本技术涉及x射线衍射样品台领域,具体为一种x射线衍射样品台。
背景技术:
1、x射线衍射测量是鉴定材料物相结构的重要手段。当x射线以掠角θ入射到某一点阵晶格的晶面上时,在符合布拉格方程的条件下,将在反射方向上得到因叠加而加强的衍射线。从每一θ角符合布拉格方程条件的反射面得到反射,测出θ后,即可确定材料的点阵晶面间距、晶胞大小和类型等,根据衍射线的强度,还可进一步确定晶胞内原子的排布。材料在进行x射线衍射测量中.
2、现有大多数的x射线衍射仪,其样品台使用的是在表面带有样品槽的玻璃片,将粉末放入样品槽中压平,并且要求与玻璃表面在同一水平面内,然后将玻璃样品台插入仪器相应位置。
3、然而有的样品制作不易,少量的样品放进样品槽中,无法与样品台一平齐。这时就需要更换样品槽更浅的样品台,才能保证测量准确性。因此,这样针对特定样品制作的样品台不具有通用性,不但给测量带来诸多不便,且对不同样品定制不同的样品台也是一种浪费。
技术实现思路
1、本实用新型的目的在于提供一种x射线衍射样品台,解决了背景技术中所提出的问题。
2、为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案一种x射线衍射样品台,包括载具、样品承载台和调节组件。
3、载具,其底部开设有轴承槽,其顶部开设有与所述轴承槽连通的通孔槽,所述通孔槽的内壁上固定有固定环,所述固定环的顶端固定有导向杆;
4、样品承载台,与所述通孔槽包围形成空间可调的样品槽h,所述样品承载台的底部中心位置开设有螺纹孔,且其底部还开设有套接在所述导向杆上导向孔;
5、调节组件,包括外壁固定在所述轴承槽内的滚珠轴承、固定在所述滚珠轴承内壁上的旋钮和一端垂直固定在所述旋钮顶端且与所述螺纹孔啮合的螺杆。
6、作为本实用新型所述的一种x射线衍射样品台的一种优选方案,所述旋钮的底端开设有拨动槽。
7、作为本实用新型所述的一种x射线衍射样品台的一种优选方案,所述载具的底端开设有与所述轴承槽连通的安装槽,所述旋钮外壁上开设有凹槽;
8、还包括限位组件,所述限位组件包括插入所述安装槽内且可沿所述安装槽滑动的推杆、一端固定在所述安装槽底部且另一端固定在所述推杆底端的弹性件。且所述推杆的头部固定有与所述凹槽相适配的限位叉,所述推杆的外壁上固定有拨片。
9、作为本实用新型所述的一种x射线衍射样品台的一种优选方案,所述载具的底端开设有卡槽,所述拨片卡接在所述卡槽内。
10、作为本实用新型所述的一种x射线衍射样品台的一种优选方案,所述载具的外壁对称开设有插槽,所述载具的顶部覆盖有透明板,所述透明板的两侧固定有插进所述插槽内且可在所述插槽内滑动的插片。
11、与现有技术相比,本实用新型的有益效果如下:通过将样品承载台放进通孔槽中,使得导向杆插进导向孔中,然后将滚珠轴承固定进轴承槽中,将旋钮固定在滚珠轴承上,并使得螺杆啮合进螺纹孔中,使得转动旋钮的时候,带动螺杆转动,从而使得样品承载台可以沿着螺杆上下移动,从而调整样品槽的空间大小,使得可以控制检测样品放入样品槽中的量;能够不需要更换样品台,就可以根据样品种类简单地调整样品槽的空间大小。
1.一种x射线衍射样品台,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的一种x射线衍射样品台,其特征在于,所述旋钮(320)的底端开设有拨动槽(320a)。
3.根据权利要求1所述的一种x射线衍射样品台,其特征在于,所述载具(100)的底端开设有与所述轴承槽(110)连通的安装槽(160),所述旋钮(320)外壁上开设有凹槽(320b);
4.根据权利要求3所述的一种x射线衍射样品台,其特征在于,所述载具(100)的底端开设有卡槽(160a),所述拨片(410b)卡接在所述卡槽(160a)内。
5.根据权利要求1所述的一种x射线衍射样品台,其特征在于,所述载具(100)的外壁对称开设有插槽(150),所述载具(100)的顶部覆盖有透明板(500),所述透明板(500)的两侧固定有插进所述插槽(150)内且可在所述插槽(150)内滑动的插片(510)。