一种半导体器件残次品智能检测系统的制作方法

本发明涉及半导体，具体为一种半导体器件残次品智能检测系统。

背景技术：

1、半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。半导体在收音机、电视机以及测温上有着广泛的应用。如二极管就是采用半导体制作的常见器件，二极管在生产过程中容易出现裂痕、表面刮伤、无法正常导通的缺陷，对于分散在不同区域的裂痕、表面刮伤细小缺陷，与周围环境差异程度很小，仅靠人工采用肉眼进行检测和识别，识别精度和识别速度较低，误判率较高，大大降低产品的合格率，一旦残次品二极管投入使用，将影响相应产品的安全系数和使用寿命，造成巨大的使用安全隐患和经济损失，利用机械设备检测则需要人工不断翻转二极管方可实现对二极管各个面的检测；检测二极管是否能够正常导通一般通过专业设备，利用人工逐个进行检测，检测过程速度慢，效率低下。

技术实现思路

1、针对现有技术的不足，本发明提供了一种半导体器件残次品智能检测系统，解决了二极管表面裂痕、刮伤缺陷仅靠人工采用肉眼进行检测和识别，识别精度和识别速度较低，误判率较高和利用机械设备外观检测需要人工翻转二极管实现对各个面的检测，工作量大，效率低以及无法正常导通缺陷需要人工逐个进行，检测过程速度慢，效率低的问题。

2、为实现以上目的，本发明通过以下技术方案予以实现：一种半导体器件残次品智能检测系统，包括传送支架和设置在传送支架内部的传送带组件，所述传送支架顶部一侧设置有导通检测机构，所述传送带组件外壁上均匀设置有二极管装载机构，所述导通检测机构顶部固定设置有放料机构，且导通检测机构侧壁上固定设置有电动推杆一，所述传送支架顶部且位于导通检测机构一侧固定设置有侧板，所述侧板顶部设置有相机支架，所述相机支架顶部从左向右等距分布有ccd相机，所述侧板侧壁上固定设置有外观检测机构和电动推杆二，所述传送支架顶部设置有齿条。

3、优选的，所述导通检测机构包括第一侧板和与第一侧板平行设置的第二侧板，所述第一侧板和第二侧板相对侧壁上均固定设置有绝缘安装块，所述绝缘安装块外壁上开设有活动槽，所述活动槽内部活动设置有导电组件，所述第二侧板的侧壁上固定设置有检测箱，所述第一侧板和第二侧板相对侧壁上且位于绝缘安装块的左侧均固定设置有驱动块。

4、优选的，所述导电组件包括导电金属板和固定设置在导电金属板外壁上的石墨板，所述导电金属板远离石墨板侧壁的四个拐角均固定设置有立柱，所述立柱外壁上滑动套设有第一弹簧。

5、优选的，所述二极管装载机构包括装载座和固定设置在装载座外壁两侧的顶块以及设置在装载座顶部的放置槽，所述放置槽底部两侧均开设有安装槽，所述安装槽内部通过转轴转动设置有清洁辊，转轴一端转动贯穿安装槽并固定设置有齿轮，所述装载座前后侧壁上开设有调节孔，所述调节孔内部滑动设置有矫正组件。

6、优选的，所述矫正组件包括横杆和固定设置在横杆外壁两侧的伸缩杆，所述横杆外壁上且位于两个伸缩杆之间固定设置有顶杆，所述伸缩杆外壁上套设有第二弹簧，所述横杆远离顶杆的外壁上固定设置有受力块。

7、优选的，所述放料机构包括储料箱和固定套设在储料箱外壁上的承载架以及开设在储料箱外壁上的方形槽，所述方形槽内部滑动设置有控料组件。

8、优选的，所述控料组件包括隔板和固定设置在隔板外壁两侧的转动座，所述转动座内部转动设置有挡块。

9、优选的，所述挡块和转动座之间设置有扭簧，所述隔板远离转动座的侧壁两侧均固定设置有滑柱，所述滑柱外壁上套设有第三弹簧。

10、优选的，所述导通检测机构的一端连接有第一控制器，控制器的一端和电动推杆一相连接，第一控制器包括处理器一和时间继电器一，所述导通检测机构的输出端和处理器一的输入端相连接，时间继电器一和电动推杆一均和处理器一实现双向连接。

