一种微流控芯片平面度检测辅助装置的制作方法

本技术涉及微流控芯片，尤其是涉及一种微流控芯片平面度检测辅助装置。

背景技术：

1、微流控芯片是一种把生物、化学、医学分析过程的样品制备、反应、分离、检测等基本操作单元集成到一块微米尺度的芯片上，自动完成分析全过程，在体外诊断、药物合成、环境监测等领域发挥着越来越大的作用。

2、微流控芯片由于其体积小，通道尺寸都在微米级别，因此其加工精密度非常高，微流控芯片的平面度对其性能的稳定性具有非常大的影响。目前微流控芯片的平面度检测一般是通过借助相应的仪器来实现，尤其是使用二点五次元影像测量仪检测微流控芯片在不同位点的厚度来判断微流控芯片的平面度是一种较为准确的方法。

3、而在使用二点五次元影像测量仪对微流控芯片的平面度进行检测时，目前一般的做法是讲微流控芯片放置在平面底座上，之后用手按压住微流控芯片的一侧，从而保证微流控芯片的在平面底座上的固定，但是手部按压的方式会导致微流控芯片上的受力不均匀，虽然总体看对厚度的结果影响只在毫米级甚至微米级，但是对于微流控芯片即为精确到微米级别的精度控制过程中，该误差对于检测结果的影响非常大，极大地影响到微流控芯片的检测准确性。

技术实现思路

1、本实用新型是为了克服现有微流控芯片平面度检测过程中难以准确固定从而导致检测准确性低的缺点，提供一种微流控芯片平面度检测辅助装置，能够在使用二点五次元影像测量仪进行平面度检测时，提高微流控芯片的放置稳定性与受力均匀性，进而提高微流控芯片的平面度检测结果。

2、为了实现上述目的，本实用新型采用以下技术方案：

3、一种微流控芯片平面度检测辅助装置，包括底座与设于底座上的微流控芯片主放置柱，所述的微流控芯片平面度检测辅助装置还包括：微流控芯片辅助放置柱，用于辅助微流控芯片放置；微流控芯片辅助压紧装置，用于压紧微流控芯片；所述的微流控芯片辅助放置柱的数量至少为三个，均匀设于微流控芯片主放置柱周围，所述的微流控芯片辅助放置柱上设有用于调节微流控芯片高度的微流控芯片平衡微调机构；所述的微流控芯片辅助压紧装置包括至少两个用于压紧微流控芯片的旋转微动调节杆。

4、本实用新型设计了一个用于辅助微流控芯片固定的装置，其中微流控芯片主放置柱在中部，微流控芯片辅助放置柱均匀地分布在微流控芯片主放置柱的周围，微流控芯片能够完全地被微流控芯片主放置柱与微流控芯片辅助放置柱所托住。同时应保证整个装置放置在待检测区时，微流控芯片主放置柱与微流控芯片辅助放置柱的顶面高度保持一致，在不一致时可以通过调节微流控芯片平衡微调机构，对微流控芯片与其接触的各位点进行高度调整，保证微流控芯片在本装置上能够稳定地水平放置，从而更加精准地测量出微流控芯片每个位置的厚度，得到更加准确的平面度检测数据。

5、除此之外，本实用新型还在上部设置了用于压紧微流控芯片的微流控芯片辅助压紧装置，其包括了至少两个用于压紧微流控芯片的旋转微动调节杆，通过调节该旋转微动调节杆，可以将微流控芯片更加稳定地固定在本实用新型的微流控芯片平面度检测辅助装置上，进一步确保平面度检测的准确性。

6、作为优选，所述的微流控芯片平面度检测辅助装置上设有辅助压紧装置安装块，用于固定微流控芯片辅助压紧装置；所述的辅助压紧装置安装块与底座之间为转动连接。辅助压紧装置安装块设置为可以沿着与底座之间的转轴进行旋转，从而便于调整微流控芯片辅助压紧装置与微流控芯片的接触位点，保证微流控芯片在本装置上固定的均匀性。

7、作为优选，所述的微流控芯片辅助放置柱的数量为至少四个。微流控芯片辅助放置柱的数量理论上越多越好，实际使用过程中以四个及以上为宜，可以较好地保证微流控芯片的稳定性。

8、作为优选，所述的微流控芯片主放置柱沿轴线方向的横截面积大于微流控芯片辅助放置柱的横截面积。

9、作为优选，所述的微流控芯片主放置柱的上表面设有防滑纹。微流控芯片主放置柱上的防滑纹可以增加微流控芯片主放置柱与微流控芯片之间的摩擦力，进一步防止微流控芯片在本装置上的稳定性。

