本技术涉及半导体参数分析仪,尤其涉及一种便携式多功能半导体参数分析仪。
背景技术:
1、半导体参数测试系统是一款功能全面、配置灵活的半导体器件电学特性分析设备,在一个系统中实现了电流电压(iv)测试、电容电压(cv)测试、脉冲式iv测试、任意线性波形发生与测量、高速时域信号釆集以及低频噪声测试能力;
2、在对其进行使用的时候,因为其本身体积一般,有的将其直接放置到桌面上进行使用,有的时候,需要将其放置在支架上使用,导致在对设备进行使用的时候,需要一直通过外界结构辅助支撑才能方便工作人员的使用。
3、因此,针对该问题,本实用新型出了便携式多功能半导体参数分析仪。
技术实现思路
1、为了解决上述问题,本实用新型提出一种便携式多功能半导体参数分析仪,以更加确切地解决上述所述问题。
2、本实用新型通过以下技术方案实现的:
3、便携式多功能半导体参数分析仪,包括设备主体,所述设备主体的底部设置有底座,所述底座的底部设置有回形板,所述底座内设置有支撑机构;所述支撑机构包括与设备主体底部进行固定的第一转动件和第二转动件,所述第一转动件和第二转动件的底部交错设置有可伸缩的支撑件,所述支撑件用于调节支撑高度。
4、进一步的,所述支撑件包括套筒和在套筒的内壁处滑动连接的支杆,所述支杆的表面排列开设有多个插孔,所述套筒的表面处设置有螺母,所述螺母贯穿至插孔内。
5、进一步的,所述第一转动件包括与设备主体底部进行固定的连接座一,所述连接座一的表面固定连接有连接杆一,所述连接杆一的表面套接有转动座一,所述转动座一的端部与套筒固定。
6、进一步的,所述第二转动件包括与设备主体底部进行固定的连接座二,所述连接座二的表面固定连接有连接杆二,所述连接杆二的表面套接有转动座二,所述转动座二的端部与套筒固定。
7、进一步的,所述支杆的端部安装有支撑板,所述支撑板处安装有防滑纹,所述支杆的表面处安装有螺栓,所述螺母和螺栓螺纹连接。
8、进一步的,所述转动座一的表面安装有锁紧螺栓,所述连接杆一的表面分别开设有当螺栓处于底部和侧边时用于贯穿的孔洞一。
9、进一步的,所述转动座二的表面安装有锁紧螺栓,所述连接杆二的表面分别开设有当螺栓处于底部和侧边时用于贯穿的孔洞二。
10、进一步的,所述设备主体的表面安装有显示屏,所述设备主体相对于显示屏的一侧安装有操作按钮,所述设备主体的两侧顶部开设有缺口,所述缺口的内壁处转动连接有活动把手。
11、本实用新型的有益效果:
12、本实用新型通过设置的第一转动件、第二转动件和支撑件,使得在对设备进行使用的时候,可以通过对支撑件的转动,然后对其进行限位,进而达到支撑的作用,在不需要进行使用的时候,可以将支撑件收纳至底座内,便于对设备的携带,使得整个设备在进行使用的时候功能性更加全面。
1.一种便携式多功能半导体参数分析仪,包括设备主体,其特征在于,所述设备主体的底部设置有底座,所述底座的底部设置有回形板,所述底座内设置有支撑机构;所述支撑机构包括与设备主体底部进行固定的第一转动件和第二转动件,所述第一转动件和第二转动件的底部交错设置有可伸缩的支撑件,所述支撑件用于调节支撑高度。
2.根据权利要求1所述的一种便携式多功能半导体参数分析仪,其特征在于,所述支撑件包括套筒和在套筒的内壁处滑动连接的支杆,所述支杆的表面排列开设有多个插孔,所述套筒的表面处设置有螺母,所述螺母贯穿至插孔内。
3.根据权利要求1所述的一种便携式多功能半导体参数分析仪,其特征在于,所述第一转动件包括与设备主体底部进行固定的连接座一,所述连接座一的表面固定连接有连接杆一,所述连接杆一的表面套接有转动座一,所述转动座一的端部与套筒固定。
4.根据权利要求1所述的一种便携式多功能半导体参数分析仪,其特征在于,所述第二转动件包括与设备主体底部进行固定的连接座二,所述连接座二的表面固定连接有连接杆二,所述连接杆二的表面套接有转动座二,所述转动座二的端部与套筒固定。
5.根据权利要求2所述的一种便携式多功能半导体参数分析仪,其特征在于,所述支杆的端部安装有支撑板,所述支撑板处安装有防滑纹,所述支杆的表面处安装有螺栓,所述螺母和螺栓螺纹连接。
6.根据权利要求3所述的一种便携式多功能半导体参数分析仪,其特征在于,所述转动座一的表面安装有锁紧螺栓,所述连接杆一的表面分别开设有当螺栓处于底部和侧边时用于贯穿的孔洞一。
7.根据权利要求4所述的一种便携式多功能半导体参数分析仪,其特征在于,所述转动座二的表面安装有锁紧螺栓,所述连接杆二的表面分别开设有当螺栓处于底部和侧边时用于贯穿的孔洞二。
8.根据权利要求1所述的一种便携式多功能半导体参数分析仪,其特征在于,所述设备主体的表面安装有显示屏,所述设备主体相对于显示屏的一侧安装有操作按钮,所述设备主体的两侧顶部开设有缺口,所述缺口的内壁处转动连接有活动把手。