一种卡座的偏移量监测方法及其系统、检测卡与流程

本发明涉及sim卡，具体涉及一种卡座的偏移量监测方法及其系统、检测卡。

背景技术：

1、现有的sim卡通常有三种规格，同时部分设计需要与sim卡(用户识别卡)对应的卡座兼容psam卡(终端安全控制模块)。由于sim卡和psam卡的芯片接触规格不同，同时兼容上述两种卡对卡座的设计和生产精度要求比单一种卡要高很多，而pcb(印制电路板)生产的工艺误差以及smt(表面组装技术)卡座贴片工艺(在印制电路板基础上进行加工的系列工艺流程的简称)误差均会导致卡座有一定的偏移量。其中，现有对上述卡座的偏移量进行检测的方法主要为：

2、1)直接将对应的标准卡(如sim卡或psam卡)插入对应的卡座并进行功能检测，通过功能检测来判定卡座位置是否有偏移。该方案存在无法将卡座的触点与标准卡的芯片接触不稳定的情况发现出来，如卡座的触点与标准卡的芯片刚好接触到，但其位置不居中，如卡座中的触点(如弹片或弹针)与标准卡的边缘接触。当使用时卡座受到震动会导致接触不良，且无法兼容到标准卡的正负公差，用户使用有公差范围内的标准卡会导致卡插入后其功能不正常。

3、2)插入标准卡后做x光透视检验，但是pcba(印制电路板)贴片后电路和电子元器件在x光下会遮挡影响到x光的成像质量，从而降低了观察判断卡座中的触点(如弹片或弹针)和标准卡的位置关系。

4、3)使用工业ct，除了同样有遮挡成像的现象存在之外，其成像质量虽然会比x光透视检验有所提升，但该方法的成本高昂，不适用于批量检测。

5、因此，针对现有技术的不足有必要进行改进。

技术实现思路

1、本发明主要解决的技术问题是提供一种卡座的偏移量监测方法及其系统、检测卡，以提高所确定卡座的实际位置和/或卡座的偏移量的准确性和稳定性。

2、根据第一方面，一种实施例中提供一种卡座的偏移量监测方法。该偏移量监测方法包括：

3、将检测卡插入与所述检测卡对应的卡座，所述检测卡能够与所述卡座的触点相接触，所述检测卡采集所述检测卡中与所述卡座的触点相接触的位置的电压；其中，所述检测卡包括检测层和用于支撑所述检测层的检测层基板，所述检测层覆盖于所述检测层基板朝向所述卡座的一侧表面，所述检测层用于采集所述电压；