11、优选的，所述外观检测机构的一端连接有第二控制器，第二控制器包括处理器二和时间继电器二，外观检测机构的输出端和处理器二的输入端相连接，处理器二和时间继电器二以及电动推杆二实现双向连接，ccd相机的输出端和外观检测机构的输入端相连接。

12、有益效果

13、本发明提供了一种半导体器件残次品智能检测系统。与现有技术相比具备以下有益效果：

14、1、一种半导体器件残次品智能检测系统，通过在传送支架和传送组件构成的传送装置上同时设置放料机构和导通检测机构以及外观检测机构，放料机构能够在检测过程中实现自动放料，利用导通检测机构对二极管进行导通检测后，利用外观检测机构对二极管外表面是否存在裂痕或者异常形变进行检测，并且能够对具有缺陷的二极管残次品进行自动剔除；本发明检测过程自动化程度高，能够实现对二极管的连续检测工作，检测速度快、效率高、误判率低，提高了二极管的合格率。

15、2、一种半导体器件残次品智能检测系统，通过设置二极管装载机构能够在检测过程中利用齿轮和齿条的啮合，带动清洁辊转动，利用二极管和清洁辊之间的摩擦力作用能够实现二极管的三百六十度翻转，ccd相机对二极管的外表面进行全方位的拍摄，便于外观检测机构全方位的检测工作，提高检测精确度，并且二极管转动时利用清洁辊的摩擦作用，清除残留在外表面的污渍，从而能够便于后续发现污渍覆盖下的裂纹等缺陷。

16、3、一种半导体器件残次品智能检测系统，通过在二极管装载机构中设置矫正组件，两个矫正组件在驱动块作用下能够同步相向推动位于装载座中的二极管，使其处于放置槽的中间位置，从而能够使得二极管两端的引脚距离两个导电组件侧壁距离相等，保证引脚和石墨板能够刚好稳定接触，既保证了二极管引脚不会因为位置的偏移受到导电组件挤压而变形，同时能够保证二极管和导电组件之间通电的稳定性，进而提高检测的准确度。

17、4、一种半导体器件残次品智能检测系统，通过在导电组件中设置立柱和第一弹簧，使得石墨板侧壁受到较小外力作用时即可通过压缩第一弹簧改变两个导电组件之间的间距，能够使得二极管引脚和石墨板之间紧密、稳定接触，避免了引脚和石墨板无法接触，导致电路无法导通，造成导通检测组件出现误判的情况，并且通过在石墨板的两端设置倒角能够使得引脚平顺的进入到两个导电检测组件之间，而且石墨具有润滑的效果，使得二极管在两个导电组件之间平顺移动。

18、5、一种半导体器件残次品智能检测系统，通过利用二极管装载机构移动时的推力，使得顶块能够推动控料组件从方形槽中移开，储料箱底部放料口打开后能够实现自动落料的效果，而且控料组件失去顶块作用后能够自动恢复原始位置，将放料口堵住，实现每次释放一个二极管的目的，相对传统人工手动放料，自动化程度高，放料速度快，解放了工作人员内的双手。

19、6、一种半导体器件残次品智能检测系统，通过在导通检测机构和外观检测机构之后设置电动推杆一和电动推杆二能够将检测后不合格的二极管快速推出，实现自动剔除残次品的目的。

技术特征：

1.一种半导体器件残次品智能检测系统，包括传送支架(1)和设置在传送支架(1)内部的传送带组件(2)，其特征在于：所述传送支架(1)顶部一侧设置有导通检测机构(3)，所述传送带组件(2)外壁上均匀设置有二极管装载机构(4)，所述导通检测机构(3)顶部固定设置有放料机构(5)，且导通检测机构(3)侧壁上固定设置有电动推杆一(6)，所述传送支架(1)顶部且位于导通检测机构(3)一侧固定设置有侧板(7)，所述侧板(7)顶部设置有相机支架(8)，所述相机支架(8)顶部从左向右等距分布有ccd相机(9)，所述侧板(7)侧壁上固定设置有外观检测机构(10)和电动推杆二(11)，所述传送支架(1)顶部设置有齿条(12)。

2.根据权利要求1所述的一种半导体器件残次品智能检测系统，其特征在于：所述导通检测机构(3)包括第一侧板(31)和与第一侧板(31)平行设置的第二侧板(32)，所述第一侧板(31)和第二侧板(32)相对侧壁上均固定设置有绝缘安装块(33)，所述绝缘安装块(33)外壁上开设有活动槽(34)，所述活动槽(34)内部活动设置有导电组件(35)，所述第二侧板(32)的侧壁上固定设置有检测箱(36)，所述第一侧板(31)和第二侧板(32)相对侧壁上且位于绝缘安装块(33)的左侧均固定设置有驱动块(37)。

