本技术涉及热敏电阻处理,尤其涉及一种提高热敏电阻采样精度的电路。
背景技术:
1、热敏电阻是敏感元件的一类,按照温度系数不同分为正温度系数热敏电阻(ptc)和负温度系数电阻(ntc),热敏电阻的典型特点是对温度敏感,不同的温度下表现出不同的电阻值。
2、现有技术常通过热敏电阻的温度特性来检测当前环境温度值。采样设备通过产生一个电源vref1,给热敏电阻和电阻的串联采样回路供电,然后采集各个热敏电阻上的电压来计算当前温度下的热敏电阻阻值,进而查表得出当前温度。上述电路在进行温度采集精度的检测的过程中,易受上拉电阻、采样设备的采样精度和内部参考源的精度,以及采样设备产生的vref1电源稳定性和热敏电阻本身等影响,从而导致温度采集精度的误差较大。
技术实现思路
1、有鉴于此,本实用新型实施例提供一种提高热敏电阻采样精度的电路,以解决现有技术中存在的温度采集精度的误差较大的问题。
2、为实现上述目的,本实用新型实施例提供如下技术方案:
3、本实用新型示出了一种提高热敏电阻采样精度的电路,包括:第一采样设备,第一采样回路和电源模块;
4、所述热敏电阻与所述第一电阻串联形成第一采样回路;
5、若确定所述第一采样回路的数量为n个,所述第一采样设备分别与n个第一采样回路中所述热敏电阻和第一电阻串联的连接处连接,n为大于等于2的正整数;
6、所述电源模块与所述第一采样设备,及n个第一采样回路中所述第一电阻连接。
7、可选的,若所述电源模块包括多个电源;
8、所述电源模块中每一电源均与所述第一采样设备连接;
9、任意一电源与n个第一采样回路中所述第一电阻连接。
10、可选的,若所述电源模块包括多个电源;
11、所述电源模块中每一电源均与所述第一采样设备连接;
12、所述电源模块中每一电源分别与每一第一采样回路中所述第一电阻的一端连接。
13、可选的,还包括:
14、所述第一采样回路中所述热敏电阻的一端接地。
15、可选的,所述热敏电阻为负温度系数电阻。
16、可选的,所述第一采样设备为采样芯片afe。
17、可选的,还包括:第二采样设备;
18、当所述第一采样回路的数量为一个,且所述电源模块中电源的数量也为一个时,所述第二采样设备设置于所述电源模块与所述第一电阻之间。
19、可选的,当所述第一采样回路的数量为n个,所述第一采样设备的数量也为n个时,每一所述第一采样设备均与第一采样回路中所述热敏电阻和第一电阻串联的连接处连接;
20、所述第二采样设备与每一第一采样回路中所述第一电阻的一端连接。
21、可选的,所述第二采样设备为采样芯片adc。
22、可选的,所述第一采样设备为采样芯片adc。
23、基于上述本实用新型实施例提供的一种提高热敏电阻采样精度的电路,包括:第一采样设备,第一采样回路和电源模块;所述热敏电阻与所述第一电阻串联形成第一采样回路;若确定所述第一采样回路的数量为n个,所述第一采样设备分别与n个第一采样回路中所述热敏电阻和第一电阻串联的连接处连接,n为大于等于2的正整数;所述电源模块与所述第一采样设备,及n个第一采样回路中所述第一电阻连接。本实用新型采用电源模块直接给第一采样回路供电,同时采集电源模块和热敏电阻上的第一电压,以通过双电压法消除第一电压带来的误差以及内部第一采集设备参考源带来的误差,从而提高热敏电阻采样精度。
1.一种提高热敏电阻采样精度的电路,其特征在于,包括:第一采样设备,第一采样回路和电源模块;
2.根据权利要求1所述的提高热敏电阻采样精度的电路,其特征在于,若所述电源模块包括多个电源;
3.根据权利要求1所述的提高热敏电阻采样精度的电路,其特征在于,若所述电源模块包括多个电源;
4.根据权利要求1所述的提高热敏电阻采样精度的电路,其特征在于,还包括:
5.根据权利要求1-4任意一项所述的提高热敏电阻采样精度的电路,其特征在于,所述热敏电阻为负温度系数电阻。
6.根据权利要求1-4任意一项所述的提高热敏电阻采样精度的电路,其特征在于,所述第一采样设备为采样芯片afe。
7.根据权利要求1所述的提高热敏电阻采样精度的电路,其特征在于,还包括:第二采样设备;
8.根据权利要求7所述的提高热敏电阻采样精度的电路,其特征在于,当所述第一采样回路的数量为n个,所述第一采样设备的数量也为n个时,每一所述第一采样设备均与第一采样回路中所述热敏电阻和第一电阻串联的连接处连接;
9.根据权利要求7或8所述的提高热敏电阻采样精度的电路,其特征在于,所述第二采样设备为采样芯片adc。
10.根据权利要求7或8所述的提高热敏电阻采样精度的电路,其特征在于,所述第一采样设备为采样芯片adc。