4、基于所述电压，计算得到所述检测卡中与所述卡座的触点相接触的位置的坐标；基于所述检测卡中与所述卡座的触点相接触的位置的坐标得到所述卡座的实际位置的坐标；

5、基于所述卡座的预设安装位置的坐标与所述卡座的实际位置的坐标，计算得到所述卡座偏离所述预设安装位置的偏移量。

6、一实施例中，基于所述电压，计算得到所述检测卡中与所述卡座的触点相接触的位置的坐标，包括：

7、获取所述检测层的宽度和长度，分别获取施加于所述检测层沿长度方向的一端上的第一驱动电压以及施加于所述检测层沿宽度方向的一端上的第二驱动电压；

8、其中，所述检测层沿长度方向的另一端接地，所述检测层沿宽度方向的另一端接地；

9、所述电压包括第一电压和第二电压，所述第一电压是在所述检测层沿长度方向的一端上被施加所述第一驱动电压之后由所述检测层中与所述卡座的触点相接触的位置采集得到的，

10、所述第二电压是在所述检测层沿宽度方向的一端上被施加所述第二驱动电压之后由所述检测层中与所述卡座的触点相接触的位置采集得到的；

11、基于所述检测层的宽度、所述第一驱动电压、所述第一电压以及第一公式计算得到所述检测层中与所述卡座的触点相接触的位置的横坐标；

12、基于所述检测层的长度、所述第二驱动电压、所述第二电压以及第二公式计算得到所述检测层中与所述卡座的触点相接触的位置的纵坐标；

13、其中，

14、所述第一公式是基于以下关系建立的：所述横坐标和所述检测层的宽度的比值与所述第一电压和所述第一驱动电压的比值呈正比；

15、所述第二公式是基于以下关系建立的：所述纵坐标和所述检测层的长度的比值与所述第二电压和所述第二驱动电压的比值呈正比。

16、一实施例中，所述第一公式的表达式为：

17、

18、其中，所述x为所述横坐标，所述width为所述检测层的宽度，所述vx+为所述第一电压，所述vref1为所述第一驱动电压。

19、一实施例中，所述第二公式的表达式为：

20、

21、其中，所述y为所述纵坐标，所述length为所述检测层的长度，所述vy+为所述第二电压，所述vref2为所述第二驱动电压。

22、一实施例中，还包括：在同一坐标系下，将位于所述预设安装位置的所述卡座与位于所述实际位置的所述卡座分别进行显示，和/或，显示所述卡座的实际位置的坐标和/或卡座偏离所述预设安装位置的偏移量。

23、根据第二方面，一种实施例中提供一种卡座的偏移量监测系统。该偏移量监测系统包括：

24、检测卡，所述检测卡包括检测层和用于支撑所述检测层的检测层基板，所述检测层覆盖于所述检测层基板面向卡座的一侧表面，所述检测层用于采集所述检测层中与所述卡座的触点相接触的位置的电压；

25、分析计算部，被配置为基于所述电压，计算得到所述检测卡中与所述卡座的触点相接触的位置的坐标；基于所述检测卡中与所述卡座的触点相接触的位置的坐标得到所述卡座的实际位置的坐标；基于所述卡座的预设安装位置的坐标与所述卡座的实际位置的坐标，计算得到所述卡座偏离所述预设安装位置的偏移量；

26、显示部，被配置为在同一坐标系下将位于所述预设安装位置的所述卡座与位于所述实际位置的所述卡座分别进行显示，和/或，显示所述卡座的实际位置的坐标和/或卡座偏离所述预设安装位置的偏移量。

27、一实施例中，该偏移量监测系统还包括：电源部，用于为所述检测层和所述分析计算部提供电力；所述电源部分别与所述检测层和所述分析计算部电连接。

28、根据第三方面，一种实施例中提供一种检测卡。所述检测卡包括：

29、检测层基板；

30、检测层，所述检测层覆盖于所述检测层基板朝向卡座的一侧表面，用于采集所述检测层中与所述卡座的触点相接触的位置的电压；其中，所述检测层基板用于支撑所述检测层。

31、一实施例中，所述检测层为ito薄膜，其中，所述检测层被划分为多个子检测区域，每个所述子检测区域用于分别采集所述子检测区域中与所述卡座的触点相接触的位置的电压，并将所采集的所述子检测区域中与所述卡座的触点相接触的位置的电压发送至分析计算部。

32、一实施例中，所述检测层由电源部提供电力；所述电源部与所述检测层电连接。所述触点为弹针或弹片。

33、本技术的有益效果是：

34、本偏移量监测方法及其系统，通过将检测卡插入卡座，检测卡能够与卡座的触点相接触，检测卡采集检测卡中与卡座的触点相接触的位置的电压；其中，检测卡包括检测层和用于支撑所述检测层的检测层基板，检测层覆盖于检测层基板朝向卡座的一侧表面，检测层用于采集电压；基于上述电压，计算得到检测卡中与卡座的触点相接触的位置的坐标；基于检测卡中与卡座的触点相接触的位置的坐标得到卡座的实际位置的坐标；基于卡座的预设安装位置的坐标与卡座的实际位置的坐标，计算得到卡座偏离预设安装位置的偏移量。也就是说，上述偏移量监测方法及其系统，可以基于检测卡中与卡座的触点相接触的位置的坐标确定卡座的实际位置的坐标；上述偏移量监测方法及其系统采用的是电阻接触方案(即检测层与卡座的触点相接触)，所确定卡座的实际位置的坐标的准确性高、稳定性强，同时可以直观地对上述偏移量等进行显示，结合软件算法可以实现自动判定偏移量等相关结果；上述偏移量监测方法及其系统操作简单，电路容易实现，可以实现直观的测试需求。