一种弹上信息处理嵌入式计算机的测试系统及测试方法与流程

本发明属于嵌入式计算机的测试领域，尤其涉及一种弹上信息处理嵌入式计算机的测试方法。

背景技术：

1、在未来战争中，弹上信息处理嵌入式计算机(以下简称“被测产品”)是导弹或反导武器系统中最重要的武器装备之一，其研制、生产、使用、作训、维护、维修、保养均需要使用综合测试系统,保证其安全、可靠。测试系统是检测产品质量的重要手段，是研制厂家、用户必不可少的设备。

2、在研制过程中，产品调试、整机测试，出厂检测、验收交付，环境试验等环节，均需要测试系统来保证产品性能。现有基于pxi平台的测试系统具有测试效率高、自动化水平高、可靠度高及操作柔性化等特点，该技术在电子产品设计、生产、测试和检验中得到了大范围的应用。

3、根据弹上信息嵌入式计算机产品的特点，产品的测试按照产品规范和调试细则可以分为阻抗测试、功能测试和性能测试。

4、阻抗测试：测试被测产品对外接口的电阻值，包括绝缘性测试，导通性测试，阻抗值测试，其中绝缘性测试的电阻值一般要求大于20mω，导通性测试的电阻值一般要求小于1ω，阻抗值测试的电阻值的要求按照设计的电阻值及相应的电路特性确定，一般为范围值，设计值的±10％。

5、功能测试：测试被测产品的功能，按照实际的对外接口形式进行相应的功能测试，包括但不限于rs422通信功能测试、rs485通信功能测试、1553b通信功能测试、输入开关量功能测试、输出开关量功能测试等。

6、性能测试：在功能测试的基础之上，增加对信号的幅值电压、波形频率、时钟信号与数据信号时序关系波形等的测试，同时可以实时的观测和记录信号的质量信息，波形是否存在毛刺、干扰等信息。包括但不限于通信时钟信号的频率及幅值、通信数据信号的脉宽及幅值、开关量信号的高/低电平的幅值及脉宽等。一般情况下，都是在运行功能测试的情况下，进行性能测试，所以性能测试包含功能测试。在特殊的情况下，也可以直接进行性能测试，测试默认信号的波形、幅值等。

7、现有测试方案只能自动进行功能测试，阻抗测试和性能测试需要借助示波器和万用表加上转接盒进行人工测试，人工测试阻抗和性能效率较低，且测试人员需要有一定的测试能力和背景知识。

8、现有测试系统的方案如图1所示，测试系统硬件上由pxi控制器、pxi机箱、功能测试板卡和测试线缆组成。其中功能测试板卡包括rs422通信板卡、rs485通信板卡、开关量板卡、1553b通信板卡和光纤通信板卡等，根据被测产品的相应接口功能，需要适当的增加或减少相应板卡。功能测试板卡和pxi控制器均放置于pxi机箱内部，测试系统内部使用pxi总线进行连接，测试线缆用于连接被测产品和测试系统。

9、现有技术方案在产品测试中存在如下缺陷：

10、1.仅能自动进行功能测试，阻抗测试和性能测试需要人工测试；

11、2.测试效率较低，在调试、所检及验收测试中，不能自动测试阻抗测试和性能侧测试。

技术实现思路

1、为了解决上述现有技术方案在产品测试中存在的缺陷，本发明提出了一种弹上信息处理嵌入式计算机的测试系统的解决方案，实现弹上信息处理设备的阻抗测试、功能测试和性能测试，应用于被测产品的应力筛选试验、环境试验等试验场景和调试、所检、验收等场景，可提高测试的通用化、自动化、智能化，缩短测试时间，降低设备开发、人工及试验成本。