3.根据权利要求2所述的一种半导体器件残次品智能检测系统，其特征在于：所述导电组件(35)包括导电金属板(351)和固定设置在导电金属板(351)外壁上的石墨板(352)，所述导电金属板(351)远离石墨板(352)侧壁的四个拐角均固定设置有立柱(353)，所述立柱(353)外壁上滑动套设有第一弹簧(354)。

4.根据权利要求1所述的一种半导体器件残次品智能检测系统，其特征在于：所述二极管装载机构(4)包括装载座(41)和固定设置在装载座(41)外壁两侧的顶块(42)以及设置在装载座(41)顶部的放置槽(43)，所述放置槽(43)底部两侧均开设有安装槽(44)，所述安装槽(44)内部通过转轴转动设置有清洁辊(45)，转轴一端转动贯穿安装槽(44)并固定设置有齿轮(46)，所述装载座(41)前后侧壁上开设有调节孔(47)，所述调节孔(47)内部滑动设置有矫正组件(48)。

5.根据权利要求4所述的一种半导体器件残次品智能检测系统，其特征在于：所述矫正组件(48)包括横杆(481)和固定设置在横杆(481)外壁两侧的伸缩杆(482)，所述横杆(481)外壁上且位于两个伸缩杆(482)之间固定设置有顶杆(483)，所述伸缩杆(482)外壁上套设有第二弹簧(484)，所述横杆(481)远离顶杆(483)的外壁上固定设置有受力块(485)。

6.根据权利要求1所述的一种半导体器件残次品智能检测系统，其特征在于：所述放料机构(5)包括储料箱(51)和固定套设在储料箱(51)外壁上的承载架(52)以及开设在储料箱(51)外壁上的方形槽(53)，所述方形槽(53)内部滑动设置有控料组件(54)。

7.根据权利要求6所述的一种半导体器件残次品智能检测系统，其特征在于：所述控料组件(54)包括隔板(541)和固定设置在隔板(541)外壁两侧的转动座(544)，所述转动座(544)内部转动设置有挡块(545)。

8.根据权利要求7所述的一种半导体器件残次品智能检测系统，其特征在于：所述挡块(545)和转动座(544)之间设置有扭簧，所述隔板(541)远离转动座(544)的侧壁两侧均固定设置有滑柱(542)，所述滑柱(542)外壁上套设有第三弹簧(543)。

9.根据权利要求1所述的一种半导体器件残次品智能检测系统，其特征在于：所述导通检测机构(3)的一端连接有第一控制器，控制器的一端和电动推杆一(6)相连接，第一控制器包括处理器一和时间继电器一，所述导通检测机构(3)的输出端和处理器一的输入端相连接，时间继电器一和电动推杆一均和处理器一实现双向连接。

10.根据权利要求1所述的一种半导体器件残次品智能检测系统，其特征在于：所述外观检测机构(10)的一端连接有第二控制器，第二控制器包括处理器二和时间继电器二，外观检测机构(10)的输出端和处理器二的输入端相连接，处理器二和时间继电器二以及电动推杆二(11)实现双向连接，ccd相机(9)的输出端和外观检测机构(10)的输入端相连接。

技术总结
本发明公开了一种半导体器件残次品智能检测系统，本发明涉及半导体技术领域。该一种半导体器件残次品智能检测系统，放料机构能够在检测过程中实现自动放料，利用导通检测机构对二极管进行导通检测后，利用外观检测机构对二极管外表面是否存在裂痕或者异常形变进行检测，本发明检测过程自动化程度高，能够实现对二极管的连续检测工作，提高了二极管的合格率。二极管装载机构能够在检测过程中利用齿轮和齿条的啮合，利用二极管和清洁辊之间的摩擦力作用能够实现二极管的三百六十度翻转，便于外观检测机构全方位的检测工作，并且二极管转动时利用清洁辊的摩擦作用，清除残留在外表面的污渍，从而能够便于后续发现污渍覆盖下的裂纹等缺陷。

技术研发人员：陈炳贵
受保护的技术使用者：深圳龙芯半导体科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15