一种超级电容器的老化性能测试方法、装置、设备和存储介质与流程

本发明实施例涉及超级电容器制备，尤其涉及一种超级电容器的老化性能测试方法、装置、设备和存储介质。

背景技术：

1、超级电容器是一种介于双电层电容器与锂离子电池之间的新型储能器件，目前已成为了产业发展的重点研究领域。在制备出超级电容器后，一般会对其进行老化，以增加超级电容器的容量和寿命。因此，如何评价不同老化工序的优劣具有重要的意义。目前，评价混合型超级电容器的老化效果多采用循环寿命测试的方法，但超级电容器的寿命相比于其它储能器件的寿命长，因而循环寿命测试的周期非常长，实用性差。

技术实现思路

1、本发明实施例提供了一种超级电容器的老化性能测试方法、装置、设备和存储介质，可以根据超级电容器多次进行分容处理后的开路电压的差值，确定超级电容器的目标老化性能，缩短超级电容器老化性能的测试周期，提高测试方法的实用性。

2、第一方面，本发明实施例提供了一种超级电容器的老化性能测试方法，该方法包括：

3、获取目标超级电容器；

4、基于至少两个预设分容场景分别对所述目标超级电容器进行分容处理，并检测分容处理后超级电容器的开路电压，得到至少两个分容开路电压；

5、基于各个所述分容开路电压的数值变化差异，确定所述目标超级电容器的目标老化性能测试结果。

6、第二方面，本发明实施例提供了一种超级电容器的老化性能测试装置，该装置包括：

7、超级电容器获取模块，用于获取目标超级电容器；

8、分容开路电压获取模块，用于基于至少两个预设分容场景分别对所述目标超级电容器进行分容处理，并检测分容处理后超级电容器的开路电压，得到至少两个分容开路电压；

9、老化性能测试模块，用于基于各个所述分容开路电压的数值变化差异，确定所述目标超级电容器的目标老化性能测试结果。

10、第三方面，本发明实施例提供了一种计算机设备，该计算机设备包括：

11、一个或多个处理器；

12、存储器，用于存储一个或多个程序；

13、当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现任一实施例所述的超级电容器的老化性能测试方法。

14、第四方面，本发明实施例提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现任一实施例所述的超级电容器的老化性能测试方法。

15、本发明实施例所提供的技术方案，通过获取目标超级电容器；基于至少两个预设分容场景分别对所述目标超级电容器进行分容处理，并检测分容处理后超级电容器的开路电压，得到至少两个分容开路电压；基于各个所述分容开路电压的数值变化差异，确定所述目标超级电容器的目标老化性能测试结果。本发明实施例的技术方案解决了现有技术在对超级电容器的老化性能进行测试时测试的周期长，实用性差的问题，可以根据超级电容器多次进行分容处理后的开路电压的差值，确定超级电容器的目标老化性能，缩短超级电容器老化性能的测试周期，提高测试方法的实用性。

技术特征：

1.一种超级电容器的老化性能测试方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述预设分容场景的数量为两个的情况下，所述基于至少两个预设分容场景分别对所述目标超级电容器进行分容处理，并检测分容处理后超级电容器的开路电压，得到至少两个分容开路电压，包括：

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于各个所述分容开路电压的数值变化差异，确定所述目标超级电容器的目标老化性能测试结果，包括：

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于第一预设分容场景对所述目标超级电容器进行分容处理，包括：

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于第二预设分容场景对所述目标超级电容器进行分容处理，包括：

6.根据权利要求5任一所述的方法，其特征在于，所述第一分容温度和所述第二分容温度的差值小于预设分容温度阈值，所述第一静置温度和所述第二静置温度的差值小于预设静置温度阈值，所述第一静置时长和所述第二静置时长的差值小于预设静置时长阈值。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取目标超级电容器，包括：

8.一种超级电容器的老化性能测试装置，其特征在于，所述装置包括：

9.一种计算机设备，其特征在于，所述计算机设备包括：

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-7中任一所述的超级电容器的老化性能测试方法。

技术总结
本发明实施例公开了一种超级电容器的老化性能测试方法、装置、设备和存储介质，其中，方法包括：获取目标超级电容器；基于至少两个预设分容场景分别对所述目标超级电容器进行分容处理，并检测分容处理后超级电容器的开路电压，得到至少两个分容开路电压；基于各个所述分容开路电压的数值变化差异，确定所述目标超级电容器的目标老化性能测试结果。本发明实施例的技术方案解决了现有技术在对超级电容器的老化性能进行测试时测试的周期长，实用性差的问题，可以根据超级电容器多次进行分容处理后的开路电压的差值，确定超级电容器的目标老化性能，缩短超级电容器老化性能的测试周期，提高测试方法的实用性。

技术研发人员：杨重阳,梁鹏程,吴明霞,夏恒恒,黄廷立
受保护的技术使用者：上海奥威科技开发有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15