具24的表面，当松开拉动手柄38时，拉簧28拉动y轴平台45复位，此时磁编码器芯片位于芯片压块11的下方，然后转动y轴旋柱20，由于y轴旋柱20与第二固定块19螺纹连接，因此y轴旋柱20向靠近立柱44的方向移动，在定位座41的作用下，y轴平台45沿着y向导轨18向远离立柱44的方向移动，此时可以对磁编码器芯片的y轴位置进行调节，当转动x轴旋柱39时，第三固定块40带动x轴平台21沿着x向导轨37移动，进而此时可以对磁编码器芯片的x轴位置进行调节，当转动z轴旋柱30时，由于z轴旋柱30与z轴平台22螺纹连接，因此z轴旋柱30推动支撑块31转动，支撑块31转动时推动支撑柱32，支撑柱32向上推动升降台46，升降台46通过治具固定板23带动测试治具24，进而可以对磁编码器芯片的z轴位置进行调节，调整好磁编码器芯片的位置后，转动芯片压块11，使芯片压块11位于磁编码器芯片的正上方，然后转动高度旋柱27，当高度旋柱27向下移动时，连接板48带动滑块12向下移动，滑块12带动芯片压块11，进而可以使芯片压块11压紧磁编码器芯片，当向上转动凸轮手柄14时，可以减小对磁编码器芯片的压力，通过上述方法，可以根据实际情况对磁编码器芯片的位置、所受的压力自行调节，使用时更方便。
37.以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到其各种变化或替换，这些都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。