一种红外遥控接收芯片的Multi-SiteCP测试系统的制作方法

本技术涉及芯片测试，具体涉及一种红外遥控接收芯片的multi-site cp测试系统。

背景技术：

1、晶圆cp(chipprobing)测试是指芯片在wafer阶段，通过集成电路测试机连接探针卡，探针卡的探针直接与芯片上的焊垫接触，来完成对芯片的功能和性能的测试。

2、红外遥控器成本低廉、功耗低、连接方便、简单易用，在很多小型移动设备中得到了广泛的应用。目前，红外遥控器是家用电器的标准部件，电视机、机顶盒、音频功放、电风扇、空调等家用电器设备的所有功能都可以通过红外遥控器来控制。由于当前红外遥控接收芯片市场竞争激烈，要求对此类芯片的性能更好且更廉价的产品来占领市场，便对此类芯片的测试方案和成本控制有了更高的要求。

3、该红外遥控接收芯片具有宽电源电压、高灵敏度、较好的噪声抑制以及较强的抗外部光源和电源纹波的干扰能力。该芯片可以选择4种不同的载波频率(36.7khz、37.9khz、40khz、56.7khz)，而且为了保证中心频率的准确度，在cp测试中，通过芯片内部的fuse位来对中心频率进行trimming，使中心频率具有更高的精度和一致性。

4、现有市面上较成熟的测试方案(cn201910705319.7)为集成电路测试机直接控制红外发光二极管发出红外光信号，通过光敏二极管将接收到的红外光信号转化为电信号传输给红外遥控接收芯片，芯片收到信号后通过芯片内部电路进行解调，然后将解调信号波形传输给集成电路测试机做出判定，从而区分出良品和坏品。该技术方案用到红外光信号，容易受外界条件干扰，比如环境中的光线干扰，site与site间的红外光信号相互干扰，此时需要对每个site的抗干扰屏蔽做的非常好，通常需要专门针对每个site做一个屏蔽盒进行屏蔽外界信号干扰，另外屏蔽盒在探针卡上很占用空间，最多只能实现4site测试，而且site与site之间的一致性很难保证。

技术实现思路

1、为了解决现有技术中的问题，本实用新型提供提供一种红外遥控接收芯片的multi-site cp测试系统，大大提升了红外遥控接收芯片的cp测试效率，从而降低cp测试成本。

2、本实用新型的测试方案为，经过信号衰减电路将毫伏级的载波频率的方波信号传输至芯片的输入引脚in，然后把信号送到红外遥控接收芯片内部的放大电路进行放大，限幅放大电路在放大信号的同时又把脉冲幅度控制在一定的水平。交流信号进入带通滤波器，带通滤波器滤除中心频率外频率的噪声，出来的信号通过解调电路和积分电路进入比较器，比较器输出高低电平，还原出发射端的二进制信号波形。最终将二进制信号波形传输给集成电路测试机做出判定，从而区分出良品和坏品。

3、实现本实用新型目的的技术方案为：

4、一种红外遥控接收芯片的multi-site cp测试系统，所述系统包括：集成电路测试机、探针卡、微信号处理电路和信号衰减电路，所述集成电路测试机分别连接探针卡、微信号处理电路和信号衰减电路。

5、进一步的，所述集成电路测试机的测试通道连接探针卡的输入/输出端口。

6、进一步的，所述探针卡的探针连接红外遥控接收芯片内的焊垫，探针卡的输入/输出端口连接集成电路测试机的测试通道。

7、进一步的，信号衰减电路，所述至少一个信号衰减电路的输出端口连接至少一个红外遥控接收芯片的输入引脚in，并分别每个site一一对应连接，集成电路测试机的测试通道输出载波频率的方波信号经过信号衰减电路输出端口到芯片的输入引脚in。

