一种检测设备的制作方法

本发明涉及检测装置，具体涉及一种检测设备。

背景技术：

1、芯片封装即安装半导体集成电路芯片用的外壳，具有安放、固定、密封、保护芯片和增强电热性能的作用，芯片封装是沟通芯片内部世界与外部电路的桥梁，芯片的接点用导线连接到封装外壳的引脚上，引脚又通过印制板上的导线与其他器件建立连接；

2、经检索，公开号：cn216117430u，公开了一种用于芯片封装材料的导电导热性能检测设备，涉及芯片封装材料的检测领域，包括装置本体，所述放置槽内腔的正面和背面对称设置有斜块，两个电器盒相对的一侧对称固定连接有测试端子，两个第一滑槽的内腔对称设置有滑块，两个第二滑槽相对的一侧对称设置有连接柱，两个第二凹槽内腔相背的一侧对称设置有限位块，本发明的一种用于芯片封装材料的导电导热性能检测设备，通过设置的斜块，再将测试材料放置到放置槽的内腔时，测试材料会将两个斜块通过其斜面向两个第一滑槽的内腔挤去，使得两个测试端子能将测试材料夹住，使得测试材料固定在放置槽的内腔，接入电源后，测试端子即可对芯片封装材料进行性能测试；

3、针对上述中的相关技术，发明人认为存在以下缺陷：上述申请案中通过将芯片封装材料放置到放置槽的内腔，在放置过程中，芯片封装材料的底部会对斜块进行挤压，使得斜块会带动测试端子和滑块缩入至第一滑槽的内腔，当芯片封装材料完全进入放置槽的内腔时，第一弹簧会带动连接柱向芯片封装材料的底部顶去，从而使得两个测试端子能紧紧贴合在芯片封装材料的底部，形成芯片封装材料的固定，芯片封装材料安装完毕后，转动视窗盖，带动第三固定块在圆柱的表面进行转动，使得视窗盖的底部能贴合在装置本体的顶部，对放置槽进行遮挡，将卡块卡入至卡槽，向右拉动把手，当卡块完全进入卡槽的内腔时，松开把手，此时第二弹簧带动第二固定块向左顶去，从而带动卡柱向卡块右侧开设的孔洞顶去，使得卡块能带动视窗盖固定在装置本体的顶部，完成对放置槽的密封，将电源线插入至电源插口，对测试端子供电，从而开始对芯片封装材料的性能测试，然而上述申请案中对多个芯片封装材料进行检测时，需要逐个将芯片封装材料放置在放置槽的内腔重复上述步骤，然后将其取出，再将另一个芯片封装材料进行检测，重复取放操作，便捷性较差，且耽误检测时间，无法同时对多个芯片封装材料进行快速检测，使得检测效率较低；

4、因此对于现有用于芯片封装材料的导电导热性能检测设备的改进，设计一种新型检测设备以改变上述技术缺陷，提高整体用于芯片封装材料的导电导热性能检测设备的实用性。

技术实现思路

1、针对现有技术的不足，本发明设计了一种检测设备，该旨设备在解决现有技术下无法同时对多个芯片封装材料进行快速检测，使得检测效率较低的技术问题。

2、为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

3、一种检测设备，包括操作台主体，所述操作台主体的顶部设置有限位机构，所述操作台主体的正面插拔有两组收纳抽屉，所述操作台主体的顶部固定连接有底座，所述底座底部的一侧设置有夹持机构；

4、所述限位机构包括多组限位件，多组所述限位件均滑动连接在操作台主体的顶部，多组所述限位件延伸至操作台主体的内部通过连接杆进行连接，所述连接杆由多组第一调节杆拼接而成，且两组相邻的所述第一调节杆之间固定连接有限位环。

