一种用于三端瓷介电容器高温老化测试的治具的制作方法

1.本实用新型属于电容器测试设备领域，具体涉及一种用于三端瓷介电容器高温老化测试的治具。


背景技术：

2.电子器件制造完成后，会存在一定比例的缺陷器件，这些缺陷可能是器件本身固有的，也可能是制造工艺控制不当产生的，这些缺陷器件若不筛选出来，会造成与时间与应力有关的失效模式，在使用时可能会出现初期致命失效或者早期寿命失效的情况，因此，器件在出厂前，必须对其进行老化试验，即应用最大额定工作条件或者在最大额定工作条件之上对其施加应力，从而将存在缺陷的器件剔除。但对于三端瓷介电容器，器件比较特殊自身分别有四个测试端，器件的设计是两两相通，现有技术中没有专门针对其进行老化试验的夹具，难以保证老化质量，且其器件尺寸越小时越难以保证，导致筛选更为困难，有待进一步改进。


技术实现要素：

3.本实用新型的目的是克服现有技术的缺点，提供一种用于三端瓷介电容器高温老化测试的治具。
4.本实用新型采用如下技术方案：
5.一种用于三端瓷介电容器高温老化测试的治具，包括底座和设置在底座上用于安装固定瓷介电容器的固定装置，所述固定装置包括间隔分布在底座上的多个安装座、从安装座顶面向下延伸用于安装瓷介电容器的安装槽、环绕安装槽间隔分布在安装座上用于夹紧固定瓷介电容器的多个弹性夹紧块和可上下移动设置在底座上使多个弹性夹紧块固定瓷介电容器的活动座。
6.进一步的，所述安装座上形成有用于安装夹紧块的定位槽，所述定位槽的上端与安装槽连通，所述活动座设置有供安装座嵌入的定位孔。
7.进一步的，所述弹性夹紧块包括设置在底座上的固定部和设置在固定部顶部可向内挤压进入安装槽夹紧瓷介电容器的夹紧部，所述定位孔内壁形成有向内延伸用于挤压夹紧部的挤压块，所述固定部的下端穿过底座向下延伸。
8.进一步的，所述夹紧部包括可进入安装槽夹紧瓷介电容器的夹紧段和设置在夹紧段下端的弧形挤压段，所述活动座向下移动时，挤压块下端挤压弧形挤压段至挤压块内壁与弧形挤压段外壁接触，这时，夹紧段进入安装槽中夹紧固定瓷介电容器。
9.进一步的，所述固定装置还包括设置在底座与活动座之间限制活动座脱离底座的限位机构，所述限位机构包括呈矩阵排列设置在底座上的四个限位块和设置在活动座上分别与四个限位块相对供限位块上下移动的四个限位槽，限位块与限位槽的相对面形成有向内延伸的卡接部，限位槽内壁形成有向内延伸与卡接部配合的卡接槽。
10.进一步的，所述瓷介电容器为片式三端瓷介电容器，其上设置有四个测试端，四个
测试端分别设置在瓷介电容器的四个侧面上。
11.进一步的，所述安装槽呈矩形，所述弹性夹紧块设置有四个，四个弹性夹紧块分别位于安装槽的四个侧面与四个测试端相对。
12.由上述对本实用新型的描述可知，与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：本技术限定的用于三端瓷介电容器高温老化测试的治具，通过活动座与多个弹性夹紧块的配合，使瓷介电容器夹紧固定在安装座中，治具整体结构简单，测试过程，能对瓷介电容器进行有效夹紧，保证老化设备与瓷介电容器的良好电连接，从而保证测试结果的准确可靠，同时瓷介电容器的安装与取出操作简单方便，可有效提高工作效率。
附图说明
13.图1为治具的结构示意图一；
14.图2为图1的俯视结构图；
15.图3为瓷介电容器处于未夹紧状态的结构示意图；
16.图4为瓷介电容器处于夹紧状态的结构示意图；
17.图5为治具的部分结构剖视图；
18.图6为弹性夹紧块的结构示意图；
19.图7为瓷介电容器的结构示意图；
20.图中，1-底座、2-固定装置、3-瓷介电容器、21-安装座、22-安装槽、23-弹性夹紧块、24-活动座；25-限位机构、211-定位槽、231-固定部、232-夹紧部、233-夹紧段、234-弧形挤压段、241-定位孔、242-挤压块、251-限位块、252-限位槽、253-卡接部、254-卡接槽、31-测试端。
