一种石英晶体振荡器测试装置的制作方法

本技术涉及晶体振荡器测试，尤其是涉及一种石英晶体振荡器测试装置。

背景技术：

1、石英晶体振荡器测试装置是一种用于测试石英晶体振荡器性能的设备。在石英晶体振荡器的应用领域，如通信、计算机、电子等领域，石英晶体振荡器的性能测试是非常重要的。

2、现有技术中，石英晶体振荡器测试装置包括包括底座，底座顶部一侧固定有固定块，固定块顶部固定有固定板，固定板前端开设有限位槽，固定板一侧开设有第二限位槽，固定板内部设置有传动机构，传动机构连接有第三连接杆，第三连接杆另一侧穿过第二限位槽固定有安装座，安装座底部固定有固定箱，固定箱内部设置有电路板，固定箱外壁底部贯穿设置有螺纹孔，螺纹孔内螺纹连接有探针，探针与电路板电性连接。

3、针对上述中的相关技术，发明人认为该测试装置无法测试温度对石英晶体振荡器精度的影响，从而降低了石英晶体振荡器的精度。

技术实现思路

1、为了能够便于工作人员测试温度对石英晶体振荡器精度的影响，从而能够提高石英晶体振荡器的精度，本技术提供一种石英晶体振荡器测试装置。

2、本技术提供的一种石英晶体振荡器测试装置采用如下的技术方案：

3、一种石英晶体振荡器测试装置，包括置放台，所述置放台上设置有箱体，所述箱体的开口处转动设置有密封盖；所述箱体的内壁固定设置有加热管，所述箱体上设置有用于控制温度的温度控制模块以及用于测试石英晶体振荡器的测试模块，石英晶体振荡器放置于箱体内。

4、通过采用上述技术方案，当工作人员需要测试温度对石英晶体振荡器精度的影响时，首先将石英晶体振荡器放置箱体内，随后转动密封盖将箱体进行密封，之后开启加热管，并通过温度控制模块控制加热管的温度，期间再通过测试模块测试不同温度对石英晶体振荡器精度的影响。

5、优选的，所述箱体内滑移有置放板，石英晶体振荡器放置于所述置放板上，所述置放板上固定设置有滑杆，所述箱体的底部内壁固定设置有套管，所述滑杆滑移于所述套管的内腔，所述套管内设有第一弹簧，所述第一弹簧的两端分别固定连接于所述箱体的内壁以及所述滑杆；

6、所述箱体的内壁开设有第一滑槽，所述第一滑槽内滑移有限位块，所述置放板上开设有供所述限位块插接的限位槽，所述限位块上设有斜面；所述第一滑槽内设有用于驱动所述限位块移动的推动组件。

7、通过采用上述技术方案，工作人员首先将石英晶体振荡器放置在置放板上，随后再向下移动置放板，期间置放板带动滑杆压缩第一弹簧进行移动，之后置放板能够通过限位块上的斜面推动限位块移动，当置放板移动至限位块与限位槽相对应的位置时，限位块能够在推动组件的作用下移动插接至限位槽内，从而能够便于工作人员将石英晶体振荡器放置在箱体内。

8、优选的，所述推动组件包括推块以及推动弹簧，所述推块固定设置于所述限位块，所述推动弹簧的两端分别固定连接于所述推块以及所述第一滑槽的内壁。

9、通过采用上述技术方案，置放板与限位块相接触之前，推动弹簧处于正常状态，之后当置放板推动限位块移动时，限位块带动推块压缩推动弹簧移动，之后当置放板移动至限位块与限位槽相对应的位置时，推动弹簧的弹力能够推动限位块插接至限位槽内，从而能够降低限位块与限位槽相插接的难度。

10、优选的，所述密封盖的一端固定设置有转杆，所述转杆转动设置于所述箱体开口处的一端侧壁，所述转杆上固定设置有第一锥齿轮；

11、所述箱体的侧壁开设有第二滑槽，所述第二滑槽与所述第一滑槽相连通，所述第二滑槽内设有螺纹杆以及驱动块，所述螺纹杆螺纹配合于所述驱动块，所述螺纹杆的一端穿设于所述第二滑槽的内壁且延伸至箱体外，所述螺纹杆上固定设置有第二锥齿轮，所述第二锥齿轮与所述第一锥齿轮相啮合；

12、所述驱动块滑移于所述第二滑槽，所述限位块上开设有供所述驱动块插接的驱动槽，所述驱动块靠近所述限位块的一端设有斜面，所述驱动块能够抵接配合于所述驱动槽的内壁。

13、通过采用上述技术方案，当工作人员需要对下一个石英晶体振荡器进行测试时，可打开密封盖，密封盖在转动的过程中带动转杆转动，转杆转动带动第一锥齿轮转动，第一锥齿轮转动带动第二锥齿轮转动，第二锥齿轮转动带动螺纹杆转动，螺纹杆转动带动驱动块向靠近限位块的方向移动，之后驱动块能够通过斜面与限位块上驱动槽的内壁相抵接配合，并推动限位块向远离置放板的位置移动，当限位块移动至远离置放板的位置后，第一弹簧的弹力能够推动置放板以及石英晶体振荡器向靠近箱体的出口方向移动，从而能够便于工作人员取下或放置石英晶体振荡器。