8、进一步的，所述信号衰减电路包括：双刀双掷继电器k1，第一电阻r1，第二电阻r2，第一电容c1，所述双刀双掷继电器k1的公共端连接集成电路测试机测试通道ch1，常闭端连接所述第一电阻r1，常开端连接红外遥控接收芯片的输入管脚in，所述第一电阻r1连接所述第二电阻r2再连接红外遥控接收芯片的地和连接所述第一电容c1再连接红外遥控接收芯片的输入管脚in。

9、进一步的，微信号处理电路，所述至少一个微信号处理电路输入口连接至少一个红外遥控接收芯片的输出引脚t2_pad，并分别每个site一一对应连接，红外遥控接收芯片输出的交流信号通过微信号处理电路后转化成直流信号，再传输给集成电路测试机进行判定，从而区分出良品和坏品。

10、进一步的，所述微信号处理电路包括：第一运算放大器u1，第二运算放大器u2，第三rms-to-dc高精度带宽转换器u3，第三电阻r3，第四电阻r4，第四电容c4，第五电容c5，第六电容c6，第七电容c7，集成电路测试机测试通道ch3并联所述第三电阻r3串联所述第四电阻r4到地和所述第一运算放大器u1的输出引脚，所述第三电阻r3串联所述第四电阻r4中间点连接所述第一运算放大器u1的差分信号负输入引脚，所述第一运算放大器u1的差分信号正输入引脚连接所述第三rms-to-dc高精度带宽转换器u3的输出引脚，所述第三rms-to-dc高精度带宽转换器u3的输入引脚串联第四电容c4后再并联到所述第二运算放大器u2的差分信号负输入引脚和输出引脚，所述第二运算放大器u2的差分信号正输入引脚连接所述红外遥控接收芯片的测试管脚t2。

11、进一步的，所述集成电路测试机的型号为eva100测试机、s50测试机、chroma3360p测试机、chroma3380d测试机或tqt510s测试机中的一种。

12、本实用新型的有益效果为：

13、1、现有技术方案用到红外光信号，容易受外界条件干扰，比如环境中的光线干扰，site与site间的红外光信号相互干扰，此时需要对每个site的抗干扰屏蔽做的非常好，通常需要专门针对每个site做一个屏蔽盒进行屏蔽外界信号干扰，另外屏蔽盒在探针卡上很占用空间，最多只能实现4site测试，而且site与site之间的一致性很难保证。本实用新型直接采用的电信号，测试电路简单，对集成电路测试机的硬件资源要求也大大降低，site与site之间几乎没有相互干扰的问题，同测数可以满足8site以上，大大降低了cp测试成本。

14、2、本实用新型提供的红外遥控接收芯片的multi-site cp测试系统，芯片在trimming模式下，经过信号衰减电路将毫伏级的载波信号传输至芯片的输入引脚in，然后从芯片t2引脚输出的信号为交流信号，此时需要用到微信号处理电路，将交流信号转换成直流信号，市面上大部分集成电路测试机不支持直接测试交流信号的能力，将交流信号转换成直流信号后对集成电路测试机的硬件资源要求大大降低，对集成电路测试机选型就没有太多局限。

15、3、本实用新型提供的红外遥控接收芯片的multi-site cp测试系统中，集成电路测试机的测试通道连接红外遥控接收芯片的输入引脚并向红外遥控接收芯片的输入引脚输出载波频率的方波信号，相对于现有技术，抗干扰性和site与site间的一致性更好，既保证了芯片的品质，还降低了测试成本。另外，将毫伏级弱载波频率的方波信号经过信号衰减电路输入到红外遥控接收芯片，红外遥控接收芯片的测试引脚输出交流信号通过微信号处理电路连接集成电路测试机，将对红外遥控接收芯片输出的弱交流信号转变为直流信号测试，对集成电路测试机的硬件资源要求降低，有更多的集成电路测试机选择，并能满足更多的site测试，所需测试时间更短，测试效率更高，从而测试成本更低。