一种用于X射线检测的工装的制作方法

本发明涉及检测，特别是涉及一种用于x射线检测的工装。

背景技术：

1、随着电子技术的飞速发展，封装的小型化和组装的高密度化以及各种新型封装技术的不断涌现，对故障检测方法提出了更高的要求。在电子元件组装中首先是隐藏焊点的检测，如：焊料的多少，焊点的位移等。采用x射线检测技术很容易确认焊点缺陷，以及在器件下部所发生的桥接现象。

2、相关技术中，使用x射线对指纹识别模组中的芯片进行探伤。当光源功率较大时，芯片容易被x射线破坏而失效，同时不同密度的材料在x射线的辐射下不易在成像图像中显现出差异性，进而不利于提高成像分辨率。

技术实现思路

1、基于此，本申请提出了一种用于x射线检测的工装，以利于提高成像分辨率，进而利于提高缺陷分析的成功率。

2、本申请实施例提出一种用于x射线检测的工装，包括金属片组件、检测盒以及与所述检测盒底部连接的支架，所述检测盒包括底板以及与所述底板连接的侧板，所述底板与所述侧板形成用于容纳样品的容纳腔，所述金属片组件设置在所述侧板的外表面和内部中的一处，所述金属片组件包括铜片和铝片中的至少一种。

3、铜片可以吸收具有高辐射能量波长的x射线，也即x射线中高能量光线被铜片过滤，从而在相同的光源功率下，设置铜片可以降低样品因被高能量x射线辐射而失效的概率，进而利于提高样品的寿命。也就是说，设置铜片后，在相同寿命条件下，x射线光源的功率相比于相关技术可以设置的更高。这样，功率越高，成像分辨率即可以越高。另一方面，由于x射线光谱中高能量辐射的一部分被铜片吸收，使得样品中低密度的材料不会受到高辐射能量的x射线的影响，从而可以在成像图像中与高密度材料显现出差异性，进而利于提高成像的对比度和分辨率。

4、铝片可以吸收具有低辐射能量波长的x射线。低辐射能量波长的x射线被铝片吸收也即被铝片过滤，这样，使得光源中起显影作用的主要辐射能量的x射线占比提升，从而可以减少低能量杂散光对成像的干扰，使得不同密度的材料被辐射成像后的差异性更为明显，进而利于提高成像的对比度和分辨率。

5、当金属片组件同时包含铜片和铝片时，成像更为清晰，低密度材料和高密度材料的对比度和分辨率更高，从而有利于进一步提高缺陷分析的成功率。综上所述，本申请实施例的用于x射线检测的工装，有利于提高成像的分辨率，进而利于提高缺陷分析的成功率。

6、在一些实施例中，所述检测盒的形状包括圆柱、长方体、正方体中的一种。

7、在一些实施例中，所述检测盒的材料包括亚克力、环氧树脂、聚氯乙烯、环烯烃聚合物、环烯烃共聚物、聚对苯二甲酸乙二醇酯中的一种。

8、在一些实施例中，所述侧板包括第一子侧板、与所述第一子侧板相对设置的第二子侧板、与所述第一子侧板相邻设置的第三子侧板以及与所述第三子侧板相对设置的第四子侧板。

9、在一些实施例中，所述金属片组件包括设置在所述第一子侧板外表面的至少一个第一子金属片、设置在所述第二子侧板外表面的至少一个第二子金属片、设置在所述第三子侧板外表面的至少一个第三子金属片以及设置在所述第四子侧板外表面的至少一个第四子金属片。

10、在一些实施例中，所述工装还包括用于固定所述第一子金属片、所述第二子金属片、所述第三子金属片以及所述第四子金属片的多个第一卡槽，所述第一卡槽与所述侧板连接。

11、在一些实施例中，所述第一子侧板、所述第二子侧板、所述第三子侧板以及所述第四子侧板中均设置有从所述侧板顶部朝向底部延伸的第一凹槽，所述金属片组件包括设置在所述第一子侧板的第一凹槽中的至少一个第五子金属片、设置在所述第二子侧板的第一凹槽中的至少一个第六子金属片、设置在所述第三子侧板的第一凹槽中的至少一个第七子金属片以及设置在所述第四子侧板的第一凹槽中的至少一个第八子金属片。

12、在一些实施例中，所述侧板为圆筒状，所述金属片组件包括设置在所述侧板外表面的至少一个第九子金属片，所述工装还包括用于固定所述第九子金属片的多个第二卡槽，所述第二卡槽与所述侧板连接。