2、本发明提供一种弹上信息处理嵌入式计算机的测试系统，包括pxi控制器、pxi机箱、功能测试板卡和测试线缆，所述功能测试板卡和所述pxi控制器均放置于所述pxi机箱内部，所述测试系统内部使用pxi总线进行连接，所述测试线缆用于连接被测产品和测试系统，所述测试系统还包括示波器板卡、万用表板卡、矩阵开关切换板卡和测试信号切换调理单元，所述矩阵开关切换板卡用于将示波器信号和万用表信号切换至被测产品的相应信号中，所述测试信号切换调理单元包括开关及控制部分和自检电路部分，其中开关的数量由被测产品的信号数量决定，每个信号的测试状态切换通过2个单刀双掷开关控制，即所需开关数量为被测产品的信号数量乘以2。

3、进一步地，所述功能测试板卡包括rs422通信板卡、rs485通信板卡、开关量板卡、1553b通信板卡和/或光纤通信板卡。

4、进一步地，所述开关包括带控制功能的单刀双掷继电器，或带控制功能的模拟多路开关电路。

5、本发明还提供一种弹上信息处理嵌入式计算机的测试方法，应用于上述的一种弹上信息处理嵌入式计算机的测试系统上，对所述测试系统进行性能测试，断开被测产品端相关电路，将所述测试信号切换调理单元的切换开关功能测试端信号a_x01连接至测试系统自检电路信号d_x01，将所述测试信号切换调理单元的切换开关性能测试端信号b_x01连接至测试系统自检电路信号d_x01，对所述测试系统的电路进行功能和性能测试。

6、本发明还提供一种弹上信息处理嵌入式计算机的测试方法，应用于上述的一种弹上信息处理嵌入式计算机的测试系统上，对被测产品进行阻抗测试和对所述测试系统进行功能测试，断开所述测试系统功能测试端电路，将所述测试系统性能测试端的电路接入至所述被测产品，将所述测试信号切换调理单元的切换开关功能测试端信号a_x01连接至测试系统自检电路信号d_x01，将所述测试信号切换调理单元的切换开关性能测试端信号b_x01连接至被测产品信号c_x01，利用所述测试系统性能测试中的万用表板卡来实现被测产品的阻抗测试，同时实现所述测试系统的功能测试。

7、本发明还提供一种弹上信息处理嵌入式计算机的测试方法，应用于上述的一种弹上信息处理嵌入式计算机的测试系统上，对被测产品进行功能测试和对所述测试系统自检电路进行阻抗测试，断开所述测试系统功能测试端电路，将所述测试系统性能测试端的电路接入至被测产品，将所述测试信号切换调理单元的切换开关功能测试端信号a_x01连接至被测产品信号c_x01，将所述测试信号切换调理单元的切换开关性能测试端信号b_x01连接至测试系统自检电路信号d_x01。

8、本发明还提供一种弹上信息处理嵌入式计算机的测试方法，应用于上述的一种弹上信息处理嵌入式计算机的测试系统上，对被测产品进行性能测试，所述测试系统功能测试端电路连至被测产品，将所述测试系统性能测试端的电路接入至被测产品，将所述测试信号切换调理单元的切换开关功能测试端信号a_x01连接至被测产品信号c_x01，将所述测试信号切换调理单元的切换开关性能测试端信号b_x01连接至被测产品信号c_x01，所述测试系统功能测试部分和性能测试部分接入被测产品，实现对测试产品的性能测试。

9、本发明的测试系统架构上增加示波器卡和万用表卡，借助矩阵开关的切换，可以将示波器和万用表信号切换至被测产品的相应信号中。测试信号切换调理单元中的切换电路为本发明的核心，可以将对测试类型进行切换，切换为被测产品的阻抗测试、功能测试和性能测试。测试信号切换调理单元中的自检电路为本发明的特色，该电路可以在测试系统的自检、校准中发挥巨大优势，实现对测试系统的阻抗测试、功能测试和性能测试。

10、通过本发明设计的测试系统不仅可以实现对被测产品的阻抗测试、功能测试和性能测试，提升测试自动化水平和测试效率。又可以实现对测试系统的阻抗测试、功能测试和性能测试，提升测试系统自身的自检和校准能力，缩短排除故障和缩短设备校准测试时间。