一种LED芯片光斑照度测试装置的制作方法

本技术涉及led芯片，具体涉及一种led芯片光斑照度测试装置。

背景技术：

1、led(light emitting diode)即发光二极管，是一种电能转化为光能的固态半导体器件。作为新型的发光器件，led具有高光效、节能、使用寿命长、响应时间短、环保等优点，因此被称为最有潜力的新一代光源，在照明领域应用领域极为常见。对于应用领域高的led芯片，如车灯led芯片，则led芯片封装成灯珠后需要测试3-5米处的光斑照度值。但在现有技术中，缺少适用于led芯片的光斑照度值测量的装置。

技术实现思路

1、本实用新型所要解决的技术问题是：提供一种led芯片光斑照度测试装置。

2、为了解决上述技术问题，本实用新型采用的一种技术方案为：一种led芯片光斑照度测试装置，包括工作平台、灯珠支架、电动车和照度计；

3、所述工作平台上表面设有横向轨和纵向轨；所述灯珠支架滑动连接横向轨；所述电动车移动设置于纵向轨，所述照度计设置在电动车上；

4、所述灯珠支架朝向照度计的一侧的侧壁上设有多个放置槽，多个所述放置槽沿横向轨的长度方向均匀设置；所述灯珠支架上设有电源引脚。

5、进一步地，所述电动车上设有横向导轨和竖直导轨；所述横向导轨的长度方向与横向轨的长度方向平行；所述竖直导轨滑动连接于横向导轨，所述竖直导轨的长度方向竖直，所述照度计滑动连接于竖直导轨。

6、进一步地，还包括滑块和螺栓，所述灯珠支架通过滑块滑动连接于横向轨，所述螺栓贯穿灯珠支架螺纹连接滑块。

7、进一步地，还包括滑块和丝杆；所述灯珠支架通过滑块滑动连接于横向轨；所述丝杆沿横向轨的长度方向贯穿滑块，所述丝杆自转连接于横向轨。

8、进一步地，所述丝杆的一端延伸出横向轨并连接有把手。

9、进一步地，所述纵向轨一侧的工作平台上设有长度标尺。

10、本实用新型的有益效果在于：本实用新型提供的led芯片光斑照度测试装置中，led芯片分别在灯珠支架的一个放置槽中；所述灯珠支架的电源引脚方便灯珠支架同时对多个led芯片通电，所述灯珠支架滑动连接于横向轨，工作人员移动灯珠支架后使所有led芯片都正对过照度计，以此完成一次照度测试。

11、所述照度计设置在电动车上，每次照度测试后，所述电动车在纵向轨上移动而调节照度计到灯珠支架的距离，使每个led芯片都能在离照度计不同距离进行照度的测试。

12、故使用本实用新型提供的led芯片光斑照度测试装置，使多个led芯片能同时进行照度测试；调节led芯片到照度计的距离方便，提高led芯片照度测试的效率。

技术特征：

1.一种led芯片光斑照度测试装置，其特征在于，包括工作平台、灯珠支架、电动车和照度计；

2.根据权利要求1所述的led芯片光斑照度测试装置，其特征在于，所述电动车上设有横向导轨和竖直导轨；所述横向导轨的长度方向与横向轨的长度方向平行；所述竖直导轨滑动连接于横向导轨，所述竖直导轨的长度方向竖直，所述照度计滑动连接于竖直导轨。

3.根据权利要求1所述的led芯片光斑照度测试装置，其特征在于，还包括滑块和螺栓，所述灯珠支架通过滑块滑动连接于横向轨，所述螺栓贯穿灯珠支架螺纹连接滑块。

4.根据权利要求1所述的led芯片光斑照度测试装置，其特征在于，还包括滑块和丝杆；所述灯珠支架通过滑块滑动连接于横向轨；所述丝杆沿横向轨的长度方向贯穿滑块，所述丝杆自转连接于横向轨。

5.根据权利要求4所述的led芯片光斑照度测试装置，其特征在于，所述丝杆的一端延伸出横向轨并连接有把手。

6.根据权利要求1所述的led芯片光斑照度测试装置，其特征在于，所述纵向轨一侧的工作平台上设有长度标尺。

技术总结
本技术涉及LED芯片技术领域，具体涉及一种LED芯片光斑照度测试装置；所述工作平台上表面设有横向轨和纵向轨；所述灯珠支架滑动连接横向轨；所述电动车移动设置于纵向轨，所述照度计设置在电动车上；所述灯珠支架朝向照度计的一侧的侧壁上设有多个放置槽。本技术的有益效果在于：使用本技术提供的LED芯片光斑照度测试装置，使多个LED芯片能同时进行照度测试；调节LED芯片到照度计的距离方便，提高LED芯片照度测试的效率。

技术研发人员：黄章挺,郑高林,黄自培,张峰
受保护的技术使用者：福建兆元光电有限公司
技术研发日：20221205
技术公布日：2024/1/13