一种芯片测试震动控制装置的制作方法

本技术涉及芯片测试，具体是指一种芯片测试震动控制装置。

背景技术：

1、芯片就是半导体元件产品的统称，指内含集成电路的硅片，体积很小，常常是计算机或其他设备的一部分。集成电路实体往往要以芯片的形式存在，依托芯片来发挥它的作用。它是电子设备中最重要的部分，承担着完成运算，处理任务和控制存储的功能。一般在芯片制作过程中需要经过许多工序，其中就包括芯片的震动检测，所以需要使用测试震动控制装置，然而市面上出现的震动控制装置仍存在各种各样的不足，不能够满足生产的需求。现有的震动控制装置在使用过程中，由于同种芯片产品的规格不统一，装置在对其进行夹持过程中，由于夹持结构调节不便，从而导致了芯片容易晃动甚至掉落，影响了芯片的震动检测结果，继而降低了装置实用性的问题。

技术实现思路

1、本实用新型要解决的技术问题是：克服上述问题，提供一种芯片测试震动控制装置。

2、为解决上述技术问题，本实用新型提供的技术方案为：一种芯片测试震动控制装置，包括震动箱，所述震动箱上端面前侧固定有控制箱，并且后侧固定有控制平台，所述控制箱内设有贯穿左右箱壁轴承连接的丝杠，并且箱内设有移动杆滑动连接，所述移动杆上设有与丝杠螺纹啮合的螺纹块，所述移动杆上设有套杆穿过滑槽箱侧壁，所述滑槽箱固定在控制箱内上侧，并且其内设有夹持机构滑动连接，所述移动杆上端固定有限制机构。

3、进一步地，所述控制箱侧壁设有丝杠穿过的通孔，所述丝杠上设有与通孔对应的限位槽，所述限位槽与通孔之间设有轴承，所述丝杠两端各固定有旋钮一。

4、进一步地，所述移动杆下端固定有滑块一，并且上端设有连接座，所述控制箱内底壁设有滑块一滑动连接的滑槽，并且上端设有连接座滑动连接的通槽。

5、进一步地，所述夹持机构包括在滑槽箱内滑动连接的滑块二，所述滑块二上端固定有f型连接杆，并且右端固定有限位杆，所述f型连接杆上端设有第一横杆、第二横杆，所述两个横杆之间设有限制板，所述限制板固定在丝杠二下端，所述丝杠二穿过第一横杆并丝杠连接，并且上端固定有旋钮二，所述限位杆上、两个滑块二之间固定有复位弹簧。

6、进一步地，所述套杆左端设有移动杆穿过的通孔二，并且右端接触滑块二左端。

7、进一步地，所述限制机构包括固定在移动杆上端的连接座，所述连接座上端铰接有l型板，所述l型板上横板设有齿一，所述控制箱上端前侧设有两个矩形通孔，所述矩形通孔后壁设有与齿一啮合的齿二。

8、进一步地，所述震动箱前端铰接有箱盖，所述箱盖上固定有把手。

9、本实用新型与现有技术相比的优点在于：

10、通过旋转旋钮二使丝杠二带动限制板上下移动，使限制板、第二横杆可以上下夹持芯片，旋转丝杠使两个套杆推动使两个夹持机构向中心移动，可以对芯片左右两端进行夹持；

11、通过转动l型板，使其上横板的齿一与矩形通孔后壁的齿二啮合，可以限制整体装置移动，使芯片震动检测时不晃动，使芯片的震动检测结果精准，继而提高了装置实用性的问题；

