一种半导体制冷片的工作性能测试装置

本发明涉及制冷片，具体涉及一种半导体制冷片的工作性能测试装置。

背景技术：

1、半导体制冷片，也叫热电制冷片，它的优点是没有滑动部件，应用在一些空间受到限制，可靠性要求高，无制冷剂污染的场合，利用半导体材料的peltier效应，当直流电通过两种不同半导体材料串联成的电偶时，在电偶的两端即可分别吸收热量和放出热量，可以实现制冷的目的，它是一种产生负热阻的制冷技术，其特点是无运动部件，可靠性也比较高。

2、半导体制冷片在出厂时需要做好工作性能的测试，其中包括制冷功率、制冷温差、能耗、噪音水平以及可靠性和寿命等性能的测试，其中温差测试的方法为：首先设定初始温度差，然后在测试装置中安装两个温度传感器，一个放置在制冷侧(冷端)，另一个放置在热侧(热端)，然后启动制冷片，并等待一段时间，以使其达到稳定工作状态，然后使用温度传感器测量制冷侧和热侧的温度，记录下两个传感器的温度值并计算温度差，即热侧温度减去制冷侧温度的差值，如授权号为cn 210464704 u的中国专利公开的一种半导体制冷片温差测试装置，其通过散热器进行制冷片固定座的散热，避免影响后续半导体制冷片的检测，提升测试环境的稳定性和统一性，通过风扇开关控制风扇，进行散热器的强制送风制冷，但是在温差测试中，一般需要保持风扇持续运行，以确保散热效果的稳定和准确性，而风扇长时间运行后自身会产生热量，且该装置风扇、散热器与制冷片较近，风扇运行产生的热量会在热传递的作用下传到制冷片附近干扰温差测试，对其结果造成影响。

3、为了解决上述问题，本发明中提出了一种半导体制冷片的工作性能测试装置。

技术实现思路

1、本发明的目的在于克服现有技术的不足，适应现实需要，提供一种半导体制冷片的工作性能测试装置，以解决上述技术问题。

2、为了实现本发明的目的，本发明所采用的技术方案为：

3、一种半导体制冷片的工作性能测试装置，包括测试台，所述测试台的上表面固定连接有测试组件，所述测试台的一侧固定连接有散热组件，所述测试台的内部设置有与散热组件相连通的连通管，所述测试台的上表面开设有用于气流通过的通孔，所述连通管用于散热组件远距离对制冷片进行散热。

4、进一步地，所述散热组件包括与测试台一侧固定连接的安装管，所述安装管的内壁固定连接有风扇，所述安装管贯穿测试台的内壁并与连通管相连通。

5、进一步地，所述测试台的内壁固定连接有呈l型的隔板，所述连通管贯穿隔板的内壁，所述测试台与隔板相对应的一侧内壁开设有出风口。

6、进一步地，所述测试台包括箱体，所述箱体的上表面固定连接有顶盖，所述顶盖的上表面转动连接有转动座，所述转动座的两端均固定连接有放置盒，所述放置盒的内底壁开设有散热孔。

7、进一步地，所述转动座的下表面固定连接有转动轴，所述转动轴的底端贯穿顶盖的下表面，所述顶盖的下表面固定连接有限位环，所述限位环的内壁滑动连接有第一齿条，所述转动轴的表面固定连接有第一齿轮，所述第一齿轮与第一齿条啮合，所述限位环的一侧固定连接有第一电动推杆，所述第一电动推杆的输出端贯穿限位环的内壁并与第一齿条的一端固定连接。

8、进一步地，所述测试组件包括与顶盖上表面固定连接的支撑板，所述支撑板的背面固定连接有滑轨，所述滑轨的表面滑动连接有滑块，所述滑块的背面固定连接有安装板，所述安装板的背面分别固定连接有两个支撑杆，两个所述支撑杆的底端分别固定连接有正极压块和负极压块，所述正极压块与负极压块配合将制冷片通电，两个所述支撑杆的相对面固定连接有上固定板，所述上固定板的下表面固定连接有上温度传感器，所述隔板的内壁固定连接有下固定板，所述下固定板的上表面固定连接有下温度传感器，所述支撑板的背面固定连接有第二电动推杆，所述第二电动推杆的输出端与安装板的正面固定连接，所述支撑板的正面设置有显示屏，所述测试台的内部设置有控制器。

9、进一步地，所述安装管的内壁固定连接有过滤网。

10、进一步地，所述箱体的内壁固定连接有滑杆，所述滑杆的表面滑动连接有滑动部，所述滑动部上设置有清扫过滤网上灰尘的清洁部，所述箱体的一侧设置有收集箱，所述收集箱靠近箱体的一侧开设有避让口，所述收集箱内设置有水。

11、进一步地，所述滑动部为第二齿条，且第二齿条贯穿箱体的一侧，所述转动轴的底端固定连接有传动轴，所述连通管上开设有直孔，且直孔的内壁固定连接有固定环，所述传动轴的表面与固定环的内壁转动连接，所述传动轴的底端固定连接有第二齿轮，所述第二齿轮与第二齿条啮合。

