一种芯片功能模拟电路及电子设备的制作方法

本申请涉及集成电路，具体涉及一种芯片功能模拟电路及电子设备。

背景技术：

1、目前的芯片生产工艺中，在流片前都需要进行仿真测试，但是对于电机mcu(microcontroller unit，微控制器芯片)这类专用asic芯片而言，由于其特定的应用性，常规的仿真并不能保证电机mcu流片后能完全实现应用所需。现有技术是通过对电机mcu的各个模拟外设均单独进行软件仿真，但在实际的应用过程中，现有技术这种方式需要各个模拟外设在程序控制下配合使用，因此软件仿真无法覆盖实际应用进行测试，从而增加了芯片流片的不确定性和成本。

2、前面的叙述在于提供一般的背景信息，并不一定构成现有技术。

技术实现思路

1、针对上述技术问题，本申请提供一种芯片功能模拟电路及电子设备，能够在流片前对芯片的数字和模拟功能进行实际验证，从而降低芯片流片的不确定性，提高芯片验证成功率。

2、本申请实施例提供了一种芯片功能模拟电路，包括依次电连接的采样电压处理模块、采样保持选择模块、采样保持模块、通道选择模块和模数转换器；其中，所述采样电压处理模块的输入端接入采样输入电压，所述采样电压处理模块的输出端与所述采样保持选择模块的输入端连接，所述采样保持选择模块的输出端与所述采样保持模块的输入端连接，所述采样保持模块的输出端与所述通道选择模块的输入端连接，所述通道选择模块的输出端与所述模数转换器的输入端连接。

3、可选地，所述芯片功能模拟电路还包括采样电压模块，所述采样电压模块的输入端接入输入电压，所述采样电压模块的输出端与所述采样电压处理模块的输入端连接；其中，所述采样电压模块包括多个电阻。

4、可选地，所述芯片功能模拟电路还包括逻辑控制模块，所述逻辑控制模块的输入端与所述模数转换器的输出端连接。

5、可选地，所述芯片功能模拟电路还包括执行模块，所述执行模块的输入端与所述逻辑控制模块的输出端连接；其中，所述执行模块包括电机驱动电路和电机，所述电机驱动电路的输入端与所述逻辑控制模块的输出端连接，所述电机驱动电路的输出端与所述电机的输入端连接。

6、可选地，所述采样电压处理模块包括多个采样电压处理单元，所述多个采样电压处理单元的输入端分别对应接入采样输出电压，所述多个采样电压处理单元的输出端分别与所述采样保持选择模块的输入端连接。

7、可选地，所述采样电压处理单元包括依次电连接的滤波子单元、调幅子单元和放大子单元；

8、所述滤波子单元，用于对所述采样输入电压进行滤波处理；

9、所述调幅子单元，用于对滤波处理后的采样输入电压进行调幅处理；

10、所述放大子单元，用于对调幅处理后的采样输入电压进行频率调整，得到对应的采样输出电压。

11、可选地，所述采样电压处理单元包括第一电阻、第一电容、第二电阻、第三电阻、第四电阻和运算放大器，其中，所述第一电阻的第一端连接采样输入电压，所述第一电阻的第二端分别与所述第一电容的第一端、所述第二电阻的第一端、所述运算放大器的第一端连接；所述第一电容的第二端接地，所述第二电阻的第二端为正电源端；所述第三电阻的第一端分别与所述第四电阻的第一端、所述运算放大器的第二端连接，所述第三电阻的第二端接地，所述第四电阻的第二端与所述运算放大器的第三端连接。

12、可选地，所述采样保持选择模块包括多个多路复用器，所述多路复用器的输入端分别与所述采样电压处理模块的输出端连接，所述多路复用器的输出端分别与所述采样保持模块的输入端连接。

13、可选地，所述逻辑控制模块包括fpga器件、dsp芯片、微控制器芯片和51单片机。

14、本申请实施例还提供了一种电子设备，包括如上所述的芯片功能模拟电路。

15、实施本申请实施例，具有如下有益效果：

16、如上所述，本申请提供的一种芯片功能模拟电路及电子设备，该电路包括依次电连接的采样电压处理模块、采样保持选择模块、采样保持模块、通道选择模块和模数转换器；其中，所述采样电压处理模块的输入端接入采样输入电压，所述采样电压处理模块的输出端与所述采样保持选择模块的输入端连接，所述采样保持选择模块的输出端与所述采样保持模块的输入端连接，所述采样保持模块的输出端与所述通道选择模块的输入端连接，所述通道选择模块的输出端与所述模数转换器的输入端连接。本申请通过提供一种模拟芯片内部的模拟功能的电路，通过采样电压处理模块模拟运放的功能，通过采样保持选择模块实现采样信号的选择，通过采样保持模块实现采样保持的功能，通过通道选择模块实现adc通道和采样保持通道的选择，结合模数转换器即可模拟芯片的内部模拟功能，从而能够在流片前对芯片的数字和模拟功能进行实际验证，降低芯片流片的不确定性，提高芯片验证成功率。

