一种集成电路研发电路板的调试设备的制作方法

本技术涉及电路板调试，具体为一种集成电路研发电路板的调试设备。

背景技术：

1、在完成集成电路板的研发，并试制样板后，需要对电路板进行检测，检测时，通常不直接给电路板通电，而是首先检测连线是否正确，例如采用指针万用表欧姆档的蜂鸣器测试，直接测量元器件引脚，这样可以同时发现接线不良或错误的地方。

2、公开号为cn216144912u，专利名称为一种电路板调试测试系统，其公开的技术方案是通过阵列化测试孔配合弹簧探针设计，来提高测试兼容性。通过增加通用接口，使测试数据可以连接专用检测设备或电脑来进行扩展测试或自动测试。但是其实际实用时需要借助胶水来保持弹簧探针与电路连接稳定，这对于调试操作来说难度较高，且容易损坏电路板。

技术实现思路

1、本实用新型的目的是为了克服现有电路板调试连接不稳定，且容易损坏电路板的技术问题，提供了一种集成电路研发电路板的调试设备，该设备具有于电路板的连接稳定，且不会损伤电路板的优点。

2、为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

3、一种集成电路研发电路板的调试设备，包括定位底板，导套底端被可拆卸的安装在所述定位底板顶面四角处，顶端均转动连接有传动丝杆，所述传动丝杆的顶端均与传动机构连接，所述导套均穿过底面设有多个导向套的导向板，所述传动丝杆均穿过底面设有多个探针的测量板，所述探针与所述导向套位置对应，且能穿过所述导向套，所述测量板顶面可拆卸的安装有测量电路板。

4、优选地，所述定位底板顶面设有放置槽，所述定位底板上对称的设有连通所述放置槽的槽口。

5、优选地，所述导套顶部为锥形结构，所述导套均通过滑套与所述导向板滑动配合。

6、优选地，所述传动丝杆的直径小于所述导套顶端处的最小直径，所述传动丝杆均通过丝杆套与所述测量板传动连接。

7、优选地，所述测量板顶面设有放置所述测量电路板的围护，所述围护的顶面设有压板。

8、优选地，所述压板通过连接件与所述测量板固定连接。

9、优选地，所述传动机构包括齿轮箱和位于所述齿轮箱上的伺服电机，所述传动丝杆的顶端均伸至所述齿轮箱内，与所述伺服电机传动连接。

10、与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

11、本实用新型中，将待调试的集成电路板放置在定位底板上，对其进行定位，之后再将导向板向下移动，并使导向套的底端压在集成电路板的待检测位置，之后通过传动机构驱动传动丝杆转动，使得测量板沿着传动丝杆向下移动，并使探针插入对应的导向套中随着测量板同步移动，直至探针与集成电路板紧密接触，测量板停止移动，此时即可通过探针与测量电路板之间的导通关系，对集成电路板进行测量调试。相对于现有需要将探针粘接固定在集成电路板上，本申请通过导向套进行导向，避免探针出现与集成电路连接不稳定的现象，此种方式使得探针不会破坏集成电路板。

技术特征：

1.一种集成电路研发电路板的调试设备，其特征在于，包括定位底板(1)，导套(2)底端被可拆卸的安装在所述定位底板(1)顶面四角处，顶端均转动连接有传动丝杆(3)，所述传动丝杆(3)的顶端均与传动机构(4)连接，所述导套(2)均穿过底面设有多个导向套(5)的导向板(6)，所述传动丝杆(3)均穿过底面设有多个探针(7)的测量板(8)，所述探针(7)与所述导向套(5)位置对应，且能穿过所述导向套(5)，所述测量板(8)顶面可拆卸的安装有测量电路板(9)，所述定位底板(1)顶面设有放置槽(10)，所述定位底板(1)上对称的设有连通所述放置槽(10)的槽口(11)。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路研发电路板的调试设备，其特征在于：所述导套(2)顶部为锥形结构，所述导套(2)均通过滑套(12)与所述导向板(6)滑动配合。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路研发电路板的调试设备，其特征在于：所述传动丝杆(3)的直径小于所述导套(2)顶端处的最小直径，所述传动丝杆(3)均通过丝杆套(13)与所述测量板(8)传动连接。

4.根据权利要求1所述的一种集成电路研发电路板的调试设备，其特征在于：所述测量板(8)顶面设有放置所述测量电路板(9)的围护(14)，所述围护(14)的顶面设有压板(15)。

5.根据权利要求4所述的一种集成电路研发电路板的调试设备，其特征在于：所述压板(15)通过连接件(16)与所述测量板(8)固定连接。

6.根据权利要求1所述的一种集成电路研发电路板的调试设备，其特征在于：所述传动机构(4)包括齿轮箱(41)和位于所述齿轮箱(41)上的伺服电机(42)，所述传动丝杆(3)的顶端均伸至所述齿轮箱(41)内，与所述伺服电机(42)传动连接。

技术总结
本技术公开了一种集成电路研发电路板的调试设备，涉及电路板调试技术领域，包括定位底板，导套底端被可拆卸的安装在所述定位底板顶面四角处。将待调试的集成电路板放置在定位底板上，对其进行定位，之后再将导向板向下移动，并使导向套的底端压在集成电路板的待检测位置，之后通过传动机构驱动传动丝杆转动，使得测量板沿着传动丝杆向下移动，并使探针插入对应的导向套中随着测量板同步移动，直至探针与集成电路板紧密接触，测量板停止移动，此时即可通过探针与测量电路板之间的导通关系，对集成电路板进行测量调试。通过导向套进行导向，避免探针出现与集成电路连接不稳定的现象，此种方式使得探针不会破坏集成电路板。

技术研发人员：刘通
受保护的技术使用者：伟仕军民（固安）电子科技有限公司
技术研发日：20221010
技术公布日：2024/1/13