一种可视化导电银浆银迁移测试系统及测试方法与流程

本发明属于导电银浆，尤其涉及一种可视化导电银浆银迁移测试系统及测试方法。

背景技术：

1、各类电子元器件作为时代科技发展的基石，随着市场和应用端对产品特性的要求越来越高，对产品在不同环境下的可靠性要求越发的苛刻，其中作为电子元器件的核心电极材料—银，在正常市场上占比很大，银本身有优异的导电性和延展性，作为电极材料被广泛用于很多高精端产品。导电银浆是一种广泛应用电子行业的含银浆料，比如在电子线路板行业中被广泛应用，含有树脂的银浆因为其导电性、粘结性、柔软性等特点，非常适用于印刷电路板，其固化温度低、导电性稳定等非常适合于丝网印刷行业中。

2、但是银本身具有银迁移的特性，所谓银迁移即在高湿度、持续性电压以及与金属银接触，或具有吸水、吸附湿气特性的绝缘体等条件下，银离子从初始位置发生移动至对极区域内再沉淀的过程，该过程极易导致电极短路等问题，因此研究测试导电银浆的银迁移形态对实验室开发导电银浆产品十分重要。

3、申请号为202010254924.x的发明专利公开了一种片式电阻用银导体浆料的银迁移测试方法，提出了一种固态测试银离子迁移的测试方法，它们分别用于高银含量导体浆料和低银含量导体浆料的测试。论述了不同条件下的银离子迁移的不同形态。分析了银离子迁移机理。讨论了电场、温度、湿度、基材和不纯物对银迁移方式的影响。

4、现有技术的测试方法一次只能测试一片基板上的由导电银浆烧结成的银层的银迁移形态，单片测试无法实现多片的同时对比测试，且一片片测试极易导致测试工况的差异而使测试结果不准确，使得单片测试影响因素太大，干扰测试结果。

技术实现思路

1、针对背景技术中的问题，本发明的目的是提供一种可视化导电银浆银迁移测试系统，包括基座、若干测试基板、第一电极连通片、第二电极连通片、图像记录模块和电源模块；

2、所述基座上沿直线方向设有若干测试位，所述测试基板设于所述测试位上，测试前将需要测试的导电银浆烧结成型在所述测试基板的表面上以形成银层；

3、所述第一电极连通片和所述第二电极连通片均可拆卸连接在所述基座上，所述第一电极连通片和所述第二电极连通片横跨各个所述测试位且与各个所述测试基板上的所述银层均电接触；

4、所述基座上设有分别与所述电源模块的正负极电连接的正极点位和负极点位，所述第一电极连通片和所述第二电极连通片可拆卸连接在所述基座上时分别与所述正极点位和所述负极点位电连接；

5、所述图像记录模块用于在测试时实时记录各个所述测试基板上的所述银层的图像，且所述第一电极连通片和所述第二电极连通片与所述图像记录模块的图像采集方向平行设置。

6、较佳的，所述银层包括间隔设置第一银层和第二银层，所述第一银层和所述第二银层分别位于所述测试基板的两侧，所述第一电极连通片和所述第二电极连通片分别与所述第一银层和所述第二银层电接触。

7、较佳的，所述第一电极连通片和所述第二电极连通片分别与所述第一银层和所述第二银层相互远离的一端电接触。

8、较佳的，所述第一电极连通片和所述第二电极连通片通过垂直于其厚度方向的一端面与所述银层电接触。

9、较佳的，所述第一电极连通片至少在其两端设有与其导电连接的第一插脚，所述基座上设有至少两个第一卡槽，各个所述第一插脚分别卡设于各个所述第一卡槽内，所述正极点位设于其中一个所述第一卡槽中且与所述第一插脚电接触；

10、所述第二电极连通片至少在其两端设有与其导电连接的第二插脚，所述基座上设有至少两个第二卡槽，各个所述第二插脚分别卡设于各个所述第二卡槽内，所述负极点位设于其中一个所述第二卡槽中且与所述第二插脚电接触。

11、较佳的，所述正极点位和所述负极点位均为导电簧片。。

12、较佳的，所述电源模块的电压可调。

13、较佳的，所述基座由高密度聚乙烯绝缘材料制成。

14、较佳的，所述测试基板为氧化铝基板。

15、基于相同的构思，本发明还提供一种可视化导电银浆银迁移测试方法，采用上述实施例的可视化导电银浆银迁移测试系统，包括如下步骤：

16、s1：将各个需要测试的所述导电银浆丝网印刷在各个所述测试基板上，将印刷有所述导电银浆的各个所述测试基板进行烘干和烧结制得表面含有所述第一银层和所述第二银层的所述测试基板；