5、作为本发明优选的方案，所述连接杆与多组限位件的连接方式为螺纹连接，所述连接杆与操作台主体的连接方式为转动连接。

6、作为本发明优选的方案，所述第一调节杆由两组螺纹杆拼接而成，且两组螺纹杆的螺纹结构方向相反，所述连接杆的一端延伸至操作台主体的外侧连接有微型电机。

7、作为本发明优选的方案，所述夹持机构包括夹持板，所述夹持板设置于底座的下方，所述夹持板通过两组第二调节杆与底座进行连接。

8、作为本发明优选的方案，两组所述第二调节杆与夹持板的连接方式均为螺纹连接，且两组所述第二调节杆的一端延伸至底座的内部均连接有限位块，所述限位块与第二调节杆为一体式结构设计，且所述第二调节杆和限位块与底座的连接方式均为转动连接，两组所述第二调节杆远离限位块的一端均固定连接有旋钮。

9、作为本发明优选的方案，所述底座的内部安装有蓄电池，所述底座的外侧且位于蓄电池相对应的位置处安装有usb接口，所述操作台主体的正面且位于两组收纳抽屉之间安装有提手。

10、作为本发明优选的方案，所述操作台主体底部的两侧均固定连接有侧板，其中一组所述侧板的一侧且位于提手的上方安装有控制面板，其中一组所述侧板远离控制面板的一侧等间距安装有若干组测试端子，两组相邻的所述限位件之间且位于另一组侧板的内侧等间距安装有多组推动组件。

11、作为本发明优选的方案，所述推动组件包括多组推杆，多组所述推杆等间距插接在另一组侧板的内部，所述推杆的一端固定连接有推板，所述推板通过两组弹簧与另一组侧板进行连接。

12、作为本发明优选的方案，所述弹簧的两端与推板和侧板固定连接，多组所述推板远离推杆的一侧均固定连接有防护垫，且所述防护垫为橡胶材质制作，另一组侧板的内部开设有供推杆滑动的矩形槽，所述推杆的一端固定连接有防护板，所述推杆靠近防护板一端的两侧均开设有弧形槽。

13、作为本发明优选的方案，两组所述收纳抽屉的外侧均安装有把手，两组所述收纳抽屉的内部均等间距插接有多组隔板，所述收纳抽屉的内部开设有供多组隔板插接的插接槽，两组所述收纳抽屉的内壁和多组隔板的外壁均固定连接有硅胶层。

14、与现有技术相比，本发明的有益效果是：

15、本发明中，该设备方便进行外出携带使用，便捷性更高，且通过限位机构和微型电机的配合使用，不仅方便对多个待检测芯片封装材料进行限位导向，且能够根据检测芯片封装材料的尺寸大小进行适宜调节，结合推动组件的作用，方便对限位后的检测芯片封装材料进行逐个水平方向快速推动检测，提高芯片封装材料的检测效率，避免检测芯片封装材料移动期间发生偏离现象影响正常检测操作，其次，通过夹持机构的设计，方便将该设备与不同厚度台面进行拆装固定，增加设备放置的稳定性，避免该设备使用期间受外界因素碰撞位移影响对检测芯片封装材料检测操作，此外，利用两组所述收纳抽屉方便对待检测和检测完成后的芯片封装材料进行区分放置，通过多组隔板和多组插接槽的配合使用，方便根据芯片封装材料尺寸大小对隔板进行间距插接调节，通过改变两组相邻隔板之间的距离，方便对不同尺寸大小的芯片封装材料进行限位放置，避免设备携带时芯片封装材料晃动与收纳抽屉内内部发生碰撞而造成损坏，因此对芯片封装材料进行更好的收纳防护，收纳抽屉的两端通过正负磁铁与操作台主体吸附固定，增加收纳抽屉的闭合转态的稳定性，防止该设备移动携带时，收纳抽屉自动打开。

技术特征：

1.一种检测设备，包括操作台主体（1），其特征在于：所述操作台主体（1）的顶部设置有限位机构（2），所述操作台主体（1）的正面插拔有两组收纳抽屉（3），所述操作台主体（1）的顶部固定连接有底座（4），所述底座（4）底部的一侧设置有夹持机构（5）；

