自动化测试装置及其测试方法与流程

本发明涉及芯片测试，更为具体地，涉及一种自动化测试装置。

背景技术：

1、在芯片制作领域，随着sip技术(系统级封装技术)以及工艺的不断发展以及产能的不断提升，集成化、大规模量产成为各家供方所追求的技术点。

2、对于一个产品的npi阶段(它指的是通过第一次生产制造r&d和设计产品的整个过程，包括从概念化、pcb布局、开发、构建和改进原型，一直到推出产品的所有过程)。通常需要对试产出的产品进行功能测试(如电学测试)，现有的产品测试机都是手动测试机，手动测试机上设置有测试座和与测试座电性连接的测试设备，当待测产品放入测试座后，通过测试座配合测试设备实现对待测产品的功能测试。

3、然而，对于现有的手动测试机，其测试座上设置有锁扣，在测试过程中，工作人员需要先手动打开测试座上的锁扣，将待测产品放入测试座，然后关闭测试座上的锁扣，再通过测试座配合测试设备对待测产品进行功能测试。显然，这种现有的手动测试机不仅需要人工进行参与，而且工作效率较低，无法为大规模量产产品提供测试供需保障。

4、基于上述技术需求，亟需一种能够有效提升产品测试工作效率的自动化测试设备。

技术实现思路

1、鉴于上述问题，本发明的目的是提供一种自动化测试装置及其测试方法，以解决现有的手动测试机工作效率较低，无法为大规模量产产品提供测试供需保障问题。

2、本发明提供的自动化测试装置，包括壳体和设置在所述壳体内的测试座，在所述测试座的上盖上设置有卡扣；在所述外壳远离所述测试座的一侧设置有第一传动机构，在所述测试座的上方设置有与所述第一传动机构相连的龙门机构，在所述龙门机构上设置有与所述上盖对应的压合滚轮；其中，

3、在所述上盖上设置有与所述卡扣联动的压合轨道，所述压合滚轮与所述压合轨道上下对应，所述压合滚轮压合所述压合轨道闭合所述上盖。

4、此外，优选的方案是，在所述第一传动机构的下方设置有第二传动机构，在所述测试座的下方设置有与所述第二传动机构相连的伸缩杆组件，在所述伸缩杆组件上设置有触发器，在所述测试座的一侧设置有与所述卡扣联动的推击打开扣，所述推击打开扣与所述触发器前后对应，所述触发器敲击所述推击打开扣开启所述上盖。

5、此外，优选的方案是，所述测试座在所述外壳内设置有前后两排，所述龙门机构包括前排龙门和后排龙门；其中，

6、所述前排龙门与处于前排的所述测试座上下对应，所述后排龙门与处于后排的所述测试座上下对应；并且，

7、在所述前排龙门上设置有与处于前排的所述测试座上的压合轨道对应的第一压合滚轮，在所述后排龙门上设置有与处于后排的所述测试座上的压合轨道对应的第二压合滚轮。

8、此外，优选的方案是，所述前排龙门的两侧以及所述后排龙门的两侧均分别与所述外壳的两侧滑动连接。

9、此外，优选的方案是，所述第一传动机构包括第一气缸和第二气缸；其中，所述第一气缸的传动轴与所述前排龙门相连，所述第二气缸的传动轴与所述后排龙门相连。

10、此外，优选的方案是，所述伸缩杆组件包括第一伸缩杆和第二伸缩杆；其中，在所述第一伸缩杆上设置有与处于前排的所述测试座上的推击打开扣对应的第一触发器，在所述第二伸缩杆上设置有与处于后排的所述测试座上的推击打开扣对应的第二触发器。