13、在一些实施例中，所述侧板为圆筒状，所述侧板中设置有从所述侧板顶部朝向底部延伸的第二凹槽，所述金属片组件包括设置在所述第二凹槽中的至少一个第十子金属片。

14、在一些实施例中，所述金属片组件的厚度为0.1mm-0.3mm。

15、在一些实施例中，所述工装还包括多个限位块，所述限位块配置为填充于所述容纳腔中，以对所述样品形成限位。

技术特征：

1.一种用于x射线检测的工装，其特征在于，包括金属片组件、检测盒以及与所述检测盒底部连接的支架，所述检测盒包括底板以及与所述底板连接的侧板，所述底板与所述侧板形成用于容纳样品的容纳腔，所述金属片组件设置在所述侧板的外表面和内部中的一处，所述金属片组件包括铜片和铝片中的至少一种。

2.根据权利要求1所述的用于x射线检测的工装，其特征在于，所述检测盒的形状包括圆柱、长方体、正方体中的一种。

3.根据权利要求1所述的用于x射线检测的工装，其特征在于，所述检测盒的材料包括亚克力、环氧树脂、聚氯乙烯、环烯烃聚合物、环烯烃共聚物、聚对苯二甲酸乙二醇酯中的一种。

4.根据权利要求1所述的用于x射线检测的工装，其特征在于，所述侧板包括第一子侧板、与所述第一子侧板相对设置的第二子侧板、与所述第一子侧板相邻设置的第三子侧板以及与所述第三子侧板相对设置的第四子侧板。

5.根据权利要求4所述的用于x射线检测的工装，其特征在于，所述金属片组件包括设置在所述第一子侧板外表面的至少一个第一子金属片、设置在所述第二子侧板外表面的至少一个第二子金属片、设置在所述第三子侧板外表面的至少一个第三子金属片以及设置在所述第四子侧板外表面的至少一个第四子金属片。

6.根据权利要求5所述的用于x射线检测的工装，其特征在于，所述工装还包括用于固定所述第一子金属片、所述第二子金属片、所述第三子金属片以及所述第四子金属片的多个第一卡槽，所述第一卡槽与所述侧板连接。

7.根据权利要求4所述的用于x射线检测的工装，其特征在于，所述第一子侧板、所述第二子侧板、所述第三子侧板以及所述第四子侧板中均设置有从所述侧板顶部朝向底部延伸的第一凹槽，所述金属片组件包括设置在所述第一子侧板的所述第一凹槽中的至少一个第五子金属片、设置在所述第二子侧板的所述第一凹槽中的至少一个第六子金属片、设置在所述第三子侧板的所述第一凹槽中的至少一个第七子金属片以及设置在所述第四子侧板的所述第一凹槽中的至少一个第八子金属片。

8.根据权利要求1所述的用于x射线检测的工装，其特征在于，所述侧板为圆筒状，所述金属片组件包括设置在所述侧板外表面的至少一个第九子金属片，所述工装还包括用于固定所述第九子金属片的多个第二卡槽，所述第二卡槽与所述侧板连接。

9.根据权利要求1所述的用于x射线检测的工装，其特征在于，所述侧板为圆筒状，所述侧板中设置有从所述侧板顶部朝向底部延伸的第二凹槽，所述金属片组件包括设置在所述第二凹槽中的至少一个第十子金属片。

10.根据权利要求1所述的用于x射线检测的工装，其特征在于，所述工装还包括多个限位块，所述限位块配置为填充于所述容纳腔中，以对所述样品形成限位。

11.根据权利要求8或9所述的用于x射线检测的工装，其特征在于，所述金属片组件的厚度为0.1mm-0.3mm。

技术总结
本申请提供一种用于X射线检测的工装，包括金属片组件、检测盒以及与所述检测盒底部连接的支架，所述检测盒包括底板以及与所述底板连接的侧板，所述底板与所述侧板形成用于容纳样品的容纳腔，所述金属片组件设置在所述侧板的外表面和内部中的至少一处，所述金属片组件包括铜片和铝片中的至少一种。铜片可以吸收具有高辐射能量波长的X射线，使得样品中低密度的材料不会受到高辐射能量的X射线的影响。铝片可以吸收具有低辐射能量波长的X射线，使得光源中起显影作用的主要辐射能量的X射线占比提升，从而可以减少低能量杂散光对成像的干扰。由此，本申请通过设置金属片组件，有利于提高成像的分辨率，进而利于提高缺陷分析的成功率。

技术研发人员：陈光中
受保护的技术使用者：业成科技（成都）有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/13