12、进一步地，所述清洁部包括与第二齿条一侧转动连接的固定轴，所述固定轴的表面固定连接有安装筒，所述安装筒的表面固定连接有刷毛，所述第二齿条远离固定轴的一侧固定连接有固定盒，所述固定轴的一端贯穿第二齿条的另一侧并与固定盒的内壁转动连接，所述固定盒的内部设置有卷簧，所述卷簧的一端与固定轴的表面固定连接，所述卷簧的另一端与固定盒的内壁固定连接，所述固定轴的表面固定连接有拉绳，且拉绳绕卷在固定轴的表面，所述拉绳的另一端与箱体的内壁固定连接，所述固定轴的一端固定连接有限位块。

13、进一步地，一种半导体制冷片的工作性能测试装置的测试方法，首先在前侧的放置盒内安放好制冷片，然后启动第一电动推杆，第一电动推杆的输出端带动第一齿条移动，第一齿条带动第一齿轮转动度，第一齿轮带动转动轴转动，转动轴带动转动座转动，转动座使前后两个放置盒的位置对调，然后将下一个制冷片安放在前侧的放置盒内并启动第二电动推杆，第二电动推杆的输出端带动安装板向下移动，安装板带动支撑杆、正极压块和负极压块向下移动，正极压块与负极压块与制冷片的引脚接触后对制冷片通电，同时上温度传感器测量制冷片冷面的温度，下温度传感器测量制冷片热面的温度，控制器读取上温度传感器和下温度传感器测量到的温度值，并将其传递给显示屏进行显示，待读数稳定后，使用者可判断出该制冷片是否符合表面，然后再次启动第一电动推杆，使得测量后的制冷片移动至前侧，使用者根据读数将其分拣，以同样的方式对所有的制冷片进行测试；在此过程中，风扇启动，风扇在连通管的配合下对制冷片进行散热，由于散热组件安装在测试台的外部，因此减少风扇工作时产生的热量向制冷片附近传递，同时较长的连通管还能够使由于风扇产生的热量而升温的气流，顺着连通管流动时与箱体内空气进行热交换，减少其对制冷片的干扰，利用隔板，将箱体内进行热交换的部分空气隔离，减少其对制冷片的干扰，进而减少了由于散热组件工作时发热对制冷片产生的影响；风扇工作的过程中利用过滤网避免空气的灰尘进入安装管内并附着在风扇的扇叶上，减少了风扇的耗能，进而减少其工作时产生的热量，同时转动轴转动时带动传动轴转动，传动轴带动第二齿轮转动，第二齿轮带动第二齿条在滑杆的支撑下移动，第二齿条带动清洁部前后移动对过滤网进行清洁，避免因过滤网堵塞使得空气流动不畅，造成风扇耗能增大，致使其工作时产生热量增加，进而能够降低散热组件工作时产生的热量，减少散热组件发热对制冷片温差测试的干扰；当清洁部向前侧移动时，使得拉绳开卷，进而使固定轴克服卷簧的阻力发生转动，固定轴带动安装筒和刷毛转动，当清洁部向后侧移动时，卷簧复位带动固定轴反向转动并对拉绳收卷，固定轴带动安装筒和刷毛转动，利用刷毛转动，提高清洁部的清洁效果，从而使该半导体制冷片的工作性能测试装置解决了现有技术中散热装置工作时本身发生容易干扰制冷片温差测试结果的问题。

14、有益效果：

15、1、本发明中，通过将散热组件安装在测试台的外部，能够减少风扇工作时产生的热量向制冷片附近传递，通过设置连通管，将气流引导至制冷片的下方，通孔的配合下，对制冷片进行散热，同时较长的连通管能够使由于风扇产生的热量而升温的气流，顺着连通管流动时与箱体内空气进行热交换，减少其对制冷片的干扰，通过设置隔板，将箱体内进行热交换的部分空气隔离，减少其对制冷片的干扰，进而减少了由于散热组件工作时发热对制冷片产生的影响。

16、2、本发明中，通过第一电动推杆的输出端带动第一齿条移动，进而带动第一齿轮转动180度，进而带动转动轴转动，进而带动转动座转动，进而使前后两个放置盒的位置对调，使其中一个进行测试，进一个由工作人员取下测试后的制冷片，并安放下一个制冷片，提高工作的效率。

17、3、本发明中，通过设置过滤网，避免空气的灰尘进入安装管内并附着在风扇的扇叶上，减少了风扇的耗能，进而减少其工作时产生的热量，通过转动轴带动传动轴转动，进而带动第二齿轮转动，进而带动第二齿条在滑杆的支撑下移动，进而带动清洁部前后移动对过滤网进行清洁，避免因过滤网堵塞使得空气流动不畅，造成风扇耗能增大，致使其工作时产生热量增加，进而能够降低散热组件工作时产生的热量，减少散热组件发热对制冷片温差测试的干扰。

18、4、本发明中，通过清洁部向前侧移动，使得拉绳开卷，进而使固定轴克服卷簧的阻力发生转动，进而带动安装筒和刷毛转动，通过清洁部向后侧移动，卷簧复位带动固定轴反向转动并对拉绳收卷，进而带动安装筒和刷毛转动，通过刷毛转动，提高清洁部的清洁效果。