14、优选的，所述置放板上位于石英晶体振荡器的相对两侧均滑移设置有抵接板，所述抵接板上固定设置有支撑杆，所述置放板上开设有供所述支撑杆滑移的第三滑槽；所述第三滑槽内设有第二弹簧，所述第二弹簧的两端分别固定连接于所述支撑杆以及所述第三滑槽的内壁；

15、所述第三滑槽的内壁开设有第四滑槽，所述第四滑槽内滑移有定位杆，所述支撑杆上开设有供所述定位杆插接的定位槽，所述定位杆靠近所述支撑杆的一端设有斜面；所述第四滑槽内设有第三弹簧，所述第三弹簧的两端分别固定连接于所述定位杆以及所述第四滑槽的内壁。

16、通过采用上述技术方案，当工作人员将石英晶体振荡器放置在置放板上后，向靠近石英晶体振荡器的方向移动两个抵接板，直至两个抵接板抵接在石英晶体振荡器上，抵接板移动期间，抵接板带动支撑杆拉伸第二弹簧移动，支撑杆在移动的过程中能够通过定位杆上的斜面，推动定位杆压缩第三弹簧移动，当抵接板抵接在石英晶体振荡器上时，此时定位杆与支撑杆上的定位槽相对应，第三弹簧的弹力能够推动定位杆插接至定位槽内，从而能够提高石英晶体振荡器的稳定性。

17、优选的，所述置放板上滑移设置有抵接杆，所述抵接杆的一端穿设于所述第四滑槽的内壁，且所述定位杆上开设有供所述抵接杆插接的抵接槽，所述抵接杆靠近所述定位杆的一端设有斜面；所述箱体开口处的内壁固定设置有抵接块，所述抵接块上设有斜面，所述抵接杆靠近所述抵接块的一端能够与所述抵接块相抵接配合。

18、通过采用上述技术方案，当工作人员需要更换石英晶体振荡器时，置放板在向箱体的开口处方向移动的过程中，抵接杆能够通过抵接块上的斜面与抵接块发生抵接配合，随后抵接杆向靠近置放板的方向移动，之后抵接杆能够通过斜面与定位杆上抵接槽的内壁相抵接配合，并推动定位杆向远离支撑杆的方向移动，当定位杆移动至远离支撑杆的位置后，第二弹簧的弹力能够拉动支撑杆以及抵接板向远离石英晶体振荡器的方向移动，从而能够降低工作人员更换石英晶体振荡器的难度。

19、优选的，所述抵接杆上设有复位组件，所述复位组件包括复位块以及复位弹簧，所述复位块固定设置于所述抵接杆，所述复位弹簧的两端分别固定设置于所述复位块以及所述置放板的相对两端。

20、通过采用上述技术方案，抵接杆向靠近置放板的位置移动时，抵接杆带动复位块压缩复位弹簧移动，之后当待测试的石英晶体振荡器放置在置放板上后，向下移动置放板，当抵接杆移动至远离抵接块的位置后，复位弹簧的弹力能够推动复位块移动，复位块能够带动抵接杆移动至远离定位杆的位置，从而能够降低支撑杆被定位杆限位的难度。

21、优选的，所述箱体的外侧壁上固定设置有存放板，所述存放板上固定设置有连接板，所述连接板上滑移有限位杆，所述密封盖上开设有供所述限位杆插接的固定槽，所述限位杆靠近所述密封盖的一端设有斜面，所述连接板上还设有用于拉动所述限位杆移动的拉动组件。

22、通过采用上述技术方案，当工作人员转动密封盖将箱体密封时，密封盖能够通过限位杆上的斜面推动限位杆移动，当密封盖转动至限位杆与固定槽相对应的位置时，此时限位杆能够在拉动组件的作用下，移动插接至固定槽内，从而能够降低密封盖向远离箱体开口的方向发生转动的可能性。

23、优选的，所述拉动组件包括拉块以及第四弹簧，所述拉块固定设置于所述限位杆，所述第四弹簧的两端分别固定设置于所述拉块以及所述箱体的侧壁。

24、通过采用上述技术方案，当密封盖推动限位杆移动时，此时限位杆带动拉块拉动第四弹簧进行移动，之后当密封盖转动至限位杆与密封盖上的固定槽相对应的位置时，第四弹簧的弹力能够带动限位杆移动插接至固定槽内，从而能够降低限位杆移动的难度。

25、综上所述，本技术包括以下至少一种有益技术效果：

26、1.当工作人员需要测试温度对石英晶体振荡器精度的影响时，首先将石英晶体振荡器放置箱体内，随后转动密封盖将箱体进行密封，之后开启加热管，并通过温度控制模块控制加热管的温度，期间再通过测试模块测试不同温度对石英晶体振荡器精度的影响；

27、2.工作人员首先将石英晶体振荡器放置在置放板上，随后再向下移动置放板，期间置放板带动滑杆压缩第一弹簧进行移动，之后置放板能够通过限位块上的斜面推动限位块移动，当置放板移动至限位块与限位槽相对应的位置时，限位块能够在推动组件的作用下移动插接至限位槽内，从而能够便于工作人员将石英晶体振荡器放置在箱体内；

28、3.置放板与限位块相接触之前，推动弹簧处于正常状态，之后当置放板推动限位块移动时，限位块带动推块压缩推动弹簧移动，之后当置放板移动至限位块与限位槽相对应的位置时，推动弹簧的弹力能够推动限位块插接至限位槽内，从而能够降低限位块与限位槽相插接的难度。