17、s2：将各个所述测试基板分别放置于所述基座的各个所述测试位上；

18、s3：将所述第一电极连通片和所述第二电极连通片安装至所述基座上，且使得所述第一电极连通片和所述第二电极连通片分别与各个所述测试基板上的所述第一银层和所述第二银层电接触；

19、s4：在各个所述测试基板上滴入相同量的去离子水，且使得所述去离子水链接所述第一银层和所述第二银层；

20、s5：打开所述图像记录模块；

21、s6：打开所述电源模块通电；

22、s7：等待所述第一银层和所述第二银层银迁移结束后关闭所述电源模块和所述图像记录模块。

23、本发明由于采用以上技术方案，使其与现有技术相比具有以下的优点和积极效果：

24、1、本发明通过设置基座、若干测试基板、第一电极连通片、第二电极连通片、图像记录模块和电源模块，使得可以实现不同的导电银浆在相同工艺条件下进行银迁移的定量测试对比，相较于单片测试消除了不同测试工况对测试结果的干扰。且通过图像记录模块可以实时记录银迁移图像，能够直观的形成对比数据，可通过银迁移图像直观的定量分析对比各个导电银浆的性能。

25、2、本发明的第一电极连通片和第二电极连通片厚度较薄，且第一电极连通片和第二电极连通片与图像记录模块的图像采集方向平行设置，可大大减小对银层的遮挡，使得图像记录模块可采集到完整的银迁移图像。

技术特征：

1.一种可视化导电银浆银迁移测试系统，其特征在于，包括基座、若干测试基板、第一电极连通片、第二电极连通片、图像记录模块和电源模块；

2.根据权利要求1所述的可视化导电银浆银迁移测试系统，其特征在于，所述银层包括间隔设置第一银层和第二银层，所述第一银层和所述第二银层分别位于所述测试基板的两侧，所述第一电极连通片和所述第二电极连通片分别与所述第一银层和所述第二银层电接触。

3.根据权利要求2所述的可视化导电银浆银迁移测试系统，其特征在于，所述第一电极连通片和所述第二电极连通片分别与所述第一银层和所述第二银层相互远离的一端电接触。

4.根据权利要求2所述的可视化导电银浆银迁移测试系统，其特征在于，所述第一电极连通片和所述第二电极连通片通过垂直于其厚度方向的一端面与所述银层电接触。

5.根据权利要求2所述的可视化导电银浆银迁移测试系统，其特征在于，所述第一电极连通片至少在其两端设有与其导电连接的第一插脚，所述基座上设有至少两个第一卡槽，各个所述第一插脚分别卡设于各个所述第一卡槽内，所述正极点位设于其中一个所述第一卡槽中且与所述第一插脚电接触；

6.根据权利要求5所述的可视化导电银浆银迁移测试系统，其特征在于，所述正极点位和所述负极点位均为导电簧片。

7.根据权利要求1所述的可视化导电银浆银迁移测试系统，其特征在于，所述电源模块的电压可调。

8.根据权利要求1所述的可视化导电银浆银迁移测试系统，其特征在于，所述基座由高密度聚乙烯绝缘材料制成。

9.根据权利要求1所述的可视化导电银浆银迁移测试系统，其特征在于，所述测试基板为氧化铝基板。

10.一种可视化导电银浆银迁移测试方法，其特征在于，采用如权利要求2至6任意一项所述的可视化导电银浆银迁移测试系统，包括如下步骤：

技术总结
本发明公开了一种可视化导电银浆银迁移测试系统及测试方法，包括基座、若干测试基板、第一电极连通片、第二电极连通片、图像记录模块和电源模块；基座上沿直线方向设有若干测试位，测试基板设于测试位上，测试前将需要测试的导电银浆烧结成型在测试基板的表面上以形成银层；第一电极连通片和第二电极连通片均可拆卸连接在基座上，第一电极连通片和第二电极连通片横跨各个测试位且与各个测试基板上的银层均电接触；基座上设有分别与电源模块的正负极电连接的正极点位和负极点位，第一电极连通片和第二电极连通片可拆卸连接在基座上时分别与正极点位和负极点位电连接；图像记录模块用于在测试时实时记录各个测试基板上的银层的图像。

技术研发人员：王凯,李宁,谈启明,朱建业,魏艳彪
受保护的技术使用者：上海匠聚新材料有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15