水分仪零位校准方法、装置、电子设备及存储介质与流程

本发明涉及烟草水分检测，尤其涉及一种水分仪零位校准方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术：

1、在卷烟制丝工艺控制中，烟草水分值是重要指标之一，直接影响烟草的内在质量。在自动化流水线生产过程中，水分仪的检测值是闭环控制系统中的重要环节，水分仪的准确性关系到烟草加工过程的质量控制精度及其稳定性。红外水分仪作为烟草制品水分的测量仪器，其测量的准确性显得尤为重要。在实际生产过程中，随着生产工艺、环境条件等因素的变化，需要对红外水分仪的零点值进行校准。

2、相关技术中，水分仪零位校准方法通常采用烘箱加热法(含水率检测法)进行人工校准，这种校准方法需要多次人工校准比对，操作过程复杂，校准过程耗时较长，进而，降低了水分仪零位校准的校准频率和校准精确度，同时，由于校准过程复杂，导致校准周期较长，在一次校准到下一次校准的期间，影响水分仪零位准确性的因素较多，从而降低了使用水分仪进行测量的准确度。

技术实现思路

1、本发明提供了一种水分仪零位校准方法、装置、电子设备及存储介质，以实现在每次烟叶制丝流程中对水分仪进行自动校准的效果，缩短了水分仪零位校准的校准周期，进而，提高了水分仪的测量精度，从而提高了利用校准后的水分仪进行测量的准确度。

2、根据本发明的一方面，提供了一种水分仪零位校准方法，该方法包括：

3、确定待校准工序和至少一个基准工序，并分别确定每个所述基准工序处基准水分仪对应的基准值偏移量，其中，所述基准工序与所述待校准工序属于同一烟叶制丝流程中的不同工序，所述基准工序对应的工序执行时序晚于所述待校准工序对应的工序执行时序；

4、基于预存储的与所述待校准工序对应的目标校准函数和每个所述基准工序处基准水分仪对应的基准值偏移量，确定所述待校准工序处待校准水分仪对应的零位偏移量，以基于所述零位偏移量对所述待校准工序处的所述待校准水分仪进行零位校准。

5、根据本发明的另一方面，提供了一种水分仪零位校准装置，该装置包括：

6、工序确定模块，用于确定待校准工序和至少一个基准工序，并分别确定每个所述基准工序处基准水分仪对应的基准值偏移量，其中，所述基准工序与所述待校准工序属于同一烟叶制丝流程中的不同工序，所述基准工序对应的工序执行时序晚于所述待校准工序对应的工序执行时序；

7、零位偏移量确定模块，用于基于预存储的与所述待校准工序对应的目标校准函数和每个所述基准工序处基准水分仪对应的基准值偏移量，确定所述待校准工序处待校准水分仪对应的零位偏移量，以基于所述零位偏移量对所述待校准工序处的所述待校准水分仪进行零位校准。

8、根据本发明的另一方面，提供了一种电子设备，所述电子设备包括：

9、至少一个处理器；以及

10、与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，

11、所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行本发明任一实施例所述的水分仪零位校准方法。

12、根据本发明的另一方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现本发明任一实施例所述的水分仪零位校准方法。

13、本发明实施例的技术方案，通过确定待校准工序和至少一个基准工序，并分别确定每个基准工序处基准水分仪对应的基准值偏移量，进一步的，基于预存储的与待校准工序对应的目标校准函数和每个基准工序处基准水分仪对应的基准值偏移量，确定待校准工序处待校准水分仪对应的零位偏移量，以基于零位偏移量对待校准工序处的待校准水分仪进行零位校准，解决了现有技术中校准过程复杂，导致校准周期较长，在一次校准到下一次校准的期间，影响水分仪零位准确性的因素较多，从而降低了使用水分仪进行测量的准确度等问题，实现了在每次烟叶制丝流程中对水分仪进行自动校准的效果，采用下游基准水分仪采集的数据，实时分析上游待校准水分仪的零位是否存在偏移，并进行实时校准，缩短了水分仪零位校准的校准周期，进而，提高了水分仪的测量精度，从而提高了利用校准后的水分仪进行测量的准确度。

14、应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本发明的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本发明的范围。本发明的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。

技术特征：

1.一种水分仪零位校准方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定至少一个基准工序，包括：

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述获取在所述候选工序处与待测物料样本对应的水分检测值，包括：

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述分别确定每个所述基准工序处基准水分仪对应的基准值偏移量，包括：

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于预存储的与所述待校准工序对应的目标校准函数和每个所述基准工序处基准水分仪对应的基准值偏移量，确定所述待校准工序处待校准水分仪对应的零位偏移量，包括：

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，还包括：

8.一种水分仪零位校准装置，其特征在于，包括：

9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现权利要求1-7中任一项所述的水分仪零位校准方法。

技术总结
本发明公开了一种水分仪零位校准方法、装置、电子设备及存储介质，其中，该方法包括：确定待校准工序和至少一个基准工序，并分别确定每个基准工序处基准水分仪对应的基准值偏移量，其中，基准工序对应的工序执行时序晚于所述待校准工序对应的工序执行时序；基于预存储的与待校准工序对应的目标校准函数和每个基准工序处基准水分仪对应的基准值偏移量，确定待校准工序处待校准水分仪对应的零位偏移量，以基于零位偏移量对待校准工序处的待校准水分仪进行零位校准。本实施例的技术方案，实现了在每次烟叶制丝流程中对水分仪进行自动校准的效果，缩短了水分仪零位校准的校准周期，提高了水分仪的测量精度和利用校准后的水分仪进行测量的准确度。

技术研发人员：郭昌耀,陆磊,殷延齐,温旭,胡雪亮,王国园,靳林坚
受保护的技术使用者：江苏中烟工业有限责任公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/14