10、作为优选，所述的旋转微动调节杆包括依次设置的旋转刻度部、压紧部与芯片接触部，所述的旋转刻度部与压紧部之间为螺纹连接，所述的压紧部与芯片接触部固定连接。旋转刻度部用于判断调节的距离，该设置的旋转微动调节杆不仅能够起到固定微流控芯片的作用，还可以起到辅助键合的作用，具体为：当使用二点五次元影像测量仪检测到微流控芯片的某个位点的厚度较大，即表明该位点键合程度不佳时，可以通过将旋转微动调节杆旋转调节至该位点位置，通过旋转的方式对芯片接触部与微流控芯片之间的距离进行调节，将该位点厚度与其他位点平均厚度的差值通过旋转微动调节杆进行下压调整，从而对微流控芯片该位点施加较大的向下压力，辅助微流控芯片该位点键合至与其他位点的键合程度相同，即起到对该位点的平面度辅助修复作用，该作用主要适用于使用双面胶对微流控芯片进行键合的情况。

11、作为优选，所述的芯片接触部沿轴线方向的横截面积大于压紧部。芯片接触部应具有较大的横截面积，从而增加其与微流控芯片的接触面积，防止在使用时损坏微流控芯片。

12、作为优选，所述的刻度部靠近压紧部一侧套设有滑动部，所述的辅助压紧装置安装块上设有与滑动部相配合的滑槽。滑槽的设置可以使得旋转微动调节杆能够沿着滑槽进行移动，更加方便了旋转微动调节杆在微流控芯片上的位置调整，便于使用。

13、作为优选，所述的压紧部上套设有弹簧。弹簧可以辅助施加向下的压力，帮助微流控芯片的键合修复。

14、作为优选，所述的微流控芯片平衡微调机构包括旋转高度调节机构。

15、综上所述，本实用新型具有以下有益效果：（1）采用微流控芯片主放置柱与微流控芯片辅助放置柱所结合的方式托住微流控芯片，并在上部设置了用于压紧微流控芯片的微流控芯片辅助压紧装置，保证微流控芯片在检测装置上的固定稳定性与水平性，提高平面度检测准确性；（2）微流控芯片平衡微调机构可以调节与其接触的微流控芯片各位点高度，进一步保证微流控芯片在本装置上能够稳定地水平放置，从而更加精准地测量出微流控芯片各位置的厚度；（3）通过设置可以精确调节下压程度的旋转微动调节杆，可以根据厚度的检测结果，辅助微流控芯片的键合。

技术特征：

1.一种微流控芯片平面度检测辅助装置，包括底座与设于底座上的微流控芯片主放置柱，其特征是，所述的微流控芯片平面度检测辅助装置还包括：

2.根据权利要求1所述的一种微流控芯片平面度检测辅助装置，其特征是，所述的微流控芯片平面度检测辅助装置上设有辅助压紧装置安装块，用于固定微流控芯片辅助压紧装置；所述的辅助压紧装置安装块与底座之间为转动连接。

3.根据权利要求1所述的一种微流控芯片平面度检测辅助装置，其特征是，所述的微流控芯片辅助放置柱的数量为至少四个。

4.根据权利要求1所述的一种微流控芯片平面度检测辅助装置，其特征是，所述的微流控芯片主放置柱沿轴线方向的横截面积大于微流控芯片辅助放置柱的横截面积。

5.根据权利要求4所述的一种微流控芯片平面度检测辅助装置，其特征是，所述的微流控芯片主放置柱的上表面设有防滑纹。

6.根据权利要求1所述的一种微流控芯片平面度检测辅助装置，其特征是，所述的旋转微动调节杆包括依次设置的旋转刻度部、压紧部与芯片接触部，所述的旋转刻度部与压紧部之间为螺纹连接，所述的压紧部与芯片接触部固定连接。

7.根据权利要求6所述的一种微流控芯片平面度检测辅助装置，其特征是，所述的芯片接触部沿轴线方向的横截面积大于压紧部。

8.根据权利要求6或7所述的一种微流控芯片平面度检测辅助装置，其特征是，所述的刻度部靠近压紧部一侧套设有滑动部，所述的辅助压紧装置安装块上设有与滑动部相配合的滑槽。

9.根据权利要求8所述的一种微流控芯片平面度检测辅助装置，其特征是，所述的压紧部上套设有弹簧。

10.根据权利要求1所述的一种微流控芯片平面度检测辅助装置，其特征是，所述的微流控芯片平衡微调机构包括旋转高度调节机构。

技术总结
本技术涉及微流控芯片技术领域，尤其是涉及一种微流控芯片平面度检测辅助装置，包括底座与设于底座上的微流控芯片主放置柱，还包括：微流控芯片辅助放置柱；微流控芯片辅助压紧装置；所述的微流控芯片辅助放置柱均匀设于微流控芯片主放置柱周围，所述的微流控芯片辅助放置柱上设有用于调节微流控芯片高度的微流控芯片平衡微调机构；所述的微流控芯片辅助压紧装置包括至少两个用于压紧微流控芯片的旋转微动调节杆。本技术采用微流控芯片主放置柱、微流控芯片辅助放置柱、微流控芯片辅助压紧装置、微流控芯片平衡微调机构，协同保证微流控芯片在检测装置上的固定稳定性与水平性，提高平面度检测准确性。

技术研发人员：童德兵,赖冠印,彭雅梅,虞峰,叶嘉明
受保护的技术使用者：杭州霆科生物科技有限公司
技术研发日：20230509
技术公布日：2024/1/14