2.根据权利要求1所述的一种检测设备，其特征在于：所述连接杆（202）与多组限位件（201）的连接方式为螺纹连接，所述连接杆（202）与操作台主体（1）的连接方式为转动连接。

3.根据权利要求1所述的一种检测设备，其特征在于：所述第一调节杆（203）由两组螺纹杆拼接而成，且两组螺纹杆的螺纹结构方向相反，所述连接杆（202）的一端延伸至操作台主体（1）的外侧连接有微型电机（7）。

4.根据权利要求1所述的一种检测设备，其特征在于：所述夹持机构（5）包括夹持板（501），所述夹持板（501）设置于底座（4）的下方，所述夹持板（501）通过两组第二调节杆（502）与底座（4）进行连接。

5.根据权利要求4所述的一种检测设备，其特征在于：两组所述第二调节杆（502）与夹持板（501）的连接方式均为螺纹连接，且两组所述第二调节杆（502）的一端延伸至底座（4）的内部均连接有限位块，所述限位块与第二调节杆（502）为一体式结构设计，且所述第二调节杆（502）和限位块与底座（4）的连接方式均为转动连接，两组所述第二调节杆（502）远离限位块的一端均固定连接有旋钮（503）。

6.根据权利要求1所述的一种检测设备，其特征在于：所述底座（4）的内部安装有蓄电池，所述底座（4）的外侧且位于蓄电池相对应的位置处安装有usb接口，所述操作台主体（1）的正面且位于两组收纳抽屉（3）之间安装有提手。

7.根据权利要求1所述的一种检测设备，其特征在于：所述操作台主体（1）底部的两侧均固定连接有侧板（101），其中一组所述侧板（101）的一侧且位于提手的上方安装有控制面板，其中一组所述侧板（101）远离控制面板的一侧等间距安装有若干组测试端子（102），两组相邻的所述限位件（201）之间且位于另一组侧板（101）的内侧等间距安装有多组推动组件（6）。

8.根据权利要求7所述的一种检测设备，其特征在于：所述推动组件（6）包括多组推杆（601），多组所述推杆（601）等间距插接在另一组侧板（101）的内部，所述推杆（601）的一端固定连接有推板（602），所述推板（602）通过两组弹簧（603）与另一组侧板（101）进行连接。

9.根据权利要求8所述的一种检测设备，其特征在于：所述弹簧（603）的两端与推板（602）和侧板（101）固定连接，多组所述推板（602）远离推杆（601）的一侧均固定连接有防护垫（6021），且所述防护垫为橡胶材质制作，另一组侧板（101）的内部开设有供推杆（601）滑动的矩形槽（1011），所述推杆（601）的一端固定连接有防护板（6011），所述推杆（601）靠近防护板（6011）一端的两侧均开设有弧形槽（6012）。

10.根据权利要求1所述的一种检测设备，其特征在于：两组所述收纳抽屉（3）的外侧均安装有把手，两组所述收纳抽屉（3）的内部均等间距插接有多组隔板（301），所述收纳抽屉（3）的内部开设有供多组隔板（301）插接的插接槽，两组所述收纳抽屉（3）的内壁和多组隔板的外壁均固定连接有硅胶层。

技术总结
本发明涉及检测装置技术领域，具体涉及一种检测设备，包括操作台主体，所述操作台主体的顶部设置有限位机构，所述操作台主体的正面插拔有两组收纳抽屉，所述操作台主体的顶部固定连接有底座，所述底座底部的一侧设置有夹持机构；所述限位机构包括多组限位件，多组所述限位件均滑动连接在操作台主体的顶部，多组所述限位件延伸至操作台主体的内部通过连接杆进行连接，所述连接杆由多组第一调节杆拼接而成，且两组相邻的所述第一调节杆之间固定连接有限位环，本发明通过设计方便对不同尺寸大小的芯片封装材料进行限位导向，便于对多对个芯片封装材料进行快速推动检测，提高芯片封装材料的检测效率。

技术研发人员：希马尔·哈特里,崔永郁,张洪旺
受保护的技术使用者：无锡帝科电子材料股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/13