技术特征：

1.一种芯片功能模拟电路，其特征在于，包括依次电连接的采样电压处理模块、采样保持选择模块、采样保持模块、通道选择模块和模数转换器；其中，所述采样电压处理模块的输入端接入采样输入电压，所述采样电压处理模块的输出端与所述采样保持选择模块的输入端连接，所述采样保持选择模块的输出端与所述采样保持模块的输入端连接，所述采样保持模块的输出端与所述通道选择模块的输入端连接，所述通道选择模块的输出端与所述模数转换器的输入端连接。

2.根据权利要求1所述的芯片功能模拟电路，其特征在于，还包括采样电压模块，所述采样电压模块的输入端接入输入电压，所述采样电压模块的输出端与所述采样电压处理模块的输入端连接；其中，所述采样电压模块包括多个电阻。

3.根据权利要求1所述的芯片功能模拟电路，其特征在于，还包括逻辑控制模块，所述逻辑控制模块的输入端与所述模数转换器的输出端连接。

4.根据权利要求3所述的芯片功能模拟电路，其特征在于，还包括执行模块，所述执行模块的输入端与所述逻辑控制模块的输出端连接；其中，所述执行模块包括电机驱动电路和电机，所述电机驱动电路的输入端与所述逻辑控制模块的输出端连接，所述电机驱动电路的输出端与所述电机的输入端连接。

5.根据权利要求1所述的芯片功能模拟电路，其特征在于，所述采样电压处理模块包括多个采样电压处理单元，所述多个采样电压处理单元的输入端分别对应接入采样输出电压，所述多个采样电压处理单元的输出端分别与所述采样保持选择模块的输入端连接。

6.根据权利要求5所述的芯片功能模拟电路，其特征在于，所述采样电压处理单元包括依次电连接的滤波子单元、调幅子单元和放大子单元；

7.根据权利要求5所述的芯片功能模拟电路，其特征在于，所述采样电压处理单元包括第一电阻、第一电容、第二电阻、第三电阻、第四电阻和运算放大器，其中，所述第一电阻的第一端连接采样输入电压，所述第一电阻的第二端分别与所述第一电容的第一端、所述第二电阻的第一端、所述运算放大器的第一端连接；所述第一电容的第二端接地，所述第二电阻的第二端为正电源端；所述第三电阻的第一端分别与所述第四电阻的第一端、所述运算放大器的第二端连接，所述第三电阻的第二端接地，所述第四电阻的第二端与所述运算放大器的第三端连接。

8.根据权利要求1所述的芯片功能模拟电路，其特征在于，所述采样保持选择模块包括多个多路复用器，所述多路复用器的输入端分别与所述采样电压处理模块的输出端连接，所述多路复用器的输出端分别与所述采样保持模块的输入端连接。

9.根据权利要求3所述的芯片功能模拟电路，其特征在于，所述逻辑控制模块包括fpga器件、dsp芯片、微控制器芯片和51单片机。

10.一种电子设备，其特征在于，包括如权利要求1-9任一项所述的芯片功能模拟电路。

技术总结
本申请提出了一种芯片功能模拟电路及电子设备，该电路包括依次电连接的采样电压处理模块、采样保持选择模块、采样保持模块、通道选择模块和模数转换器；其中，所述采样电压处理模块的输入端接入采样输入电压，所述采样电压处理模块的输出端与所述采样保持选择模块的输入端连接，所述采样保持选择模块的输出端与所述采样保持模块的输入端连接，所述采样保持模块的输出端与所述通道选择模块的输入端连接，所述通道选择模块的输出端与所述模数转换器的输入端连接。本申请提供的一种芯片功能模拟电路，能够在流片前对芯片的数字和模拟功能进行实际验证，从而降低芯片流片的不确定性，提高芯片验证成功率。

技术研发人员：刘吉平,周伦,王翔,郑增忠
受保护的技术使用者：深圳市航顺芯片技术研发有限公司
技术研发日：20221227
技术公布日：2024/1/12