一种二极管性能测试用的手持测试接头结构的制作方法

本技术涉及二极管性能测试，特别涉及一种二极管性能测试用的手持测试接头结构。

背景技术：

1、在半导体器件制造过程中，有些产品需要性能测试，即利用性能测试仪器的手持测试接头通电后并对can封装的激光二极管进行加电，测试仪光敏部分接收光并将光信号转换成电信号，通过软件把接收到的信号转化成图形，以此呈现各被测激光二极管的电性能参数。

2、传统的二极管性能测试设备由操作人员一手持通电的激光二极管测试接头，一手夹取激光二极管，将二极管管脚插到测试头上后把二极管发光端对准测试仪器的光敏面。但现有存在以下两个缺点：

3、第一，接头的焊点处仅有一层热缩管进行保护，非常薄弱，在连续进行测试的过程中，导线和焊点处处于不断来回移动的状态；二极管测试接头上的导线由于没有定位，因此在来回移动过程中，容易受到拉拽而引起焊点处容易松脱，任意一条导线出现接触不良会导致测试数据的不准确，一旦出现断线会明显影响生产效率，重新维修需要花费较长时间。且传统的接头在测试时拿捏很不方便，仅有一小部分供手部接触，长时间测试很容易导致手部肌肉疲劳。

4、第二，测试接头的前端面为平面，在平面上开设用于将二极管引脚插入的孔位；二极管引脚与孔内的电极片通电；由于该孔位置没有定位导向结构，所以在二极管检测前，需要对引脚进行整形至各条引脚与电极片均对准；二极管检测前，均需要多出一道工序，增加检测的成本，降低检测效率。

技术实现思路

1、本实用新型的目的在于针对现有技术的缺陷和不足，提供一种二极管性能测试用的手持测试接头结构。

2、为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是：

3、本实用新型所述的一种二极管性能测试用的手持测试接头结构，它包括有把手壳体和测试头；所述测试头的端面上开设有多个检测定位孔；所述检测定位孔内均固定有电极片；所述电极片上均连接有导线；所述把手壳体一端面设置有连接台；所述测试头固定在连接台上；所述检测定位孔沿测试头的中心方向延伸；

4、所述把手壳体另一端连接有软塞；所述软塞上设置有多个可以通过导线的过线孔；所述导线被过线孔的内壁上包裹固定；

5、所述测试头的端面上设置有定位凹环；所述检测定位孔一端贯穿至定位凹环上；所述定位凹环的深度沿测试头的径向方向先增大后减少。

6、进一步地，所述电极片的末端设置呈“v”字形状的折弯部。

7、进一步地，所述软塞为硅橡胶材料制作而成。

8、进一步地，所述测试头上设置有沉头孔；沉头孔内固定有销柱；所述连接台上设置有通孔；通过销柱与通孔过盈配合，将测试头紧固在把手壳体上。

9、进一步地，电极片上设置有两个凸卡位；两个凸卡位均为箭头形状；两个凸卡位之间呈背向设置；检测定位孔内设置有用于卡在两个凸卡位之间的凸台。

10、采用上述结构后，本实用新型有益效果为：本实用新型所述的一种二极管性能测试用的手持测试接头结构，在使用本实用新型时，软塞固定在把手壳体上后，导线通过过线孔包裹固定，即使在把手壳体外部的导线受到拉拽后，也不会对把手壳体内部导线产生拉力，极大限度地降低电极片与导线松脱的风险，且把手壳体具有防静电的作用；定位凹环的深度先深后浅，使得二极管引脚在插入时候，沿定位凹环的表面滑入到最深的位置处，仅需要转动调节二极管角度即可实现引脚与检测定位孔对准并插入对应的检测定位孔内，检测前无需进行对引脚整形，降低检测成本。

技术特征：

1.一种二极管性能测试用的手持测试接头结构，它包括有测试头（2）；所述测试头（2）的端面上开设有多个检测定位孔（201）；所述检测定位孔（201）内均固定有电极片（5）；所述电极片（5）上均连接有导线（4）；

2.根据权利要求1所述的一种二极管性能测试用的手持测试接头结构，其特征在于：所述电极片（5）的末端设置呈“v”字形状的折弯部（501）。

3.根据权利要求1所述的一种二极管性能测试用的手持测试接头结构，其特征在于：所述软塞（3）为硅橡胶材料制作而成。

4.根据权利要求1所述的一种二极管性能测试用的手持测试接头结构，其特征在于：所述测试头（2）上设置有沉头孔（203）；沉头孔（203）内固定有销柱；所述连接台（101）上设置有通孔（101a）；通过销柱与通孔（101a）过盈配合，将测试头（2）紧固在把手壳体（1）上。

5.根据权利要求1所述的一种二极管性能测试用的手持测试接头结构，其特征在于：电极片（5）上设置有两个凸卡位（502）；两个凸卡位（502）均为箭头形状；两个凸卡位（502）之间呈背向设置；检测定位孔（201）内设置有用于卡在两个凸卡位（502）之间的凸台。

技术总结
本技术涉及二极管性能测试技术领域，特别涉及一种二极管性能测试用的手持测试接头结构，测试头的端面上开设有多个检测定位孔；检测定位孔内均固定有电极片；把手壳体一端面设置有连接台；测试头固定在连接台上；检测定位孔沿测试头的中心方向延伸；导线被过线孔的内壁上包裹固定；测试头的端面上设置有定位凹环；检测定位孔一端贯穿至定位凹环上；定位凹环的深度沿测试头的径向方向先增大后减少。在使用本技术时，极大限度地降低电极片与导线松脱的风险，且把手壳体具有防静电的作用；仅需要转动调节二极管角度即可实现引脚与检测定位孔对准并插入对应的检测定位孔内，检测前无需进行对引脚整形，降低检测成本。

技术研发人员：邓国发,刘海波
受保护的技术使用者：深圳广盛浩科技有限公司
技术研发日：20221221
技术公布日：2024/1/11