11、此外，优选的方案是，所述第二传动机构包括第三气缸和第四气缸；其中，所述第三气缸的传动轴与所述第一伸缩杆相连，所述第四气缸的传动轴与所述第二伸缩杆相连。

12、此外，优选的方案是，在所述外壳的前侧设置有对射感应器，在所述龙门机构上设置有直射感应器，在所述外壳的后端设置有到位对射感应器；其中，

13、所述对射感应器用于感应所述测试座的上盖的闭合状态；所述直射感应器用于所述测试座的上盖的开启状态；所述到位对射感应器用于感应所述第一传动机构的传动轴是否到达预设位置。

14、此外，优选的方案是，所述测试座、所述对射感应器、所述直射感应器、所述到位对射感应器、所述第一传动机构以及所述第二传动机构均与外部的控制中心电性连接。

15、另一方面，本发明还提供一种应用前述的自动化测试装置的对芯片进行测试的测试方法，所述测试方法包括：

16、通过所述第二传动机构控制所述触发器敲击所述推击打开扣开启所述测试座的上盖；

17、当所述直射感应器感应到所述测试座的上盖打开时，控制中心控制运料机构向所述测试座内放置待测试芯片；

18、通过所述第一传动机构控制所述压合滚轮压合所述压合轨道闭合所述测试座的上盖；

19、当所述对射感应器感应到所述测试座的上盖闭合时，所述控制中心控制所述测试座对所述待测试芯片进行测试；

20、当所述到位对射感应器感应到所述第一传动机构的传动轴是否到达预设位置时，再次通过所述第二传动机构控制所述触发器敲击所述推击打开扣开启所述测试座的上盖；

21、当所述直射感应器感应到所述测试座的上盖打开时，所述控制中心控制运料机构自所述测试座内取出测试完毕的芯片。

22、和现有技术相比，上述根据本发明的自动化测试装置，有如下有益效果：

23、本发明提供的自动化测试装置及其测试方法相比于传统的使用手动测试机进行测试的方法，通过设置传动机构、与卡扣相联动的部件以及感应器，能够配合外部的控制中心实现对芯片的自动化测试，省去了人工参与的过程，能够显著提升工作效率，为大规模量产产品提供测试供需保障。

24、为了实现上述以及相关目的，本发明的一个或多个方面包括后面将详细说明并在权利要求中特别指出的特征。下面的说明以及附图详细说明了本发明的某些示例性方面。然而，这些方面指示的仅仅是可使用本发明的原理的各种方式中的一些方式。此外，本发明旨在包括所有这些方面以及它们的等同物。

技术特征：

1.一种自动化测试装置，包括壳体和设置在所述壳体内的测试座，在所述测试座的上盖上设置有卡扣；其特征在于，

2.如权利要求1所述的自动化测试装置，其特征在于，

3.如权利要求2所述的自动化测试装置，其特征在于，

4.如权利要求3所述的自动化测试装置，其特征在于，

5.如权利要求4所述的自动化测试装置，其特征在于，

6.如权利要求2至5中任意一项所述的自动化测试装置，其特征在于，

7.如权利要求6所述的自动化测试装置，其特征在于，

8.如权利要求7所述的自动化测试装置，其特征在于，

9.如权利要求8所述的自动化测试装置，其特征在于，

10.一种应用如权利要求1至9中任意一项所述的自动化测试装置的测试方法，其特征在于，所述测试方法包括：

技术总结
本发明提供一种自动化测试装置及其测试方法，其中的自动化测试装置包括壳体和设置在所述壳体内的测试座，在所述测试座的上盖上设置有卡扣；在所述外壳远离所述测试座的一侧设置有第一传动机构，在所述测试座的上方设置有与所述第一传动机构相连的龙门机构，在所述龙门机构上设置有与所述上盖对应的压合滚轮；其中，在所述上盖上设置有与所述卡扣联动的压合轨道，所述压合滚轮与所述压合轨道上下对应，所述压合滚轮压合所述压合轨道闭合所述上盖。本发明提供的自动化测试装置能够解决现有的手动测试机工作效率较低，无法为大规模量产产品提供测试供需保障问题。

技术研发人员：陈伯海,鲁德山,邓福军
受保护的技术使用者：青岛歌尔微电子研究院有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15