具体实施方式
21.以下通过具体实施方式对本实用新型作进一步的描述。
22.参照图1至图7所示，一种用于三端瓷介电容器高温老化测试的治具，包括底座1和固定装置2，其中，三端瓷介电容器3为片式三端瓷介电容器，其上设置有四个测试端31，四个测试端31分别设置在瓷介电容器3的四个侧面上。
23.固定装置2，设置在底座1上，用于安装固定瓷介电容器3，包括间隔分布在底座1上的四个安装座21、从安装座21顶面向下延伸用于安装瓷介电容器3的安装槽22、环绕安装槽22间隔分布在安装座21上用于夹紧固定瓷介电容器3的多个弹性夹紧块23、可上下移动设置在底座1上使多个弹性夹紧块23固定瓷介电容器的活动座24和设置在底座1与活动座24之间限制活动座24脱离底座1的限位机构25。
24.安装座21，截面呈矩形，且四个安装座21沿底座1长度方向间隔设置在底座1上；相应的，活动座24上设置有四个分别供四个安装座21嵌入的定位孔241；具体的，安装座21上形成有用于安装弹性夹紧块23的定位槽211，且定位槽211的上端与安装槽22连通。
25.安装槽22，截面呈矩形，与瓷介电容器3的外形适配。
26.弹性夹紧块23，包括设置在底座1上的固定部231和设置在固定部231顶部可向内挤压进入安装槽22夹紧瓷介电容器的夹紧部232，固定部231的下端穿过底座2向下延伸，进行耐老化测试时，固定部231穿过底座向下延伸的部分与老化板进行连接，以便于对瓷介电
容器3进行耐老化测试；相应的，定位孔241内壁形成有向内延伸用于挤压夹紧部232的挤压块242；具体的，弹性夹紧块23由金属材料制成。
27.夹紧部232，包括可进入安装槽22夹紧瓷介电容器的夹紧段233和设置在夹紧段233下端的弧形挤压段234，瓷介电容器3处于未夹紧状态时，挤压块242的下端支撑在弧形挤压段234外壁上；当准备进行耐老化测试，活动座24向下移动，挤压块242下端向下挤压弧形挤压段234至挤压块242内壁与弧形挤压段234外壁，这时，夹紧段233进入安装槽22中夹紧固定瓷介电容器3，使瓷介电容器3处于夹紧状态。
28.限位机构25，包括呈矩阵排列设置在底座1上的四个限位块251和设置在活动座24上分别与四个限位块251相对供限位块251上下移动的四个限位槽252，限位块251与限位槽252的相对面形成有向内延伸的卡接部253，限位槽252内壁形成有向内延伸与卡接部253配合的卡接槽254，通过卡接部253与卡接槽254的配合，可有效防止活动座24向上移动时，完全脱离底座1，保证治具的正常使用时。
29.进行耐老化测试时，将瓷介电容器3放置在安装槽22中，再向下按压活动座24，使活动座24向下移动，活动座24向下移动的过程中，挤压块242会向下挤压相对应的弹性夹紧块23的弧形挤压段234至挤压块242内壁与弧形挤压段234外壁接触且活动座24的下端面与底座1的上端面接触，这时，夹紧段233进入安装槽22中夹紧固定瓷介电容器3，使瓷介电容器3处于夹紧状态；即可开始进行耐老化测试；当耐老化测试完成后，向上移动活动座24至挤压块242不再挤压弧形挤压段234，这时，弹性夹紧块23没有外力作用，复位至原始状态，松开对瓷介电容器3的夹紧固定，便于瓷介电容器3的取出。
30.本技术限定的用于三端瓷介电容器高温老化测试的治具，整体结构简单，测试过程，能对瓷介电容器3进行有效夹紧，保证老化设备与瓷介电容器3的良好电连接，从而保证测试结果的准确可靠，同时瓷介电容器3的安装与取出操作简单方便，可有效提高工作效率。
31.以上所述，仅为本实用新型的较佳实施例而已，故不能以此限定本实用新型实施的范围，即依本实用新型申请专利范围及说明书内容所作的等效变化与修饰，皆应仍属本实用新型专利涵盖的范围内。