12、当芯片震动检测结束，先将一侧夹持机构打开，放出芯片一端，再反向旋转旋钮一，使丝杠带动套杆向两侧移动，在复位弹簧的作用下，两个夹持机构分开，这时可取出芯片；

13、通过限位槽、轴承限制丝杠移动并且只能转动；

14、通过滑块一、连接座与控制箱滑动连接，并通过套接套杆，限制移动杆只能左右移动，防止其前后晃动，增强装置稳定性；

15、所述限位杆防止复位弹簧受压弹出。

技术特征：

1.一种芯片测试震动控制装置，包括震动箱(1)，其特征在于：所述震动箱(1)上端面前侧固定有控制箱(2)，并且后侧固定有控制平台(3)，所述控制箱(2)内设有贯穿左右箱壁轴承连接的丝杠(4)，并且箱内设有移动杆(5)滑动连接，所述移动杆(5)上设有与丝杠(4)螺纹啮合的螺纹块(6)，所述移动杆(5)上设有套杆(7)穿过滑槽箱(8)侧壁，所述滑槽箱(8)固定在控制箱(2)内上侧，并且其内设有夹持机构(9)滑动连接，所述套杆(7)自由端与夹持机构(9)下端接触，所述移动杆(5)上端固定有限制机构(10)。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试震动控制装置，其特征在于：所述控制箱(2)侧壁设有丝杠(4)穿过的通孔(201)，所述丝杠(4)上设有与通孔(201)对应的限位槽(401)，所述限位槽(401)与通孔(201)之间设有轴承(11)，所述丝杠(4)两端各固定有旋钮一(402)。

3.根据权利要求1所述的一种芯片测试震动控制装置，其特征在于：所述移动杆(5)下端固定有滑块一(501)，并且上端设有连接座(12)，所述控制箱(2)内底壁设有滑块一(501)滑动连接的滑槽(202)，并且上端设有连接座(12)滑动连接的通槽(203)。

4.根据权利要求1所述的一种芯片测试震动控制装置，其特征在于：所述夹持机构(9)包括在滑槽箱(8)内滑动连接的滑块二(13)，所述滑块二(13)上端固定有f型连接杆(14)，并且右端固定有限位杆(15)，所述f型连接杆(14)上端设有第一横杆(1401)、第二横杆(1402)，所述两个横杆之间设有限制板(16)，所述限制板(16)固定在丝杠二(17)下端，所述丝杠二(17)穿过第一横杆(1401)并丝杠连接，并且上端固定有旋钮二(1701)，所述限位杆(15)上、两个滑块二(13)之间固定有复位弹簧(18)。

5.根据权利要求1所述的一种芯片测试震动控制装置，其特征在于：所述套杆(7)左端设有移动杆(5)穿过的通孔二(701)，并且右端接触滑块二(13)左端。

6.根据权利要求1所述的一种芯片测试震动控制装置，其特征在于：所述限制机构(10)包括固定在移动杆(5)上端的连接座(12)，所述连接座(12)上端铰接有l型板(19)，所述l型板(19)上横板设有齿一(1901)，所述控制箱(2)上端前侧设有两个矩形通孔(204)，所述矩形通孔(204)后壁设有与齿一(1901)啮合的齿二(205)。

7.根据权利要求1所述的一种芯片测试震动控制装置，其特征在于：所述震动箱(1)前端铰接有箱盖(20)，所述箱盖(20)上固定有把手(21)。

技术总结
本技术公开了一种芯片测试震动控制装置，包括震动箱，所述震动箱上端面前侧固定有控制箱，并且后侧固定有控制平台，所述控制箱内设有贯穿左右箱壁轴承连接的丝杠，并且箱内设有移动杆滑动连接，所述移动杆上设有与丝杠螺纹啮合的螺纹块，所述移动杆上设有套杆穿过滑槽箱侧壁，所述滑槽箱固定在控制箱内上侧，并且其内设有夹持机构滑动连接，所述套杆自由端接触夹持机构下端，所述移动杆上端固定有限制机构。本技术的优点在于：使芯片震动检测时不晃动，使芯片的震动检测结果精准，继而提高了装置实用性的问题。

技术研发人员：侯何英
受保护的技术使用者：东莞市金欣电子有限公司
技术研发日：20221209
技术公布日：2024/1/13