一种PMOLED显示屏的缺陷测试方法、电子设备及存储介质与流程

本申请涉及显示屏制造，特别是涉及一种pmoled显示屏的缺陷测试方法、电子设备及存储介质。

背景技术：

1、oled，即有机发光二极管，由于同时具备自发光，不需要背光源、对比度高、厚度薄、视角广、反应速度快、可用于挠曲性面板、使用温度范围广、构造及制程较简单等优异之特性，被认为是下一代的平面显示器新兴应用技术。其根据驱动方式的不同分为主动式oled(amoled)与被动式oled(pmoled)。

2、pmoled显示屏在生产制造的过程中，需要对其的显示功能进行检测。现有技术中，为了检测pmoled显示屏多采用将pmoled显示屏点亮后由测试人员肉眼检测pmoled显示屏的显示功能是否存在缺陷。然而这种测试方式一方面随着测试人员长时间的检测容易导致人眼疲劳，进而造成不良产品遗漏出货，另一方人工检测的检测成本高、效率低。

技术实现思路

1、为了解决现有技术存在的不足，本申请的目的在于提供一种pmoled显示屏的缺陷测试方法、电子设备及存储介质，提高检测pmoled显示屏的效率。

2、为实现上述目的，本申请提供一种pmoled显示屏的缺陷测试方法，包括：

3、使用ccd相机获取在测试距离处良好的pmoled显示屏所显示的测试画面，所述测试画面显示有检测标识，制作所述测试画面中包括所述检测标识的部分画面为对位模板画面；

4、使用ccd相机获取在测试距离处待测试的pmoled显示屏所显示的测试画面，使用与所述对位模板画面尺寸相同的窗口在所述测试画面中按像素移动，获得若干窗口画面；

5、对所述若干窗口画面和所述对位模板画面进行ncc匹配，确定所述若干画面中与所述对位模板画面最匹配的窗口画面、最匹配的窗口画面的位置坐标及角度；

6、基于对模板画面的位置坐标及角度，所述最匹配的窗口画面、最匹配的窗口画面的位置坐标及角度，对所述最匹配的窗口画面进行矩阵转换得到待检测画面；

7、将所述待检测画面与所述对位模板画面进行像素对比，确定显示差异像素点。

8、进一步地，所述方法还包括：若ccd相机获取的测试画面为rgb图像，则先进行灰度转化，再制作对位模板画面。

9、进一步地，所述对所述若干窗口画面和所述对位模板画面进行ncc匹配，确定所述若干画面中与所述对位模板画面最匹配的窗口画面、最匹配的窗口画面的位置坐标及角度的具体步骤包括：

10、使用如下公式计算每一窗口画面与对位模板画面的ncc值：

11、其中f(x,y)为窗口画面位置(x,y)处像素的灰度值，t(x,y)为对位模板画面位置(x,y)处像素的灰度值，μf为窗口画面所有像素灰度值的平均值，μt为对位模板画面所有像素灰度值的平均值，σf为窗口画面所有像素的灰度值的标准方差，σt为对位模板画面所有像素的灰度值的标准方差，n为对位模板画面的像素总数；

12、取与对位模板画面ncc值最大的窗口画面作为最匹配的窗口画面，并将对应窗口的位置坐标及角度作为所述最匹配的窗口画面的位置坐标及角度。

13、进一步地，所述将所述待检测画面与所述对位模板画面进行像素对比，确定显示差异像素点的具体步骤包括：

14、将所述待检测画面与所述对位模板画面进行差值化处理，并将差值化后的像素点进行灰度值绝对值化，将灰度值绝对值大于预设值的像素点作为显示差异像素点。

15、进一步地，所述方法还包括：

16、将所述显示差异像素点进行阈值分割，和所述待检测画面共同显示。

17、进一步地，所述方法还包括：

18、在进行像素对比前，对待检测画面进行归一化与去噪处理，以将噪声在检测前期滤除。

19、进一步地，所述方法还包括：

20、基于所述显示差异像素点，评估所述待测试的pmoled显示屏。

21、进一步地，所述检测标识为与测试画面背景对比度明显的字符或图案。

22、为实现上述目的，本申请提供的电子设备，包括：

23、处理器；

24、存储器，其上存储有一个或多个在所述处理器上运行的计算机指令；

25、所述处理器运行所述计算机指令时，执行如上所述的pmoled显示屏的缺陷测试方法的步骤。

26、为实现上述目的，本申请提供的计算机可读存储介质，其上存储有计算机指令，当计算机指令被处理器运行时，执行如上所述的pmoled显示屏的缺陷测试方法的步骤。

27、本申请的一种pmoled显示屏的缺陷测试方法，利用cdd相机获取的待测pmoled显示屏显示的测试画面，去确定显示屏中的与正常显示屏显示的测试画面相比的显示差异像素点，进而能够完成对pmoled显示屏自动化、标准化的检测，检测成本低。检测效率高。

28、本申请的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本申请而了解。

技术特征：

1.一种pmoled显示屏的缺陷测试方法，包括：

2.根据权利要求1所述的pmoled显示屏的缺陷测试方法，其特征在于，所述方法还包括：

3.根据权利要求1所述的pmoled显示屏的缺陷测试方法，其特征在于，所述对所述若干窗口画面和所述对位模板画面进行ncc匹配，确定所述若干画面中与所述对位模板画面最匹配的窗口画面、最匹配的窗口画面的位置坐标及角度的具体步骤包括：

4.根据权利要求1所述的pmoled显示屏的缺陷测试方法，其特征在于，所述将所述待检测画面与所述对位模板画面进行像素对比，确定显示差异像素点的具体步骤包括：

5.根据权利要求1所述的pmoled显示屏的缺陷测试方法，其特征在于，所述方法还包括：

6.根据权利要求1所述的pmoled显示屏的缺陷测试方法，其特征在于，所述方法还包括：

7.根据权利要求1所述的pmoled显示屏的缺陷测试方法，其特征在于，所述方法还包括：

8.根据权利要求1所述的pmoled显示屏的缺陷测试方法，其特征在于，所述检测标识为与测试画面背景对比度明显的字符或图案。

9.一种电子设备，其特征在于，包括：

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，其上存储有计算机指令，当计算机指令被处理器运行时，执行权利要求1至8任一项所述的pmoled显示屏的缺陷测试方法的步骤。

技术总结
本申请涉及显示屏保护领域，特别是涉及一种PMOLED显示屏的缺陷测试方法、电子设备及存储介质。所述方法包括：获取在测试距离处良好的PMOLED显示屏所显示的测试画面，所述测试画面显示有检测标识，制作对位模板画面；获取在测试距离处待测试的PMOLED显示屏所显示的测试画面，使用与所述对位模板画面尺寸相同的窗口在所述测试画面中按像素移动，获得若干窗口画面；进行NCC匹配，确定所述若干画面中与所述对位模板画面最匹配的窗口画面、最匹配的窗口画面的位置坐标及角度；对所述最匹配的窗口画面进行矩阵转换得到待检测画面；将所述待检测画面与所述对位模板画面进行像素对比，确定显示差异像素点。本申请的方法能对PMOLED显示屏自动化、标准化的检测，检测效率高。

技术研发人员：蒲大杭
受保护的技术使用者：信利光电股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15