一种高精度半蚀刻钢片测量治具的制作方法

本技术涉及测量治具，具体为一种高精度半蚀刻钢片测量治具。

背景技术：

1、半蚀刻钢片在加工过程中，会根据工艺要求在半蚀刻钢片上开设凹槽，但由于凹槽在加工时存在随机性的加工误差，因此后期需要测量凹槽的实际槽深和槽宽，确保槽深和槽宽的实际数据在预定范围内，符合生产工艺要求。

2、市面上常用二次元测量设备进行测量，在测量半蚀刻钢片的凹槽数据时，由操作人员将一个半蚀刻钢片放在工作台上，手握住半蚀刻钢片的两端，将半蚀刻钢片固定在工作台上，然后利用二次元测量设备进行投影得出凹槽数据，测量完成一个再接着测量下一个，这样的测量效率低，操作复杂，严重影响了工作效率，而且由于半蚀刻钢片的厚度很薄，人工固定的方式容易在测量时发生位置偏移，稳定性较差，以至于测量的结果不准确，精度不高。

技术实现思路

1、本实用新型的目的是提供一种高精度半蚀刻钢片测量治具，旨在解决上述技术问题，本实用新型高精度半蚀刻钢片测量治具，具有测量效率高、精确度高、使用方便、结构简单和使用效果好等优点。

2、为了达到上述目的，本实用新型通过以下技术方案来实现：

3、一种高精度半蚀刻钢片测量治具，包括有测量固定板、固定基座和若干个限位柱，所述限位柱的一端固定安装在固定基座内，其另一端活动安装在测量固定板内，所述测量固定板上设有固定半蚀刻钢片的工件放置位，所述工件放置位上设有放置部、若干个第一承接槽和若干个第二承接槽，所述第一承接槽和第二承接槽对称设置在放置部上，所述工件放置位上还开设有上测量通孔，所述上测量通孔位于放置部内部，且与第一承接槽、第二承接槽连通设置；

4、所述固定基座上设有工件支撑位，所述工件支撑位的上表面与放置部的下表面连接，所述工件支撑位开设有下测量通孔，所述下测量通孔与上测量通孔连通设置，所述下测量通孔的直径大于上测量通孔。当使用时，所述固定基座下表面与二次元测量仪的工作台连接。

5、进一步地，所述工件支撑位上还设有支撑部，所述支撑部的上表面与放置部的下表面连接。

6、进一步地，所述半蚀刻钢片上设有第一固定部、第二固定部和测量部，所述第一固定部活动安装在第一承接槽内，所述第二固定部活动安装在第二承接槽内，所述测量部位于上测量通孔内，所述测量部上设有若干个凹槽，所述第一固定部的一端部的下端面可与支撑部上表面活动连接，所述第二固定部的一端部的下端面可与支撑部上表面活动连接。

7、进一步地，所述测量固定板上设有若干个上限位孔，所述上限位孔位于工件放置位的一侧，所述限位柱的另一端活动安装在测量固定板的上限位孔内。

8、进一步地，所述固定基座上设有若干个下固定孔，所述下固定孔与上限位孔对应，所述限位柱的一端固定安装在固定基座的下固定孔内。

9、进一步地，所述测量固定板和固定基座的外轮廓尺寸一致。

10、进一步地，所述测量固定板、固定基座、上测量通孔和下测量通孔的形状均为圆角矩形结构。

11、本实用新型高精度半蚀刻钢片测量治具，具有如下的有益效果：

12、1、测量效率高，本实用新型配合二次元投影仪进行测量，可以一次性测量十二个半蚀刻钢片，相比于一个一个测量的操作方式，本实用新型的测量效率更高、操作简单、实用性更强；

13、2、精确度高，本实用新型高精度半蚀刻钢片测量治具，将半蚀刻钢片放在工件放置位上，半蚀刻钢片的两端分别定位固定在第一承接槽、第二承接槽内，对半蚀刻钢片进行位置方向的定位固定，稳定性好，避免在测量时发生位置偏移而导致数据产生偏差，进而提高测量的准确性，而且通过上测量通孔和下测量通孔之间的连通设置，使得二次元投影仪能对半蚀刻钢片进行投影测量凹槽上的槽深和槽宽，测量精确度高，使用效果好；

14、3、结构简单，本实用新型高精度半蚀刻钢片测量治具，主要包括测量固定板、固定基座和若干个限位柱组成，其构成零部件少，结构简单，生产制作成本低、利于推广。

技术特征：

1.一种高精度半蚀刻钢片测量治具，其特征在于：包括有测量固定板、固定基座和若干个限位柱，所述限位柱的一端固定安装在固定基座内，其另一端活动安装在测量固定板内，所述测量固定板上设有固定半蚀刻钢片的工件放置位，所述工件放置位上设有放置部、若干个第一承接槽和若干个第二承接槽，所述第一承接槽和第二承接槽对称设置在放置部上，所述工件放置位上还开设有上测量通孔，所述上测量通孔位于放置部内部，且与第一承接槽、第二承接槽连通设置；

2.根据权利要求1所述的高精度半蚀刻钢片测量治具，其特征在于：所述工件支撑位上还设有支撑部，所述支撑部的上表面与放置部的下表面连接。

3.根据权利要求2所述的高精度半蚀刻钢片测量治具，其特征在于：所述半蚀刻钢片上设有第一固定部、第二固定部和测量部，所述第一固定部活动安装在第一承接槽内，所述第二固定部活动安装在第二承接槽内，所述测量部位于上测量通孔内，所述测量部上设有若干个凹槽，所述第一固定部的一端部的下端面可与支撑部上表面活动连接，所述第二固定部的一端部的下端面可与支撑部上表面活动连接。

4.根据权利要求1所述的高精度半蚀刻钢片测量治具，其特征在于：所述测量固定板上设有若干个上限位孔，所述上限位孔位于工件放置位的一侧，所述限位柱的另一端活动安装在测量固定板的上限位孔内。

5.根据权利要求4所述的高精度半蚀刻钢片测量治具，其特征在于：所述固定基座上设有若干个下固定孔，所述下固定孔与上限位孔对应，所述限位柱的一端固定安装在固定基座的下固定孔内。

6.根据权利要求5所述的高精度半蚀刻钢片测量治具，其特征在于：所述测量固定板和固定基座的外轮廓尺寸一致。

7.根据权利要求6所述的高精度半蚀刻钢片测量治具，其特征在于：所述测量固定板、固定基座、上测量通孔和下测量通孔的形状均为圆角矩形结构。

技术总结
一种高精度半蚀刻钢片测量治具，包括有测量固定板、固定基座和若干个限位柱，所述限位柱一端固定安装在固定基座内，其另一端活动安装在测量固定板内，所述测量固定板上设有固定半蚀刻钢片的工件放置位，所述工件放置位上设有放置部、若干个第一承接槽和若干个第二承接槽，所述第一承接槽和第二承接槽对称设置在放置部上，所述工件放置位上还设有上测量通孔，所述上测量通孔位于放置部内部，且与第一承接槽、第二承接槽连通设置；所述固定基座上设有工件支撑位，所述工件支撑位上表面与放置部下表面连接，所述工件支撑位开设有下测量通孔，所述下测量通孔与上测量通孔连通设置。本技术具有测量效率高、精确度高、使用方便和结构简单等优点。

技术研发人员：王朋辉
受保护的技术使用者：深圳市羽田精密电子有限公司
技术研发日：20230615
技术公布日：2024/1/15