背景技术:
1、用于测量介质的特性的测量装置通常具有用于保持/输送介质的容器,以及至少一个测量设备。出于实际原因,容器或测量设备的介质接触部分可以由具有脱落其自身碎片的趋势的材料制成。这样的碎片可以很小,使得零件的部分故障可以保持未被注意到。
技术实现思路
1、因此,本发明的目的是提供一种用于测量装置的窗口以及测量装置,在这种情况下,可以检测到这样的部分故障。
2、本发明的目的是通过独立权利要求1中限定的窗口和独立权利要求5中限定的测量装置实现的。
3、本发明的窗口适于在测量装置中使用,该测量装置包括用于介质的容器和用于记录介质的特性的至少一个测量设备,其中窗口适于作为被应用作为容器或测量设备的部件并且适于形成用于容器的内腔的封闭件,
4、其中,窗口包括介电材料,
5、其特征在于
6、窗口包括铁磁标记,使得窗口适于在窗口的部分故障的情况下脱落其自身的铁磁标记碎片。
7、在实施方案中,标记由具有多个铁磁标记颗粒的窗口的可面向容器内腔的一侧的涂层形成,
8、和/或
9、其中所述介电材料至少在可面向容器内腔的一侧的区域中包括多个铁磁标记颗粒。
10、在实施例中,标记颗粒的浓度由每立方毫米的数量n限定,
11、其中至少在介质和介电材料之间的界面的区域中n大于100,且尤其是大于500,且优选大于1000。
12、和/或其中n小于1000000,且尤其是小于50000,且优选小于10000。
13、在实施方案中,标记颗粒的体积在每种情况下是
14、至少1立方微米
15、和/或
16、至多100000立方微米。
17、本发明的测量装置包括用于介质的容器以及用于记录介质的特性的测量设备,
18、其中,容器和/或测量设备在每种情况下具有到容器的内腔的至少一个窗口,其中窗口包括介电材料,诸如例如玻璃或陶瓷,
19、其中,所述窗口包括铁磁标记,所述铁磁标记适于在部分故障的情况下将碎片脱落到所述介质中,
20、其中,提供了用于检测铁磁材料的检测器,并且该检测器适于检查介质中的标记颗粒的存在。
21、因此,可以以简单的方式检测测量装置的部件的产生部分故障的脱落碎片,并发出警告报告。
22、容器可以是例如罐或测量管或管道。
23、在实施方案中,标记由具有多个铁磁标记颗粒的窗口的可面向容器内腔的一侧的涂层形成,
24、和/或
25、其中,所述介电材料至少在面向界面的内腔区域中包括多个铁磁标记颗粒。
26、在实施例中,标记颗粒的浓度由每立方毫米的数量n限定,
27、其中至少在介质和介电材料之间的界面的区域n中大于100,且尤其是大于500,且优选大于1000,
28、和/或,其中n小于1000000,且尤其是小于50000,且优选小于10000。
29、以这种方式,可以确保足够大比例的出现的脱落碎片包含至少一个标记颗粒,使得可以早期检测到部分故障。
30、以这种方式,可以确保标记颗粒在介电材料中引起介电材料的仅轻微影响。
31、在实施方案中,标记颗粒的体积在每种情况下定量为,
32、至少1立方微米
33、和/或
34、至多100000立方微米。
35、以这种方式,提供了良好的可检测性。上限防止标记颗粒的干扰影响,例如,在观察窗口的情况下。
36、在实施例中,检测器被布置在容器的排出装置的区域中。
37、以这种方式,增加了检测到脱落块的概率。
38、在实施例中,检测器适于通过建立磁通量密度变化来检测标记颗粒。
39、在实施例中,检测器包括例如:
40、量子磁力计,
41、磁通门磁力计,
42、巨磁阻磁力计。
43、量子磁力计基于例如金刚石中的氮空位中心来操作,其光谱特性取决于外部影响,诸如例如当前磁场。然后可以例如通过微波辐射来查询这些特性,从微波辐射可以导出关于外部磁场的信息。这样的量子磁力计具有尤其高的灵敏度,并且因此有利于检测这样的脱落碎片。
44、在实施例中,检测器适于感测至少两个、尤其是三个方向上的磁场。
45、以这种方式,可以避免脱落碎片产生对于检测器不利定向的磁场或使由永磁体产生的场变形。方向相关测量在不对称颗粒的情况下可以证明是有用的。
46、在实施例中,测量设备是具有包括陶瓷材料的压力测量单元的压力测量设备,或者是具有由陶瓷材料构成的发送/接收装置的雷达填充水平测量设备,
47、其中,陶瓷材料包含铁磁标记。
48、在实施例中,容器包括具有铁磁标记的观察窗口。
1.一种适于测量装置的窗口(4),所述测量装置包括用于介质的容器(2)和用于记录所述介质的特性的至少一个测量设备(3),其中,所述窗口适于被应用作为所述容器或所述测量设备的部件并且适于形成用于所述容器的内腔的封闭件,
2.根据权利要求1所述的窗口,
3.根据权利要求2所述的窗口,其中:
4.根据前述权利要求中的一项所述的窗口,
5.一种测量装置(1),包括用于介质的容器(2)以及用于记录所述介质的特性的测量设备(3),
6.根据权利要求5所述的测量装置,
7.根据权利要求6所述的测量装置,
8.根据权利要求7所述的测量装置,
9.根据权利要求6至8中的一项所述的测量装置,
10.根据前述权利要求5至9中的一项所述的测量装置,
11.根据前述权利要求5至10中的一项所述的测量装置,